CN212008655U - 一种显卡生产用测试装置 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种显卡生产用测试装置，属于显卡测试技术领域，包括输送架、输送组件、第一测试组件、第二测试组件和若干固定组件，所述输送架呈竖直设置，所述输送组件设置在输送架上，所述输送组件与输送架转动连接，所述第一测试组件设置在输送架的顶部，所述第二测试组件设置在输送架的顶部且位于第一测试组件的旁侧，若干所述固定组件等间距设置在输送组件的顶部，在工作状态下，所述固定组件对应第一测试组件和第二测试组件设置。本实用新型通过若干固定弹簧移动带动若干固定盘移动对显卡的位置进行固定，防止在测试的过程中显卡的位置发生移动对测试的效果造成影响。

Description

一种显卡生产用测试装置

技术领域

本实用新型涉及显卡测试技术领域，尤其是涉及一种显卡生产用测试装置。

背景技术

显卡作为电脑主机里的一个重要组成部分，是电脑进行数模信号转换的设备，承担输出显示图形的任务。显卡接在电脑主板上，它将电脑的数字信号转换成模拟信号让显示器显示出来，同时显卡还是有图像处理能力，可协助CPU工作，提高整体的运行速度。但是，现有的显卡测试装置在使用中还存在以下问题：第一，在进行测试，不能对显卡的位置进行固定，导致在对显卡进行测试时，显卡的位置移动从而影响对显卡的测试作业，第二，只能对显卡的一项性能进行检测作业，导致测试的不全面，从而影响显卡的后期使用。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种显卡生产用测试装置，以解决现有技术中不能对显卡的位置进行固定和只能对显卡的一项性能进行检测作业的技术问题。

本实用新型提供一种显卡生产用测试装置，包括输送架、输送组件、第一测试组件、第二测试组件和若干固定组件，所述输送架呈竖直设置，所述输送组件设置在输送架上，所述输送组件与输送架转动连接，所述第一测试组件设置在输送架的顶部，所述第二测试组件设置在输送架的顶部且位于第一测试组件的旁侧，若干所述固定组件等间距设置在输送组件的顶部，在工作状态下，所述固定组件对应第一测试组件和第二测试组件设置。

进一步的，所述输送组件包括输送电机、第一转动轮、第二转动轮、输送带和两个输送辊，两个所述输送辊对称设置在输送架的两端且两个输送辊均与输送架转动连接，所述输送带套设在两个输送辊上，所述输送电机设置在输送架的下方，所述第一转动轮上设置在输送电机的输出轴上，所述第二转动轮设置在其中一个输送辊的一端，所述第一转动轮上设有与第二转动轮传动连接的连接带。

进一步的，每个所述固定组件均包括固定座、若干固定弹簧和若干固定盘，所述固定盘设置在输送带的顶部，所述固定座的顶部设有固定槽，所述固定槽内的两侧侧壁上设有供若干固定弹簧等间距设置的弹簧槽，若干所述固定弹簧的一端等间距设置在弹簧槽内，若干所述固定盘固定设置在与其对应的固定弹簧的另一端上。

进一步的，所述第一测试组件包括固定架、转动电机、转动齿轮、固定板、两个移动齿板和两个测试板，所述固定架架设在输送架的顶部，所述固定板水平设置在固定架的下方，所述转动电机设置在固定架的顶部且转动电机的输出轴竖直向下设置，所述转动电机的输出轴穿过固定板且与固定板转动连接，所述转动齿轮设置在转动电机的输出轴上,两个所述移动齿板对称设置在固定板上且与两个固定板滑动配合，所述转动齿轮与两个移动齿板啮合，两个所述测试板对称设置在两个移动齿板的一端，两个所述测试板竖直设置，每个所述测试板上均设有测试机构。

进一步的，所述第二测试组件包括安装架、安装框、驱动电机、驱动丝杆、插接板、两个移动块和两个转动杆，所述安装架架设在输送架的顶部且位于固定架的旁侧，所述安装架的顶部设有贯穿的通槽，所述安装框设置在安装架的顶部，所述驱动丝杆的两端设置在安装框上且与安装框转动连接，所述驱动电机设置在安装框的侧壁上且与驱动丝杆的一端固定连接，两个所述移动块对称设置在驱动丝杆上且与驱动丝杆螺纹连接，两个所述移动块上均设有与驱动丝杆螺纹相反的螺纹孔，两个所述转动杆的一端分别与两个移动块转动连接，所述插接板设置在两个转动杆的另一端，所述插接板与两个转动杆转动连接，所述插接板的底部设有与显卡插接配合的插接槽。

