CN212180227U - 光学测试控制装置 - Google Patents

Abstract

本实用新型提供一光学测试控制装置，其包括一主体、一罩体以及一控温组件，其中所述罩体被覆盖于所述主体，所述罩体和所述主体之间形成一测试空间，测试对象被放置于所述测试空间，所述控温组件被设置于所述测试空间，其中所述控温组件对所述测试空间内的光学测试的一目标温度进行调节。

Description

光学测试控制装置

技术领域

本实用新型涉及光学测试领域，更具体地涉及一光学测试控制装置。

背景技术

镜头的光学性能在一定程度上会受到温度的影响。特别是温度过高或过低的极端情况下，镜头受到温度影响，产生较大变化，可能导致产品的光学表现不如预期。因此，需要在生产环节之后，对不同温度下的镜头的各项光学性能参数进行精确测定，保证出厂的良率。

目前常规的镜头高低温光学性能测试的一种方式为将镜头放到高低温箱中，进行温度调节，当镜头的温度被加热或制冷至一目标的测试温度时，快速地将镜头取出后再进行相同的光学性能测试。在这个过程中，被调节至一定温度的镜头需要从高低温箱中转移至一测试点，环境温度发生变化，镜头的温度受到外界影响而变得不稳定。而测试过程中，对镜头没有采用一定的保温措施，镜头的温度无法有效稳定在目标的测试温度上下，因此测试得到的光学性能参数并不一定是在目标的测试温度下的参数，实际温度会与目标测试温度有差距。

而还有一种方式是将镜头和测量设备整体放进高低温箱中，对镜头直接进行光学性能测试，但是由于测量设备本身的测试精度与温度相关，温度变化会影响测量设备的准确性，因此无法区分测量所得的光学性能参数在不同温度下的变化是由于镜头还是测量设备引起的，因此测试得到的光学性能参数也无法精确反应镜头在不同温度下的光学性能。并且，测量设备一般具有一定的体积，在高低温箱中操作测量设备具有一定的难度，实施困难。

在对镜头进行高低温的光学性能测试时，需要一种设备对光学性能测试进行高低温控制。

实用新型内容

本实用新型的一个优势在于提供一光学测试控制装置，所述光学测试控制装置实现光学测试的一温度调节空间和对镜头的测试空间的一体化。

本实用新型的另一个优势在于提供一光学测试控制装置，所述光学测试控制装置具有一测试空间，所述测试空间放置一测试对象进行光学测试，所述测试空间在测试过程中呈真空状态，并且具有良好的密封性和绝热性，以防止内部环境受到外部环境的影响。

本实用新型的另一个优势在于提供一光学测试控制装置，外部光线可以进入所述测试空间，使得该测试对象被调节温度后可以直接在所述测试空间进行光学测试。

本实用新型的另一个优势在于提供一光学测试控制装置，可以在所述光学测试控制装置的外部使用其他光学性能测量设备对镜头进行光学测试，使得光学性能测量设备的操作不受到空间限制。

本实用新型的另一个优势在于提供一光学测试控制装置，所述光学测试控制装置可以在所述测试空间中对该测试对象进行温度调节和光学测试，使得温度调节和测试在同一空间进行，过程中，该测试对象不需要被取出，测试时的温度不会受到外部空间的影响，因此温度不会发生变化，有利于获取目标温度相对应的光学性能参数。

本实用新型的另一个优势在于提供一光学测试控制装置，所述测试空间经过绝热和密封设置，有利于该测试对象的保温。

本实用新型的另一个优势在于提供一光学测试控制装置，所述光学测试控制装置包括一主体和一罩体，所述主体和所述罩体之间形成所述测试空间，所述罩体和所述主体之间的连接处经过密封处理，以防止内部和外部空间连通对该测试对象产生影响。

本实用新型的另一个优势在于提供一光学测试控制装置，所述光学测试控制装置包括一控温组件和一二级控温组件，通过所述控温组件和所述二级控温组件对温度进行二级控制。

本实用新型的另一个优势在于提供一光学测试控制装置，所述控温组件和所述二级控温组件分别被安装于所述测试空间的内侧和外侧，所述控温组件具有较小的体积，所述二级控温组件具有较大的体积，进而使得所述测试空间的大小得到控制，减小所述光学测试控制装置的整体体积，有利于所述光学测试控制装置的小型化。

本实用新型的另一个优势在于提供一光学测试控制装置，所述控温组件包括一导热体，热量通过所述导热体达到该测试对象或离开该测试对象，该测试对象的制冷或加热均可以通过所述导热体进行，实现高低温调节一体化。

本实用新型的另一个优势在于提供一光学测试控制装置，所述控温组件包括一制冷件和一容器，所述容器紧贴于所述制冷件，所述制冷件由半导体材料制成，能够通过电流控制，降低温度，以吸收该测试对象的热量，实现制冷。

本实用新型的另一个优势在于提供一光学测试控制装置，所述光学测试控制装置采用多级制冷模式，通过所述二级控温组件对低温流体进行再次制冷，使得低温流体在所述控温组件和所述二级控温组件之间循环流动，进行制冷。

本实用新型的另一个优势在于提供一光学测试控制装置，所述罩体呈球形，并由可透过光线的材料制成，便于光线透过，并提供了大角度的可视范围。

本实用新型的另一个优势在于提供一光学测试控制装置，所述罩体可以被替换为圆柱体形状的罩体，所述罩体的顶端供光线透过，适于测试小角度大体积的该测试对象的光学性能。

本实用新型的另一个优势在于提供一光学测试控制装置，该测试对象放置位置的底部由可透过光线的材料制成，便于光线透过。

本实用新型的另一个优势在于提供一光学测试控制装置，所述控温组件和所述主体之间的底部被设置绝热材料，以防止热量向下向外散失。

本实用新型的另一个优势在于提供一光学测试控制装置，对该测试对象进行测试的测试工具由低膨胀系数的材料制作，减小温度变化对测试工具的影响，进而减少对测试结果的影响。

本实用新型的另一个优势在于提供一光学测试控制装置，所述控温组件包括至少一流通管道和至少一导热体，所述流通管道被设置于所述导热体的内部，该测试对象被设置于所述导热体的一通道，对于该测试对象的温度调节通过流经所述流通管道的流体吸收热量或提供热量实现，不需要使用电子器件，使得结构更为紧凑，体积小。

本实用新型的另一个优势在于提供一光学测试控制装置，所述二级控温组件同所述控温组件连接，为所述流通管道提供一定温度的流体，并通过所述二级控温组件实现多级温度调节，使得流体循环流动，对该测试对象进行温度调节。

本实用新型的另一个优势在于提供一光学测试控制装置，获取所述光学测试控制装置所需要的元件的成本低。

本实用新型的另一个优势在于提供一光学测试控制装置，该测试对象的温度调节和光学测试都在所述光学测试控制装置的所述测试空间中进行，不需要在中途进行转移，也不会被外物所接触，有效避免环境变化对测试准确性产生的影响。

本实用新型的其它优势和特点通过下述的详细说明得以充分体现并可通过所附权利要求中特地指出的手段和装置的组合得以实现。

依本实用新型的一个方面，能够实现前述目的和其他目的和优势的本实用新型的一光学测试控制装置，包括：

一主体；

一罩体，所述罩体被覆盖于所述主体，所述罩体和所述主体之间形成一测试空间，测试对象被放置于所述测试空间；以及

一控温组件，所述控温组件被设置于所述测试空间，其中所述控温组件对所述测试空间内的光学测试的一目标温度进行调节。

根据本实用新型的一个实施例，所述光学测试控制装置进一步包括一二级控温组件，所述二级控温组件被设置于所述主体的外侧，其中所述二级控温组件同所述控温组件连接，所述二级控温组件控制该测试对象的温度。

