CN211503893U - 一种主轴壳体综合检测装置 - Google Patents
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Abstract
本实用新型涉及一种主轴壳体综合检测装置，包括基板、定位柱、定位边角、塞规导向柱、孔径通止规以及螺纹检规；所述定位柱、定位边角以及塞规导向柱均位于基板上端面，所述塞规导向柱竖向设置，所述塞规导向柱的数量为两个并且两个塞规导向柱之间留有间隙，所述孔径通止规位于基板上第一支座上的通孔内，所述螺纹检规位于基板上第二支座上的螺孔内，所述塞规导向柱、孔径通止规以及螺纹检规的位置均与定位柱相对应。本实用新型一种主轴壳体综合检测装置，可对主轴壳体工件进行包括槽宽检测、孔径孔位检测以及螺纹检测在内的综合检测，提高检测的精度与便利性。
Description
技术领域
本实用新型涉及一种检具，具体涉及一种主轴壳体综合检测装置。
背景技术
主轴壳体用于对主轴提供约束和防护，其多为金属件。
主轴壳体为结构较为复杂的非标零部件，其上设置有间隙槽、光孔以及螺纹孔等结构。在完成生产加工后，需要对其进行检测，以检验是否符合零件的设计图纸要求。
现有的检测多为人工使用测量工具进行测量，此方式在实际操作过程中，不仅会耗费较长的时间，还会因为缺少定位基准，造成检测精度较低。
实用新型内容
本实用新型的目的是：提供一种主轴壳体综合检测装置，可对主轴壳体工件进行包括槽宽检测、孔径孔位检测以及螺纹检测在内的综合检测，提高检测的精度与便利性。
为了实现上述目的，本实用新型提供如下的技术方案：
一种主轴壳体综合检测装置，包括基板、定位柱、定位边角、塞规导向柱、孔径通止规以及螺纹检规；所述定位柱、定位边角以及塞规导向柱均位于基板上端面，所述塞规导向柱竖向设置，所述塞规导向柱的数量为两个并且两个塞规导向柱之间设置有导向间隙，所述孔径通止规位于基板上第一支座上的通孔内，所述螺纹检规位于基板上第二支座上的螺孔内，所述塞规导向柱、孔径通止规以及螺纹检规的位置均与定位柱相对应。
进一步的，所述塞规导向柱所在直线与定位柱的轴线相平行，所述导向间隙呈一字形。
进一步的，所述孔径通止规和螺纹检规均水平设置，所述孔径通止规和螺纹检规的检测端均朝向定位柱，所述孔径通止规的轴线与螺纹检规的轴线相垂直。
进一步的，所述定位柱呈柱状并且具体位于基板上端面中部，所述定位边角呈L形并且分布在基板上端面的两个对角处。
进一步的，所述基板上端面还设置有定位挡块，所述定位挡块位于塞规导向柱和第一支座之间。
本实用新型的有益效果为：一种主轴壳体综合检测装置，通过定位柱、定位边角、塞规导向柱、孔径通止规以及螺纹检规的配合使用，可对主轴壳体工件进行包括槽宽检测、孔径孔位检测以及螺纹检测在内的综合检测，大幅提高检测的精度与便利性，确保检测结果的准确性，降低人力劳动强度。
附图说明
图1为本实用新型一种主轴壳体综合检测装置的整体结构轴测图。
图2为本实用新型一种主轴壳体综合检测装置另一视角的整体结构示意图。
图中：1、基板；2、定位柱；3、定位边角；4、定位挡块；5、塞规导向柱；51、导向间隙；6、第一支座；7、孔径通止规；8、第二支座；9、螺纹检规；10、手柄。
具体实施方式
为了使本实用新型的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本实用新型作进一步的详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅用以解释本实用新型，并不用于限定本实用新型。
参考图1和图2，一种主轴壳体综合检测装置，包括基板1、定位柱2、定位边角3、塞规导向柱5、孔径通止规7以及螺纹检规9；所述定位柱2、定位边角3以及塞规导向柱5均位于基板1上端面，定位边角3用于对主轴壳体工件的底端边角处进行约束定位，所述塞规导向柱5竖向设置，所述塞规导向柱5的数量为两个并且两个塞规导向柱5之间设置有导向间隙51，导向间隙用于对塞规的检测移动导向，所述孔径通止规7位于基板1上第一支座6上的通孔内，孔径通止规7用于对主轴壳体工件上的光孔的孔径与孔位进行检测，所述螺纹检规9位于基板1上第二支座8上的螺孔内，螺纹检规9用于对主轴壳体工件上的螺孔的螺纹和孔位进行检测，所述塞规导向柱5、孔径通止规7以及螺纹检规9的位置均与定位柱2相对应。
所述塞规导向柱5所在直线与定位柱2的轴线相平行，所述导向间隙51呈一字形。
所述孔径通止规7和螺纹检规9均水平设置，所述孔径通止规7和螺纹检规9的检测端均朝向定位柱2，所述孔径通止规7的轴线与螺纹检规9的轴线相垂直。
所述定位柱2呈柱状并且具体位于基板1上端面中部，所述定位边角3呈L形并且分布在基板1上端面的两个对角处。