进一步的，每个所述固定盘上均包裹有橡胶层。

与现有技术相比较，本实用新型的有益效果在于：

其一，本实用新型在将显卡放在固定座上的固定槽上后，若干固定弹簧移动带动若干固定盘移动对显卡的位置进行固定，防止在测试的过程中显卡的位置发生移动对测试的效果造成影响。

其二，本实用新型中转动电机工作带动转动齿轮在固定板上转动，转动齿轮转动带动两个移动齿板在固定板上相对或相向移动，两个移动齿板移动带动两个测试板移动，将两个测试板位置移动至显卡的两端，两个测试板上的测试机构对显卡进行测试，测试显卡是否有短路等状况。

其三，本实用新型中驱动电机工作带动驱动丝杆在安装架上转动，驱动丝杆转动带动两个移动块在驱动丝杆上相对或相向移动，两个移动块移动带动两个转动杆转动，两个转动杆转动带动插接板在竖直方向进行移动，插接板移动对显卡进行耐用性的测试作业。

附图说明

为了更清楚地说明本实用新型具体实施方式或现有技术中的技术方案，下面将对具体实施方式或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本实用新型的一些实施方式，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本实用新型的立体结构示意图；

图2为本实用新型的局部立体结构示意图；

图3为本实用新型的第一测试组件的立体结构示意图；

图4为本实用新型的第二测试组件的立体结构示意图。

附图标记：

输送架1，输送组件2，输送电机21，第一转动轮22，第二转动轮23，输送带24，输送辊25，第一测试组件3，固定架31，转动电机32，转动齿轮33，固定板34，移动齿板35，测试板36，第二测试组件4，安装架41，安装框42，驱动电机43，驱动丝杆44，插接板45，移动块46，转动杆47，固定组件5，固定座51，固定弹簧52，固定盘53，固定槽54。

具体实施方式

下面将结合附图对本实用新型的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。

通常在此处附图中描述和显示出的本实用新型实施例的组件可以以各种不同的配置来布置和设计。因此，以下对在附图中提供的本实用新型的实施例的详细描述并非旨在限制要求保护的本实用新型的范围，而是仅仅表示本实用新型的选定实施例。

基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

在本实用新型的描述中，需要说明的是，术语“中心”、“上”、“下”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本实用新型和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本实用新型的限制。此外，术语“第一”、“第二”、“第三”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性。

在本实用新型的描述中，需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以具体情况理解上述术语在本实用新型中的具体含义。

下面结合图1至图4所示，本实用新型实施例提供了一种显卡生产用测试装置，包括输送架1、输送组件2、第一测试组件3、第二测试组件4和若干固定组件5，所述输送架1呈竖直设置，所述输送组件2设置在输送架1上，所述输送组件2与输送架1转动连接，所述第一测试组件3设置在输送架1的顶部，所述第二测试组件4设置在输送架1的顶部且位于第一测试组件3的旁侧，若干所述固定组件5等间距设置在输送组件2的顶部，在工作状态下，所述固定组件5对应第一测试组件3和第二测试组件4设置；在对显卡进行测试时，将要测试的显卡放在固定组件5上，固定组件5将显卡进行固定，防止在测试的过程中显卡的位置发生移动影响对显卡的测试，在将显卡固定后，输送组件2在输送架1上工作将向前输送，将显卡输送至第一测试组件3的下方后，第一测试组件3对显卡是否短路等性能进行测试作业，第一测试组件3组件对显卡进行测试后，输送组件2工作带动显卡向第二测试组件4的下方进行输送，第二测试组件4工作对显卡的耐用性进行测试作业，在进行测试后输送带24动将测试完成的显卡向外输送。

具体地，所述输送组件2包括输送电机21、第一转动轮22、第二转动轮23、输送带24和两个输送辊25，两个所述输送辊25对称设置在输送架1的两端且两个输送辊25均与输送架1转动连接，所述输送带24套设在两个输送辊25上，所述输送电机21设置在输送架1的下方，所述第一转动轮22上设置在输送电机21的输出轴上，所述第二转动轮23设置在其中一个输送辊25的一端，所述第一转动轮22上设有与第二转动轮23传动连接的连接带；在对显卡进行输送时，输送电机21工作带动第一转动轮22转动，第一转动轮22通过连接带带动第二转动轮23转动，第二转动轮23转动带动其中输送辊25转动，其中一个输送辊25转动通过输送带24带动另一端输送辊25在输送架1上转动，输送带24转动带动固定组件5上的显卡进行移动，将显卡移动至待测试的区域。

