CN211954039U - 割缝筛管高精度光学缝宽检测装置 - Google Patents

Abstract

本实用新型涉及一种石油筛管切割辅助装置技术领域，特别涉及一种割缝筛管高精度光学缝宽检测装置。其技术方案是：在支撑架上安装补光灯，在光学显微镜的顶部设有光学传感器，且光学传感器通过导线连接到计算机；在光学显微镜的镜头下方设有游标卡尺，并固定在支撑架上，在筛管固定槽内安放待测的割缝筛管，割缝筛管可以沿着筛管固定槽前后滑动和滚动。有益效果是：1、可对割缝的宽度尺寸进行精确测量，可有效保障产品质量；2、测量采用光学无接触方式，不会对缝隙产生变形影响；3、测量精度高，最高精度可达小数点后4位数；4、对缝隙处的缺陷能直观观测；5、检测成本低，不存在因量具磨损报废现象；6、本实用新型的操作简单易学。

Description

割缝筛管高精度光学缝宽检测装置

技术领域

本实用新型涉及一种石油筛管切割辅助装置技术领域，特别涉及一种割缝筛管高精度光学缝宽检测装置。

背景技术

目前，割缝筛管广泛应用在油田的采油系统中，割缝筛管通过割缝的来达到采油防砂的目的，不同类型的油井，所采用的割缝的缝宽不同，因此，割缝的缝宽精度对挡砂粒径有直接影响。

割缝筛管缝宽从0.15mm-4mm不等，其中缝宽在0.15mm-0.3mm氛围内的割缝6.1的缝宽精度要求较高，公差一般控制在±0.03mm-±0.05mm。常规检测方法一般是用塞尺对缝宽进行检测，厚度在0.1mm以上的塞尺，等级一般是0.05mm。即：0.10mm、0.15mm、0.20mm……。很难检测出精度在±0.03mm的缝隙，即便是可以定做，成本也较高。常规塞尺在使用过程中还存在磨损情况，降低检测精度。当每圈缝数较多时，径向两条缝之间间距较小，当用塞尺检测时，有可能存在成缝间距偏移，测量数据不准等情况（如图1）。

根据塞尺消耗量大、成本高、检测精度低等情况，提出一种割缝筛管高精度光学缝宽检测装置，可无接触、无损伤高精度检测缝宽。

实用新型内容

本实用新型的目的就是针对现有技术存在的上述缺陷，提供一种割缝筛管高精度光学缝宽检测装置，可无接触、无损伤高精度检测缝宽。

其技术方案是：包括光学显微镜、光学传感器、补光灯、计算机、游标卡尺、固定座、支撑架、筛管固定槽、导线，所述固定座的上表面安装支撑架、筛管固定槽和光学显微镜，在支撑架上安装补光灯，在光学显微镜的顶部设有光学传感器，且光学传感器通过导线连接到计算机；在光学显微镜的镜头下方设有游标卡尺，并固定在支撑架上，在筛管固定槽内安放待测的割缝筛管，割缝筛管可以沿着筛管固定槽前后滑动和滚动。

优选的，上述筛管固定槽包括长方形本体和半圆筒形凹槽，长方形本体的底部与固定座连接，长方形本体的上侧设有半圆筒形凹槽，用于安放待测的割缝筛管。

优选的，上述半圆筒形凹槽的内壁上分布有多个长条形凸起。

优选的，上述长条形凸起采用橡胶制成的凸起。

优选的，上述补光灯通过卡扣固定在支撑架上。

本实用新型的有益效果是：1、可对割缝的宽度尺寸进行精确测量，可有效保障产品质量；2、测量采用光学无接触方式，不会对缝隙产生变形影响；3、测量精度高，最高精度可达小数点后4位数；4、对缝隙处的缺陷能直观观测；5、检测成本低，不存在因量具磨损报废现象；6、本实用新型的操作简单易学。

附图说明

图1是本实用新型的结构示意图；

图2是筛管固定槽的结构示意图；

图3是本实用新型测量割缝的缝宽的局部示意图；

图4是测量梯形割缝的局部示意图；

图5是现有技术用塞尺测量时割缝变形的示意图；

上图中：光学显微镜1、光学传感器2、补光灯3、计算机4、游标卡尺5、割缝筛管6、固定座7、支撑架8、筛管固定槽9、导线10、长方形本体9.1、半圆筒形凹槽9.2、长条形凸起9.3、割缝6.1、塞尺11。

具体实施方式

以下结合附图对本实用新型的优选实施例进行说明，应当理解，此处所描述的优选实施例仅用于说明和解释本实用新型，并不用于限定本实用新型。

实施例1，参照图1，本实用新型提到的一种割缝筛管高精度光学缝宽检测装置，包括光学显微镜1、光学传感器2、补光灯3、计算机4、游标卡尺5、固定座7、支撑架8、筛管固定槽9、导线10，所述固定座7的上表面安装支撑架8、筛管固定槽9和光学显微镜1，在支撑架8上安装补光灯3，在光学显微镜1的顶部连接设有光学传感器2，且光学传感器2通过导线10连接到计算机4；在光学显微镜1的镜头下方设有游标卡尺5，并固定在支撑架8上，在筛管固定槽9内安放待测的割缝筛管6，割缝筛管6可以沿着筛管固定槽9前后滑动和滚动。

