CN212255350U - 时间分辨荧光免疫分析仪 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种时间分辨荧光免疫分析仪，包括有底座，还包括有进样模块、温育模块、清洗模块和芯片检测模块；其中，进样模块中设置有芯片加载模块和液路气路模块，芯片加载模块用于将芯片运载至液路气路模块，液路气路模块用于使芯片中的样本流动至预定位置；尔后芯片被转运至所述温育模块中；温育模块使得芯片在设定温度内恒温反应；温育模块沿垂直方向上下自由运动，进样模块、清洗模块和芯片检测模块均分别设置在温育模块垂直运动方向的侧面；由温育模块将在清洗模块中被清洗后的芯片送至芯片检测模块中进行检测。采用在垂直方向上排布各个模块，整体结构紧凑，占地面积小；且各模块功能配合流畅简便，检测效率高。

Description

时间分辨荧光免疫分析仪

技术领域

本实用新型属于医疗设备技术领域，尤其是涉及一种用于基于微流控芯片项目的荧光免疫检测的时间分辨荧光免疫分析仪。

背景技术

微流控芯片(microfluidic chip)是当前微全分析系统(Miniaturized TotalAnalysis Systems)发展的热点领域。微流控芯片分析以芯片为操作平台，同时以分析化学为基础，以微机电加工技术为依托，以微管道网络为结构特征,以生命科学为目前主要应用对象，是当前微全分析系统领域发展的重点。它的目标是把整个化验室的功能，包括采样、稀释、加试剂、反应、分离、检测等集成在微芯片上。微流控芯片是微流控技术实现的主要平台。其装置特征主要是其容纳流体的有效结构(通道、反应室和其它某些功能部件)至少在一个纬度上为微米级尺度。由于微米级的结构，流体在其中显示和产生了与宏观尺度不同的特殊性能。因此发展出独特的分析产生的性能。微流控芯片的特点及发展优势：微流控芯片具有液体流动可控、消耗试样和试剂极少、分析速度成十倍上百倍地提高等特点，它可以在几分钟甚至更短的时间内进行上百个样品的同时分析，并且可以在线实现样品的预处理及分析全过程。其产生的应用目的是实现微全分析系统的终极目标－芯片实验室，目前工作发展的重点应用领域是生命科学领域。

当前国际研究现状：创新多集中于分离、检测体系方面；对芯片上如何引入实际样品分析的诸多问题，如样品引入、换样、前处理等有关研究还十分薄弱。它的发展依赖于多学科交叉的发展。

在中国专利文献CN108414522A中，公开了一种一种用于微流控芯片和NC膜多通量检测一体机的装置，包括有底座，所述底座上设置有进样模块、温育模块、清洗模块、NC膜检测模块和芯片检测模块；其中，所述进样模块中设置有相互独立的芯片进样卡槽和NC膜进样卡槽，分别用于插入芯片或NC膜卡条；所述进样模块中还设置有液路气路模块；所述温育模块上具有相互独立的芯片温育槽和NC膜温育槽，且所述进样模块、清洗模块和NC膜检测模块沿所述温育模块长度方向上的侧面设置；在所述清洗模块中被清洗后的芯片送至所述芯片检测模块中进行检测。

但上述技术方案将各个部件沿所述温育模块长度方向上的侧面设置，平铺展开，占用了太多的空间，使得设备在使用过程中显得很臃肿；另外在各个模块之间的衔接上有待进一步改进，配合不是很流畅。

实用新型内容

本实用新型要解决的技术问题是提供一种整体结构紧凑，占地面积小，采用垂直排布，各模块功能配合流畅简便的时间分辨荧光免疫分析仪。

为解决上述技术问题，本实用新型采用的技术方案是，该时间分辨荧光免疫分析仪，包括有底座，还包括有进样模块、温育模块、清洗模块和芯片检测模块；

其中，所述进样模块中设置有芯片加载模块和液路气路模块，所述芯片加载模块用于将芯片运载至所述液路气路模块，所述液路气路模块用于使芯片中的样本流动至预定位置；尔后芯片被转运至所述温育模块中；

所述温育模块使得芯片在设定温度内恒温反应；

所述温育模块沿垂直方向上下自由运动，所述进样模块、清洗模块和芯片检测模块均分别设置在所述温育模块垂直运动方向的侧面；由所述温育模块将在所述清洗模块中被清洗后的芯片送至所述芯片检测模块中进行检测。

进样模块中的液路气路模块，用于使芯片中的样本流动至预定位置，确保芯片反应腔充满样本和试剂反应；采用上述技术方案，将各个模块部件均整合在底座上，且分别设置在所述温育模块垂直运动方向的侧面，形成整套时间分辨荧光免疫分析仪设备，结构一体化，整体结构紧凑，占地面积小，采用垂直方向排布，避免设备平铺展开浪费空间，且上述技术方案各模块功能配合流畅简便；进样模块、清洗模块和芯片检测模块均是围绕温育模块进行布局，以温育模块为中心进行芯片的周转。

具体操作时：待检测的芯片放入分析仪，接着芯片通过芯片加载模块的带动移动到液路气路模块，使芯片进样腔中的样本沿着芯片微流道缓慢前进，流动至预定位置；拨动芯片使芯片到达温育模块，使芯片反应腔在预设温度下进行样本免疫反应；反应结束后，拨动芯片到清洗模块，清洗模块能够对反应后的芯片进行清洗，芯片清洗完成，随即拨动芯片到温育模块，由温育模块将芯片送至芯片检测模块中进行检测，温育模块上升到芯片检测模块对应位置。检测结果可在仪器显示屏上显示，还可通过内置打印机打印检测结果。

本实用新型进一步改进在于，所述温育模块具有温育槽组件，所述温育槽组件包括有加热片和保温片；所述温育槽组件中多个叠装的温育槽，且所述多个叠装的温育槽沿温育槽滑轨上下自由运动。温育槽组件设置加热片和保温片使芯片在设定温度内恒温反应。

本实用新型进一步改进在于，所述温育槽组件还设置有温育槽连接块；所述温育槽连接块与温育槽运动皮带连接，抱闸电机驱动温育槽运动主动轮，通过所述温育槽运动皮带带动温育槽运动从动轮转动，使得所述温育槽组件中多个叠装的温育槽沿所述温育槽滑轨上下自由运动。

本实用新型进一步改进在于，所述温育槽滑轨设置在温育槽滑轨支架上，所述温育槽组件的侧面设置有缓冲块，对应的，在所述温育槽滑轨支架底部设置缓冲垫；所述温育槽组件上设置有限位挡片，所述温育槽滑轨支架固定连接有限位光耦连接块，限位光耦安装在所述限位光耦连接块上，用于所述温育槽上下运动的限位。温育槽组件的侧面设置有缓冲块，对应的温育槽滑轨支架底部设置缓冲垫，为温育槽向下运动时提供缓冲，防止损伤，同时温育槽组件上设置有限位挡片，温育槽滑轨支架固定连接有限位光耦连接块，限位光耦安装在限位光耦连接块上，用于温育槽上下运动的限位。

优选地，所述温育槽设置有芯片压条，所述芯片压条的两个凸起与芯片中的凹槽配合，用于在芯片进行温育反应的定位。

优选地，所述加热片和保温片均设置在多个叠装的所述温育槽的侧面。

本实用新型进一步改进在于，所述芯片加载模块包括有芯片进样拨手，所述芯片进样拨手拨动芯片使其在芯片进样槽中放入到位；所述芯片进样槽后方设置有芯片限位片结构；芯片在所述芯片进样槽的带动下移动。

优选地，所述芯片进样拨手由芯片进样拨手运动组件控制其动作；所述芯片进样拨手运动组件包括有进样拨手水平运动组件和进样拨手上下运动组件；所述进样拨手水平运动组件具有进样拨手水平运动滑块，所述进样拨手水平运动滑块沿着进样拨手水平滑轨运动，所述进样拨手水平运动滑块上连接进样拨手水平运动滑块连接块，所述进样拨手水平运动滑块连接块上固定连接有芯片进样拨手上下运动滑轨，所述芯片进样拨手上下运动滑轨上连接有进样拨手上下运动滑块，所述进样拨手上下运动滑块与所述芯片进样拨手连接，所述芯片进样拨手上设置有芯片进样拨手滑杆，所述芯片进样拨手滑杆在芯片进样拨手滑槽中运动。

