CN211856746U - 一种高精度频率测试装置 - Google Patents
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Abstract
本实用新型公开了一种高精度频率测试装置，包括底箱，所述底箱内腔底部的左侧固定连接有电机，所述电机的输出端固定连接有传动杆，所述传动杆的表面固定连接有主动齿轮，所述底箱内腔的右侧固定连接有支架，所述支架的顶部通过轴承活动连接有螺纹杆，所述螺纹杆表面的底部固定连接有与主动齿轮配合使用的从动齿轮。本实用新型通过底箱、电机、传动杆、主动齿轮、支架、螺纹杆、从动齿轮、外壳、螺纹管、顶板、探针座、探针、测试电路板和高频线连接口的配合使用，能够有效的解决传统高精度频率测试装置无法有效调节设备高度的问题，该装置能够便于调节设备高度，以满足不同身高工作者的需求，进而能够提高工作效率。
Description
技术领域
本实用新型涉及晶体振荡器技术领域，具体为一种高精度频率测试装置。
背景技术
晶体振荡器是指从一块石英晶体上按一定方位角切下薄片，石英晶体谐振器，简称为石英晶体或晶体、晶振，而在封装内部添加IC组成振荡电路的晶体元件称为晶体振荡器，其产品一般用金属外壳封装，也有用玻璃壳、陶瓷或塑料封装的，晶体振荡器在使用前需要对其进行试验，检测其性能是否满足需求，目前市场上对于晶体振荡器进行检测的高精度频率测试装置功能较单一，其高度不可调节，不能满足各种身高的工作者的操作时的舒适感，而工作的舒适度对工作效率有着很大的影响。
实用新型内容
本实用新型的目的在于提供一种高精度频率测试装置，具备便于调节设备高度的优点，解决了目前市场上对于晶体振荡器进行检测的高精度频率测试装置功能较单一，其高度不可调节，不能满足各种身高的工作者的操作时的舒适感，而工作的舒适度对工作效率有着很大的影响的问题。
为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：一种高精度频率测试装置，包括底箱，所述底箱内腔底部的左侧固定连接有电机，所述电机的输出端固定连接有传动杆，所述传动杆的表面固定连接有主动齿轮，所述底箱内腔的右侧固定连接有支架，所述支架的顶部通过轴承活动连接有螺纹杆，所述螺纹杆表面的底部固定连接有与主动齿轮配合使用的从动齿轮，所述底箱顶部的右侧固定连接有外壳，所述螺纹杆的顶部延伸至外壳的内腔，所述螺纹杆表面的顶部螺纹连接有螺纹管，所述螺纹管的顶部延伸至外壳的外部并固定连接有顶板，所述顶板的左侧固定连接有探针座，所述探针座的底部固定连接有探针，所述探针座左侧的顶部固定连接有测试电路板，所述探针座左侧的底部固定连接有高频线连接口。
优选的，所述底箱顶部的左侧固定连接有底座，所述底座的顶部通过螺栓固定连接有测试平台，所述测试平台的顶部活动连接有定位座，所述定位座的顶部开设有晶片槽。
优选的，所述外壳内腔顶部的两侧均固定连接有滑杆，所述螺纹管表面的两侧均固定连接有与滑杆配合使用的滑套。
优选的，所述外壳的底部与底箱的顶部连通，所述外壳的顶部开设有与螺纹管配合使用的通孔。
优选的，所述高频线连接口接入外部的250B测试系统中。
与现有技术相比，本实用新型的有益效果如下：
1、本实用新型通过底箱、电机、传动杆、主动齿轮、支架、螺纹杆、从动齿轮、外壳、螺纹管、顶板、探针座、探针、测试电路板和高频线连接口的配合使用，能够有效的解决传统高精度频率测试装置无法有效调节设备高度的问题，该装置能够便于调节设备高度，以满足不同身高工作者的需求，给测试工作者带来便利性，进而能够提高工作效率。
、本实用新型通过设置电机，能够为该装置进行升高时提供动力支撑，通过设置传动杆、主动齿轮和从动齿轮，能够对电机的输出动力进行传动作业，保证了升降时的稳定性，通过设置顶板、探针座、测试电路板和高频线连接口，能够对晶体振荡器进行高精度测试，使测试装置的工作更加稳定，试验结果更加准确，通过设置底座，能够对于测试平台和定位座进行安装，通过设置晶片槽，能够对晶体振荡器进行放置，通过设置滑杆和滑套，能够对螺纹管进行限位，从而保证设备的稳定性。
附图说明
图1为本实用新型结构示意图；
