CN211453815U - 一种电子产品批量老化测试系统 - Google Patents
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Abstract
本实用新型提供一种电子产品批量老化测试系统,包括:供电模块、控制模块、电流检测模块、模拟量输入模块、数字量输出模块和显示模块;供电模块与被测产品连接,用于为被测产品供电;所述被测产品的电流输出端与电流检测模块的输入端连接,电流检测模块的输出端与模拟量输入模块的输入端连接,模拟量输入模块与控制模块连接,构成老化测试回路;本实用新型可以使不同供电形式、不同供电电压的电子产品的老化测试分析方法得到统一,既可以靠回路电流值判断上电是否成功,又可以靠电流波动判断老化过程是否正常,本实用新型可兼容不同供电形式、不同供电电压的电子产品的老化测试,使得硬件得到统一,大大降低制造成本。
Description
技术领域
本实用新型涉及电子领域,尤其涉及一种电子产品批量老化测试系统。
背景技术
随着人们生活水平的不断提高,各种电子产品得到了越来越广泛的应用,出现在生活的角角落落,充实着社会的种种需求,同时因科技的进步与发展,电子产品更新换代的速度也越来越快,所以伴随着巨大的市场需求,对电子产品的高效生产制造需求也更加迫切。由于电子产品因其自身特性的限制,在投入市场前需进行一定时间的高温老化测试,通常采用在高温老化房内给电子产品供额定电压并保持一定的时间,老化结束后再对电子产品进行功能复测,以此推测产品寿命是否达到设计预期。
但是,现有的老化系统多为专用、单机、离线测试,有以下不足之处:
(1)对于交流/直流等不同供电电源、不同供电电压的电子产品,测试系统不能兼顾;
(2)对于无上电指示灯的电子产品,老化测试过程中无法知晓是否上电成功;
(3)老化过程多为静态测试,即高温下仅保持通电状态,在老化结束后再次测试、判断是否老化失效;
(4)上位机系统无法监控、获取实时老化状态和数据;
(5)允许同时测试的通道少,或者随着测试通道的增加,系统成本高昂;
(6)老化系统多为专机专用型,兼容性较差;
目前,现有技术中是老化系统即不利于电子产品的老化测试数据的采集与分析,也不利于老化测试系统的批量推广使用,同时也制约电子产品性能的优化和生产测试效率的提升。
实用新型内容
鉴于以上所述现有技术的缺点,本实用新型提供一种电子产品批量老化测试系统,以解决上述技术问题。
本实用新型提供的电子产品批量老化测试系统:供电模块、控制模块、电流检测模块、模拟量输入模块、数字量输出模块和显示模块;
所述供电模块与被测产品连接,用于为被测产品供电;
所述被测产品的电流输出端与电流检测模块的输入端连接,电流检测模块的输出端与模拟量输入模块的输入端连接,模拟量输入模块与控制模块连接,构成老化测试回路;
所述控制模块的输出端与所述数字量输出模块的输入端连接,数字量输出模块的输出端与显示模块的输入端连接。
可选的,所述电流检测模块为用于将交流回路或直流回路的电流统一转换为直流电流的霍尔电流传感器。
可选的,还包括用于监控老化房温度和用于修正所述霍尔电流传感器的温度漂移的温度传感器,所述温度传感器的输出端与控制模块的输入端连接。
可选的,所述模拟量输入模块为多路输入通道和用于对所述多路输入通道中的采样电流值进行分选控制的模拟量输入控制单元。
可选的,所述数字量输出模块包括多路输出通道和用于对与所述多路输出通道连接的控制模块的多路输出端口进行分选控制的数字量输出控制单元。
可选的,所述控制模块为具有多个模拟量转换通道的单片机。
可选的,还包括显示模块,所述显示模块的输入端与数字量输出控制单元的输出端连接,所述显示模块包括与控制模块的多路输出端口相匹配的多路显示单元。
可选的,还包括用于与上位机进行通信的通信模块,所述通信模块为串口通讯模块。
