CN211785168U - 新型微分超分辨系统 - Google Patents
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Abstract
本实用新型公开了一种新型微分超分辨系统，包括沿光路设置的光源、准直镜、物镜、激发滤光镜、第一透镜、第二透镜和光电探测器；光源发射的光经过准直镜、物镜、激发滤光镜后形成准直的激发光；第一透镜、第二透镜将环形平行光传播至光电探测器；光源发射出的光能够覆盖整个样品的待测表面。本实用新型可应用于生物样品、材料样品等的检测应用等，也可以应用于工业相关超分辨显微检测等领域。本实用新型无需复杂的光路即可实现超分辨成像，结构简单，搭建方便，有效提高分辨率。
Description
技术领域
本实用新型涉及光学成像或检测技术领域，尤其涉及一种新型微分超分辨系统。
背景技术
目前，超分辨光学显微成像技术主要有受激发射损耗显微镜技术(STED)、光激活定位显微镜技术(PALM)/随机光学重建显微镜技术(STORM)和结构照明(SIM)三大类。现有的显微镜技术存在解析力偏低的问题，极大地制约了其分辨率的提升。
实用新型内容
为解决上述缺陷，本实用新型的目的是在于提供一种解决视场角偏低，提高的其分辨率的新型微分超分辨系统。
为实现上述目的，本实用新型通过以下技术方案实现：一种新型微分超分辨系统，包括沿光路设置的光源、准直镜、物镜、激发滤光镜、第一透镜、第二透镜和光电探测器；所述光源发射的光经过准直镜、物镜、激发滤光镜后形成准直的激发光；所述第一透镜、第二透镜将环形平行光传播至光电探测器；所述光源发射出的光能够覆盖整个样品的待测表面。
进一步地，所述光源为宽谱激光器或白光光源。
进一步地，所述第一透镜和第二透镜相互胶合形成组合透镜。
进一步地，所述光电探测器为单点光电探测器或面阵探测器。
进一步地，所述光源输出光的波长范围在120nm ~8μm间。
本实用新型的有益效果：本实用新型可应用于生物样品、材料样品等的检测应用等，也可以应用于工业相关超分辨显微检测等领域。本实用新型无需复杂的光路即可实现超分辨成像，结构简单，搭建方便，有效提高分辨率。
附图说明
图1为本实用新型的结构示意图。
其中：1、光源，2、准直镜，3、物镜，4、激发滤光镜，5、第一透镜，6、第二透镜，7、光电探测器。
具体实施方式
需要说明的是，在不冲突的情况下，本申请中的实施例及实施例中的特征可以相互结合，下面结合附图和具体实施例对本实用新型作进一步详细说明。
如图1所示，一种新型微分超分辨系统，包括沿光路设置的光源1、准直镜2、物镜3、激发滤光镜4、第一透镜5、第二透镜6和光电探测器7；光源1发射的光经过准直镜2、物镜3、激发滤光镜4后形成准直的激发光；第一透镜5、第二透镜6将环形平行光传播至光电探测器7；光源1发射出的光能够覆盖整个样品的待测表面。光源1为宽谱激光器或白光光源1。第一透镜5和第二透镜6相互胶合形成组合透镜。光电探测器7为单点光电探测器7或面阵探测器。光源1输出光的波长范围在120nm ~8μm间。
本实用新型可应用于生物样品、材料样品等的检测应用等，也可以应用于工业相关超分辨显微检测等领域。本实用新型无需复杂的光路即可实现超分辨成像，结构简单，搭建方便，有效提高分辨率。
尽管本实用新型的实施方案已公开如上，但其并不仅仅限于说明书和实施方式中所列运用，它完全可以被适用于各种适合本实用新型的领域，对于熟悉本领域的人员而言，可容易地实现另外的修改，因此在不背离权利要求及等同范围所限定的一般概念下，本实用新型并不限于特定的细节和这里示出与描述的图例。
Claims (5)
1.新型微分超分辨系统，其特征在于：包括沿光路设置的光源、准直镜、物镜、激发滤光镜、第一透镜、第二透镜和光电探测器；所述光源发射的光经过准直镜、物镜、激发滤光镜后形成准直的激发光；所述第一透镜、第二透镜将环形平行光传播至光电探测器；所述光源发射出的光能够覆盖整个样品的待测表面。
2.根据权利要求1所述的新型微分超分辨系统，其特征在于：所述光源为宽谱激光器或白光光源。
3.根据权利要求1所述的新型微分超分辨系统，其特征在于：所述第一透镜和第二透镜相互胶合形成组合透镜。
4.根据权利要求1所述的新型微分超分辨系统，其特征在于：所述光电探测器为单点光电探测器或面阵探测器。
5.根据权利要求1所述的新型微分超分辨系统，其特征在于：所述光源输出光的波长范围在120nm ~8μm间。
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- 2020-02-21 CN CN202020193166.0U patent/CN211785168U/zh not_active Expired - Fee Related
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