图2为本实用新型底箱结构的主视示意图；
图3为本实用新型定位座与晶片槽连接结构的俯视示意图。
图中：1、底箱；2、电机；3、传动杆；4、主动齿轮；5、支架；6、螺纹杆；7、从动齿轮；8、外壳；9、螺纹管；10、顶板；11、探针座；12、探针；13、测试电路板；14、高频线连接口；15、底座；16、测试平台；17、定位座；18、晶片槽；19、滑杆；20、滑套。
具体实施方式
下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。
在实用新型的描述中，需要说明的是，术语“上”、“下”、“内”、“外”“前端”、“后端”、“两端”、“一端”、“另一端”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本实用新型和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本实用新型的限制。此外，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性。
在实用新型的描述中，需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“设置有”、“连接”等，应做广义理解，例如“连接”，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以具体情况理解上述术语在本实用新型中的具体含义。
本实用新型所采用的部件均为通用标准件或本领域技术人员知晓的部件，其结构和原理都为本技术人员均可通过技术手册得知或通过常规实验方法获知。
请参阅图1-3，一种高精度频率测试装置，包括底箱1，底箱1顶部的左侧固定连接有底座15，底座15的顶部通过螺栓固定连接有测试平台16，测试平台16的顶部活动连接有定位座17，定位座17的顶部开设有晶片槽18，底箱1内腔底部的左侧固定连接有电机2，电机2的输出端固定连接有传动杆3，传动杆3的表面固定连接有主动齿轮4，底箱1内腔的右侧固定连接有支架5，支架5的顶部通过轴承活动连接有螺纹杆6，螺纹杆6表面的底部固定连接有与主动齿轮4配合使用的从动齿轮7，底箱1顶部的右侧固定连接有外壳8，外壳8内腔顶部的两侧均固定连接有滑杆19，螺纹管9表面的两侧均固定连接有与滑杆19配合使用的滑套20，外壳8的底部与底箱1的顶部连通，外壳8的顶部开设有与螺纹管9配合使用的通孔，螺纹杆6的顶部延伸至外壳8的内腔，螺纹杆6表面的顶部螺纹连接有螺纹管9，螺纹管9的顶部延伸至外壳8的外部并固定连接有顶板10，顶板10的左侧固定连接有探针座11，探针座11的底部固定连接有探针12，探针座11左侧的顶部固定连接有测试电路板13，探针座11左侧的底部固定连接有高频线连接口14，高频线连接口14接入外部的250B测试系统中，通过设置电机2，能够为该装置进行升高时提供动力支撑，通过设置传动杆3、主动齿轮4和从动齿轮7，能够对电机2的输出动力进行传动作业，保证了升降时的稳定性，通过设置顶板10、探针座11、测试电路板13和高频线连接口14，能够对晶体振荡器进行高精度测试，使测试装置的工作更加稳定，试验结果更加准确，通过设置底座15，能够对于测试平台16和定位座17进行安装，通过设置晶片槽18，能够对晶体振荡器进行放置，通过设置滑杆19和滑套20，能够对螺纹管9进行限位，从而保证设备的稳定性，通过底箱1、电机2、传动杆3、主动齿轮4、支架5、螺纹杆6、从动齿轮7、外壳8、螺纹管9、顶板10、探针座11、探针12、测试电路板13和高频线连接口14的配合使用，能够有效的解决传统高精度频率测试装置无法有效调节设备高度的问题，该装置能够便于调节设备高度，以满足不同身高工作者的需求，给测试工作者带来便利性，进而能够提高工作效率。