可选的,所述模拟量输入控制单元包括第一锁存器和模拟选择开关,所述第一锁存器的输出端与模拟选择开关输入端连接,所述模拟选择开关输入端与电流检测模块的输出端连接,所述控制模块的输出端与锁存器的输入端连接。
可选的,所述数字量输出控制单元包括译码器和第二锁存器,所述译码器的输出端与第二锁存器的输入端连接,所述控制模块的输出端与译码器的输入端连接,所述控制模块的输出端与锁存器的输入端连接。
本实用新型的有益效果:本实用新型中的电子产品批量老化测试系统,可以使不同供电形式、不同供电电压的电子产品的老化测试分析方法得到统一,既可以靠回路电流值判断上电是否成功,又可以靠电流波动判断老化过程是否正常,本实用新型可兼容不同供电形式、不同供电电压的电子产品的老化测试,使得硬件得到统一,大大降低制造成本。本实用新型可让老化测试的通道数量灵活调整,只需调整电流传感器、转换芯片、显示模块等的配置数量即可。
附图说明
图1是本实用新型实施例中电子产品批量老化测试系统的原理示意图。
图2是本实用新型实施例中电子产品批量老化测试系统的结构示意图。
图3是本实用新型实施例中电子产品批量老化测试系统的多路电流值采集原理示意图。
图4是本实用新型实施例中电子产品批量老化测试系统的指示灯显示模块电气原理示意图。
图5是本实用新型实施例中电子产品批量老化测试系统的数码管显示模块电气原理示意图。
具体实施方式
以下通过特定的具体实例说明本实用新型的实施方式,本领域技术人员可由本说明书所揭露的内容轻易地了解本实用新型的其他优点与功效。本实用新型还可以通过另外不同的具体实施方式加以实施或应用,本说明书中的各项细节也可以基于不同观点与应用,在没有背离本实用新型的精神下进行各种修饰或改变。需说明的是,在不冲突的情况下,以下实施例及实施例中的特征可以相互组合。
需要说明的是,以下实施例中所提供的图示仅以示意方式说明本实用新型的基本构想,遂图式中仅显示与本实用新型中有关的组件而非按照实际实施时的组件数目、形状及尺寸绘制,其实际实施时各组件的型态、数量及比例可为一种随意的改变,且其组件布局型态也可能更为复杂。
在下文描述中,探讨了大量细节,以提供对本实用新型实施例的更透彻的解释,然而,对本领域技术人员来说,可以在没有这些具体细节的情况下实施本实用新型的实施例是显而易见的,在其他实施例中,以方框图的形式而不是以细节的形式来示出公知的结构和设备,以避免使本实用新型的实施例难以理解。
如图1所示,本实施例中的电子产品批量老化测试系统,主要包括:供电模块、控制模块、电流检测模块、模拟量输入模块、数字量输出模块和显示模块;
供电模块与被测产品连接,用于为被测产品供电;
被测产品的电流输出端与电流检测模块的输入端连接,电流检测模块的输出端与模拟量输入模块的输入端连接,模拟量输入模块与控制模块连接,构成老化测试回路;
控制模块的输出端与数字量输出模块的输入端连接,数字量输出模块的输出端与显示模块的输入端连接。
在本实施例中,本实施例中的电流检测模块为霍尔电流传感器,可支持测量交流回路和直流回路的电流,统一输出经线性换算后的直流电流。霍尔电流传感器串联在电子产品的老化测试回路中,通过监控电子产品老化测试回路的电流,根据采样电流的大小和波动,来判断老化测试的状态。
在本实施例中,控制模块采用自带多个模拟量转换通道的单片机作为系统的主控制器。优选的,单片机可以选择自带多通道模拟量输入的型号,无需再配备专用的模数转换模块,节约系统成本。本实施例中的模拟量输入模块为多路输入通道和用于对所述多路输入通道中的采样电流值进行分选控制的模拟量输入控制单元,数字量输出模块包括多路输出通道和用于对与所述多路输出通道连接的控制模块的多路输出端口进行分选控制的数字量输出控制单元,通过搭建模拟量输入控制单元,对多路采样电流值进行分选控制、循环输入至单片机进行处理,通过搭建数字量输出控制单元,对多路单片机的输出IO口进行分选控制,以循环输出的方式控制多路显示模块。通过配合模拟量输入控制单元、数字量输出控制单元的使用,采用分选、循环控制的方式采集多个测试通道的实时电流值和控制多路显示模块的运行,节省大量的IO扩展模块,降低对主控制器的性能要求,简化控制程序,同时也及大地节约控制系统的成本。本实施例中的老化系统理论可支持512路电子产品批量进行测试。通过模块化,可以使老化测试通道数量在最大支持范围内可灵活调整。
