CN212207459U - 一种集成电路芯片的自动化检测线 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种集成电路芯片的自动化检测线，包括底座，所述底座顶部两侧均固定设置有竖板，两个所述竖板之间连接有腔体，所述腔体两端均固定设置有电机，两个所述电机输出轴端部均传动连接有螺纹杆，所述腔体中部设置有固定块。本实用新型通过两个电机带动两个螺纹杆转动进而两个滑块移动，调节两个第一电动推杆伸长带动两个压板将芯片两侧夹紧实现对芯片固定，防止芯片移动导致检测不精确，调节第二电动推杆伸长带动活动腔向下移动，探针本体底部与芯片接触带动活动板向上移动，在两个连接杆的作用下两个滑套压缩两个弹簧，两个弹簧实现对接触时力度进行缓冲，防止探针本体与芯片接触力度较大，造成芯片损坏。

Description

一种集成电路芯片的自动化检测线

技术领域

本实用新型涉及集成电路芯片检测技术领域，具体涉及一种集成电路芯片的自动化检测线。

背景技术

集成电路芯片是包括一硅基板、至少一电路、一固定封环、一接地环及至少一防护环的电子元件，电路形成于硅基板上，电路具有至少一输出或者输入垫，固定封环形成于硅基板上，并围绕电路及输出或者输入垫，接地环形成于硅基板及输出或者输入垫之间，并与固定封环电连接，防护环设置于硅基板之上，并围绕输出或者输入垫，用以与固定封环电连接；

现有技术存在以下不足：现有的集成电路芯片检测装置大多利用探针对芯片进行检测，但是用探针检测芯片的过程中，芯片有可能发生移动，一旦移动就会导致检测结果不准确，同时探针在与芯片接触时力度较大可能会对芯片造成损坏的情况，实用性较差。

在所述背景技术部分公开的上述信息仅用于加强对本公开的背景的理解，因此它可以包括不构成对本领域普通技术人员已知的现有技术的信息。

实用新型内容

本实用新型的目的是提供一种集成电路芯片的自动化检测线，通过两个电机带动两个螺纹杆转动进而两个滑块移动，调节两个第一电动推杆伸长带动两个压板将芯片两侧夹紧实现对芯片固定，防止在检测时芯片移动导致检测不精确，调节第二电动推杆伸长带动活动腔以及探针本体向下移动，当探针本体底部与芯片接触时，探针本体带动活动板向上移动，在两个连接杆的作用下两个滑套压缩两个弹簧，两个弹簧实现对接触时力度进行缓冲，防止探针本体与芯片接触力度较大，造成芯片损坏，以解决上述背景技术中的问题。

为了实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：一种集成电路芯片的自动化检测线，包括底座，所述底座顶部两侧均固定设置有竖板，两个所述竖板之间连接有腔体，所述腔体两端均固定设置有电机，两个所述电机输出轴端部均传动连接有螺纹杆，所述腔体中部设置有固定块，两个所述螺纹杆外部均套设有滑块，两个所述螺纹杆与固定块连接处均设置有轴承，所述腔体与两个滑块连接处均设置有螺钉，两个所述滑块底部均固定设置有第一电动推杆，两个所述第一电动推杆底部均固定设置有压板，所述固定块底部固定设置有第二电动推杆，所述第二电动推杆底部连接有活动腔，所述活动腔顶部固定设置有滑杆，所述滑杆外部套设置有两个滑套，两个所述滑套与活动腔内壁之间均连接有弹簧，所述活动腔内侧底部设置有活动板，所述活动板与两个滑套之间均连接有连接杆，两个所述连接杆端部与活动板以及滑套连接处均设置有转轴，所述活动板底部固定设置有探针本体。

优选的，两个所述滑块一端均固定设置有螺纹孔，两个所述螺纹杆通过两个螺纹孔与两个滑块螺纹连接。

优选的，所述螺钉与腔体连接处以及两个压板底部均固定设置有橡胶垫。

优选的，所述底座顶部设置有直角电磁铁，所述底座顶部固定设置有防滑纹。

优选的，所述竖板一端固定设置有控制面板，远离所述控制面板的竖板一端固定设置有检测装置本体，所述控制面板与两个电机、直角电磁铁、检测装置本体、两个第一电动推杆以及第二电动推杆均电性连接。

优选的，所述活动板两端均设置有限位杆，两个所述限位杆均与活动腔相连接。

优选的，两个所述连接杆通过对应位置的转轴与两个滑套以及活动板均活动连接。

优选的，所述腔体顶部以及底部均固定设置有通槽。

在上述技术方案中，本实用新型提供的技术效果和优点：

通过两个电机带动两个螺纹杆转动进而两个滑块移动，调节两个第一电动推杆伸长带动两个压板将芯片两侧夹紧实现对芯片固定，防止在检测时芯片移动导致检测不精确，调节第二电动推杆伸长带动活动腔以及探针本体向下移动，当探针本体底部与芯片接触时，探针本体带动活动板向上移动，在两个连接杆的作用下两个滑套压缩两个弹簧，两个弹簧实现对接触时力度进行缓冲，防止探针本体与芯片接触力度较大，造成芯片损坏。

