CN212540504U - 一种适用于电能大电流传输的传输线测试系统 - Google Patents

一种适用于电能大电流传输的传输线测试系统 Download PDF

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郑云建
郑惠和
廖武
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Abstract

本实用新型提供一种适用于电能大电流传输的传输线测试系统,用于测试传输线,包括MCU主控及数据处理模块、输出模块、负载模块、产品连接口一、产品连接口二和线损采集单元;所述MCU主控及数据处理模块通过输出模块与产品连接口一连接;所述负载模块分别与产品连接口二以及MCU主控及数据处理模块连接;所述线损采集单元分别与MCU主控及数据处理模块、产品连接口一以及产品连接口二连接;体现出本实用新型可以提高检测效率,也可以有效排除隐患。

Description

一种适用于电能大电流传输的传输线测试系统
技术领域
本实用新型涉及传输线测试技术领域,特别涉及一种适用于电能大电流传输的传输线测试系统。
背景技术
目前,高电能的传输导线无处不在,如:手机用电在不断的加快数据充电,汽车新能源充电等,这些充电均离不开高压,或者高流,如果电流过高,用以前常规的方法去做传输线的测试会有很严重的品质影患,因为常规测试只是测试是否导通,同时协议的测试也是分开的,生产效率非常低,如果高流出现焊接阻值过大还有可能出现冒烟烧黑等现象会影响安全性,因此急需一种测试系统既可以提高生产效率,又可以可靠查出影患。
实用新型内容
本实用新型的目的是提供一种适用于电能大电流传输的传输线测试系统以解决背景技术中提及问题。
为了实现上述目的,本实用新型提供如下技术方案:
一种适用于电能大电流传输的传输线测试系统,用于测试传输线,包括MCU主控及数据处理模块、输出模块、负载模块、产品连接口一、产品连接口二和线损采集单元;所述MCU主控及数据处理模块通过输出模块与产品连接口一连接;所述负载模块分别与产品连接口二以及MCU主控及数据处理模块连接;所述线损采集单元分别与MCU主控及数据处理模块、产品连接口一以及产品连接口二连接。
对本实用新型的进一步描述,还包括协议匹配板块;所述输出模块包括直流输出控制单元、交流输出控制单元和输出控制阵列;所述MCU主控及数据处理模块与直流输出控制单元以及交流输出控制单元连接;所述直流输出控制单元和交流输出控制单元分别与输出控制阵列连接;所述输出控制阵列与产品连接口一连接;所述负载模块包括直流电子负载、交流电子负载和负载切换阵列;所述MCU主控及数据处理模块与直流电子负载以及交流电子负载连接;所述负载切换阵列分别与直流电子负载和交流电子负载连接;所述产品连接口二与负载切换阵列连接;所述协议匹配板块分别与MCU主控及数据处理模块、输出控制阵列、负载切换阵列、产品连接口一和产品连接口二连接。
对本实用新型的进一步描述,还包括至少一个热成像模块;所述热成像模块与MCU主控及数据处理模块连接。
对本实用新型的进一步描述,所述热成像模块设置两组且分别与产品连接口一与产品连接口二位置相对应。
对本实用新型的进一步描述,还包括用于对传输线进行摇摆的摇摆装置;所述摇摆装置与MCU主控及数据处理模块连接。
本实用新型的有益效果为:
本实用新型通过将产品接入产品连接口一与产品连接口二上,MCU主控及数据处理模块控制输出模块输出产品所需的电压或电流,为产品连接口一提供足额功率的能量输入,电流经过产品后流到产品连接口二,产品连接口二再流到负载模块上,从而达到恒定功率流到产品的效果,然后通过线损采集单元采集产品连接口一的电压以及产品连接口二的电压进行计算,并传输给MCU主控及数据处理模块进行对比,达到自动检测效果,该系统不仅可以对产品是否导通进行测试,还能测试产品在高电流、高电压的状态下是否存在安全隐患,并且检测效率高。
附图说明
图1是本实用新型的原理图。
具体实施方式
以下结合附图对本实用新型进行进一步说明:
如图1所示,一种适用于电能大电流传输的传输线测试系统,用于测试传输线(即产品100),包括MCU主控及数据处理模块1、输出模块2、负载模块3、产品连接口一4、产品连接口二5和线损采集单元6;所述MCU主控及数据处理模块1通过输出模块2与产品连接口一4连接;所述负载模块3分别与产品连接口二5以及MCU主控及数据处理模块1连接;所述线损采集单元6分别与MCU主控及数据处理模块1、产品连接口一4以及产品连接口二5连接;产品100的两端接入产品连接口一4与产品连接口二5,MCU主控及数据处理模块1控制输出模块2的电流或电压,输出模块2将电流供往产品连接口一4给产品100提供足额功率的能量输入,电流经过产品100后从流入产品连接口二5,然后再流入到负载模块3中,MCU主控及数据处理模块1对负载模块3的负载电流大小进行控制,达到恒定功率流过产品100的效果;线损采集单元6采集产品连接口一4的电压V1以及产品连接口二5的电压V2,再用V2-V1=V3检测足额线损压降量化,再传输给MCU主控及数据处理模块1与设定的范围数值进行对比,从而达到自动检测效果;此外,也可以通过欧姆定律:V3/负载调好后的额定电流=足额功率后的线阻进行比较,也可以计算出损耗的功率进行比较,达到量化后管控效果。
还包括协议匹配板块7;所述输出模块2包括直流输出控制单元21、交流输出控制单元22和输出控制阵列23;所述MCU主控及数据处理模块1与直流输出控制单元21以及交流输出控制单元22连接;所述直流输出控制单元21和交流输出控制单元22分别与输出控制阵列23连接;所述输出控制阵列23与产品连接口一4连接;所述负载模块3包括直流电子负载31、交流电子负载32和负载切换阵列33;所述MCU主控及数据处理模块1与直流电子负载31以及交流电子负载32连接;所述负载切换阵列33分别与直流电子负载31和交流电子负载32连接;所述产品连接口二5与负载切换阵列33连接;所述协议匹配板块7分别与MCU主控及数据处理模块1、输出控制阵列23、负载切换阵列33、产品连接口一4和产品连接口二5连接;MCU主控及数据处理模块1控制直流输出控制单元21与交流输出控制单元22上的电流与电压,提及对直流电子负载31与交流电子负载32的负载电流大小进行控制,协议匹配板块7会读取产品100的协议功率,再控制输出控制阵列23与负载切换阵列33,选择产品100的要求进行匹配,输出控制阵列23与负载切换阵列33选择直流或交流,从而达到更广泛的检测。
还包括至少一个热成像模块8;所述热成像模块8与MCU主控及数据处理模块1连接;当达到足额电流后,热成像模块8会对产品100进行热量扫描,如果产品100上存在虚焊、断铜丝等问题时,温度会上升,热成像模块8则能检测出产品100的温度并将数据传输给MCU主控及数据处理模块1,及时发现问题。
所述热成像模块8设置两组且分别与产品连接口一4与产品连接口二5位置相对应;对产品100上电流的输入端与输出端分别进行检测,检测效果更高。
还包括用于对传输线进行摇摆的摇摆装置9;所述摇摆装置9与MCU主控及数据处理模块1连接,产品100安装在摇摆装置9上,当达到足额电流后,MCU主控及数据处理模块1控制摇摆装置9启动,带动产品100进行摇摆,模拟实际使用过程中产品100会摆动的动作,同时线损采集单元6会以1秒扫描100次的速度进行确认线损压降或功率有无变大,如增大则会提升不良,从而可以有效检测出瞬断等问题。
以上所述并非对本新型的技术范围作任何限制,凡依据本实用新型技术实质对以上的实施例所作的任何修改、等同变化与修饰,均仍属于本新型的技术方案的范围内。