在本实施例中,还设置有温度传感器,一方面可以监控老化房温度,监控高温老化环境是否正常;另一方面,利用采集的温度值还可以用以修正霍尔电流传感器的温度漂移,使测量的电流数据更加精确。优选地,可以设置多路温度传感器冗余配置,防止失效。
在本实施例中,还包括显示模块,显示模块的输入端与数字量输出控制单元的输出端连接,显示模块包括与控制模块的多路输出端口相匹配的多路显示单元。显示模块可以采用LED指示灯、数码管显示器等。
在本实施例中,还包括用于与上位机进行通信的通信模块,本实施例中的通信模块为串口通讯模块,优选的,本实施例中的通信模块采用UART(Universal AsynchronousReceiver/Transmitter,通用异步收发传输器),测控系统可将实时老化环境温度、回路电流值、当前老化测试状态、老化失效数据等通过通信模块传送至工厂上位机系统,供上位机系统统计、分析数据。
下面以安防产业网络摄像机的老化测试作为具体应用进行详细说明:
在安防产业网络摄像机根据用途不同,分为球机、筒机、枪机等多种型号,各种型号的供电电源不同,总体来说分为交流/直流、12V/24V等,且多数摄像机没有上电指示功能,即接通电源的瞬间无法知晓是否已上电成功。另外,为确保摄像机的质量,出厂前还需进行关键的高温老化测试,即将摄像机放在约50℃的高温老化房内,经过一定的时间后拿出复测摄像机的各项功能,判断是否有老化失效现象发生,然后根据相关的公式模型推算摄像机的预期寿命。
如图2所示,以独立监控各台摄像机的高温老化过程为例,本实施例中通过多个霍尔磁感线性电流检测传感器,为了在摄像机上电初始、内嵌老化程序尚未启动的阶段就能判断回路是否接通,优选的,选取灵敏度高达1000mV/A的电流传感器,能准确检测上电初始阶段的微弱电流,识别是否上电成功。为实时显示上电测试的摄像机数量和每一台摄像机的当前状态,本实施例中的显示模块采用多位8段式数码管显示器和多个LED指示灯,LED指示灯与摄像机一一对应。
在本实施例中,控制模块采用ARM Cortex-M0内核、100引脚封装的32位单片机作为主控制器,该单片机自带12位精度、16通道的模拟量采集输入,满足对电流传感器、LED指示灯、数码管进行实时输入数据的采集和输出信号的控制,本实施例中的控制模块也可以采用现有技术中是其他能够实现上述功能的元器件进行替代,在此不再赘述。
优选地,本实施例中的模拟量输入控制单元包括第一锁存器和模拟选择开关,数字量输出控制单元包括译码器和第二锁存器,如图3所示,在本实施例中,多路电流模拟量值,接入多组、多通道模拟量选择开关,该多通道模拟量开关可由信号控制、输出1个指定通道的模拟值至单片机。即控制系统一次循环可以采集多组电流模拟值,多次循环即可完成对n路电流模拟值的采样。如图4所示,在本实施例中,可以将n个LED指示灯分成多组,每一组由一个多路第二锁存器控制,多个第二锁存器由译码器进行分选控制。控制系统一次输出控制多个LED指示灯,采用动态循环扫描的方式,完成对n个LED指示灯的显示控制。如图5所示,本实施例中的显示模块采用多位8段式数码管,其中多位8段式数码管由多路第二锁存器控制,也采用动态循环扫描的方式,输出控制数码管实时显示当前已上电测试的摄像机数量。