根据本实用新型的一个实施例，所述二级控温组件包括一控温主体、一输出管道和一返回管道，所述输出管道和所述返回管道的两端分别连接所述控温组件和所述控温主体，所述控温主体对流体进行温度调节，流体通过所述输出管道流出所述控温主体，流至所述控温组件，流体流出所述控温组件通过所述返回管道返回所述控温主体。

根据本实用新型的一个实施例，所述控温组件包括至少一导热体，所述导热体自所述主体向上延伸形成，所述导热体具有贯通的一通道，当进行光学测试时，该测试对象被放置于所述通道。

根据本实用新型的一个实施例，所述控温组件还包括一温度检测元件，所述温度检测元件贴合于该测试对象，检测该测试对象的温度。

根据本实用新型的一个实施例，所述光学测试控制装置进一步包括一控制组件，其中所述控温组件还包括一温度检测元件，所述控制组件连接所述控温组件和所述二级控温组件，其中所述控制组件根据所述目标温度和所述温度检测元件检测的该测试对象的一实际温度，选择对该测试对象进行制冷或加热。

根据本实用新型的一个实施例，所述控温组件包括一加热件，所述加热件紧贴于所述导热体的一侧，所述加热件通过所述导热体传递热量至该测试对象，以对该测试对象进行加热，其中所述控制组件控制所述加热件升高温度，以将热量通过所述导热体传递至该测试对象。

根据本实用新型的一个实施例，所述控温组件还包括一容器和一制冷件，所述容器被设置于所述制冷件的外侧，所述制冷件位于所述容器和所述导热体之间，所述容器容纳低温流体，其中所述控制组件控制所述制冷件降低温度，以吸收该测试对象的热量，降低该测试对象的温度，所述容器内的低温流体带走所述制冷件吸收热量。

根据本实用新型的一个实施例，所述控温组件还包括一流通管道，所述流通管道连接所述二级控温组件和所述容器，所述二级控温组件将低温流体输送至所述流通管道，并通过所述流通管道进入所述容器，吸收所述制冷件的热量，低温流体吸收一定热量后通过所述流通管道返回所述二级控温组件，由所述二级控温组件进行再次制冷后再次进入容器进行热量吸收，所述低温流体在所述二级控温组件和所述容器之间循环流动。

根据本实用新型的一个实施例，所述导热体内部内设置至少一流通管道，所述流通管道沿着所述导热体的内部分布，其中所述流通管道延伸出所述导热体的外侧，同所述二级控温组件连接，流体从所述二级控温组件流入所述流通管道，沿着所述导热体内的所述流通管道流动后返回所述二级控温组件。

根据本实用新型的一个实施例，当所述目标温度大于所述实际温度，所述二级控温组件为所述控温组件提供高温流体，流体进入所述流通管道绕着所述导热体之间的该测试对象流动，提供一定热量至该测试对象后返回所述二级控温组件，其中流体由所述二级控温组件加热后再返回所述控温组件进行加热，直至该测试对象被加热至所述目标温度。

根据本实用新型的一个实施例，当所述目标温度小于所述实际温度，所述二级控温组件为所述控温组件提供低温流体，流体进入所述流通管道绕着所述导热体之间的该测试对象流动，吸收该测试对象的一定热量后返回所述二级控温组件，其中流体由所述二级控温组件制冷后再返回所述控温组件，直至该测试对象被制冷至所述目标温度。

根据本实用新型的一个实施例，当所述目标温度和所述温度检测单元检测的所述实际温度的差值超过一预设值时，所述二级控温组件为所述控温组件提供流体，对该测试对象进行温度调节，以使该测试对象的所述实际温度稳定在所述目标温度的一定范围内。

根据本实用新型的一个实施例，所述光学测试控制装置进一步包括一真空调节组件和一控制组件，所述控制组件连接所述真空调节组件，控制所述测试空间的一实际真空度，其中所述真空调节组件包括至少一抽取件和至少一真空感应元件，所述抽取件的一端延伸至所述测试空间，抽取所述测试空间气体至外部，所述真空感应元件被设置于所述测试空间，以检测所述测试空间的一实际真空度，当所述真空感应元件检测的所述实际真空度达到所述控制组件设置的一目标真空度，所述控制组件停止所述抽取件的工作。

根据本实用新型的一个实施例，所述光学测试控制装置进一步包括一隔绝组件，所述隔绝组件被设置于所述测试空间的内部和周边，密封所述测试空间，其中所述隔绝组件包括至少一绝热层和多个密封元件，所述绝热层被设置于所述导热体的下方，以供防止热量经由所述导热体向下散失，所述绝热层的两端同所述主体连接，所述密封元件密封所述绝热层和所述主体的连接处，当所述罩体同所述主体连接，所述密封元件密封所述罩体和所述主体之间的连接处，使得所述测试空间被密封和绝热。

根据本实用新型的一个实施例，所述罩体呈球形，由可透光材料制成，光线可透过所述罩体进入所述测试空间。

根据本实用新型的一个实施例，所述罩体呈圆柱形，所述罩体顶端由可透过光线的材料制成，光线可透过所述罩体进入所述测试空间。

根据本实用新型的一个实施例，所述光学测试控制装置由低膨胀系数材料制成。

通过对随后的描述和附图的理解，本实用新型进一步的目的和优势将得以充分体现。

本实用新型的这些和其它目的、特点和优势，通过下述的详细说明，附图和权利要求得以充分体现。

附图说明

图1A是根据本实用新型的一较佳实施例的一光学测试控制装置的局部俯视图。

图1B是根据本实用新型的上述较佳实施例的所述光学测试控制装置的局部仰视图。

图2是根据本实用新型的上述较佳实施例的所述光学测试控制装置的局部剖视图。

图3是根据本实用新型的另一较佳实施例的一变形实施方式的所述光学测试控制装置的部分示意图。

图4是根据本实用新型的上述较佳实施例的所述光学测试控制装置的示意图。

图5是根据本实用新型的另一较佳实施例的一光学测试控制装置的示意图。

图6是根据本实用新型的上述较佳实施例的所述光学测试控制装置的局部剖视图。

图7是根据本实用新型的上述较佳实施例的所述光学测试控制装置进行温度调节的示意图。

图8是根据本实用新型的上述较佳实施例的所述光学测试控制装置的示意图。

图9是根据本实用新型的一较佳实施例的所述光学测试控制装置进行温度控制的流程图。

图10是根据本实用新型的另一较佳实施例的所述光学测试控制装置进行温度控制的流程图。

图11是根据本实用新型的一较佳实施例的一光学测试控制装置的示意图。

具体实施方式

以下描述用于揭露本实用新型以使本领域技术人员能够实现本实用新型。以下描述中的优选实施例只作为举例，本领域技术人员可以想到其他显而易见的变型。在以下描述中界定的本实用新型的基本原理可以应用于其他实施方案、变形方案、改进方案、等同方案以及没有背离本实用新型的精神和范围的其他技术方案。

本领域技术人员应理解的是，在本实用新型的揭露中，术语“纵向”、“横向”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系是基于附图所示的方位或位置关系，其仅是为了便于描述本实用新型和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此上述术语不能理解为对本实用新型的限制。

可以理解的是，术语“一”应理解为“至少一”或“一个或多个”，即在一个实施例中，一个元件的数量可以为一个，而在另外的实施例中，该元件的数量可以为多个，术语“一”不能理解为对数量的限制。

本实用新型提供一光学测试控制装置，所述光学测试控制装置对一测试对象在不同温度下的光学性能进行测试。其中，该测试对象可以被实施为光学镜头、透镜组、透镜单元等。该测试对象在所述光学测试控制装置中被调节至相应的温度之后，进行光学测试。所述光学测试控制装置控制该测试对象的温度，该测试对象被调整至相应温度后，可以直接进行光学测试。