参照图2，本实用新型提到的筛管固定槽9包括长方形本体9.1和半圆筒形凹槽9.2，长方形本体9.1的底部与固定座7连接，长方形本体9.1的上侧设有半圆筒形凹槽9.2，用于安放待测的割缝筛管6。

参照图2，本实用新型的半圆筒形凹槽9.2的内壁上分布有多个长条形凸起9.3，且长条形凸起9.3的外露部为弧形结构，避免划伤割缝筛管6；另外，长条形凸起9.3均匀的交错设置在半圆筒形凹槽9.2的内壁上，从而可以起到避免待测的割缝筛管6滚动的问题，而且便于割缝筛管6的前后移动。

另外，上述补光灯3通过卡扣固定在支撑架8上，可以通过调整补光灯3进行检测。

本实用新型使用时，把经过校验的游标卡尺5水平放在光学显微镜1下，固定放大倍数，然后上下调整焦距，使焦距落在游标卡尺5的刻度上，使用计算机测量软件的标定工具，在显示屏上标出游标卡尺5刻度上标出的一段距离（如5mm），然后以此作为测量基准（5mm），精度最高为小数点后4位；标定名称可以以显微镜倍数命名，以免混淆。

测量割缝的宽度时，将待测的割缝筛管6放在显微镜下方的筛管固定槽9中，调整好位置，使割缝垂直对准镜头，调整光学显微镜1，使焦点落在割缝处，用计算机软件的点距离或平行线距离方式测量缝宽（如图3）。

本实用新型可对割缝的宽度尺寸进行精确加测，保证割缝的宽度尺寸测量精度，从而保障产品质量，提高割缝筛管的防砂效果。采用光学影响方法测量（如图3和图4），避免了现有技术中的塞尺11塞进时对割缝6.1的缝宽的影响，如图5。测量范围广，可以实现无等级测量，避免了一种规格的割缝6.1订做一种规格的塞尺11的缺陷，且无磨损，节约了检验成本，本实用新型还可以通过计算机直接检测角度，将样件从缝隙处断开，可以直接检测梯形缝的角度，梯形缝检测是一个难点，其他仪器很难实现梯形缝的角度测量（如图5）。

实施例2，本实用新型提到的一种割缝筛管高精度光学缝宽检测装置，包括光学显微镜1、光学传感器2、补光灯3、计算机4、游标卡尺5、固定座7、支撑架8、筛管固定槽9、导线10，所述固定座7的上表面安装支撑架8、筛管固定槽9和光学显微镜1，在支撑架8上安装补光灯3，在光学显微镜1的顶部设有光学传感器2，且光学传感器2通过导线10连接到计算机4；在光学显微镜1的镜头下方设有游标卡尺5，并固定在支撑架8上，在筛管固定槽9内安放待测的割缝筛管6，割缝筛管6可以沿着筛管固定槽9前后滑动和滚动。

与实施例1不同之处是：筛管固定槽9中的半圆筒形凹槽9.2的内壁上分布有多个长条形凸起9.3，上述长条形凸起9.3采用橡胶制成的凸起，这样可以起到保护待测割缝筛管6的作用，可以提高阻力，避免测量时割缝筛管6滚动的问题。

以上所述，仅是本实用新型的较佳实施例，任何熟悉本领域的技术人员均可能利用上述阐述的技术方案对本实用新型加以修改或将其修改为等同的技术方案。因此，依据本实用新型的技术方案所进行的任何简单修改或等同置换，尽属于本实用新型要求保护的范围。

Claims (5)

1.一种割缝筛管高精度光学缝宽检测装置，其特征是：包括光学显微镜（1）、光学传感器（2）、补光灯（3）、计算机（4）、游标卡尺（5）、固定座（7）、支撑架（8）、筛管固定槽（9）、导线（10），所述固定座（7）的上表面安装支撑架（8）、筛管固定槽（9）和光学显微镜（1），在支撑架（8）上安装补光灯（3），在光学显微镜（1）的顶部设有光学传感器（2），且光学传感器（2）通过导线（10）连接到计算机（4）；在光学显微镜（1）的镜头下方设有游标卡尺（5），并固定在支撑架（8）上，在筛管固定槽（9）内安放待测的割缝筛管（6），割缝筛管（6）可以沿着筛管固定槽（9）前后滑动和滚动。

2.根据权利要求1所述的割缝筛管高精度光学缝宽检测装置，其特征是：所述筛管固定槽（9）包括长方形本体（9.1）和半圆筒形凹槽（9.2），长方形本体（9.1）的底部与固定座（7）连接，长方形本体（9.1）的上侧设有半圆筒形凹槽（9.2），用于安放待测的割缝筛管（6）。

3.根据权利要求2所述的割缝筛管高精度光学缝宽检测装置，其特征是：所述半圆筒形凹槽（9.2）的内壁上分布有多个长条形凸起（9.3）。

4.根据权利要求3所述的割缝筛管高精度光学缝宽检测装置，其特征是：所述长条形凸起（9.3）采用橡胶制成的凸起。

5.根据权利要求1所述的割缝筛管高精度光学缝宽检测装置，其特征是：所述补光灯（3）通过卡扣固定在支撑架（8）上。

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