在本实施例中,测试流程可以采用现有的方式方法进行老化测试,例如同样以摄像机的老化测试为例,本实施例中的测试系统上电初始化完成后,先采集电流传感器的初始值,并将初值保存记录。然后开始对多路电流值进行轮流扫描采样,将采样值与初值进行比较,判断是否有测试回路接通,以此识别是否上电成功,并控制LED指示灯常亮响应。在执行老化测试时,例如补光灯、加热电阻、电机转向等功能的开启和关闭测试,可以通过本实施例中的测试系统对各路电流值进行分时、区间采样,通过现有的分析方式方法来分析区间电流的波动,判断老化测试是否正常,如判断出现老化失效,则对应LED指示灯闪烁指示,并记录该摄像机的老化测试时长等信息。
在上述实施例中,除非另外规定,否则通过使用“第一”、“第二”等序号对共同的对象进行描述,只表示其指代相同对象的不同实例,而非是采用表示被描述的对象必须采用给定的顺序,无论是时间地、空间地、排序地或任何其他方式。
上述实施例仅例示性说明本实用新型的原理及其功效,而非用于限制本实用新型。任何熟悉此技术的人士皆可在不违背本实用新型的精神及范畴下,对上述实施例进行修饰或改变。因此,举凡所属技术领域中具有通常知识者在未脱离本实用新型所揭示的精神与技术思想下所完成的一切等效修饰或改变,仍应由本实用新型的权利要求所涵盖。
Claims (10)
1.一种电子产品批量老化测试系统,其特征在于,包括:供电模块、控制模块、电流检测模块、模拟量输入模块、数字量输出模块和显示模块;
所述供电模块与被测产品连接,用于为被测产品供电;
所述被测产品的电流输出端与电流检测模块的输入端连接,电流检测模块的输出端与模拟量输入模块的输入端连接,模拟量输入模块与控制模块连接,构成老化测试回路;
所述控制模块的输出端与所述数字量输出模块的输入端连接,数字量输出模块的输出端与显示模块的输入端连接。
2.根据权利要求1所述的电子产品批量老化测试系统,其特征在于,所述电流检测模块为用于将交流回路或直流回路的电流统一转换为直流电流的霍尔电流传感器。
3.根据权利要求2所述的电子产品批量老化测试系统,其特征在于,还包括用于监控老化房温度和用于修正所述霍尔电流传感器的温度漂移的温度传感器,所述温度传感器的输出端与控制模块的输入端连接。
4.根据权利要求1所述的电子产品批量老化测试系统,其特征在于,所述模拟量输入模块为多路输入通道和用于对所述多路输入通道中的采样电流值进行分选控制的模拟量输入控制单元。
5.根据权利要求1所述的电子产品批量老化测试系统,其特征在于,所述数字量输出模块包括多路输出通道和用于对与所述多路输出通道连接的控制模块的多路输出端口进行分选控制的数字量输出控制单元。
6.根据权利要求5所述的电子产品批量老化测试系统,其特征在于,所述控制模块为具有多个模拟量转换通道的单片机。
7.根据权利要求5所述的电子产品批量老化测试系统,其特征在于,还包括显示模块,所述显示模块的输入端与数字量输出控制单元的输出端连接,所述显示模块包括与控制模块的多路输出端口相匹配的多路显示单元。
8.根据权利要求1所述的电子产品批量老化测试系统,其特征在于,还包括用于与上位机进行通信的通信模块,所述通信模块为串口通讯模块。
9.根据权利要求4所述的电子产品批量老化测试系统,其特征在于,所述模拟量输入控制单元包括第一锁存器和模拟选择开关,所述第一锁存器的输出端与模拟选择开关输入端连接,所述模拟选择开关输入端与电流检测模块的输出端连接,所述控制模块的输出端与锁存器的输入端连接。
10.根据权利要求5所述的电子产品批量老化测试系统,其特征在于,所述数字量输出控制单元包括译码器和第二锁存器,所述译码器的输出端与第二锁存器的输入端连接,所述控制模块的输出端与译码器的输入端连接,所述控制模块的输出端与锁存器的输入端连接。
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CN113608057A (zh) * | 2021-08-23 | 2021-11-05 | 无锡盛景微电子股份有限公司 | 批量实现电子延期模块老化实验的测试系统及方法 |
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