如图1A至图2及图4和图11示出的本实用新型的一较佳实施例，所述光学测试控制装置包括一主体10和一罩体20。所述罩体20罩于所述主体10。所述罩体20和所述主体10之间形成一测试空间100。

所述光学测试控制装置还包括一真空调节组件30和一控温组件40，所述真空调节组件30和所述控温组件40分别被设置于所述主体10，其中所述真空调节组件30调节所述测试空间100的一实际真空度。所述控温组件40控制所述测试空间100内进行光学测试的相应温度。

所述光学测试控制装置还包括一控制组件50，所述控制组件50连接所述真空调节组件30和所述控温组件40，所述控制组件50通过控制所述真空调节组件30，以使所述真空调节组件30调节所述光学测试控制装置的所述实际真空度。所述控制组件50控制所述控温组件40，对所述光学测试控制装置内部的温度进行调节，实现制冷和加热，使得该测试对象80在不同温度下被测试光学性能，实现高低温一体化测试。

所述控制组件50包括一控制主体51和至少一控制线路52，所述控制线路 52的一端连接于所述控制主体51，所述控制线路52的另一端延伸至所述主体 10的一侧，被固定于所述主体10。所述控制线路52的另一端同所述控温组件 40和所述真空调节组件30连接。所述控制主体51通过所述控制线路52控制所述控温组件40和所述真空调节组件30的工作。

所述真空调节组件30包括至少一抽取件31和至少一真空感应元件32，所述抽取件31被设置于主体10，所述抽取件31的一端延伸至所述测试空间100，所述抽取件31的另一端延伸至所述主体10的外侧，所述抽取件31从所述测试空间100抽取气体，并排放至所述主体10的外侧。所述测试测试空间100内的气体沿着气路被所述抽取件31抽走。所述真空感应元件32被设置于所述主体10，所述真空感应元件32朝向所述测试空间100，对所述测试空间100进行感应，确定所述测试空间100的真空状态。所述控制组件50连接于所述抽取件31和所述真空感应元件32，当所述真空感应元件32感应所述测试空间100的真空状态达到一定要求，所述控制组件50停止所述抽取件31的工作。

所述控温组件40包括至少一加热件41和至少一制冷件42，所述加热件41 和所述制冷件42被设置于所述主体，分别进行加热和制冷。所述控制组件50通过电路控制所述加热件41和所述制冷件42的启动和关闭。所述控温组件40还包括至少一导热体43，所述导热体43被设置于所述主体10。所述导热体43自所述主体10凸起地向上延伸形成。所述导热体43被保持于所述测试空间100。所述导热体43中间具有一通道430，所述通道430贯通所述导热体43的上下两端。该测试对象80被放置于所述导热体43的所述通道430。所述导热体43环绕该测试对象80。所述加热件41和所述制冷件42连接所述导热体43。所述加热件41产生热量通过所述导热体43传递至该测试对象80，对该测试对象80进行加热。当所述控温组件40进行制冷，所述制冷件42吸收热量，该测试对象80的热量通过所述导热体传递至所述制冷件42，实现对该测试对象80的制冷。

所述控温组件40还包括至少一容器44和一流通管道45，所述容器被设置于所述制冷件42旁，所述容器44供容纳流体。所述流通管道45连接所述容器44，流体通过所述流通管道45进入所述容器44，并再通过所述流通管道45流出所述容器44。所述流通管道45的另一端延伸至所述主体10的外部，流体从外部进入所述流通管道45，并沿着所述流通管道45流入所述容器44。当流体为低温流体，低温流体通过所述流通管道45进入所述容器44，所述容器44被安装于所述制冷件42旁，所述制冷件42位于所述导热体43和所述容器44之间。所述制冷件42吸收该测试对象80的热量，以降低该测试对象80的温度，而所述制冷件42吸收的热量由所述容器44内的低温流体吸收带走。所述制冷件42紧贴所述导热体43的一侧通过所述导热体43将该测试对象的热量吸收，所述制冷件 42的另一端释放所吸收的热量，热量被传递至所述容器44中的低温流体。低温流体带走所述制冷件42所吸收的热量，使得所述制冷件42持续地进行热量吸收和热量释放，使得该测试对象80被制冷。

当所述控温组件40对该测试对象80进行制冷，该测试对象80的热量通过所述导热体43传递至所述制冷件42，再由所述容器44中的低温流体带走。吸收热量的低温流体通过所述流通管道45流出所述容器44，向外流动。新的低温流体可以通过所述流通管道45进入所述容器44，继续吸收所述制冷件42从该测试对象80获取的热量。低温流体可以进行循环流动，吸收所述制冷件42的热量。

所述加热件41被安装于所述导热体43旁，紧贴于所述导热体43。当所述控温组件40选择加热模式，所述加热件41启动，进行加热。所述加热件41产生的热量通过所述导热体43传递至该测试对象80，实现对该测试对象80的加热。

所述控温组件40还包括至少一温度检测元件46。所述温度检测元件46对温度进行感应。当该测试对象80被放置于所述导热体43中，所述温度感应元件 46贴于该测试对象80，对该测试对象80进行温度检测。所述温度检测元件46 感应该测试对象80的温度。所述温度检测元件46同所述控制组件50连接，使得所述控制组件50从所述温度检测元件46获取该测试对象80的温度。

所述光学测试控制装置还包括一隔绝组件60，所述隔绝组件60将所述测试空间100绝热和密封，以减少环境变化对测试的影响。

所述隔绝组件60包括至少一绝热层61，所述导热体43被设置于所述绝热层 61之上，以防止热量从所述导热体43向下散失。优选地，所述绝热层61由绝热材料制成。

所述加热件41和所述制冷件42被设置于所述导热体43的周边。所述导热体43的底部被所述绝热层61隔绝热量传递。因此经由所述导热体43传递的热量在所述加热件41、所述制冷件42同该测试对象80之间传递，而不会传递至其他部件。

所述主体10包括一箱体11、一透光部12和一支撑部13，所述透光部12被设置于所述支撑部13的中间位置，所述支撑部13环绕所述透光部12，形成于所述透光部12的外沿。所述透光部12位于所述导热体43的下方。所述箱体11 被设置于所述支撑部13上方。所述罩体20同所述箱体11连接。所述箱体11和所述支撑部13固定连接，所述透光部12朝向所述导热体43的所述通道430。所述透光部12供光线透过。光线可通过所述透光部12进入所述通道430，使得该测试对象被光学测试时，该测试对象80的下方也有光线进入。

在本实用新型的一个示例中，所述箱体11和所述导热体43之间被设置所述绝热层61。所述箱体11和所述支撑部13之间被设置所述绝热层61。所述箱体 11支撑所述导热体43。

所述透光部12优选地由两平板玻璃制成，两平板玻璃之间被抽成真空状态以进行绝热。平板玻璃的外周同所述支撑部13固定。所述支撑部13将所述透光部12支撑起一定高度，使得所述透光部12同所述光学测试控制装置放置的面有一定的距离，防止所述透光部12被遮挡，使得光线从所述高低控制装置的底部进入所述光学测试控制装置的内部，有利于进行光学测试。将所述光学测试控制装置放置于光学测试工具上时，光线可以从所述光学测试控制装置顶部和底部进入所述测试空间，以供测试。

所述隔绝组件60还包括多个密封元件62，对多个连接处进行密封。所述罩体20罩于所述主体10时，所述主体10和所述罩体20之间的连接处通过所述密封元件62密封。所述箱体11和所述支撑部13之间通过所述密封元件62进行密封。

所述密封元件62的密封方式可以被实施为点胶、密封圈、卡扣结构等。

所述密封元件62的实施方式可以根据连接处的结构进行设计，以更好地实现所述测试空间100同外部等其他空间的绝热和密封，减少环境变化对所述测试空间100带来的影响，保持所述测试空间100的稳定性。