使用时，在对该装置进行高度的调节时，通过外部控制器启动电机2，电机2带动传动杆3转动，传动杆3带动主动齿轮4转动，主动齿轮4带动从动齿轮7转动，从动齿轮7带动螺纹杆6转动，进而螺纹杆6能够带动螺纹管9上升，从而实现对顶板10的高度进行调节，以满足不同身高的工作者进行操作，对晶体振荡器进行测试时，将晶体振荡器夹入定位座17的晶片槽18中，控制探针12下降，当探针12接触到待测试的晶体振荡器时，探针12连在测试电路板13上，并通过两条高频连接线接入外部的250B的测试系统中，通过探针12与待测试的晶体振荡器接触进行测试。
尽管已经示出和描述了本实用新型的实施例，对于本领域的普通技术人员而言，可以理解在不脱离本实用新型的原理和精神的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型，本实用新型的范围由所附权利要求及其等同物限定。
Claims (5)
1.一种高精度频率测试装置，包括底箱(1)，其特征在于：所述底箱(1)内腔底部的左侧固定连接有电机(2)，所述电机(2)的输出端固定连接有传动杆(3)，所述传动杆(3)的表面固定连接有主动齿轮(4)，所述底箱(1)内腔的右侧固定连接有支架(5)，所述支架(5)的顶部通过轴承活动连接有螺纹杆(6)，所述螺纹杆(6)表面的底部固定连接有与主动齿轮(4)配合使用的从动齿轮(7)，所述底箱(1)顶部的右侧固定连接有外壳(8)，所述螺纹杆(6)的顶部延伸至外壳(8)的内腔，所述螺纹杆(6)表面的顶部螺纹连接有螺纹管(9)，所述螺纹管(9)的顶部延伸至外壳(8)的外部并固定连接有顶板(10)，所述顶板(10)的左侧固定连接有探针座(11)，所述探针座(11)的底部固定连接有探针(12)，所述探针座(11)左侧的顶部固定连接有测试电路板(13)，所述探针座(11)左侧的底部固定连接有高频线连接口(14)。
2.根据权利要求1所述的一种高精度频率测试装置，其特征在于：所述底箱(1)顶部的左侧固定连接有底座(15)，所述底座(15)的顶部通过螺栓固定连接有测试平台(16)，所述测试平台(16)的顶部活动连接有定位座(17)，所述定位座(17)的顶部开设有晶片槽(18)。
3.根据权利要求1所述的一种高精度频率测试装置，其特征在于：所述外壳(8)内腔顶部的两侧均固定连接有滑杆(19)，所述螺纹管(9)表面的两侧均固定连接有与滑杆(19)配合使用的滑套(20)。
4.根据权利要求1所述的一种高精度频率测试装置，其特征在于：所述外壳(8)的底部与底箱(1)的顶部连通，所述外壳(8)的顶部开设有与螺纹管(9)配合使用的通孔。
5.根据权利要求1所述的一种高精度频率测试装置，其特征在于：所述高频线连接口(14)接入外部的250B测试系统中。
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| CN201921411229.9U CN211856746U (zh) | 2019-08-28 | 2019-08-28 | 一种高精度频率测试装置 |
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Publications (1)
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Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN113671358A (zh) * | 2021-10-25 | 2021-11-19 | 江苏卓远半导体有限公司 | 一种半导体测试设备 |
| CN114355138A (zh) * | 2021-12-31 | 2022-04-15 | 苏州欣华锐电子有限公司 | 一种用于半导体器件老化测试的机台 |
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2019
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| CN113671358B (zh) * | 2021-10-25 | 2021-12-21 | 江苏卓远半导体有限公司 | 一种半导体测试设备 |
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