CN211373989U - 用于电子产品的滚筒跌落试验装置 - Google Patents

Abstract

本实用新型涉及一种用于电子产品的滚筒跌落试验装置，包括壳体和设置于该壳体容置槽内的滚筒，所述滚筒内设有若干平行的突出筋，所述滚筒的一端为入口端，其另一端连接驱动机构，所述驱动机构能够驱动滚筒在壳体内进行旋转，所述壳体的前部对应于所述滚筒的入口端形成物件取放口且在取放口处设置上封门，该上封门能够将壳体的容置槽密封。本实用新型中的滚筒内设有突出筋，测试样品可以被突出筋托住，直到其转动至滚筒的最高点处才会跌落，因此保证了样品的跌落高度。

Description

用于电子产品的滚筒跌落试验装置

技术领域

本实用新型涉及跌落试验装置，具体涉及一种用于电子产品的滚筒跌落试验装置。

背景技术

随着科技的发展，电子产品已经成为人们生活中必不可少的一部分，为了满足人们更高的需求，电子产品的体积越来越小，制作越来越精细，例如手机、遥控器、车钥匙等等，每个电子产品中均设置多个电子元件，而在使用过程中，电子产品容易发生跌落、冲击以及震荡的情况，如果电子产品的结构不够牢固，容易使电子产品内部电子元件发生位移，进而造成短路、断路等情况，或者造成电子产品外观的损坏，因此在电子产品出厂前通常需要对电子产品进行跌落试验。但是目前跌落试验的设备存在结构复杂、跌落高度无法稳定的缺点。

实用新型内容

为了克服上述缺陷，本实用新型提供一种用于电子产品的滚筒跌落试验装置，该装置中的滚筒内设有突出筋，测试样品可以被突出筋托住，直到其转动至滚筒的最高点处才会跌落，因此保证了样品的跌落高度。

本实用新型为了解决其技术问题所采用的技术方案是：

一种用于电子产品的滚筒跌落试验装置，包括壳体和设置于该壳体容置槽内的滚筒，所述滚筒内设有若干平行的突出筋，所述滚筒的一端为入口端，其另一端连接驱动机构，所述驱动机构能够驱动滚筒在壳体内进行旋转，所述壳体的前部对应于所述滚筒的入口端形成物件取放口且在取放口处设置上封门，该上封门能够将壳体的容置槽密封。

优选地，所述滚筒呈两端开口、内部中空的圆柱体结构，其一端开口为入口端，另一端开口固定设有连接板，该连接板穿过开口的中心点。

优选地，所述滚筒的直径为80-85cm，所述滚筒的内侧沿其圆周方向设有分布均匀的四个突出筋，该突出筋贯穿滚筒的整个高度方向，所述突出筋的纵向截面呈等腰三角形，该等腰三角形的高度为9-10cm。

优选地，所述滚筒的直径为83.82cm,所述突出筋的高度为9.14cm,所述滚筒上设有若干小孔。

优选地，所述驱动机构包括电机、小齿轮和大齿轮，所述电机的输出轴固定连接小齿轮，所述小齿轮通过传动带连接大齿轮，所述大齿轮上固定连接转轴，该转轴固定滚筒的连接板。

优选地，所述壳体上设有上固定座和下固定座，所述电机固定于下固定座，所述转轴通过轴承座置于上固定座，所述大齿轮位于小齿轮的正上方。

优选地，所述上封门上设有透明的观察窗，所述壳体内设有计数器和转速器，所述壳体上设有用于显示转速和总转数的显示器，所述上封门下方的壳体上设有下封门，所述壳体的后侧通过支撑架设有挡板。

本实用新型的有益效果是：

1)本实用新型主要包括壳体、滚筒和电机，滚筒置于壳体内并可以在电机的驱动下载壳体内旋转，将测试样品置于滚筒内，随滚筒一起旋转，因为滚筒内设有突出筋，测试样品可以被突出筋托住，直到其转动至滚筒的最高点处才会跌落，因此保证了样品的跌落高度；本实用新型结构简单，控制精确且设备成本较低；

2)因为测试样品在滚筒内是做无规律的自由跌落，因此样品的每个位置都可能跌落到滚筒内或者突出筋上，从而实现对样品的全方位撞击，且可能直接跌落到突出筋上，增加了对样品的冲击能力，更加严苛的评估样品结构的强度。