值得一提的是，所述罩体20由透明光学玻璃材料制成，以便于光线透过所述罩体20达到该测试对象80。所述罩体20为球形，可视范围大。

所述导热体43之间的空间供放置该测试对象80，所述导热体43之间的空间的下方的所述主体10和所述绝热层61的材料优选为高性能绝热材料，以便光线从所述光学测试控制装置的下方进入所述测试空间100，从下方为该测试对象80 提供光线。

因此，该测试对象在所述测试空间100被调节温度后，即可被测试在相应温度下的光学性能。光学性能测量设备可以在所述光学测试控制装置的外部进行测量，不受所述测试空间100的限制。

结合图1A至图2及图11示出的所述光学测试控制装置和图9的所述光学测试控制装置的温度控制流程，对所述光学测试控制装置的温度控制进行阐述。当所述光学测试控制装置进行测试工作前，所述光学测试控制装置内需要被调节成真空状态，并将该测试对象80的温度调节至一目标温度，以测试该测试对象80 处于真空环境中，在相应的所述目标温度下的光学性能。

所述控制组件50设置所述测试空间100需要达到的一目标真空度。所述真空调节组件30从所述控制组件50获取预设的所述目标真空度，所述真空调节组件30抽取所述测试空间100内部的气体，使得所述测试空间100达到预设的所述目标真空度。所述控制组件50打开所述抽取件31，所述抽取件31从所述测试空间100向外抽取气体，所述真空感应元件32感应所述测试空间100的真空状态，检测所述测试空间100的所述实际真空度是否达到预设的所述目标真空度。当所述真空感应元件32感应所述测试空间100达到预设的所述目标真空度，所述抽取件31可停止抽取气体。值得一提的是，所述测试空间100需要在测试过程中保持所述目标真空度，所述真空感应元件32需要在测试过程中，持续对所述测试空间100进行感应，判断所述测试空间100是否保持所述目标真空度。当所述测试空间100未保持所述目标真空度，所述抽取件31需要继续抽取气体，以使所述测试空间100在测试过程中保持所述目标真空度。

所述控温组件40对温度进行调节。通过所述控制组件50输入该测试对象80 进行测试的所述目标温度。所述控制组件50设置所述控温组件40需要控制实现的所述目标温度。

所述控温组件40的所述温度检测元件46检测该测试对象80的一实际温度。当所述目标温度大于所述实际温度，所述控制组件50控制所述控温组件40对该测试对象进行加热。当所述目标温度小于所述实际温度，所述控制组件50控制所述控温组件40对该测试对象80进行制冷。所述控制组件50根据所述目标温度自动选择制冷模式或加热模式。

当所述目标温度需要该测试对象80被加热时，所述控温组件40选择加热模块式，所述加热件41启动，产生热量，经由所述导热体43传递至该测试对象 80，对该测试对象80进行加热。所述温度检测元件46对该测试对象80进行温度检测，判断该测试对象80的温度是否被加热至所述目标温度。所述加热件41 保持工作状态，直至所述温度检测元件46检测到该测试对象80被加热至所述目标温度，所述加热件41停止工作。所述温度检测元件46保持对该测试对象80 的温度的检测，当所述温度检测元件46检测到该测试对象80的一实际温度下降，未保持所述目标温度，所述加热件41启动，对该测试对象80再次加热，使得该测试对象80的温度重新达到所述目标温度。优选地，当该测试对象80的所述实际温度和所述目标温度之间的差值达到一预设值时，所述加热件41重新启动，对该测试对象80进行加热，使得该测试对象80的所述实际温度稳定在所述目标温度附近。

当所述真空感应元件32感应到所述测试空间100达到所述目标真空度，所述温度检测元件46检测该测试对象80的所述实际温度达到所述目标温度，对该测试对象80的光学测试即可开始，以测试该测试对象80在所述目标温度下的光学性能。

当所述控制组件50设置的所述目标温度较低，需要该测试对象80被制冷时，所述控温组件40选择制冷模式。所述制冷件42启动，进入工作状态。所述制冷件42的温度降低，吸收该测试对象80的热量，降低该测试对象80的温度。该测试对象80的热量通过所述导热体43被传递至所述制冷件42。所述容器44内的低温流体从所述制冷件42吸收所述制冷件42从该测试对象80获取的热量，使得所述制冷件42吸收的热量得以释放。也就是说，所述制冷件42通过所述导热体43从该测试对象80吸收热量后，将热量传递至所述容器44内的低温流体。该测试对象80被降低，实现制冷。

所述光学测试控制装置还包括一二级控温组件70，所述二级控温组件70同所述主体10连接。进一步地所述二级控温组件70同所述流通管道45连接。当所述控制组件50控制所述控温组件40进行制冷，所述控温组件40和所述二级控温组件70被启动。低温流体从所述二级控温组件70流出，经由所述流通管道 45进入所述容器44，对该测试对象80进行制冷。所述容器44中的低温流体在制冷后通过所述流通管道45离开所述容器44，返回所述二级控温组件70，所述二级控温组件70对低温流体进行再次制冷，经过再次制冷的低温流体可再次通过所述流通管道45进入所述容器44，从所述制冷件42带走所述制冷件42吸收的该测试对象80的热量。低温流体可以在所述二级控温组件70和所述容器44 之间循环流动，带走所述制冷件42从该测试对象80吸收的热量。

所述二级控温组件70包括一二级控温主体71、一输送管道72和一返回管道 73。所述输送管道72的一端和所述返回管道73的一端分别同所述二级控温主体 71连接。所述输送管道72的另一端同所述流通管道45延伸至所述主体10的一端连接。所述返回管道73的另一端同所述流通管道45延伸至所述主体10的另一端连接。所述二级控温组件70同所述容器44经由所述流通管道45形成流通回路。所述二级控温主体71对低温流体进行制冷，低温流体通过所述输送管道 72被输送至所述流通管道45，并沿着所述流通管道45流入所述容器44，对该测试对象80进行制冷。吸收一定热量后的低温流体沿着所述流通管道45进入所述返回管道73，并通过所述返回管道73返回所述二级控温主体71，所述二级控温主体71对低温流体进行再次制冷，使得低温流体在循环流动中带走所述制冷件42吸收的热量。

所述温度检测元件46检测该测试对象80的所述实际温度，判断该测试对象 80是否被制冷至所述目标温度。

在本实用新型的一个示例中，低温流体经由所述流通管道45进入所述返回管道73，返回所述二级控温主体71，所述二级控温主体71停止向所述容器44 供应低温流体，所述制冷件42不再经由所述导热体43从该测试对象80吸收热量，该测试对象80的所述实际温度不再降低。

所述温度检测元件46保持对该测试对象80的所述实际温度的检测。当所述温度检测元件46检测到该测试对象80的所述实际温度上升，与所述目标温度之间的差值大于所述预设值，所述制冷件42被启动。所述制冷件42再次吸收该测试对象80的热量，重新降低该测试对象80的温度。所述二级控温组件71被启动，以向所述容器44重新供应低温流体。低温流体带走所述制冷件42吸收的热量。该测试对象80的温度被降低，使得该测试对象的所述实际温度保持在所述目标温度上下。所述实际温度和所述目标温度之间的所述差值未超过所述预设值时，所述制冷件42停止对该测试对象80的热量吸收，所述二级控温组件71停止供应低温流体。所述差值超过所述预设值，所述制冷件42再次启动，吸收该测试对象80的热量，进行制冷，低温流体进入所述容器44，带走所述制冷件42 吸收的热量后离开所述容器44进入所述二级控温组件71，由所述二级控温组件 71进行制冷后再返回所述容器44，直至所述温度检测元件46检测的该测试对象 80的所述实际温度和所述目标温度的所述差值未超过所述预设值，所述制冷件42停止对该测试对象80的制冷。