具体地，每个所述固定组件5均包括固定座51、若干固定弹簧52和若干固定盘53，所述固定盘53设置在输送带24的顶部，所述固定座51的顶部设有固定槽54，所述固定槽54内的两侧侧壁上设有供若干固定弹簧52等间距设置的弹簧槽，若干所述固定弹簧52的一端等间距设置在弹簧槽内，若干所述固定盘53固定设置在与其对应的固定弹簧52的另一端上；在将显卡放在固定座51上的固定槽54上后，若干固定弹簧52移动带动若干固定盘53移动对显卡的位置进行固定，防止在测试的过程中显卡的位置发生移动对测试的效果造成影响。

具体地，所述第一测试组件3包括固定架31、转动电机32、转动齿轮33、固定板34、两个移动齿板35和两个测试板36，所述固定架31架设在输送架1的顶部，所述固定板34水平设置在固定架31的下方，所述转动电机32设置在固定架31的顶部且转动电机32的输出轴竖直向下设置，所述转动电机32的输出轴穿过固定板34且与固定板34转动连接，所述转动齿轮33设置在转动电机32的输出轴上,两个所述移动齿板35对称设置在固定板34上且与两个固定板34滑动配合，所述转动齿轮33与两个移动齿板35啮合，两个所述测试板36对称设置在两个移动齿板35的一端，两个所述测试板36竖直设置，每个所述测试板36上均设有测试机构；转动电机32工作带动转动齿轮33在固定板34上转动，转动齿轮33转动带动两个移动齿板35在固定板34上相对或相向移动，两个移动齿板35移动带动两个测试板36移动，将两个测试板36位置移动至显卡的两端，两个测试板36上的测试机构对显卡进行测试，测试显卡是否有短路等状况。

具体地，所述第二测试组件4包括安装架41、安装框42、驱动电机43、驱动丝杆44、插接板45、两个移动块46和两个转动杆47，所述安装架41架设在输送架1的顶部且位于固定架31的旁侧，所述安装架41的顶部设有贯穿的通槽，所述安装框42设置在安装架41的顶部，所述驱动丝杆44的两端设置在安装框42上且与安装框42转动连接，所述驱动电机43设置在安装框42的侧壁上且与驱动丝杆44的一端固定连接，两个所述移动块46对称设置在驱动丝杆44上且与驱动丝杆44螺纹连接，两个所述移动块46上均设有与驱动丝杆44螺纹相反的螺纹孔，两个所述转动杆47的一端分别与两个移动块46转动连接，所述插接板45设置在两个转动杆47的另一端，所述插接板45与两个转动杆47转动连接，所述插接板45的底部设有与显卡插接配合的插接槽；驱动电机43工作带动驱动丝杆44在安装架41上转动，驱动丝杆44转动带动两个移动块46在驱动丝杆44上相对或相向移动，两个移动块46移动带动两个转动杆47转动，两个转动杆47转动带动插接板45在竖直方向进行移动，插接板45移动对显卡进行耐用性的测试作业。

具体地，每个所述固定盘53上均包裹有橡胶层；每个固定盘53上均包裹有橡胶垫在对显卡进行固定时可以防止固定盘53对显卡造成损坏，从而影响显卡的后期使用。

本实用新型的工作原理：本实用新型在使用时，在将显卡放在固定座51上的固定槽54上后，若干固定弹簧52移动带动若干固定盘53移动对显卡的位置进行固定，防止在测试的过程中显卡的位置发生移动对测试的效果造成影响，在对显卡进行输送时，输送电机21工作带动第一转动轮22转动，第一转动轮22通过连接带带动第二转动轮23转动，第二转动轮23转动带动其中输送辊25转动，其中一个输送辊25转动通过输送带24带动另一端输送辊25在输送架1上转动，输送带24转动带动固定组件5上的显卡进行移动，将显卡移动至第一测试组件3的底部，转动电机32工作带动转动齿轮33在固定板34上转动，转动齿轮33转动带动两个移动齿板35在固定板34上相对或相向移动，两个移动齿板35移动带动两个测试板36移动，将两个测试板36位置移动至显卡的两端，两个测试板36上的测试机构对显卡进行测试，测试显卡是否有短路等状况；在测试完成后，输送组件2将显卡向第二测试组件4的底部输送，驱动电机43工作带动驱动丝杆44在安装架41上转动，驱动丝杆44转动带动两个移动块46在驱动丝杆44上相对或相向移动，两个移动块46移动带动两个转动杆47转动，两个转动杆47转动带动插接板45在竖直方向进行移动，插接板45移动对显卡进行耐用性的测试作业，在进行测试完成后，输送组件2工作将显卡移动走。