优选地，所述芯片进样槽在进样槽运动电机控制下，进样槽电机螺母沿着进样槽丝杆运动，所述进样槽电机螺母与进样槽连接块一连接，所述进样槽连接块一与所述芯片进样槽连接，进样槽连接块二与所述进样槽连接块一连接，所述进样槽连接块二与进样槽滑块连接，所述进样槽滑块沿着进样槽滑轨往复运动。

优选地，在所述芯片加载模块的隔板上具有两个进样槽滑轨，分别为进样槽滑轨一和进样槽滑轨二；相应的，所述进样槽滑块有两个，分别为进样槽滑块一和进样槽滑块二，所述进样槽连接块二有两个，分别为第一进样槽连接块二和第二进样槽连接块二；其中，所述第一进样槽连接块二与所述进样槽滑块一连接，所述进样槽滑块一沿着所述进样槽滑轨一往复运动，所述第二进样槽连接块二与所述进样槽滑块二连接，所述进样槽滑块二沿着所述进样槽滑轨二往复运动。

优选地，所述隔板上具有芯片加载模块支架一和芯片加载模块支架二，其中，所述芯片加载模块支架二设置有芯片限位片滑槽；所述芯片限位片结构具有芯片限位片，所述芯片限位片上设置有用于在所述芯片限位滑槽中运动的芯片限位片滑杆；在所述芯片进样槽的侧壁上固定连接有芯片限位片滑轨，所述芯片限位片滑轨上连接有芯片限位片滑块，所述芯片限位片连接在所述芯片限位片滑块上，所述芯片限位片跟随所述芯片进样槽水平运动，同时配合所述芯片限位片滑槽上下运动。该技术方案中芯片加载模块支架一的滑槽无具体功能，为了与芯片加载模块支架二的结构统一，便于加工制造。

优选地，所述进样拨手滑槽前端高于后端，使得所述进样拨手滑槽具有高起点；所述进样拨手水平运动组件具有进样拨手水平电机，进样拨手皮带连接块一端固定连接在所述进样拨手水平皮带上，所述进样拨手皮带连接块的另一端与所述进样拨手水平运动滑块连接块固定连接。

优选地，所述进样拨手水平运动组件还包括进样拨手运动主动轮和进样拨手运动从动轮，所述进样拨手水平皮带套接在所述进样拨手运动主动轮和所述进样拨手运动从动轮上，所述进样拨手主动轮与所述进样拨手水平电机相连接，所述进样拨手水平运动滑块连接块套接在所述进样拨手水平皮带上。进样拨手水平电机启动，芯片进样拨手沿着进样拨手水平滑轨运动，进样拨手的初始位置在芯片进样槽前端上方(进样拨手滑槽高起点)，芯片放入后，芯片插入感应器感测到芯片后，进样拨手沿着进样拨手滑槽运动，将进样拨手滑槽的前端设置为高于后端，目的是不阻挡芯片放入芯片进样槽，进样拨手拨动芯片使芯片完全到达进样槽预设位置，防止芯片放入不到位。

本实用新型进一步改进在于，所述液路气路模块包括有液路气路控制电机和芯片阀门控制电机；所述液路气路控制电机驱动环形支架向下运动，所述环形支架下压使位于所述环形支架上的进样口接口通过进样口密封头密封对接芯片的进样腔，外接气液口接口通过外接气液口密封接头密封对接芯片的外接气液口；所述环形支架上固定连接有液体探测杆，所述液体探测杆与液体探测传感器连接；所述芯片阀门控制电机驱动芯片阀门滑块连接块运动，所述芯片阀门滑块连接块上安装有芯片阀门压杆，所述芯片阀门压杆在所述芯片阀门控制电机的控制下下压压住芯片的阀门。

优选地，所述液路气路模块还包括有液路气路滑轨和液路气路滑块；所述液路气路控制电机启动，液路气路丝杆旋转，所述液路气路丝杆上的液路气路电机螺母带动所述环形支架向下运动，所述环形支架与所述液路气路滑轨连接，与所述液路气路滑块配合运动，所述液路气路滑块固定连接在所述液路气路模块的侧支架内侧。

优选地，所述液路气路模块还包括有芯片阀门滑轨和芯片阀门滑块；所述芯片阀门控制电机启动，芯片阀门丝杆旋转，所述芯片阀门丝杆上的芯片阀门电机螺母带动芯片阀门滑块连接块运动，所述芯片阀门滑块连接块与所述芯片阀门滑块连接，所述芯片阀门滑轨安装在所述液路气路模块的支板内侧。液路气路控制电机启动，液路气路丝杆旋转，液路气路电机螺母带动环形支架向下运动，环形支架与液路气路滑轨相连接，与液路气路滑块配合运动，液路气路滑块固定连接在侧支架内侧，环形支架下压使位于环形支架上的进样口接口(进气加压作用)通过进样口密封头密封对接芯片的进样腔，外接气液口接口(密闭处理，不能进气体和液体)通过外接气液口密封接头密封对接芯片的外接气液口，接着通过进样口接口进气加压使芯片进样腔中的样本沿着芯片微流道缓慢前进，环形支架上固定连接有液体探测杆，液体探测杆与液体探测传感器连接，当芯片中样本到达芯片导电橡胶阀门时，液体探测杆感测到电容变化，仪器的芯片阀门控制电机启动，芯片阀门丝杆旋转，芯片阀门电机螺母带动芯片阀门滑块连接块运动，芯片阀门滑块连接块与阀门滑块连接，芯片阀门滑轨安装在支板内侧，芯片阀门滑块连接块上安装芯片阀门压杆，芯片阀门压杆在芯片阀门控制电机的控制下下压压住阀门，使芯片液体不能继续前进，同时进样口接口停止进气加压。

优选地，所述液路气路模块中还设置有芯片阀门限位光耦和芯片阀门限位挡片，用于限制所述芯片阀门压杆下降的高度；所述液路气路模块中还设置有液路气路限位光耦和液路气路限位挡片，用于限制所述环形支架下降的高度。

优选地，所述液路气路模块还包括有芯片扫码器，用于对芯片上的二维码进行扫码。芯片扫码器位于芯片的上方，通过所述进样模块的顶板上的通孔对所述芯片扫码，确认芯片检测项目是否正确，芯片是否在有效期内，如不符合要求则机器报警，提示错误信息。

本实用新型进一步改进在于，所述清洗模块包括有U形拨手组件和清洗模块气液路组件；芯片温育反应结束后，所述U形拨手组件中的U形拨手拨动芯片到所述清洗模块气液路组件中的清洗位进行清洗；芯片清洗结束后，所述U形拨手再回拨芯片。

优选地，所述U形拨手组件设置有U形拨手控制电机，在所述U形拨手控制电机的控制下，U形拨手主动轮旋转，通过U形拨手皮带带动U形拨手从动轮，所述U形拨手皮带上的U形拨手皮带连接块与U形拨手滑块组件连接，所述U形拨手滑块组件与所述U形拨手连接沿着U形拨手滑轨运动。

优选地，所述U形拨手向两侧分别延伸出U形拨手臂一和U形拨手臂二，所述U形拨手臂一和U形拨手臂二之间的距离大于芯片长度。

优选地，所述清洗模块气液路组件具有清洗模块控制电机，所述清洗模块控制电机启动，清洗模块丝杆旋转，所述清洗模块丝杆上的清洗模块电机螺母带动所述清洗模块环形支架上下运动；所述清洗模块环形支架与清洗模块滑轨固定连接，所述清洗模块滑轨与清洗模块滑块滑动连接；所述清洗模块环形支架上设置有清洗模块液体探测杆和清洗模块气液路接口，所述清洗模块气液路接口分别为清洗液接口和外接气路接口，所述清洗液接口和外接气路接口对应于所述清洗模块环形支架底部的清洗模块外接气液口密封接头；所述清洗模块液体探测杆与清洗模块液体探测传感器连接。