所述基板1上端面还设置有定位挡块4，所述定位挡块4位于塞规导向柱5和第一支座6之间，定位挡块7用于对主轴壳体工件的底端边缘处进行定位。
本实用新型的工作原理为：首先将孔径通止规7抽至远离定位柱2位置处，将螺纹检规9旋拧至远离定位柱2位置处，随后将待进行检测的主轴壳体工件放入，定位柱2嵌入主轴壳体工件的中心孔的底端，两个定位边角3和定位挡块4均对主轴壳体工件的底端边缘进行约束定位；完成定位后，主轴壳体工件上的间隙槽与塞规导向柱5上的导向间隙51位置相对应，光孔与孔径通止规7位置相对应，螺孔与螺纹检规9的位置相对应；随后手持塞规，从塞规导向柱5的顶端，插入导向间隙51和主轴壳体工件上的间隙槽，然后使塞规沿导向间隙51向下滑动，从而实现对主轴壳体工件上的间隙槽的检测；然后将孔径通止规7朝向主轴壳体工件推动，通过孔径通止规7进行光孔的孔径和孔位检测；最后将螺纹检规9旋拧进入螺孔，通过螺纹检规9进行螺孔的内螺纹和孔位的检测；从而实现主轴壳体工件的综合检测。
上述实施例用于对本实用新型作进一步的说明，但并不将本实用新型局限于这些具体实施方式。凡在本实用新型的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等，均应理解为在本实用新型的保护范围之内。
Claims (5)
1.一种主轴壳体综合检测装置，其特征在于：包括基板(1)、定位柱(2)、定位边角(3)、塞规导向柱(5)、孔径通止规(7)以及螺纹检规(9)；所述定位柱(2)、定位边角(3)以及塞规导向柱(5)均位于基板(1)上端面，所述塞规导向柱(5)竖向设置，所述塞规导向柱(5)的数量为两个并且两个塞规导向柱(5)之间设置有导向间隙(51)，所述孔径通止规(7)位于基板(1)上第一支座(6)上的通孔内，所述螺纹检规(9)位于基板(1)上第二支座(8)上的螺孔内，所述塞规导向柱(5)、孔径通止规(7)以及螺纹检规(9)的位置均与定位柱(2)相对应。
2.根据权利要求1所述的一种主轴壳体综合检测装置，其特征在于：所述塞规导向柱(5)所在直线与定位柱(2)的轴线相平行，所述导向间隙(51)呈一字形。
3.根据权利要求2所述的一种主轴壳体综合检测装置，其特征在于：所述孔径通止规(7)和螺纹检规(9)均水平设置，所述孔径通止规(7)和螺纹检规(9)的检测端均朝向定位柱(2)，所述孔径通止规(7)的轴线与螺纹检规(9)的轴线相垂直。
4.根据权利要求3所述的一种主轴壳体综合检测装置，其特征在于：所述定位柱(2)呈柱状并且具体位于基板(1)上端面中部，所述定位边角(3)呈L形并且分布在基板(1)上端面的两个对角处。
5.根据权利要求4所述的一种主轴壳体综合检测装置，其特征在于：所述基板(1)上端面还设置有定位挡块(4)，所述定位挡块(4)位于塞规导向柱(5)和第一支座(6)之间。
Priority Applications (1)
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|---|---|---|---|
| CN202020218596.3U CN211503893U (zh) | 2020-02-27 | 2020-02-27 | 一种主轴壳体综合检测装置 |
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Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
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| CN211503893U true CN211503893U (zh) | 2020-09-15 |
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Family Applications (1)
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Country Status (1)
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| CN (1) | CN211503893U (zh) |
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2020
- 2020-02-27 CN CN202020218596.3U patent/CN211503893U/zh active Active
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