附图说明

为了更清楚地说明本申请实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本实用新型中记载的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本实用新型的整体结构示意图。

图2为本实用新型图1的A部放大图。

图3为本实用新型图1的B部放大图。

图4为本实用新型底座的局部结构俯视图。

图5为本实用新型的压板与橡胶垫的局部结构装配示意图。

附图标记说明：

1、底座；2、压板；3、直角电磁铁；4、检测装置本体；5、电机；6、第一电动推杆；7、固定块；8、竖板；9、控制面板；10、第二电动推杆；11、活动腔；12、滑杆；13、弹簧；14、连接杆；15、活动板；16、探针本体；17、转轴；18、滑套；19、螺钉；20、滑块；21、螺纹杆；22、腔体；23、轴承。

具体实施方式

现在将参考附图更全面地描述示例实施方式。然而，示例实施方式能够以多种形式实施，且不应被理解为限于在此阐述的范例；相反，提供这些示例实施方式使得本公开的描述将更加全面和完整，并将示例实施方式的构思全面地传达给本领域的技术人员。附图仅为本公开的示意性图解，并非一定是按比例绘制。图中相同的附图标记表示相同或类似的部分，因而将省略对它们的重复描述。

此外，所描述的特征、结构或特性可以以任何合适的方式结合在一个或更多示例实施方式中。在下面的描述中，提供许多具体细节从而给出对本公开的示例实施方式的充分理解。然而，本领域技术人员将意识到，可以实践本公开的技术方案而省略所述特定细节中的一个或更多，或者可以采用其它的方法、组元、步骤等。在其它情况下，不详细示出或描述公知结构、方法、实现或者操作以避免喧宾夺主而使得本公开的各方面变得模糊。

本实用新型提供了如图1-5所示的一种集成电路芯片的自动化检测线，包括底座1，所述底座1顶部两侧均固定设置有竖板8，两个所述竖板8之间连接有腔体22，所述腔体22两端均固定设置有电机5，两个所述电机5输出轴端部均传动连接有螺纹杆21，所述腔体22中部设置有固定块7，两个所述螺纹杆21外部均套设有滑块20，两个所述螺纹杆21与固定块7连接处均设置有轴承23，所述腔体22与两个滑块20连接处均设置有螺钉19，两个所述滑块20底部均固定设置有第一电动推杆6，两个所述第一电动推杆6底部均固定设置有压板2，所述固定块7底部固定设置有第二电动推杆10，所述第二电动推杆10底部连接有活动腔11，所述活动腔11顶部固定设置有滑杆12，所述滑杆12外部套设置有两个滑套18，两个所述滑套18与活动腔11内壁之间均连接有弹簧13，所述活动腔11内侧底部设置有活动板15，所述活动板15与两个滑套18之间均连接有连接杆14，两个所述连接杆14端部与活动板15以及滑套18连接处均设置有转轴17，所述活动板15底部固定设置有探针本体16；

进一步的，在上述技术方案中，两个所述滑块20一端均固定设置有螺纹孔，两个所述螺纹杆21通过两个螺纹孔与两个滑块20螺纹连接，实现螺纹传动；

进一步的，在上述技术方案中，所述螺钉19与腔体22连接处以及两个压板2底部均固定设置有橡胶垫，压紧效果好，使得滑块20与腔体22的固定效果更好；

进一步的，在上述技术方案中，所述底座1顶部设置有直角电磁铁3，所述底座1顶部固定设置有防滑纹，实现对芯片定位；

进一步的，在上述技术方案中，所述竖板8一端固定设置有控制面板9，远离所述控制面板9的竖板8一端固定设置有检测装置本体4，所述控制面板9与两个电机5、直角电磁铁3、检测装置本体4、两个第一电动推杆6以及第二电动推杆10均电性连接，实现电性控制；