当该测试对象80的所述实际温度经由制冷或加热达到所述目标温度，针对该测试对象80的光学测试即可进行。

当该测试对象80的所述实际温度达到所述目标温度，所述控制组件50发出信息，提示该测试对象可以被测试光学性能。

当该测试对象80在测试过程中的所述实际温度和所述目标温度之间的差值大于所述预设值，所述控制组件50发出信息，提示暂停测试，以便对该测试对象80进行温度调节，使得该测试对象80的温度重新回到所述目标温度后，再次提示可以进行测试。

所述目标温度可以通过所述控制组件50进行控制。完成对该测试对象80在某一目标温度下的光学测试，通过所述控制组件50设置另一目标温度，所述控制组件50将新的所述目标温度传输至所述控温组件40，所述控温组件40按照新的所述目标温度选择制冷或加热模式，对该测试对象80进行温度控制，将该测试对象80的所述实际温度控制到所述目标温度。

值得一提的是，所述光学测试控制装置对该测试对象的温度控制，可以将该测试对象的温度从室温加热至125℃，或从室温制冷至-45℃。也就是说，该测试对象在所述光学测试控制装置的温度控制下可以实现零下45℃至零上125℃的温度。

还值得一提的是，所述光学测试控制装置部分或整体地由低膨胀系数材料制成，以减小温度变化对光学测试的影响。其中低膨胀系数为膨胀系数接近或小于 1ppm/℃。举例地，所述主体10、所述罩体20、所述真空调节组件30、所述控温组件40等位于所述测试空间100周边或内部的部分可以由低膨胀系数的材料支撑。进行光学测试的测试工具也优选地由低膨胀系数材料制成。

在本实用新型的上述较佳实施例的一变形实施方式中，如图3所示，所述罩体20A为圆柱状结构，圆柱的顶端被安装平板玻璃，光线可通过所述罩体20A 顶端进入所述测试空间100A，抵达一测试对象80。

也就是说，所述罩体20A呈圆柱状，所述罩体20A的顶端被安装可透光材料。光束能够透过的位置被限制为所述罩体20A的可透光部分，透光范围被限制。所述罩体20A的视场角度较小，但是，相对于球形的所述罩体20，在所述罩体20A和所述罩体20A的最高高度相同的情况下，圆柱结构的所述罩体20A 和所述主体10A之间形成的所述测试空间100A的体积更大。因此使用圆柱结构的所述罩体20A适合测试大体积小视场角度的该测试对象80。

在本实用新型的另一较佳实施例中，如图5至图8及图10所示，所述光学测试控制装置包括一主体10B和一罩体20B，所述罩体20B罩于所述主体10B 的上侧。所述主体10B和所述罩体20B之间形成一测试空间100B。

所述光学测试控制装置还包括一真空调节组件30B和一控温组件40B，所述真空调节组件30B调节所述测试空间100B的一实际真空度，所述控温组件40B 控制一测试对象80的温度。

所述光学测试控制装置还包括一控制组件50B。所述控制组件50B分别可控制地连接所述真空调节组件30B和所述控温组件40B。所述控制组件50B控制所述真空调节组件30B对所述测试空间100B进行所述实际真空度的调节，所述控制组件50B控制所述控温组件40B对该测试对象80的一实际温度。

在对该测试对象80进行测试前，通过所述控制组件50B设置一目标真空度，所述控制组件50B根据所述目标真空度，控制所述真空调节组件30B对所述测试空间100B进行抽真空，直至所述测试空间100B达到所述目标真空度。

根据该测试对象80需要达到的温度，通过所述控制组件50B设置一目标温度。所述控制组件50B根据所述目标温度控制所述控温组件40B对该测试对象 80进行温度调节。

当所述测试空间100B达到所述目标真空度，该测试对象80的所述实际温度符合所述目标温度，对该测试对象80的光学测试即可进行。在测试过程中，所述真空调节组件30B对所述测试空间100B的所述实际真空度进行监控，当所述实际真空度不符合所述目标真空度，所述真空调节组件30B对所述测试空间 100B进行气体抽取，使得所述测试空间100B的所述实际真空度达到所述目标真空度。进而使得在测试过程中，所述测试空间100B能够保持需要的真空状态，减少环境变化对该测试对象80的测试产生的影响。

在测试过程中，所述控温组件40B对该测试对象80的所述实际温度进行检测，当该测试对象80的所述实际温度不符合所述目标温度，所述控温组件40B 对该测试对象80进行温度调节，进而使得该测试对象80的所述实际温度能够保持在所述目标温度上下。

所述控温元件40B包括至少一导热体41B和至少一流通管道42B，所述导热体41B被设置于所述主体10B的上方，从所述主体10B的一侧凸起地向上延伸。所述导热体41B形成于所述主体10B的上方，所述导热体41B具有一通道410B，所述通道410B贯通所述导热体41B，所述通道410B供放置该测试对象80。该测试对象80被放置于所述导热体41B的中部，所述导热体41B包围该测试对象 80的侧边。在本实用新型的所述流通管道42B被设置于所述导热体41B之中。所述流通管道42B沿着所述导热体41B的内部螺旋分布。所述流通管道42B具有至少一输入口421B和至少一输出口422B，所述输入口421B和所述输出口 422B分别自所述导热体41B向外延伸至所述主体10B的一侧，并通过所述主体 10B延伸至所述主体10B的外侧。所述流体通过所述输入口421B自外侧进入所述流通管道42B，并沿着所述流通管道42B流入所述导热体41B。流体具有一定的温度，同该测试对象80之间具有一定的温差。当流体的温度高于该测试对象 80的所述实际温度，流体通过所述导热体41B将热量传递至该测试对象80，使得该测试对象80的所述实际温度升高，实现加热。当流体的温度低于该测试对象80的所述实际温度，该测试对象80的热量通过所述导热体41B传递至流体，使得该测试对象80的温度降低，实现制冷。流体在热量传递后流出所述导热体 41B，通过所述输出口422B离开所述流通管道42B。

所述光学测试控制装置还包括一二级控温组件70B，所述二级控温组件70B 同所述控温组件70B连接。所述二级控温组件70B为所述控温组件40B输送控温后的流体，当流体从所述控温组件40B返回所述二级控温组件70B，所述二级控温组件70B对流体进行二次控温，并将经过二次控温后的流体输送至所述控温组件40B，对该测试对象80进行温度调节。流体可以在所述控温组件40B和所述二级控温组件70B之间循环流动，使得流体不断地同该测试对象80之间进行热量传递，实现对该测试对象80的制冷和加热。

所述控温组件40B还包括至少一温度检测元件43B，所述温度检测元件43B 被设置于所述的导热体41B。当该测试对象80被放置于所述导热体41B之间，所述温度检测元件43B可以同该测试对象80贴合，以检测该测试对象80的所述实际温度。所述二级控温组件70B同所述温度检测元件43B连接，根据所述温度检测元件43B检测的该测试对象80的所述实际温度确定是否需要输送流体进行温度调节。

所述二级控温组件70B和所述控温组件40B分别被连接于所述控制组件50B。通过所述控制组件50B设置所述目标温度，所述控制组件50B根据所述目标温度控制所述控温组件40B和所述二级控温组件70B，对该测试对象80进行温度调节，使得该测试对象80的所述实际温度保持在所述目标温度上下，为该测试对象80的光学测试提供稳定的温度环境。

在所述测试空间100B内，对于该测试对象80的温度调节通过一定温度的流体流通所述导热体41B而产生热量传递实现，不需要通过制冷或加热的电子元器件实现温度调节，使得所述测试空间100B内的元器件数量较少，排布紧凑，占用更小的体积。

