CN211425266U - 一种弧长投影测量装置 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种弧长投影测量装置，所述弧长投影测量装置包括定位部、测量部，所述定位部包括沿X轴方向的第一直角件和沿Y轴方向的第二直角件，所述第一直角件具有第一直角面，所述第二直角件具有第二直角面，所述测量部沿X轴方向并靠近所述第一直角件的侧面和所述第二直角件的侧面设置，且所述测量部沿X轴方向相对于所述第一直角件的侧面和所述第二直角件的侧面可移动，所述测量部具有位于前端的倒角贴合部、位于后端的基准部以及位于中间的刻度部，所述倒角贴合部具有倒角贴合面，所述倒角贴合面的延伸平面与所述第一直角面、所述第二直角面相交，所述基准部具有基准面。

Description

一种弧长投影测量装置

技术领域

本实用新型涉及太阳能晶棒尺寸测量技术领域，特别涉及一种弧长投影测量装置。

背景技术

目前对于投影的测量没有特别直接的工具，一般通过测量弧长对应的弦长，使用的工具为数显卡尺或盒尺，通过勾股定理对投影值进行计算，或者直接将投影值的要求换算为弦长的范围进行控制。不仅测量不便，效率低，并且，在对弧面测量时往往不能准确地对准基准而容易使测量值误差较大。

实用新型内容

为了解决现有技术的问题，本实用新型实施例提供了一种弧长投影测量装置，能够直接准确、快速地对弧长投影进行测量，同时测量更加方便。所述技术方案如下：

提供了一种弧长投影测量装置，包括定位部、测量部，所述定位部包括沿X轴方向的第一直角件和沿Y轴方向的第二直角件，所述第一直角件具有第一直角面，所述第二直角件具有第二直角面，所述测量部沿X轴方向并靠近所述第一直角件的侧面和所述第二直角件的侧面设置，且所述测量部沿X轴方向相对于所述第一直角件的侧面和所述第二直角件的侧面可移动，所述测量部具有位于前端的倒角贴合部、位于后端的基准部以及位于中间的刻度部，所述倒角贴合部具有倒角贴合面，所述倒角贴合面的延伸平面与所述第一直角面、所述第二直角面相交，所述基准部具有基准面。

优选地，所述弧长投影测量装置还包括数显部，所述数显部用于显示从所述刻度部得到的所述测量部沿X轴的位移值。

优选地，所述第一直角件、所述第二直角件均为矩形结构。

优选地，所述第一直角面的尺寸、所述第二直角面的尺寸均为60mm*20mm，所述第一直角件的侧面尺寸、所述第二直角件的侧面尺寸均为60mm*10mm。

优选地，所述倒角贴合部为三角型结构。

优选地，所述倒角贴合面相对于X轴方向的夹角为45°

优选地，所述刻度部为游标结构，所述数显部用于显示通过所述刻度部得到的测量数值。

优选地，所述X轴方向与所述Y轴的方向相垂直。

本实用新型实施例提供的技术方案带来的有益效果是：

通过在实际测量中进行应用，达到了预期要实现的技术目的，可以直接准确、快速的进行对弧长投影的测量，与传统卡尺等工具相比，测量更加方便，尤其在对弧面测量时，能够避免卡尺无法准确对准基准而容易使测量值误差较大的技术缺陷。

附图说明

为了更清楚地说明本实用新型实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本实用新型的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1是本实用新型实施例提供的弧长投影测量装置结构示意图；

图2是本实用新型实施例提供的弧长投影测量装置的尺寸规格设置优选示例。

具体实施方式

为使本实用新型的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

需要说明的是，本实用新型关于“X轴”、“Y轴”“前”、“后”等方向上的描述均是基于附图所示的方位或位置的关系定义的，仅是为了便于描述本实用新型和简化描述，而不是指示或暗示所述的装置必须以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本实用新型的限制。术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个该特征。