优选地，所述清洗模块气液路组件中还设置有清洗模块限位光耦和清洗模块限位挡片，用于限制所述清洗模块环形支架下降的高度；所述清洗模块环形支架底部还设置有清洗模块芯片进样口密封接头，所述清洗模块芯片进样口密封接头位于所述清洗模块外接气液口密封接头侧面。清洗模块控制电机启动，清洗模块环形支架可以上下运动，当进行芯片清洗时，清洗模块环形支架下压，两个密封接头(清洗模块外接气液口密封接头和芯片进样口密封接头)分别与芯片上的对应口密封结合，清洗液加入，液体探测杆探测到液体时停止加液，外接气路进气加压使清洗液流入废液腔，如此往复清洗3-4次。清洗完成的芯片由U形拨手拨动到温育槽中，温育槽上升到芯片检测模块对应位置，由检测拨手拨动到检测位，检测位位于芯片载台上，载台移动使光路检测组件对芯片进行检测。

本实用新型进一步改进在于，所述芯片检测模块包括有光路检测组件和检测拨手组件；所述检测拨手组件中的检测拨手将芯片拨动至检测位，所述检测位位于芯片载台上，所述芯片载台移动使所述光路检测组件对芯片进行检测；所述芯片检测模块设置有上部屏蔽罩和下部屏蔽罩。由于检测时需要避光，所以芯片检测模块设置了上部屏蔽罩和下部屏蔽罩两个屏蔽罩，减少环境光对检测结果的影响。

优选地，所述检测拨手组件具有检测拨手控制电机，所述检测拨手控制电机驱动检测拨手控制电机主动轮旋转，所述检测拨手控制电机主动轮通过检测拨手控制电机皮带带动检测拨手控制电机从动轮；所述检测拨手与检测拨手滑块连接块连接，所述检测拨手滑块连接块固定连接有检测拨手滑块，所述检测拨手滑块与所述检测拨手沿着检测拨手滑滑轨运动。

优选地，所述检测拨手一端设置有检测拨手限位片，设置在所述芯片检测模块的底板上的检测拨手限位光耦连接块固定连接检测拨手限位光耦，用于所述检测拨手的运动限位。

优选地，所述光路检测组件具有采光头，所述采光头上部设置有发射板；位于所述检测位下部设置有接收板，所述发射板发射激光，经过所述采光头对位于所述检测位上的芯片反应腔中的反应物进行荧光激发，再被所述接收板接收，经荧光收集、放大后计算得出检测结果。

优选地，在所述发射板下方，从上往下依次设置有第一滤光片、第一透镜、第二透镜和第二滤光片；所述接收板设置在所述第二滤光片下方；其中所述第一滤光片和第一透镜属于所述采光头的一部分；所述采光头与采光头固定块连接，所述采光头固定块与所述芯片检测模块的底板连接。

优选地，所述第二透镜和第二滤光片侧面分别设置有第一遮光块和第二遮光块；所述第二遮光块遮挡来自芯片弃置通道的环境光，同时作为所述芯片弃置通道的连接块。

优选地，所述芯片载台由芯片载台控制电机驱动，所述芯片载台控制电机带动芯片载台丝杆转动，所述芯片载台丝杆上的芯片载台电机螺母连接块运动；所述芯片载台电机螺母连接块与所述芯片载台连接，所述芯片载台连接有芯片载台滑块一和芯片载台滑块二；所述芯片载台滑块一和芯片载台滑块二带动所述芯片载台沿着芯片载台滑轨运动。

优选地，所述芯片检测模块还设置有弃置拨手，用于将检测后的芯片拨至芯片弃置通道中；所述弃置拨手由弃置拨手控制电机驱动，弃置拨手滑块固定在所述芯片检测模块的顶板上，弃置拨手滑轨连接弃置拨手电机螺母连接块；所述弃置拨手控制电机带动弃置拨手丝杆转动，所述弃置拨手电机螺母连接块沿着所述弃置拨手丝杆运动，所述弃置拨手电机螺母连接块与竖板相连接，所述竖板与横板连接；所述弃置拨手一端与所述横板连接作为弃置拨手固定部，所述弃置拨手另一端作为弃置拨手拨动部用于拨动芯片至所述芯片弃置通道中。

优选地，所述弃置拨手电机螺母连接块上固定有弃置拨手限位块，所述弃置拨手限位块的弃置拨手感应部与安装在所述顶板的弃置拨手限位传感器配合用于弃置拨手的限位。

优选地，所述弃置拨手设置有两个，分别设置在所述横板的两侧。

优选地，该时间分辨荧光免疫分析仪的外部还包覆有壳体，所述壳体上设置有显示屏，与检测相关的内容均可以在显示屏上进行查看；在所述壳体上设有进样口，用于插入芯片，在所述壳体侧面还设置有弃置槽；该时间分辨荧光免疫分析仪还设置有内置打印机，所述内置打印机的纸张出口设置在所述壳体上。