所述真空调节组件30B包括至少一抽取件31B和至少一真空感应元件32B，所述抽取件31B的一端延伸入所述测试空间100B，所述抽取件31B的另一端沿着所述主体10B延伸至所述主体10B的外侧。所述抽取件31B从所述测试空间 100B抽取气体，并排放至所述测试空间100B的外侧。所述真空感应元件32B 被设置于所述测试空间100B，对所述测试空间100B内的所述实际真空度进行检测。所述抽取件31B和所述真空感应元件32B连接，当所述真空感应元件32B 感应到所述测试空间100B的所述实际真空度达到所述目标真空度，所述抽取件 31B根据所述真空感应元件32B的感应结果停止抽取操作。所述抽取件31B根据所述真空感应元件32B的感应结果而确定是否进行操作动作，或停止抽取操作。

所述光学测试控制装置还包括一隔绝组件60B，所述隔绝组件60B将所述测试空间100B绝热和密封，以减少环境变化对测试的影响。

所述隔绝组件60B还包括至少一绝热层61B，所述绝热层61B被设置于所述导热体41B的下方，以隔绝热量从所述导热体41B向下传递，导致热量散失。优选地，所述绝热层61B由绝热材料制成。

所述主体10B包括一箱体11B、一透光部12B和一支撑部13B，所述透光部 12B被设置于所述支撑部13B的中间位置，所述支撑部13B环绕所述透光部12B，形成于所述透光部12B的外沿。所述透光部12B位于所述导热体41B的下方。所述箱体11B被设置于所述支撑部13B上方。所述罩体20B同所述箱体11B连接。所述箱体11B和所述支撑部13B固定连接，所述透光部12B朝向所述导热体41B的所述通道410B。所述透光部12B供光线透过。光线可通过所述透光部 12B进入所述通道410B，使得该测试对象被光学测试时，该测试对象80的下方也有光线进入。

在本实用新型的一个示例中，所述箱体11B和所述导热体41B之间被设置所述绝热层61B。所述箱体11B和所述支撑部13B之间被设置另一所述绝热层61B。所述箱体11B支撑所述导热体41B。

所述透光部12B优选地由两平板玻璃制成，两平板玻璃之间被抽成真空状态以进行绝热。平板玻璃的外周同所述支撑部13B固定。所述支撑部13B将所述透光部12B支撑起一定高度，使得所述透光部12B同所述光学测试控制装置放置的面有一定的距离，防止所述透光部12B被遮挡，使得光线从所述光学测试控制装置的底部进入所述光学测试控制装置的内部，有利于进行光学测试。将所述光学测试控制装置放置于光学测试工具上时，光线可以从所述光学测试控制装置顶部和底部进入所述测试空间，以供测试。

所述隔绝组件60B还包括多个密封元件62B，对多个连接处进行密封。所述罩体20B罩于所述主体10B时，所述主体10B和所述罩体20B之间的连接处通过所述密封元件62B密封。所述箱体11B和所述支撑部13B之间的连接处通过所述密封元件62B密封。

在对该测试对象80开始测试前，通过所述控制组件50B设置所述目标真空度。根据所述目标真空度，打开所述抽取件31B抽取所述测试空间100B内的气体。所述真空感应元件32B感应所述测试空间100B的所述实际真空度，判断是否达到所述目标真空度，若所述测试空间100B达到所述目标真空度，所述抽取件31B根据所述真空感应元件32B的数据保持所述测试空间100B在所述目标真空度。

通过所述控制装置输入所述目标温度，所述温度检测元件43B对该测试对象 80的所述实际温度进行检测。判断所述目标温度和所述实际温度之间的关系。当所述目标温度大于所述实际温度，选择加热模式，所述二级控温组件70B为所述控温组件40B提供高温的流体，流体进入从所述二级控温组件70B进入所述导热体41B内的所述流通管道42B，绕着该测试对象80流动，流体携带的热量通过所述导热体41B传递至该测试对象80，对该测试对象80进行加热。当所述温度检测元件43B感应到该测试对象80的所述实际温度达到所述目标温度，停止所述二级控温组件70B，以停止对所述控温组件40B的供流。

当所述目标温度小于所述实际温度，启动所述二级控温组件70B，为所述控温组件40B提供低温流体。

流体进入从所述二级控温组件70B进入所述导热体41B内的所述流通管道42B，绕着该测试对象80流动，该测试对象80携带的热量通过所述导热体41B 传递至流体，该测试对象80被制冷。当所述温度检测元件43B感应到该测试对象80的所述实际温度达到所述目标温度，停止所述二级控温组件70B，以停止对所述控温组件40B的供流。

所述温度检测元件43B保持对该测试对象80的温度检测，以使所述二级控温组件70B能够在所述实际温度和所述目标温度之间的差值大于所述预设值时及时供流，进行温度调节，进而使得该测试对象80的所述实际温度保持在所述目标温度上下。

当该测试对象80的所述实际温度达到所述目标温度，所述控制组件50B发出信息，提示该测试对象可以被测试光学性能。

当该测试对象80在测试过程中的所述实际温度和所述目标温度之间的差值大于所述预设值，所述控制组件50B发出信息，提示暂停测试，以便对该测试对象80进行温度调节，使得该测试对象80的温度重新回到所述目标温度后，再次提示可以进行测试。

本实用新型进一步提供一光学测试控制方法，所述光学测试控制方法包括以下步骤：

(A)密封该测试对象80所处的一测试空间100；和

(B)调节该测试对象80的一实际温度至一目标温度。

所述步骤(A)和(B)之间进一步包括一步骤：

将所述测试空间100内部调整至预设的一目标真空度

所述步骤(A)和(B)之间进一步以下步骤：

获取预设的所述真空度；

启动一抽取件31以抽取所述测试空间100内的气体；以及

通过一真空感应元件32检测所述测试空间100的一实际真空度。

所述步骤(A)和(B)之间进一步以下步骤：

当所述测试空间100的所述实际真空度达到所述目标真空度，停止所述抽取件31。

所述步骤(A)和步骤(B)之间还包括以下步骤：

获取所述目标温度；

根据所述目标温度和所述实际温度之间的关系选择对该测试对象进行制冷或加热。

所述步骤(B)进一步包括以下步骤：

当所述目标温度大于所述实际温度，启动一加热件41以将热量通过所述导热体43传递至该测试对象80。

所述步骤(B)进一步包括以下步骤：

当所述目标温度小于所述实际温度，启动一制冷件吸收该测试对象的热量以降低该测试对象的温度；和

启动一二级控温组件带走所述制冷件吸收的热量。

所述步骤(B)进一步包括以下步骤：

当所述目标温度大于所述实际温度，通过一二级控温组件70为该测试对象周边的所述导热体41B内部的至少一流通管道42B提供高温流体。

所述步骤(B)进一步包括以下步骤：

当所述目标温度小于所述实际温度，通过一二级控温组件70为该测试对象周边的所述导热体41B内部的至少一流通管道42B提供低温流体。

本领域的技术人员应理解，上述描述及附图中所示的本实用新型的实施例只作为举例而并不限制本实用新型。本实用新型的目的已经完整并有效地实现。本实用新型的功能及结构原理已在实施例中展示和说明，在没有背离所述原理下，本实用新型的实施方式可以有任何变形或修改。

Claims (39)

1.一光学测试控制装置，其特征在于，包括：

一主体；

一罩体，所述罩体被覆盖于所述主体，所述罩体和所述主体之间形成一测试空间，测试对象被放置于所述测试空间；以及

一控温组件，所述控温组件被设置于所述测试空间，其中所述控温组件对所述测试空间内的光学测试的一目标温度进行调节。

2.根据权利要求1所述的光学测试控制装置，其中所述光学测试控制装置进一步包括一二级控温组件，所述二级控温组件被设置于所述主体的外侧，其中所述二级控温组件同所述控温组件连接，所述二级控温组件控制该测试对象的温度。