基于现有技术在单晶硅棒外观尺寸测量方面缺少专门而直接的测量仪器，致使通过卡尺等传统刻度尺测量再换算，不仅效率低，测得的数据也不够准确，本实用新型实施例提供了一种设置有定位部、测量部、和数显部的弧长投影测量装置,该弧长投影测量装置能够直接准确、快速地对弧长投影进行测量，同时测量更加方便,可专门用于单晶棒弧长投影测量，并且可以测量投影值在0-25mm的所有太阳能级单晶硅棒(或多晶硅棒)。

图1是本实用新型实施例提供的弧长投影测量装置结构示意图。如图1所示，本实用新型实施例提供的弧长投影测量装置包括定位部1、测量部2。定位部1包括沿X轴方向的第一直角件11和沿Y轴方向的第二直角件12，第一直角件11具有第一直角面11a，第二直角件12具有第二直角面12a。测量部2沿X轴方向并靠近第一直角件11的侧面和第二直角件12的侧面设置，即测量部2是一端具有倒角的扁平状长方体，其中长方体的一面与第一直角件11的侧面贴合，且测量部2沿X轴方向相对于第一直角件11的侧面和第二直角件12的侧面可移动，由于长方体的平面和第一直角件11、第二直角件12的侧面贴合，能够很好的控制移动的相对距离。测量部2具有位于前端的倒角贴合部21、位于后端的基准部22以及位于中间的刻度部(图中未示出)，倒角贴合部21具有倒角贴合面21a，倒角贴合面21a的延伸平面与第一直角面11a、第二直角面12a相交，基准部22具有基准面22a。在本实施例中，X轴方向和Y轴方向相垂直，其中沿X轴方向的第一直角件，是指相对于Y轴方向具有直角夹角的部件；沿Y轴方向的第二直角件，是指相对于X轴方向具有直角夹角的部件。

本实用新型实施例提供的弧长投影测量装置，在进行单晶棒弧长投影测量时，具体工作过程如下：

首先通过基准部22的基准面22a确定弧长投影测量装置的准确作用位置；然后移动整个测量装置，使得第一直角件11的第一直角面11a、第二直角件12的第二直角面12a与单晶棒的两个直角面相贴合，从而完成测量前的定位工作；最后，其他部分不动，通过沿X轴方向推动测量部2，直至测量部2的倒角贴合部21的倒角贴合面21a贴合单晶棒的倒角位置的倒角面，由于在测量部2沿X轴方向移动并致使倒角贴合面21a贴合单晶棒的倒角位置的倒角面的过程中，第一直角件11的第一直角面11a、第二直角件12的第二直角面12a与单晶棒的两个直角面始终相贴合，从测量部2的刻度部读取的测量部2在X轴方向的位移即为单晶棒倒角面或倒角曲面弧长的X轴投影值(或叫水平投影值)。这里，单晶棒的两个直角面是指单晶棒上夹角为直角的两个表面。由于该种弧长投影测量装置可以通过定位部1快速地完成贴合定位，并通过刻度部直接读取测量部2的位移数值而得到弧长投影值，有别于传统工具测量，测量便捷有效，且误差小，从而满足晶棒的尺寸指标要求，以便服务于按照尺寸对晶棒进行分类的后续工作。

在本实用新型的一些实施例中提供的弧长投影测量装置还包括数显部3，用于显示从刻度部得到的测量部沿X轴的位移值，从而更方便直观地读取数值，进一步提高了测量效率。

在本实用新型的一些实施例中，第一直角件11、第二直角件12均为矩形结构。另外，第一直角件11、第二直角件12也可以做成顶部楔形结构，只要其具有第一直角面11a或第二直角面12a即可。

另外，在本实用新型的一些实施例中，倒角贴合部21为三角型结构。当然也可以采用其他结构，只要保证其倒角贴合面21a在进行弧长投影测量时，能够与单晶棒的倒角位置贴合即可。进一步地，倒角贴合面相对于X轴方向的夹角θ为45°这里，夹角θ可以根据单晶棒的倒角位置的倾斜角进行变换设置，只要保证倒角贴合面21a能够与单晶棒的倒角位置对应贴合即可。