与现有技术相比，本实用新型技术方案的有益效果是：采用在垂直方向上排布各个模块，整体结构紧凑，占地面积小；且各模块功能配合流畅简便，检测效率高。

附图说明

下面结合附图和本实用新型的实施方式进一步详细说明：

图1是本实用新型的时间分辨荧光免疫分析仪的内部整体结构示意图；

图2是本实用新型的时间分辨荧光免疫分析仪的外部整体结构示意图；

图3是图1中的进样模块结构示意图；

图4是图1中的进样模块的后视结构示意图；

图5是进样模块的俯视结构示意图；

图6是图4中的芯片加载模块的后视结构示意图；

图7是图3中的芯片加载模块的侧仰视结构示意图；

图8是图3中的进样拨手运动组件的局部放大示意图；

图9是图6中的进样拨手的结构示意图；

图10是图3中的进样模块中的芯片限位片结构的局部示意图；

图11是图8中的芯片限位片结构的局部放大示意图；

图12是图8中的芯片限位片结构的局部放大俯视示意图；

图13是图3中的液路气路模块的结构示意图；

图14是图4中的液路气路模块的后视结构示意图；

图15是图13中的液路气路模块的侧仰视结构示意图；

图16是图1中的温育模块的结构示意图；

图17是图16中的缓冲结构局部放大图；

图18是图16中的限位结构局部放大图；

图19是图16中的温育槽组件的结构示意图；

图20是图16中的温育槽的结构示意图；

图21是清洗模块的结构示意图；

图22是图21中的清洗模块-U形拨手组件结构示意图；

图23是图21中的清洗模块气液路组件结构图；

图24是图21中的清洗气液组件的后视结构图；

图25是芯片检测模块的结构示意图；

图26是芯片检测模块的侧仰视结构示意图；

图27是图25中去掉屏蔽罩的芯片检测模块的结构示意图；

图28是芯片检测模块中的光路组件剖视图；

图29是图25中去掉屏蔽罩的后视结构示意图；

图30是芯片载台组件结构示意图；

图31是去掉屏蔽罩的芯片检测模块的侧视图；

图32是图31中的弃置拨手控制组件的结构示意图；

图33是图32中的弃置拨手结构俯视示意图；

其中：1-底座；2-进样模块；201-芯片加载模块；2011-隔板；2012-芯片加载模块支架一；2013-芯片加载模块支架二；202-液路气路模块；2021-液路气路控制电机；2022-芯片阀门控制电机；2023-环形支架；2024-液体探测杆；2025-液体探测传感器；2026-外接气液口密封接头；2027-芯片阀门压杆；2028-外接气液口接口；2029-液路气路滑轨；20210-液路气路滑块；20211-液路气路丝杆；20212-液路气路电机螺母；20213-侧支架；20214-芯片阀门滑轨；20215-芯片阀门滑块；20216-芯片阀门丝杆；20217-芯片阀门电机螺母；20218-芯片阀门滑块连接块；20219-支板；20220-芯片阀门限位光耦；20221-芯片阀门限位挡片；20222-液路气路限位挡片；20223-液路气路限位光耦；20224-进样口接口；20225-进样口密封头；203-芯片进样拨手；2031-芯片进样拨手滑杆；2032-进样拨手滑槽；2033-芯片插入感应器；204-芯片进样槽；2041-进样槽运动电机；2042-进样槽电机螺母；2043-进样槽丝杆；2044-进样槽连接块一；2045-进样槽连接块二；20451-第一进样槽连接块二；20452-第二进样槽连接块二；2046-进样槽滑块；20461-进样槽滑块一；20462-进样槽滑块二；2047-进样槽滑轨；20471-进样槽滑轨一；20472-进样槽滑轨二；205-芯片进样拨手运动组件；2051-进样拨手水平运动滑块；2052-进样拨手水平滑轨；2053-进样拨手水平运动滑块连接块；2054-芯片进样拨手上下运动滑轨；2055-进样拨手上下运动滑块；2056-进样拨手水平电机；2057-进样拨手皮带连接块；2058-进样拨手水平皮带；2059-进样拨手运动主动轮；20510-进样拨手运动从动轮；206-芯片限位片结构；2061-芯片限位片；2062-限位片滑杆；2063-芯片限位片滑槽；2064-芯片限位片滑轨；2065-芯片限位片滑块；207-芯片扫码器；208-顶板；2081-通孔；3-温育模块；301-温育槽组件；30101-加热片；30102-保温片；30103-温育槽；302-温育槽滑轨；303-温育槽连接块；304-抱闸电机；305-温育槽运动皮带；306-温育槽运动主动轮；307-温育槽运动从动轮；308-温育槽滑轨支架；3081-缓冲垫；309-缓冲块；3010-限位挡片；3011-限位光耦连接块；3012-限位光耦；3013-芯片压条；3014-螺母；4-清洗模块；401-清洗侧支架；402-清洗模块气液路组件；4021-清洗模块控制电机；4022-清洗模块丝杆；4023-清洗模块电机螺母；4024-清洗模块环形支架；4025-清洗模块滑轨；4026-清洗模块滑块；4027-清洗模块液体探测杆；4028-清洗模块气液路接口；40281-清洗液接口；40282-外接气路接口；4029-清洗模块液体探测传感器；40210-清洗模块限位光耦；40211-清洗模块限位挡片；40212-清洗模块芯片进样口密封接头；40213-清洗模块外接气液口密封接头；403-U形拨手；4031-U形拨手臂一；4032-U形拨手臂二；404-U形拨手控制电机；405-U形拨手主动轮；406-U形拨手皮带；407-U形拨手从动轮；408-U形拨手皮带连接块；409-U形拨手滑块组件；4010-U形拨手滑轨；5-芯片检测模块；501-光路检测组件；5011-采光头；50111-采光头固定块；5012-发射板；5013-接收板；5014-第一滤光片；5015-第一透镜；5016-第二透镜；5017-第二滤光片；5018-第一遮光块；5019-第二遮光块；502-检测拨手组件；5021-检测拨手控制电机；5022-检测拨手控制电机主动轮；5023-检测拨手控制电机皮带；5024-检测拨手控制电机从动轮；5025-检测拨手滑块连接块；5026-检测拨手滑块；5027-检测拨手滑滑轨；503-检测拨手；5031-检测拨手限位片；5032-检测拨手限位光耦连接块；5033-检测拨手限位光耦；504-芯片载台；5041-芯片载台控制电机；5042-芯片载台丝杆；5043-芯片载台电机螺母连接块；5044-芯片载台滑块一；5045-芯片载台滑块二；5046-芯片载台滑轨；505-上部屏蔽罩；506-下部屏蔽罩；507-底板；508-芯片弃置通道；509-弃置拨手；5091-弃置拨手控制电机；5092-弃置拨手滑块；5093-弃置拨手滑轨；5094-弃置拨手电机螺母连接块；5095-弃置拨手丝杆；5096-竖板；5097-横板；5098-弃置拨手限位块；5099-弃置拨手拨动部；50100-弃置拨手感应部；50910-弃置拨手固定部；5010-顶板；50101-弃置拨手限位传感器；6-壳体；7-显示屏；8-进样口；9-弃置槽；10-内置打印机；1001-纸张出口。

具体实施方式

如图1所示，是本实用新型的时间分辨荧光免疫分析仪的内部整体结构示意图，包括有底座1，还包括有进样模块2、温育模块3、清洗模块4和芯片检测模块5；

其中，所述进样模块2中设置有芯片加载模块201和液路气路模块202，所述芯片加载模块201用于将芯片运载至所述液路气路模块202，所述液路气路模块202用于使芯片中的样本流动至预定位置；尔后芯片被转运至所述温育模块3中；

所述温育模块3使得芯片在设定温度内恒温反应；

所述温育模块3沿垂直方向上下自由运动，所述进样模块2、清洗模块4和芯片检测模块5均分别设置在所述温育模块3垂直运动方向的侧面；由所述温育模块3将在所述清洗模块4中被清洗后的芯片送至所述芯片检测模块5中进行检测；

如图2所示，该时间分辨荧光免疫分析仪的外部还包覆有壳体6，所述壳体6上设置有显示屏7，与检测相关的内容均可以在显示屏7上进行查看；在所述壳体6的正面设有进样口8，用于插入芯片，在所述壳体6侧面还设置有弃置槽9；该时间分辨荧光免疫分析仪还设置有内置打印机10，所述内置打印机10的纸张出口1001设置在所述壳体6上。

如图3～12所示，所述芯片加载模块201包括有芯片进样拨手203，所述芯片进样拨手203拨动芯片使其在芯片进样槽204中放入到位；所述芯片进样槽204后方设置有芯片限位片结构206；芯片在所述芯片进样槽204的带动下移动；

如图8所示，所述芯片进样拨手203由芯片进样拨手运动组件205控制其动作；所述芯片进样拨手运动组件包括有进样拨手水平运动组件和进样拨手上下运动组件；所述进样拨手水平运动组件具有进样拨手水平运动滑块2051，所述进样拨手水平运动滑块2051沿着进样拨手水平滑轨2052运动，所述进样拨手水平运动滑块2051上连接进样拨手水平运动滑块连接块2053，所述进样拨手水平运动滑块连接块2053上固定连接有芯片进样拨手上下运动滑轨2054，所述芯片进样拨手上下运动滑轨2054上连接有进样拨手上下运动滑块2055，所述进样拨手上下运动滑块2055与所述芯片进样拨手203连接，如图9所示，所述芯片进样拨手203上设置有芯片进样拨手滑杆2031，所述芯片进样拨手滑杆2031在芯片进样拨手滑槽2032中运动；即芯片进样拨手203可以沿着进样拨手滑槽2032水平与上下运动；

如图3～4所示，所述芯片进样槽204在进样槽运动电机2041控制下，进样槽电机螺母2042沿着进样槽丝杆2043运动，所述进样槽电机螺母2042与进样槽连接块一2044连接，所述进样槽连接块一2044与所述芯片进样槽204连接，进样槽连接块二2045与所述进样槽连接块一2044连接，所述进样槽连接块二2045与进样槽滑块2046连接，所述进样槽滑块2046沿着进样槽滑轨2047往复运动。

如图5～6所示，在所述芯片加载模块201的隔板2011上具有两个进样槽滑轨2047，分别为进样槽滑轨一20471和进样槽滑轨二20472；相应的，所述进样槽滑块2046有两个，分别为进样槽滑块一20461和进样槽滑块二20462，所述进样槽连接块二2045有两个，分别为第一进样槽连接块二20451和第二进样槽连接块二20452；其中，所述第一进样槽连接块二20451与所述进样槽滑块一20452连接，所述进样槽滑块一20461沿着所述进样槽滑轨一20471往复运动，所述第二进样槽连接块二20452与所述进样槽滑块二20462连接，所述进样槽滑块二20462沿着所述进样槽滑轨二20472往复运动；