3.根据权利要求2所述的光学测试控制装置，其中所述二级控温组件包括一控温主体、一输出管道和一返回管道，所述输出管道和所述返回管道的两端分别连接所述控温组件和所述控温主体，所述控温主体对流体进行温度调节，流体通过所述输出管道流出所述控温主体，流至所述控温组件，流体流出所述控温组件通过所述返回管道返回所述控温主体。

4.根据权利要求1所述的光学测试控制装置，其中所述控温组件包括至少一导热体，所述导热体自所述主体向上延伸形成，所述导热体具有贯通的一通道，当进行光学测试时，该测试对象被放置于所述通道。

5.根据权利要求1所述的光学测试控制装置，其中所述控温组件还包括一温度检测元件，所述温度检测元件贴合于该测试对象，检测该测试对象的温度。

6.根据权利要求2所述的光学测试控制装置，进一步包括一控制组件，其中所述控温组件还包括一温度检测元件，所述控制组件连接所述控温组件和所述二级控温组件，其中所述控制组件根据所述目标温度和所述温度检测元件检测的该测试对象的一实际温度，选择对该测试对象进行制冷或加热。

7.根据权利要求1所述的光学测试控制装置，进一步包括一控制组件，所述控制组件连接所述控温组件，其中所述控温组件包括一加热件和至少一导热体，所述导热体自所述主体向上延伸形成，所述加热件紧贴于所述导热体的一侧，所述加热件通过所述导热体传递热量至该测试对象，以对该测试对象进行加热，其中所述控制组件控制所述加热件升高温度，以将热量通过所述导热体传递至该测试对象。

8.根据权利要求2或3所述的光学测试控制装置，进一步包括一控制组件，所述控制组件连接所述控温组件，其中所述控温组件包括一加热件和至少一导热体，所述导热体自所述主体向上延伸形成，所述加热件紧贴于所述导热体的一侧，所述加热件通过所述导热体传递热量至该测试对象，以对该测试对象进行加热，其中所述控制组件控制所述加热件升高温度，以将热量通过所述导热体传递至该测试对象。

9.根据权利要求4或5所述的光学测试控制装置，进一步包括一控制组件，所述控制组件连接所述控温组件，其中所述控温组件包括一加热件和至少一导热体，所述导热体自所述主体向上延伸形成，所述加热件紧贴于所述导热体的一侧，所述加热件通过所述导热体传递热量至该测试对象，以对该测试对象进行加热，其中所述控制组件控制所述加热件升高温度，以将热量通过所述导热体传递至该测试对象。

10.根据权利要求6所述的光学测试控制装置，其中所述控温组件包括一加热件和至少一导热体，所述导热体自所述主体向上延伸形成，所述加热件紧贴于所述导热体的一侧，所述加热件通过所述导热体传递热量至该测试对象，以对该测试对象进行加热，其中所述控制组件控制所述加热件升高温度，以将热量通过所述导热体传递至该测试对象。

11.根据权利要求7所述的光学测试控制装置，其中所述控温组件还包括一容器和一制冷件，所述容器被设置于所述制冷件的外侧，所述制冷件位于所述容器和所述导热体之间，所述容器容纳低温流体，其中所述控制组件控制所述制冷件降低温度，以吸收该测试对象的热量，降低该测试对象的温度，所述容器内的低温流体带走所述制冷件吸收热量。

12.根据权利要求8所述的光学测试控制装置，其中所述控温组件还包括一容器和一制冷件，所述容器被设置于所述制冷件的外侧，所述制冷件位于所述容器和所述导热体之间，所述容器容纳低温流体，其中所述控制组件控制所述制冷件降低温度，以吸收该测试对象的热量，降低该测试对象的温度，所述容器内的低温流体带走所述制冷件吸收热量。

13.根据权利要求9所述的光学测试控制装置，其中所述控温组件还包括一容器和一制冷件，所述容器被设置于所述制冷件的外侧，所述制冷件位于所述容器和所述导热体之间，所述容器容纳低温流体，其中所述控制组件控制所述制冷件降低温度，以吸收该测试对象的热量，降低该测试对象的温度，所述容器内的低温流体带走所述制冷件吸收热量。

14.根据权利要求10所述的光学测试控制装置，其中所述控温组件还包括一容器和一制冷件，所述容器被设置于所述制冷件的外侧，所述制冷件位于所述容器和所述导热体之间，所述容器容纳低温流体，其中所述控制组件控制所述制冷件降低温度，以吸收该测试对象的热量，降低该测试对象的温度，所述容器内的低温流体带走所述制冷件吸收热量。

15.根据权利要求11所述的光学测试控制装置，其中所述光学测试控制装置进一步包括一二级控温组件，所述二级控温组件被设置于所述主体的外侧，其中所述控温组件还包括一流通管道，所述流通管道连接所述二级控温组件和所述容器，所述二级控温组件将低温流体输送至所述流通管道，并通过所述流通管道进入所述容器，吸收所述制冷件的热量，低温流体吸收一定热量后通过所述流通管道返回所述二级控温组件，由所述二级控温组件进行再次制冷后再次进入容器进行热量吸收，所述低温流体在所述二级控温组件和所述容器之间循环流动。

16.根据权利要求12所述的光学测试控制装置，其中所述控温组件还包括一流通管道，所述流通管道连接所述二级控温组件和所述容器，所述二级控温组件将低温流体输送至所述流通管道，并通过所述流通管道进入所述容器，吸收所述制冷件的热量，低温流体吸收一定热量后通过所述流通管道返回所述二级控温组件，由所述二级控温组件进行再次制冷后再次进入容器进行热量吸收，所述低温流体在所述二级控温组件和所述容器之间循环流动。

17.根据权利要求13所述的光学测试控制装置，其中所述光学测试控制装置进一步包括一二级控温组件，所述二级控温组件被设置于所述主体的外侧，其中所述控温组件还包括一流通管道，所述流通管道连接所述二级控温组件和所述容器，所述二级控温组件将低温流体输送至所述流通管道，并通过所述流通管道进入所述容器，吸收所述制冷件的热量，低温流体吸收一定热量后通过所述流通管道返回所述二级控温组件，由所述二级控温组件进行再次制冷后再次进入容器进行热量吸收，所述低温流体在所述二级控温组件和所述容器之间循环流动。

18.根据权利要求14所述的光学测试控制装置，其中所述控温组件还包括一流通管道，所述流通管道连接所述二级控温组件和所述容器，所述二级控温组件将低温流体输送至所述流通管道，并通过所述流通管道进入所述容器，吸收所述制冷件的热量，低温流体吸收一定热量后通过所述流通管道返回所述二级控温组件，由所述二级控温组件进行再次制冷后再次进入容器进行热量吸收，所述低温流体在所述二级控温组件和所述容器之间循环流动。

19.根据权利要求4所述的光学测试控制装置，其中所述光学测试控制装置进一步包括一二级控温组件，所述二级控温组件被设置于所述主体的外侧，其中所述导热体内部内设置至少一流通管道，所述流通管道沿着所述导热体的内部分布，其中所述流通管道延伸出所述导热体的外侧，同所述二级控温组件连接，流体从所述二级控温组件流入所述流通管道，沿着所述导热体内的所述流通管道流动后返回所述二级控温组件。

20.根据权利要求7所述的光学测试控制装置，其中所述光学测试控制装置进一步包括一二级控温组件，所述二级控温组件被设置于所述主体的外侧，其中所述导热体内部内设置至少一流通管道，所述流通管道沿着所述导热体的内部分布，其中所述流通管道延伸出所述导热体的外侧，同所述二级控温组件连接，流体从所述二级控温组件流入所述流通管道，沿着所述导热体内的所述流通管道流动后返回所述二级控温组件。