最后应说明的是：以上各实施例仅用以说明本实用新型的技术方案，而非对其限制；尽管参照前述各实施例对本实用新型进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分或者全部技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本实用新型各实施例技术方案的范围。

Claims (6)

1.一种显卡生产用测试装置，其特征在于：包括输送架(1)、输送组件(2)、第一测试组件(3)、第二测试组件(4)和若干固定组件(5)，所述输送架(1)呈竖直设置，所述输送组件(2)设置在输送架(1)上，所述输送组件(2)与输送架(1)转动连接，所述第一测试组件(3)设置在输送架(1)的顶部，所述第二测试组件(4)设置在输送架(1)的顶部且位于第一测试组件(3)的旁侧，若干所述固定组件(5)等间距设置在输送组件(2)的顶部，在工作状态下，所述固定组件(5)对应第一测试组件(3)和第二测试组件(4)设置。

2.根据权利要求1所述的一种显卡生产用测试装置，其特征在于：所述输送组件(2)包括输送电机(21)、第一转动轮(22)、第二转动轮(23)、输送带(24)和两个输送辊(25)，两个所述输送辊(25)对称设置在输送架(1)的两端且两个输送辊(25)均与输送架(1)转动连接，所述输送带(24)套设在两个输送辊(25)上，所述输送电机(21)设置在输送架(1)的下方，所述第一转动轮(22)上设置在输送电机(21)的输出轴上，所述第二转动轮(23)设置在其中一个输送辊(25)的一端，所述第一转动轮(22)上设有与第二转动轮(23)传动连接的连接带。

3.根据权利要求2所述的一种显卡生产用测试装置，其特征在于：每个所述固定组件(5)均包括固定座(51)、若干固定弹簧(52)和若干固定盘(53)，所述固定盘(53)设置在输送带(24)的顶部，所述固定座(51)的顶部设有固定槽(54)，所述固定槽(54)内的两侧侧壁上设有供若干固定弹簧(52)等间距设置的弹簧槽，若干所述固定弹簧(52)的一端等间距设置在弹簧槽内，若干所述固定盘(53)固定设置在与其对应的固定弹簧(52)的另一端上。

4.根据权利要求1所述的一种显卡生产用测试装置，其特征在于：所述第一测试组件(3)包括固定架(31)、转动电机(32)、转动齿轮(33)、固定板(34)、两个移动齿板(35)和两个测试板(36)，所述固定架(31)架设在输送架(1)的顶部，所述固定板(34)水平设置在固定架(31)的下方，所述转动电机(32)设置在固定架(31)的顶部且转动电机(32)的输出轴竖直向下设置，所述转动电机(32)的输出轴穿过固定板(34)且与固定板(34)转动连接，所述转动齿轮(33)设置在转动电机(32)的输出轴上,两个所述移动齿板(35)对称设置在固定板(34)上且与两个固定板(34)滑动配合，所述转动齿轮(33)与两个移动齿板(35)啮合，两个所述测试板(36)对称设置在两个移动齿板(35)的一端，两个所述测试板(36)竖直设置，每个所述测试板(36)上均设有测试机构。

5.根据权利要求4所述的一种显卡生产用测试装置，其特征在于：所述第二测试组件(4)包括安装架(41)、安装框(42)、驱动电机(43)、驱动丝杆(44)、插接板(45)、两个移动块(46)和两个转动杆(47)，所述安装架(41)架设在输送架(1)的顶部且位于固定架(31)的旁侧，所述安装架(41)的顶部设有贯穿的通槽，所述安装框(42)设置在安装架(41)的顶部，所述驱动丝杆(44)的两端设置在安装框(42)上且与安装框(42)转动连接，所述驱动电机(43)设置在安装框(42)的侧壁上且与驱动丝杆(44)的一端固定连接，两个所述移动块(46)对称设置在驱动丝杆(44)上且与驱动丝杆(44)螺纹连接，两个所述移动块(46)上均设有与驱动丝杆(44)螺纹相反的螺纹孔，两个所述转动杆(47)的一端分别与两个移动块(46)转动连接，所述插接板(45)设置在两个转动杆(47)的另一端，所述插接板(45)与两个转动杆(47)转动连接，所述插接板(45)的底部设有与显卡插接配合的插接槽。

6.根据权利要求3所述的一种显卡生产用测试装置，其特征在于：每个所述固定盘(53)上均包裹有橡胶层。

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