Claims (5)

1.一种适用于电能大电流传输的传输线测试系统,用于测试传输线,其特征在于:包括MCU主控及数据处理模块、输出模块、负载模块、产品连接口一、产品连接口二和线损采集单元;所述MCU主控及数据处理模块通过输出模块与产品连接口一连接;所述负载模块分别与产品连接口二以及MCU主控及数据处理模块连接;所述线损采集单元分别与MCU主控及数据处理模块、产品连接口一以及产品连接口二连接。
2.根据权利要求1所述的一种适用于电能大电流传输的传输线测试系统,其特征在于:还包括协议匹配板块;所述输出模块包括直流输出控制单元、交流输出控制单元和输出控制阵列;所述MCU主控及数据处理模块与直流输出控制单元以及交流输出控制单元连接;所述直流输出控制单元和交流输出控制单元分别与输出控制阵列连接;所述输出控制阵列与产品连接口一连接;所述负载模块包括直流电子负载、交流电子负载和负载切换阵列;所述MCU主控及数据处理模块与直流电子负载以及交流电子负载连接;所述负载切换阵列分别与直流电子负载和交流电子负载连接;所述产品连接口二与负载切换阵列连接;所述协议匹配板块分别与MCU主控及数据处理模块、输出控制阵列、负载切换阵列、产品连接口一和产品连接口二连接。
3.根据权利要求1所述的一种适用于电能大电流传输的传输线测试系统,其特征在于:还包括至少一个热成像模块;所述热成像模块与MCU主控及数据处理模块连接。
4.根据权利要求3所述的一种适用于电能大电流传输的传输线测试系统,其特征在于:所述热成像模块设置两组且分别与产品连接口一与产品连接口二位置相对应。
5.根据权利要求1所述的一种适用于电能大电流传输的传输线测试系统,其特征在于:还包括用于对传输线进行摇摆的摇摆装置;所述摇摆装置与MCU主控及数据处理模块连接。
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