21.根据权利要求8所述的光学测试控制装置，其中所述导热体内部内设置至少一流通管道，所述流通管道沿着所述导热体的内部分布，其中所述流通管道延伸出所述导热体的外侧，同所述二级控温组件连接，流体从所述二级控温组件流入所述流通管道，沿着所述导热体内的所述流通管道流动后返回所述二级控温组件。

22.根据权利要求9所述的光学测试控制装置，其中所述光学测试控制装置进一步包括一二级控温组件，所述二级控温组件被设置于所述主体的外侧，其中所述导热体内部内设置至少一流通管道，所述流通管道沿着所述导热体的内部分布，其中所述流通管道延伸出所述导热体的外侧，同所述二级控温组件连接，流体从所述二级控温组件流入所述流通管道，沿着所述导热体内的所述流通管道流动后返回所述二级控温组件。

23.根据权利要求10所述的光学测试控制装置，其中所述导热体内部内设置至少一流通管道，所述流通管道沿着所述导热体的内部分布，其中所述流通管道延伸出所述导热体的外侧，同所述二级控温组件连接，流体从所述二级控温组件流入所述流通管道，沿着所述导热体内的所述流通管道流动后返回所述二级控温组件。

24.根据权利要求11所述的光学测试控制装置，其中所述光学测试控制装置进一步包括一二级控温组件，所述二级控温组件被设置于所述主体的外侧，其中所述导热体内部内设置至少一流通管道，所述流通管道沿着所述导热体的内部分布，其中所述流通管道延伸出所述导热体的外侧，同所述二级控温组件连接，流体从所述二级控温组件流入所述流通管道，沿着所述导热体内的所述流通管道流动后返回所述二级控温组件。

25.根据权利要求12所述的光学测试控制装置，其中所述导热体内部内设置至少一流通管道，所述流通管道沿着所述导热体的内部分布，其中所述流通管道延伸出所述导热体的外侧，同所述二级控温组件连接，流体从所述二级控温组件流入所述流通管道，沿着所述导热体内的所述流通管道流动后返回所述二级控温组件。

26.根据权利要求13所述的光学测试控制装置，其中所述光学测试控制装置进一步包括一二级控温组件，所述二级控温组件被设置于所述主体的外侧，其中所述导热体内部内设置至少一流通管道，所述流通管道沿着所述导热体的内部分布，其中所述流通管道延伸出所述导热体的外侧，同所述二级控温组件连接，流体从所述二级控温组件流入所述流通管道，沿着所述导热体内的所述流通管道流动后返回所述二级控温组件。

27.根据权利要求14所述的光学测试控制装置，其中所述导热体内部内设置至少一流通管道，所述流通管道沿着所述导热体的内部分布，其中所述流通管道延伸出所述导热体的外侧，同所述二级控温组件连接，流体从所述二级控温组件流入所述流通管道，沿着所述导热体内的所述流通管道流动后返回所述二级控温组件。

28.根据权利要求15所述的光学测试控制装置，其中所述导热体内部内设置至少一流通管道，所述流通管道沿着所述导热体的内部分布，其中所述流通管道延伸出所述导热体的外侧，同所述二级控温组件连接，流体从所述二级控温组件流入所述流通管道，沿着所述导热体内的所述流通管道流动后返回所述二级控温组件。

29.根据权利要求16所述的光学测试控制装置，其中所述导热体内部内设置至少一流通管道，所述流通管道沿着所述导热体的内部分布，其中所述流通管道延伸出所述导热体的外侧，同所述二级控温组件连接，流体从所述二级控温组件流入所述流通管道，沿着所述导热体内的所述流通管道流动后返回所述二级控温组件。

30.根据权利要求17所述的光学测试控制装置，其中所述导热体内部内设置至少一流通管道，所述流通管道沿着所述导热体的内部分布，其中所述流通管道延伸出所述导热体的外侧，同所述二级控温组件连接，流体从所述二级控温组件流入所述流通管道，沿着所述导热体内的所述流通管道流动后返回所述二级控温组件。

31.根据权利要求18所述的光学测试控制装置，其中所述导热体内部内设置至少一流通管道，所述流通管道沿着所述导热体的内部分布，其中所述流通管道延伸出所述导热体的外侧，同所述二级控温组件连接，流体从所述二级控温组件流入所述流通管道，沿着所述导热体内的所述流通管道流动后返回所述二级控温组件。

32.根据权利要求19所述的光学测试控制装置，进一步包括一真空调节组件和一控制组件，所述控制组件连接所述真空调节组件，控制所述测试空间的一实际真空度，其中所述真空调节组件包括至少一抽取件和至少一真空感应元件，所述抽取件的一端延伸至所述测试空间，抽取所述测试空间气体至外部，所述真空感应元件被设置于所述测试空间，以检测所述测试空间的一实际真空度，当所述真空感应元件检测的所述实际真空度达到所述控制组件设置的一目标真空度，所述控制组件停止所述抽取件的工作。

33.根据权利要求20所述的光学测试控制装置，进一步包括一真空调节组件，所述控制组件连接所述真空调节组件，控制所述测试空间的一实际真空度，其中所述真空调节组件包括至少一抽取件和至少一真空感应元件，所述抽取件的一端延伸至所述测试空间，抽取所述测试空间气体至外部，所述真空感应元件被设置于所述测试空间，以检测所述测试空间的一实际真空度，当所述真空感应元件检测的所述实际真空度达到所述控制组件设置的一目标真空度，所述控制组件停止所述抽取件的工作。

34.根据权利要求21所述的光学测试控制装置，进一步包括一真空调节组件，所述控制组件连接所述真空调节组件，控制所述测试空间的一实际真空度，其中所述真空调节组件包括至少一抽取件和至少一真空感应元件，所述抽取件的一端延伸至所述测试空间，抽取所述测试空间气体至外部，所述真空感应元件被设置于所述测试空间，以检测所述测试空间的一实际真空度，当所述真空感应元件检测的所述实际真空度达到所述控制组件设置的一目标真空度，所述控制组件停止所述抽取件的工作。

35.根据权利要求22所述的光学测试控制装置，进一步包括一真空调节组件，所述控制组件连接所述真空调节组件，控制所述测试空间的一实际真空度，其中所述真空调节组件包括至少一抽取件和至少一真空感应元件，所述抽取件的一端延伸至所述测试空间，抽取所述测试空间气体至外部，所述真空感应元件被设置于所述测试空间，以检测所述测试空间的一实际真空度，当所述真空感应元件检测的所述实际真空度达到所述控制组件设置的一目标真空度，所述控制组件停止所述抽取件的工作。

36.根据权利要求1所述的光学测试控制装置，进一步包括一隔绝组件，其中所述控温组件包括至少一导热体，所述隔绝组件被设置于所述测试空间的内部和周边，密封所述测试空间，其中所述隔绝组件包括至少一绝热层和多个密封元件，所述绝热层被设置于所述导热体的下方，防止热量经由所述导热体向下散失，所述绝热层的两端同所述主体连接，所述密封元件密封所述绝热层和所述主体的连接处，当所述罩体同所述主体连接，所述密封元件密封所述罩体和所述主体之间的连接处，使得所述测试空间被密封和绝热。

37.根据权利要求1所述的光学测试控制装置，其中所述罩体呈球形，由可透光材料制成，光线可透过所述罩体进入所述测试空间。

38.根据权利要求1所述的光学测试控制装置，其中所述罩体呈圆柱形，所述罩体顶端由可透过光线的材料制成，光线可透过所述罩体进入所述测试空间。

39.根据权利要求1所述的光学测试控制装置，其中所述光学测试控制装置由低膨胀系数材料制成。

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