如图10～12所示，所述隔板2011上具有芯片加载模块支架一2012和芯片加载模块支架二2013，其中，所述芯片加载模块支架二2013设置有芯片限位片滑槽2063；所述芯片限位片结构206具有芯片限位片2061，所述芯片限位片2061上设置有用于在所述芯片限位滑槽2063中运动的芯片限位片滑杆2062；在所述芯片进样槽204的侧壁上固定连接有芯片限位片滑轨2064，所述芯片限位片滑轨2064上连接有芯片限位片滑块2065，所述芯片限位片2061连接在所述芯片限位片滑块2065上，所述芯片限位片2061跟随所述芯片进样槽204水平运动，同时配合所述芯片限位片滑槽2063上下运动。该技术方案中芯片加载模块支架一2012的滑槽无具体功能，为了与芯片加载模块支架二2013的结构统一，便于加工制造。

如图6所示，所述进样拨手滑槽2032前端高于后端，使得所述进样拨手滑槽2032具有高起点；所述进样拨手水平运动组件具有进样拨手水平电机2056，进样拨手皮带连接块2057一端固定连接在所述进样拨手水平皮带2058上，所述进样拨手皮带连接块2057的另一端与所述进样拨手水平运动滑块连接块2053固定连接；所述进样拨手水平皮带2058套接在所述进样拨手运动主动轮2059和所述进样拨手运动从动轮20510上，所述进样拨手主动轮2059与所述进样拨手水平电机2056相连接，所述进样拨手水平运动滑块连接块2053套接在所述进样拨手水平皮带2058上；进样拨手水平电机2056启动，芯片进样拨手203沿着进样拨手水平滑轨2052运动，芯片进样拨手203的初始位置在芯片进样槽204前端上方(进样拨手滑槽高起点)，芯片放入后，芯片插入感应器2033感测到芯片后，芯片进样拨手203沿着进样拨手滑槽2032运动，将进样拨手滑槽2032的前端设置为高于后端，目的是不阻挡芯片放入芯片进样槽204，芯片进样拨手203拨动芯片使芯片完全到达芯片进样槽204预设位置，防止芯片放入不到位。

如图13～15所示，所述液路气路模块202包括有液路气路控制电机2021和芯片阀门控制电机2022；所述液路气路控制电机2021驱动环形支架2023向下运动，所述环形支架2023下压使位于所述环形支架2023上的进样口接口20224通过进样口密封头20225密封对接芯片的进样腔，外接气液口接口2028通过外接气液口密封接头2026密封对接芯片的外接气液口；所述环形支架2023上固定连接有液体探测杆2024，所述液体探测杆2024与液体探测传感器2025连接；所述芯片阀门控制电机2022驱动芯片阀门滑块连接块20218运动，所述芯片阀门滑块连接块20218上安装有芯片阀门压杆2027，所述芯片阀门压杆2027在所述芯片阀门控制电机2022的控制下下压压住芯片的阀门。

如图14所示，所述液路气路模块202还包括有液路气路滑轨2029和液路气路滑块20210；所述液路气路控制电机2021启动，液路气路丝杆20211旋转，所述液路气路丝杆20211上的液路气路电机螺母20212带动所述环形支架2023向下运动，所述环形支架2023与所述液路气路滑轨2029连接，与所述液路气路滑块20210配合运动，所述液路气路滑块20210固定连接在所述液路气路模块202的侧支架20213内侧。

如图15所示，所述液路气路模块202还包括有芯片阀门滑轨20214和芯片阀门滑块20215；所述芯片阀门控制电机2022启动，芯片阀门丝杆20216旋转，所述芯片阀门丝杆20216上的芯片阀门电机螺母20217带动芯片阀门滑块连接块20218运动，所述芯片阀门滑块连接块20218与所述芯片阀门滑块20215连接，所述芯片阀门滑轨20214安装在所述液路气路模块202的支板20219内侧。液路气路控制电机2021启动，液路气路丝杆20211旋转，液路气路电机螺母20212带动环形支架2023向下运动，环形支架2023与液路气路滑轨2029相连接，与液路气路滑块20210配合运动，液路气路滑块20210固定连接在侧支架20213内侧，环形支架2023下压使位于环形支架2023上的进样口接口20224(进气加压作用)通过进样口密封头20225密封对接芯片的进样腔，外接气液口接口2028(密闭处理，不能进气体和液体)通过外接气液口密封接头2026密封对接芯片的外接气液口，接着通过进样口接口20224进气加压使芯片进样腔中的样本沿着芯片微流道缓慢前进，环形支架2023上固定连接有液体探测杆2024，液体探测杆2024与液体探测传感器2025连接，当芯片中样本到达芯片导电橡胶阀门时，液体探测杆感测到电容变化，仪器的芯片阀门控制电机2022启动，芯片阀门丝杆20216旋转，芯片阀门电机螺母20217带动芯片阀门滑块连接块20218运动，芯片阀门滑块连接块20218与芯片阀门滑块20215连接，芯片阀门滑轨20214安装在支板20219内侧，芯片阀门滑块连接块20218上安装芯片阀门压杆2027，芯片阀门压杆2027在芯片阀门控制电机2022的控制下下压压住阀门，使芯片液体不能继续前进，同时进样口接口20224停止进气加压。

如图13所示，所述液路气路模块202中还设置有芯片阀门限位光耦20220和芯片阀门限位挡片20221，用于限制所述芯片阀门压杆2027下降的高度；所述液路气路模块202中还设置有液路气路限位光耦20223和液路气路限位挡片20222，用于限制所述环形支架2023下降的高度。

液路气路模块202还包括有芯片扫码器207，用于对芯片上的二维码进行扫码。芯片扫码器207位于芯片的上方，通过所述进样模块2的顶板208上的通孔2081对所述芯片扫码，确认芯片检测项目是否正确，芯片是否在有效期内，如不符合要求则机器报警，提示错误信息。

如图16～20所示，所述温育模块3具有温育槽组件301，如图17所示，所述温育槽组件301包括有加热片30101和保温片30102；如图19所示，所述温育槽组件301中多个叠装的温育槽3013，且所述多个叠装的温育槽30103沿温育槽滑轨302上下自由运动。温育槽组件301设置加热片30101和保温片30102使芯片在设定温度内恒温反应。

如图16所示，所述温育槽组件301还设置有温育槽连接块303；所述温育槽连接块303与温育槽运动皮带305连接，抱闸电机304驱动温育槽运动主动轮306，通过所述温育槽运动皮带305带动温育槽运动从动轮307转动，使得所述温育槽组件301中多个叠装的温育槽3013沿所述温育槽滑轨302上下自由运动。

温育槽滑轨302设置在温育槽滑轨支架308上，所述温育槽组件301的侧面设置有缓冲块309，对应的，在所述温育槽滑轨支架308底部设置缓冲垫3081；所述温育槽组件301上设置有限位挡片3010，所述温育槽滑轨支架308固定连接有限位光耦连接块3011，限位光耦3012安装在所述限位光耦连接块3011上，用于所述温育槽30103上下运动的限位。

如图20所示，所述温育槽30103设置有芯片压条3012，所述芯片压条3012的两个凸起与芯片中的凹槽配合，通过螺母3014固定，用于在芯片进行温育反应的定位。

所述加热片30101和保温片30102均设置在多个叠装的所述温育槽30103的侧面。

如图21-24所示，所述清洗模块4包括有U形拨手组件和清洗模块气液路组件402；芯片温育反应结束后，所述U形拨手组件中的U形拨手403拨动芯片到所述清洗模块气液路组件402中的清洗位进行清洗；芯片清洗结束后，所述U形拨手403再回拨芯片；所述清洗模块4还包括两侧的清洗侧支架401。

