CN211699429U - 一种分光计实验用磁吸式光学器件架 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种分光计实验用磁吸式光学器件架，包括器件架、组合器件甲、组合器件乙。器件架包括底座、立板，立板与底座垂直固定联结，立板表面中心设有长方形通光孔。组合器件甲包括器件框甲、平面镜、光栅，器件框甲为横着的“日”字形框，由左框和右框组成，左框、右框的长度、宽度分别与立板上通光孔的长度、宽度相同，平面镜、光栅分别套设于左框和右框内。组合器件乙包括器件框乙、单缝、双缝，器件框乙的形状大小与器件框甲相同，单缝、双缝分别套设于器件框乙的左框和右框内。底座、立板由金属材料制成，器件框甲、器件框乙带有磁性。本实用新型结构简单，实用方便，有利于分光计实验仪器调整和现象观测。

Description

一种分光计实验用磁吸式光学器件架

技术领域

本实用新型涉及一种光学实验用具，具体为一种分光计实验用磁吸式光学器件架。

背景技术

分光计是常用的光学实验仪器。对分光计进行调整时，需要将一平面镜置于分光计的载物台上，利用平面镜对光的反射来调节望远镜和载物台，使望远镜能接收平行光，望远镜光轴、载物台平面以及平行光管光轴均垂直于分光计中心轴，并使平行光管出射平行光。利用分光计观测光的衍射等现象时，需用到单缝、双缝、光栅等器件，这些器件多由玻璃制成，一不小心便容易掉落而造成损坏。例如，观测光栅衍射现象时，需要将光栅片插在一开有凹形槽的底座上，然后置于分光计的载物台上进行实验。由于光栅片与底座凹形槽之间接触不够紧密，光栅片难以牢固固定，导致光栅片倾斜、晃动，甚至摔落。光栅片倾斜导致其不垂直于载物台时，会使光栅衍射条纹发生倾斜、上下偏移甚至移出望远镜的视场。以上问题给分光计实验带来诸多不便。

发明内容

本实用新型的目的在于克服分光计实验中遇到的问题，发明一种分光计实验用磁吸式光学器件架。

为了解决上述技术问题，本实用新型采用以下技术方案：

一种分光计实验用磁吸式光学器件架，包括器件架、组合器件甲、组合器件乙；所述器件架包括底座、立板，所述底座、立板均为长方形；所述立板垂直底座表面与底座固定联结，立板表面中心设有通光孔，所述通光孔为长方形；

所述组合器件甲包括器件框甲、平面镜、光栅，所述器件框甲为横着的“日”字形框，由左框和右框两个大小相同的长方形框组成，所述左框、右框的长度、宽度分别与所述通光孔的长度、宽度相同，所述平面镜、光栅分别套设于左框和右框内；所述光栅的刻痕方向与器件框甲的长边垂直；

所述组合器件乙包括器件框乙、单缝、双缝，所述器件框乙与所述器件框甲的形状、大小均相同，所述单缝、双缝分别套设于器件框乙的左框和右框内；

所述器件框甲、器件框乙两侧分别设有把手；

所述底座、立板均由金属材料制成，所述器件框甲、器件框乙均带有磁性。

所述平面镜为双面平面反射镜；

所述底座表面设有水平仪，以方便底座的水平调节。

本实用新型由于采用上述设计，可产生以下有益效果：将器件框甲吸附在立板上，使平面镜与通光孔对齐，即可利用平面镜进行分光计的调整；分光计调整完成后，只需沿横向推拉把手，使光栅与通光孔对齐，即可进行光栅衍射实验的观测；若光栅刻痕有所倾斜，只要握住把手小角度转动器件框甲，即可使光栅刻痕竖直，无需对分光计作二次调整。单缝、双缝的使用方法与光栅类同。平面镜、光栅、单缝、双缝分别固定于器件框甲、器件框乙中，避免了这些器件的单独取放，有利于保护这些器件不受损坏。本实用新型结构简单，实用方便，有利于分光计实验的仪器调整和实验现象的准确观测。

附图说明

下面结合附图对本实用新型作进一步说明。

图1是本实用新型所述器件架的构成示意图(正视图)。

图2是本实用新型所述组合器件甲的构成示意图。

图3是本实用新型所述组合器件乙的构成示意图。

图4是本实用新型的使用示意图。

图5是本实用新型所述器件架的俯视图。

图中：1.底座，2.立板，21.通光孔，3.组合器件甲，31.器件框甲，32.平面镜，33.光栅，34.把手，4.组合器件乙，41.器件框乙，42.单缝，43.双缝,5.水平仪。

具体实施方式

如图1、图5所示，底座1、立板2均为长方形，立板2垂直底座1的表面与底座1固定联结，立板 2表面中心设有通光孔21，通光孔21为长方形。底座1、立板2均由金属材料制成。底座1表面设有水平仪5，以方便底座1的水平调节。

如图2所示，组合器件甲3包括器件框甲31、平面镜32、光栅33。器件框甲31为横着的“日”字形框，由左框和右框两个大小相同的长方形框组成，左框、右框的长度、宽度分别与通光孔21的长度、宽度相同，平面镜32、光栅33分别套设于左框和右框内。平面镜32为双面平面反射镜。光栅33的刻痕方向与器件框甲31的长边垂直，器件框甲31两侧分别设有把手34。器件框甲31带有磁性，使用时吸附在立板2上。

如图3所示，组合器件乙4包括器件框乙41、单缝42、双缝43，器件框乙41与器件框甲31的形状、大小均相同，单缝42、双缝43分别套设于器件框乙41的左框和右框内，器件框乙41带有磁性。

本实用新型用于光栅衍射实验时，将器件框甲31吸附在立板2上，将器件架置于分光计的载物台上，先使平面镜32与通光孔21对齐，利用平面镜32进行分光计的调整。调整完毕后，利用把手34推拉器件框甲31，使光栅33与通光孔21对齐，如图4所示，即可用平行光管出射的平行光经通光孔21照射光栅 33，进行光栅衍射实验的观测。若光栅33刻痕有所倾斜，小角度转动器件框甲31调整即可。

Claims (3)

1.一种分光计实验用磁吸式光学器件架，包括器件架、组合器件甲、组合器件乙，所述器件架包括底座、立板，所述底座、立板均为长方形；其特征在于：所述立板垂直底座表面与底座固定联结，立板表面中心设有通光孔，所述通光孔为长方形；所述组合器件甲包括器件框甲、平面镜、光栅，所述器件框甲为横着的“日”字形框，由左框和右框两个大小相同的长方形框组成，所述左框、右框的长度、宽度分别与所述通光孔的长度、宽度相同，所述平面镜、光栅分别套设于左框和右框内；所述光栅的刻痕方向与器件框甲的长边垂直；所述组合器件乙包括器件框乙、单缝、双缝，所述器件框乙与所述器件框甲的形状、大小均相同，所述单缝、双缝分别套设于器件框乙的左框和右框内；所述底座、立板均由金属材料制成，所述器件框甲、器件框乙均带有磁性。

2.根据权利要求1所述的一种分光计实验用磁吸式光学器件架，其特征在于：所述平面镜为双面平面反射镜。

3.根据权利要求1所述的一种分光计实验用磁吸式光学器件架，其特征在于：所述底座表面设有水平仪。

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