另外，在本实用新型的一些实施例中，刻度部采用游标结构，即游标卡尺的结构，数显部用于显示通过刻度部得到的测量数值，两者可根据实际需要进行对应设置。

另外，在本实用新型的一些实施例中，如图2所示，第一直角面的尺寸、第二直角面的尺寸均为60mm*20mm，第一直角件的侧面尺寸、第二直角件的侧面尺寸均为60mm*10mm。

另外，在本实用新型的一些实施例中，本实用新型实施例提供的弧长投影测量装置采用马氏体不锈钢材质。

另外，在本实用新型的一些实施例中，X轴方向及Y轴方向的方向还可以是根据需要设置的方向，例如，X轴和Y轴的夹角为100度，测量部可以沿X轴方向靠近待测物体(如硅锭)进行弧长投影测量。

上述所有可选技术方案，可以采用任意结合形成本实用新型的可选实施例，在此不再一一赘述。

综上所述，本实用新型实施例提供的弧长投影测量装置，相比现有技术，具有以下有益效果：

通过在实际测量中进行应用，达到了预期要实现的技术目的，可以直接准确、快速的进行对弧长投影的测量，与传统卡尺等工具相比，测量更加方便，尤其在对弧面测量时，能够避免卡尺无法准确对准基准而容易使测量值误差较大的技术缺陷。

本领域普通技术人员可以理解实现上述实施例的全部或部分步骤可以通过硬件来完成，也可以通过程序来指令相关的硬件完成，所述的程序可以存储于一种计算机可读存储介质中，上述提到的存储介质可以是只读存储器，磁盘或光盘等。

以上所述仅为本实用新型的较佳实施例，并不用以限制本实用新型，凡在本实用新型的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本实用新型的保护范围之内。

本说明书中未作详细描述的内容属于本领域专业技术人员公知的现有技术。

Claims (8)

1.一种弧长投影测量装置，其特征在于，包括定位部、测量部，所述定位部包括沿X轴方向的第一直角件和沿Y轴方向的第二直角件，所述第一直角件具有第一直角面，所述第二直角件具有第二直角面，所述测量部沿X轴方向并靠近所述第一直角件的侧面和所述第二直角件的侧面设置，且所述测量部沿X轴方向相对于所述第一直角件的侧面和所述第二直角件的侧面可移动，所述测量部具有位于前端的倒角贴合部、位于后端的基准部以及位于中间的刻度部，所述倒角贴合部具有倒角贴合面，所述倒角贴合面的延伸平面与所述第一直角面、所述第二直角面相交，所述基准部具有基准面。

2.根据权利要求1所述的弧长投影测量装置，其特征在于，还包括数显部，所述数显部用于显示从所述刻度部得到的所述测量部沿X轴的位移值。

3.根据权利要求1所述的弧长投影测量装置，其特征在于，所述第一直角件、所述第二直角件均为矩形结构。

4.根据权利要求3所述的弧长投影测量装置，其特征在于，所述第一直角面的尺寸、所述第二直角面的尺寸均为60mm*20mm，所述第一直角件的侧面尺寸、所述第二直角件的侧面尺寸均为60mm*10mm。

5.根据权利要求1所述的弧长投影测量装置，其特征在于，所述倒角贴合部为三角型结构。

6.根据权利要求5所述的弧长投影测量装置，其特征在于，所述倒角贴合面相对于X轴方向的夹角为45°。

7.根据权利要求2所述的弧长投影测量装置，其特征在于，所述刻度部为游标结构，所述数显部用于显示通过所述刻度部得到的测量数值。

8.根据权利要求1至6任一项所述的弧长投影测量装置，其特征在于，所述X轴方向与所述Y轴的方向相垂直。

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