如图22所示，所述U形拨手组件设置有U形拨手控制电机404，在所述U形拨手控制电机404的控制下，U形拨手主动轮405旋转，通过U形拨手皮带406带动U形拨手从动轮407，所述U形拨手皮带406上的U形拨手皮带连接块408与U形拨手滑块组件409连接，所述U形拨手滑块组件409与所述U形拨手403连接沿着U形拨手滑轨4010运动。

所述U形拨手403向两侧分别延伸出U形拨手臂一4031和U形拨手臂二4032，所述U形拨手臂一4031和U形拨手臂二4032之间的距离大于芯片长度。

所述清洗模块气液路组件402具有清洗模块控制电机4021，所述清洗模块控制电机4021启动，清洗模块丝杆4022旋转，所述清洗模块丝杆4022上的清洗模块电机螺母4023带动所述清洗模块环形支架4024上下运动；所述清洗模块环形支架4024与清洗模块滑轨4025固定连接，所述清洗模块滑轨4025与清洗模块滑块4026滑动连接；所述清洗模块环形支架4024上设置有清洗模块液体探测杆4027和清洗模块气液路接口4028，所述清洗模块气液路接口4028分别为清洗液接口40281和外接气路接口40282，所述清洗液接口40281和外接气路接口40282对应于所述清洗模块环形支架4024底部的清洗模块外接气液口密封接头40213；所述清洗模块液体探测杆4027与清洗模块液体探测传感器4029连接。

所述清洗模块气液路组件402中还设置有清洗模块限位光耦40210和清洗模块限位挡片40211，用于限制所述清洗模块环形支架4024下降的高度；所述清洗模块环形支架4024底部还设置有清洗模块芯片进样口密封接头40212，所述清洗模块芯片进样口密封接头40212位于所述清洗模块外接气液口密封接头40213的侧面。清洗模块控制电机4021启动，清洗模块环形支架4024可以上下运动，当进行芯片清洗时，清洗模块环形支架4024下压，两个密封接头(清洗模块外接气液口密封接头40213和芯片进样口密封接头40212)分别与芯片上的对应口密封结合，清洗液加入，清洗模块液体探测杆4027探测到液体时停止加液，外接气路进气加压使清洗液流入废液腔，如此往复清洗3-4次。清洗完成的芯片由U形拨手403拨动到温育槽30103中，温育槽30103上升到芯片检测模块5对应位置，由检测拨手503拨动到检测位，检测位位于芯片载台504上，通过芯片载台504移动使光路检测组件501对芯片进行检测。

如图25～31所示，所述芯片检测模块5包括有光路检测组件501和检测拨手组件502；所述检测拨手组件502中的检测拨手503将芯片拨动至检测位，所述检测位位于芯片载台504上，所述芯片载台504移动使所述光路检测组件501对芯片进行检测；所述芯片检测模块5设置有上部屏蔽罩505和下部屏蔽罩506。由于检测时需要避光，所以芯片检测模块5设置了上部屏蔽罩505和下部屏蔽罩506两个屏蔽罩，减少环境光对检测结果的影响。

所述检测拨手组件502具有检测拨手控制电机5021，所述检测拨手控制电机5021驱动检测拨手控制电机主动轮5022旋转，所述检测拨手控制电机主动轮5022通过检测拨手控制电机皮带5023带动检测拨手控制电机从动轮5024；所述检测拨手503与检测拨手滑块连接块5025连接，所述检测拨手滑块连接块5025固定连接有检测拨手滑块5026，所述检测拨手滑块5026与所述检测拨手503沿着检测拨手滑滑轨5027运动。

所述检测拨手503一端设置有检测拨手限位片5031，设置在所述芯片检测模块5的底板507上的检测拨手限位光耦连接块5032固定连接检测拨手限位光耦5033，用于所述检测拨手503的运动限位。

如图29所示，所述光路检测组件501具有采光头5011，所述采光头5011上部设置有发射板5012；位于所述检测位下部设置有接收板5013，所述发射板5012发射激光，经过所述采光头5011对位于所述检测位上的芯片反应腔中的反应物进行荧光激发，再被所述接收板5013接收，经荧光收集、放大后计算得出检测结果。

如图28所示，在所述发射板5012下方，从上往下依次设置有第一滤光片5014、第一透镜5015、第二透镜5016和第二滤光片5017；所述接收板5013设置在所述第二滤光片5017下方；其中所述第一滤光片5014和第一透镜5015属于所述采光头5011的一部分；所述采光头5011与采光头固定块50111连接，所述采光头固定块50111与所述芯片检测模块5的底板507连接。

所述第二透镜5015和第二滤光片5017侧面分别设置有第一遮光块5018和第二遮光块5019；所述第二遮光块5019遮挡来自芯片弃置通道508的环境光，同时作为所述芯片弃置通道508的连接块。

如图30所示，所述芯片载台504由芯片载台控制电机5041驱动，所述芯片载台控制电机5041带动芯片载台丝杆5042转动，所述芯片载台丝杆5042上的芯片载台电机螺母连接块5043运动；所述芯片载台电机螺母连接块5043与所述芯片载台504连接，所述芯片载台504连接有芯片载台滑块一5044和芯片载台滑块二5045；所述芯片载台滑块一5044和芯片载台滑块二5045带动所述芯片载台504沿着芯片载台滑轨5046运动。

如图32～33所示，所述芯片检测模块5还设置有弃置拨手509，用于将检测后的芯片拨至芯片弃置通道508中；所述弃置拨手509由弃置拨手控制电机5091驱动，弃置拨手滑块5092固定在所述芯片检测模块5的顶板5010上，弃置拨手滑轨5093连接弃置拨手电机螺母连接块5094；所述弃置拨手控制电机5091带动弃置拨手丝杆5095转动，所述弃置拨手电机螺母连接块5094沿着所述弃置拨手丝杆5095运动，所述弃置拨手电机螺母连接块5094与竖板5096相连接，所述竖板5096与横板5097连接；所述弃置拨手509一端与所述横板5097连接作为弃置拨手固定部50910，所述弃置拨手509另一端作为弃置拨手拨动部5099用于拨动芯片至所述芯片弃置通道508中。

所述弃置拨手电机螺母连接块5094上固定有弃置拨手限位块5098，所述弃置拨手限位块5098的弃置拨手感应部50100与安装在所述顶板5010的弃置拨手限位传感器50101配合用于弃置拨手509的限位；所述弃置拨手509设置有两个，分别设置在所述横板5097的两侧。

具体使用时：

进样模块2具体又分为芯片加载模块201和液路气路模块202；首先，芯片从仪器进样口8放入，液路气路模块202上的芯片扫码器207对芯片的二维码进行扫码，确认芯片检测项目是否正确，芯片是否在有效期内，如不符合要求则机器报警，提示错误信息。同时，芯片插入感应器2033感应到芯片，芯片进样拨手203滑动，拨动芯片使其在芯片进样槽204中放入到位，芯片进样槽204后方设置芯片限位片结构206，防止芯片放入超出芯片进样槽204的预设位置。接着芯片在芯片进样槽204的带动下移动到液路气路模块202，液路气路控制电机2021启动，环形支架2023下压使位于环形支架2023上的进样口接口20224(进气加压作用)密封对接芯片的进样腔，外接气液口接口2028(密闭处理，不能进气体和液体)密封对接芯片的外接气液口，接着通过进样口接头进气加压使芯片进样腔中的样本沿着芯片微流道缓慢前进，当到达芯片导电橡胶阀门时，液体探测杆2024感测到电容变化，仪器的芯片阀门控制电机2022启动，芯片阀门压杆2027在电机的控制下下压压住阀门，使芯片液体不能继续前进。

芯片进样拨手203在电机控制下拨动芯片使芯片到达温育模块3，温育模块3具有加热片30101与保温片30102，使芯片反应腔在预设温度下进行样本免疫反应。

反应结束后，清洗模块4的U形拨手403拨动芯片到清洗模块4，清洗模块4具有清洗模块气液路组件402能够对反应后的芯片进行清洗，清洗模块环形支架4024上的清洗模块液体探测杆4027能够感测液体是否到阀门处，感测到信号后即对芯片的外接液路气路口进行进气加压，使清洗后的液体进入芯片的废液腔，如此反复3-4次后，芯片清洗完成，随即U形拨手403拨动芯片到温育模块3，温育模块3上升到芯片检测模块5对应位置。