进一步的，在上述技术方案中，所述活动板15两端均设置有限位杆，两个所述限位杆均与活动腔11相连接，限位；

进一步的，在上述技术方案中，两个所述连接杆14通过对应位置的转轴17与两个滑套18以及活动板15均活动连接，实现转动连接；

进一步的，在上述技术方案中，所述腔体22顶部以及底部均固定设置有通槽，便于螺钉19、第一电动推杆6以及第二电动推杆10移动；

实施方式具体为：实际使用时，将芯片放置在底座1上，通过控制面板9分别接通两个电机5带动两个螺纹杆21转动，两个螺纹杆21转动实现螺纹传动从而带动两个滑块20移动，当移动至适当位置时，分别将两个电机5停止，将两个滑块20通过两个螺钉19与腔体22固定，调节两个第一电动推杆6伸长，在两个压板2的作用下实现将芯片两侧夹紧，在橡胶垫的作用下，实现对芯片保护同时夹紧效果更好，夹紧时将直角电磁铁3放置在芯片拐角，接通电磁铁与底座1固定，便于通过两个压板2对同一系列的芯片快速定位夹紧，防止在检测时芯片移动导致检测不精确，检测时调节第二电动推杆10伸长，活动腔11带动探针本体16向下移动，当探针本体16底部与芯片接触时，探针本体16带动活动板15向上移动，在两个连接杆14的作用下两个滑套18压缩两个弹簧13，在两个弹簧13的作用下实现缓冲，防止探针本体16与芯片接触力度较大，造成芯片损坏，检测完成时，通过检测装置本体4实现对芯片好坏进行判断，该实施方式具体解决了现有技术中存在的现有的集成电路芯片检测装置大多利用探针对芯片进行检测，但是用探针检测芯片的过程中，芯片有可能发生移动，一旦移动就会导致检测结果不准确，同时探针在与芯片接触时力度较大可能会对芯片造成损坏的情况，实用性较差的问题。

本实用工作原理：通过两个电机5带动两个螺纹杆21转动进而两个滑块20移动，调节两个第一电动推杆6伸长带动两个压板2将芯片两侧夹紧实现对芯片固定，防止芯片移动导致检测不精确，调节第二电动推杆10伸长带动活动腔11向下移动，当探针本体16底部与芯片接触时，探针本体16带动活动板15向上移动，在两个连接杆14的作用下两个滑套18压缩两个弹簧13，两个弹簧13实现对接触时力度进行缓冲，防止探针本体16与芯片接触力度较大，造成芯片损坏。

以上只通过说明的方式描述了本实用新型的某些示范性实施例，毋庸置疑，对于本领域的普通技术人员，在不偏离本实用新型的精神和范围的情况下，可以用各种不同的方式对所描述的实施例进行修正。因此，上述附图和描述在本质上是说明性的，不应理解为对本实用新型权利要求保护范围的限制。

Claims (8)

1.一种集成电路芯片的自动化检测线，包括底座（1），其特征在于：所述底座（1）顶部两侧均固定设置有竖板（8），两个所述竖板（8）之间连接有腔体（22），所述腔体（22）两端均固定设置有电机（5），两个所述电机（5）输出轴端部均传动连接有螺纹杆（21），所述腔体（22）中部设置有固定块（7），两个所述螺纹杆（21）外部均套设有滑块（20），两个所述螺纹杆（21）与固定块（7）连接处均设置有轴承（23），所述腔体（22）与两个滑块（20）连接处均设置有螺钉（19），两个所述滑块（20）底部均固定设置有第一电动推杆（6），两个所述第一电动推杆（6）底部均固定设置有压板（2），所述固定块（7）底部固定设置有第二电动推杆（10），所述第二电动推杆（10）底部连接有活动腔（11），所述活动腔（11）顶部固定设置有滑杆（12），所述滑杆（12）外部套设置有两个滑套（18），两个所述滑套（18）与活动腔（11）内壁之间均连接有弹簧（13），所述活动腔（11）内侧底部设置有活动板（15），所述活动板（15）与两个滑套（18）之间均连接有连接杆（14），两个所述连接杆（14）端部与活动板（15）以及滑套（18）连接处均设置有转轴（17），所述活动板（15）底部固定设置有探针本体（16）。

2.根据权利要求1所述的一种集成电路芯片的自动化检测线，其特征在于：两个所述滑块（20）一端均固定设置有螺纹孔，两个所述螺纹杆（21）通过两个螺纹孔与两个滑块（20）螺纹连接。

3.根据权利要求1所述的一种集成电路芯片的自动化检测线，其特征在于：所述螺钉（19）与腔体（22）连接处以及两个压板（2）底部均固定设置有橡胶垫。

4.根据权利要求1所述的一种集成电路芯片的自动化检测线，其特征在于：所述底座（1）顶部设置有直角电磁铁（3），所述底座（1）顶部固定设置有防滑纹。

5.根据权利要求1所述的一种集成电路芯片的自动化检测线，其特征在于：所述竖板（8）一端固定设置有控制面板（9），远离所述控制面板（9）的竖板（8）一端固定设置有检测装置本体（4），所述控制面板（9）与两个电机（5）、直角电磁铁（3）、检测装置本体（4）、两个第一电动推杆（6）以及第二电动推杆（10）均电性连接。

6.根据权利要求1所述的一种集成电路芯片的自动化检测线，其特征在于：所述活动板（15）两端均设置有限位杆，两个所述限位杆均与活动腔（11）相连接。

7.根据权利要求1所述的一种集成电路芯片的自动化检测线，其特征在于：两个所述连接杆（14）通过对应位置的转轴（17）与两个滑套（18）以及活动板（15）均活动连接。

8.根据权利要求1所述的一种集成电路芯片的自动化检测线，其特征在于：所述腔体（22）顶部以及底部均固定设置有通槽。

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