芯片检测模块5的检测拨手503拨动芯片到达芯片载台504，芯片载台504可以移动，使光路检测组件501对芯片反应腔进行光信号检测，检测完成后，弃置拨手509在电机的控制下拨动芯片进入弃置槽9，留作生物废弃物处理。检测结果可在仪器的显示屏7上显示，还可通过内置打印机10打印检测结果。

以上显示和描述了本实用新型的基本原理、主要特征及优点。本行业的技术人员应该了解，本实用新型不受上述实施例的限制，上述实施例和说明书中描述的只是说明本实用新型的原理，在不脱离本实用新型精神和范围的前提下，本实用新型还会有各种变化和改进，例如对于安装在底座上各个部件的位置做一些调整，这些变化和改进都落入要求保护的本实用新型范围内。本实用新型要求保护范围由所附的权利要求书及其等效物界定。

Claims (33)

1.一种时间分辨荧光免疫分析仪，包括有底座，其特征在于，还包括有进样模块、温育模块、清洗模块和芯片检测模块；

其中，所述进样模块中设置有芯片加载模块和液路气路模块，所述芯片加载模块用于将芯片运载至所述液路气路模块，所述液路气路模块用于使芯片中的样本流动至预定位置；尔后芯片被转运至所述温育模块中；

所述温育模块使得芯片在设定温度内恒温反应；

所述温育模块沿垂直方向上下自由运动，所述进样模块、清洗模块和芯片检测模块均分别设置在所述温育模块垂直运动方向的侧面；由所述温育模块将在所述清洗模块中被清洗后的芯片送至所述芯片检测模块中进行检测。

2.根据权利要求1所述的时间分辨荧光免疫分析仪，其特征在于，所述温育模块具有温育槽组件，所述温育槽组件包括有加热片和保温片；所述温育槽组件中多个叠装的温育槽，且所述多个叠装的温育槽沿温育槽滑轨上下自由运动。

3.根据权利要求2所述的时间分辨荧光免疫分析仪，其特征在于，所述温育槽组件还设置有温育槽连接块；所述温育槽连接块与温育槽运动皮带连接，抱闸电机驱动温育槽运动主动轮，通过所述温育槽运动皮带带动温育槽运动从动轮转动，使得所述温育槽组件中多个叠装的温育槽沿所述温育槽滑轨上下自由运动。

4.根据权利要求3所述的时间分辨荧光免疫分析仪，其特征在于，所述温育槽滑轨设置在温育槽滑轨支架上，所述温育槽组件的侧面设置有缓冲块，对应的，在所述温育槽滑轨支架底部设置缓冲垫；所述温育槽组件上设置有限位挡片，所述温育槽滑轨支架固定连接有限位光耦连接块，限位光耦安装在所述限位光耦连接块上，用于所述温育槽上下运动的限位。

5.根据权利要求4所述的时间分辨荧光免疫分析仪，其特征在于，所述温育槽设置有芯片压条，所述芯片压条的两个凸起与芯片的凹槽配合，用于芯片进行温育反应的定位。

6.根据权利要求5所述的时间分辨荧光免疫分析仪，其特征在于，所述加热片和保温片均设置在多个叠装的所述温育槽的侧面。

7.根据权利要求1所述的时间分辨荧光免疫分析仪，其特征在于，所述芯片加载模块包括有芯片进样拨手，所述芯片进样拨手拨动芯片使其在芯片进样槽中放入到位；所述芯片进样槽后方设置有芯片限位片结构；芯片在所述芯片进样槽的带动下移动。

8.根据权利要求7所述的时间分辨荧光免疫分析仪，其特征在于，所述芯片进样拨手由芯片进样拨手运动组件控制其动作；所述芯片进样拨手运动组件包括有进样拨手水平运动组件和进样拨手上下运动组件；所述进样拨手水平运动组件具有进样拨手水平运动滑块，所述进样拨手水平运动滑块沿着进样拨手水平滑轨运动，所述进样拨手水平运动滑块上连接进样拨手水平运动滑块连接块，所述进样拨手水平运动滑块连接块上固定连接有芯片进样拨手上下运动滑轨，所述芯片进样拨手上下运动滑轨上连接有进样拨手上下运动滑块，所述进样拨手上下运动滑块与所述芯片进样拨手连接，所述芯片进样拨手上设置有芯片进样拨手滑杆，所述芯片进样拨手滑杆在芯片进样拨手滑槽中运动。

9.根据权利要求8所述的时间分辨荧光免疫分析仪，其特征在于，所述芯片进样槽在进样槽运动电机控制下，进样槽电机螺母沿着进样槽丝杆运动，所述进样槽电机螺母与进样槽连接块一连接，所述进样槽连接块一与所述芯片进样槽连接，进样槽连接块二与所述进样槽连接块一连接，所述进样槽连接块二与进样槽滑块连接，所述进样槽滑块沿着进样槽滑轨往复运动。

10.根据权利要求9所述的时间分辨荧光免疫分析仪，其特征在于，在所述芯片加载模块的隔板上具有两个进样槽滑轨，分别为进样槽滑轨一和进样槽滑轨二；相应的，所述进样槽滑块有两个，分别为进样槽滑块一和进样槽滑块二，所述进样槽连接块二有两个，分别为第一进样槽连接块二和第二进样槽连接块二；其中，所述第一进样槽连接块二与所述进样槽滑块一连接，所述进样槽滑块一沿着所述进样槽滑轨一往复运动，所述第二进样槽连接块二与所述进样槽滑块二连接，所述进样槽滑块二沿着所述进样槽滑轨二往复运动。

11.根据权利要求10所述的时间分辨荧光免疫分析仪，其特征在于，所述隔板上具有芯片加载模块支架一和芯片加载模块支架二，其中，所述芯片加载模块支架二设置有芯片限位片滑槽；所述芯片限位片结构具有芯片限位片，所述芯片限位片上设置有用于在所述芯片限位滑槽中运动的芯片限位片滑杆；在所述芯片进样槽的侧壁上固定连接有芯片限位片滑轨，所述芯片限位片滑轨上连接有芯片限位片滑块，所述芯片限位片连接在所述芯片限位片滑块上，所述芯片限位片跟随所述芯片进样槽水平运动，同时配合所述芯片限位片滑槽上下运动。

12.根据权利要求8所述的时间分辨荧光免疫分析仪，其特征在于，所述进样拨手滑槽前端高于后端，使得所述进样拨手滑槽具有高起点；所述进样拨手水平运动组件具有进样拨手水平电机，进样拨手皮带连接块一端固定连接在进样拨手水平皮带上，所述进样拨手皮带连接块的另一端与所述进样拨手水平运动滑块连接块固定连接。

13.根据权利要求1所述的时间分辨荧光免疫分析仪，其特征在于，所述液路气路模块包括有液路气路控制电机和芯片阀门控制电机；所述液路气路控制电机驱动环形支架向下运动，所述环形支架下压使位于所述环形支架上的进样口接口通过进样口密封头密封对接芯片的进样腔，外接气液口接口通过外接气液口密封接头密封对接芯片的外接气液口；所述环形支架上固定连接有液体探测杆，所述液体探测杆与液体探测传感器连接；所述芯片阀门控制电机驱动芯片阀门滑块连接块运动，所述芯片阀门滑块连接块上安装有芯片阀门压杆，所述芯片阀门压杆在所述芯片阀门控制电机的控制下下压压住芯片的阀门。

14.根据权利要求13所述的时间分辨荧光免疫分析仪，其特征在于，所述液路气路模块还包括有液路气路滑轨和液路气路滑块；所述液路气路控制电机启动，液路气路丝杆旋转，所述液路气路丝杆上的液路气路电机螺母带动所述环形支架向下运动，所述环形支架与所述液路气路滑轨连接，与所述液路气路滑块配合运动，所述液路气路滑块固定连接在所述液路气路模块的侧支架内侧。

15.根据权利要求14所述的时间分辨荧光免疫分析仪，其特征在于，所述液路气路模块还包括有芯片阀门滑轨和芯片阀门滑块；所述芯片阀门控制电机启动，芯片阀门丝杆旋转，所述芯片阀门丝杆上的芯片阀门电机螺母带动芯片阀门滑块连接块运动，所述芯片阀门滑块连接块与所述芯片阀门滑块连接，所述芯片阀门滑轨安装在所述液路气路模块的支板内侧。

16.根据权利要求15所述的时间分辨荧光免疫分析仪，其特征在于，所述液路气路模块中还设置有芯片阀门限位光耦和芯片阀门限位挡片，用于限制所述芯片阀门压杆下降的高度；所述液路气路模块中还设置有液路气路限位光耦和液路气路限位挡片，用于限制所述环形支架下降的高度。

17.根据权利要求16所述的时间分辨荧光免疫分析仪，其特征在于，所述液路气路模块还包括有芯片扫码器，用于对芯片上的二维码进行扫码。

18.根据权利要求1所述的时间分辨荧光免疫分析仪，其特征在于，所述清洗模块包括有U形拨手组件和清洗模块气液路组件；芯片温育反应结束后，所述U形拨手组件中的U形拨手拨动芯片到所述清洗模块气液路组件中的清洗位进行清洗；芯片清洗结束后，所述U形拨手再回拨芯片。

19.根据权利要求18所述的时间分辨荧光免疫分析仪，其特征在于，所述U形拨手组件设置有U形拨手控制电机，在所述U形拨手控制电机的控制下，U形拨手主动轮旋转，通过U形拨手皮带带动U形拨手从动轮，所述U形拨手皮带上的U形拨手皮带连接块与U形拨手滑块组件连接，所述U形拨手滑块组件与所述U形拨手连接沿着U形拨手滑轨运动。

20.根据权利要求19所述的时间分辨荧光免疫分析仪，其特征在于，所述U形拨手向两侧分别延伸出U形拨手臂一和U形拨手臂二，所述U形拨手臂一和U形拨手臂二之间的距离大于芯片长度。

21.根据权利要求18所述的时间分辨荧光免疫分析仪，其特征在于，所述清洗模块气液路组件具有清洗模块控制电机，所述清洗模块控制电机启动，清洗模块丝杆旋转，所述清洗模块丝杆上的清洗模块电机螺母带动清洗模块环形支架上下运动；所述清洗模块环形支架与清洗模块滑轨固定连接，所述清洗模块滑轨与清洗模块滑块滑动连接；所述清洗模块环形支架上设置有清洗模块液体探测杆和清洗模块气液路接口，所述清洗模块气液路接口分别为清洗液接口和外接气路接口，所述清洗液接口和外接气路接口对应于所述清洗模块环形支架底部的清洗模块外接气液口密封接头；所述清洗模块液体探测杆与清洗模块液体探测传感器连接。

22.根据权利要求21所述的时间分辨荧光免疫分析仪，其特征在于，所述清洗模块气液路组件中还设置有清洗模块限位光耦和清洗模块限位挡片，用于限制所述清洗模块环形支架下降的高度；所述清洗模块环形支架底部还设置有清洗模块芯片进样口密封接头，所述清洗模块芯片进样口密封接头位于所述清洗模块外接气液口密封接头侧面。

23.根据权利要求1所述的时间分辨荧光免疫分析仪，其特征在于，所述芯片检测模块包括有光路检测组件和检测拨手组件；所述检测拨手组件中的检测拨手将芯片拨动至检测位，所述检测位位于芯片载台上，所述芯片载台移动使所述光路检测组件对芯片进行检测；所述芯片检测模块设置有上部屏蔽罩和下部屏蔽罩。

24.根据权利要求23所述的时间分辨荧光免疫分析仪，其特征在于，所述检测拨手组件具有检测拨手控制电机，所述检测拨手控制电机驱动检测拨手控制电机主动轮旋转，所述检测拨手控制电机主动轮通过检测拨手控制电机皮带带动检测拨手控制电机从动轮；所述检测拨手与检测拨手滑块连接块连接，所述检测拨手滑块连接块固定连接有检测拨手滑块，所述检测拨手滑块与所述检测拨手沿着检测拨手滑滑轨运动。

25.根据权利要求24所述的时间分辨荧光免疫分析仪，其特征在于，所述检测拨手一端设置有检测拨手限位片，设置在所述芯片检测模块的底板上的检测拨手限位光耦连接块固定连接检测拨手限位光耦，用于所述检测拨手的运动限位。

26.根据权利要求23所述的时间分辨荧光免疫分析仪，其特征在于，所述光路检测组件具有采光头，所述采光头上部设置有发射板；位于所述检测位下部设置有接收板，所述发射板发射激光，经过所述采光头对位于所述检测位上的芯片反应腔中的反应物进行荧光激发，再被所述接收板接收，经荧光收集、放大后计算得出检测结果。

27.根据权利要求26所述的时间分辨荧光免疫分析仪，其特征在于，在所述发射板下方，从上往下依次设置有第一滤光片、第一透镜、第二透镜和第二滤光片；所述接收板设置在所述第二滤光片下方；其中所述第一滤光片和第一透镜属于所述采光头的一部分；所述采光头与采光头固定块连接，所述采光头固定块与所述芯片检测模块的底板连接。

28.根据权利要求27所述的时间分辨荧光免疫分析仪，其特征在于，所述第二透镜和第二滤光片侧面分别设置有第一遮光块和第二遮光块；所述第二遮光块遮挡来自芯片弃置通道的环境光，同时作为所述芯片弃置通道的连接块。

29.根据权利要求23所述的时间分辨荧光免疫分析仪，其特征在于，所述芯片载台由芯片载台控制电机驱动，所述芯片载台控制电机带动芯片载台丝杆转动，所述芯片载台丝杆上的芯片载台电机螺母连接块运动；所述芯片载台电机螺母连接块与所述芯片载台连接，所述芯片载台连接有芯片载台滑块一和芯片载台滑块二；所述芯片载台滑块一和芯片载台滑块二带动所述芯片载台沿着芯片载台滑轨运动。

30.根据权利要求23所述的时间分辨荧光免疫分析仪，其特征在于，所述芯片检测模块还设置有弃置拨手，用于将检测后的芯片拨至芯片弃置通道中；所述弃置拨手由弃置拨手控制电机驱动，弃置拨手滑块固定在所述芯片检测模块的顶板上，弃置拨手滑轨连接弃置拨手电机螺母连接块；所述弃置拨手控制电机带动弃置拨手丝杆转动，所述弃置拨手电机螺母连接块沿着所述弃置拨手丝杆运动，所述弃置拨手电机螺母连接块与竖板相连接，所述竖板与横板连接；所述弃置拨手一端与所述横板连接作为弃置拨手固定部，所述弃置拨手另一端作为弃置拨手拨动部用于拨动芯片至所述芯片弃置通道中。

31.根据权利要求30所述的时间分辨荧光免疫分析仪，其特征在于，所述弃置拨手电机螺母连接块上固定有弃置拨手限位块，所述弃置拨手限位块的弃置拨手感应部与安装在所述顶板的弃置拨手限位传感器配合用于弃置拨手的限位。

32.根据权利要求31所述的时间分辨荧光免疫分析仪，其特征在于，所述弃置拨手设置有两个，分别设置在所述横板的两侧。

33.根据权利要求1-32任一项所述的时间分辨荧光免疫分析仪，其特征在于，该时间分辨荧光免疫分析仪的外部还包覆有壳体，所述壳体上设置有显示屏；在所述壳体上设有进样口，用于插入芯片；在所述壳体的侧面还设有弃置槽；该时间分辨荧光免疫分析仪还设有内置打印机，所述内置打印机的纸张出口设置在所述壳体上。

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