附图说明

图1为本实用新型的结构示意图；

图2为本实用新型的侧视图；

图3为本实用新型的另一侧视图；

图4为本实用新型的俯视图；

图5为本实用新型的后视图；

图6为本实用新型中滚筒的结构示意图；

图7为本实用新型中滚筒的另一结构示意图；

图8为本实用新型中滚筒的主视图；

图中：10-壳体，11-取放口，12-上封门，13-观察窗，14-容置槽，15-显示器，16-下封门，20-滚筒，21-突出筋，22-小孔，30-驱动机构，31-电机，32-输出轴，33-小齿轮，34-传动带，35-大齿轮，36-转轴，41-上固定座，42-下固定座，43-轴承座，44-支撑架，45-挡板。

具体实施方式

下面将结合本实用新型实施例，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

需要说明的是，本申请的说明书和权利要求书及上述附图中的术语“第一”、“第二”等是用于区别类似的对象，而不必用于描述特定的顺序或先后次序。应该理解这样使用的数据在适当情况下可以互换，以使这里描述的本申请的实施方式例如能够以除了在这里图示或描述的那些以外的顺序实施。此外，术语“包括”和“具有”以及他们的任何变形，意图在于覆盖不排他的包含，例如，包含了一系列步骤或单元的过程、方法、系统、产品或设备不必限于清楚地列出的那些步骤或单元，而是可包括没有清楚地列出的或对于这些过程、方法、产品或设备固有的其它步骤或单元。

为了便于描述，在这里可以使用空间相对术语，如“在……之上”、“在……上方”、“在……上表面”、“上面的”等，用来描述如在图中所示的一个器件或特征与其他器件或特征的空间位置关系。应当理解的是，空间相对术语旨在包含除了器件在图中所描述的方位之外的在使用或操作中的不同方位。例如，如果附图中的器件被倒置，则描述为“在其他器件或构造上方”或“在其他器件或构造之上”的器件之后将被定位为“在其他器件或构造下方”或“在其他器件或构造之下”。因而，示例性术语“在……上方”可以包括“在……上方”和“在……下方”两种方位。该器件也可以其他不同方式定位(旋转90度或处于其他方位)，并且对这里所使用的空间相对描述作出相应解释。

实施例：如图1-8所示，一种用于电子产品的滚筒跌落试验装置，包括壳体10和设置于该壳体容置槽14内的滚筒20，所述滚筒20内设有若干平行的突出筋21，所述滚筒20的一端为入口端，其另一端连接驱动机构30，所述驱动机构30能够驱动滚筒在壳体内进行旋转，所述壳体10的前部对应于所述滚筒的入口端形成物件取放口11且在取放口处设置上封门12，该上封门12能够将壳体的容置槽14密封。本实用新型将滚筒20设于壳体10，滚筒通过旋转电机驱动其旋转，将待测产品放于滚筒20内，当滚筒转动时，待测产品在其重力的作用下会被一突出筋21所止档，直至该产品运行至接近滚筒的最高处时，在其重力作用下该产品才会从预设高处跌落下来，从而满足电子产品跌落试验的要求；本实用新型可以按照标准参数以及客户的要求来调节电机的转速，实现在规定时间内连续多次进行跌落测试。

如图2和图3所示，所述驱动机构30包括电机31、小齿轮33和大齿轮35，所述电机31的输出轴32固定连接小齿轮33，所述小齿轮通过传动带34连接大齿轮35，所述大齿轮35上固定连接转轴36，该转轴36固定滚筒的连接板。该转轴位于滚筒的正中心位置，这样电机31可以带动滚筒绕其中心进行旋转。所述壳体10上设有上固定座41和下固定座42，所述电机31固定于下固定座42，所述转轴36通过轴承座43置于上固定座41，所述大齿轮35位于小齿轮33的正上方。所述上封门12上设有透明的观察窗13，所述壳体内设有计数器和转速器，所述壳体10上设有用于显示转速和总转数的显示器15，所述上封门12下方的壳体上设有下封门16，所述壳体10的后侧通过支撑架44设有挡板45。

如图6-8所示，所述滚筒20呈两端开口、内部中空的圆柱体结构，其一端开口为入口端，另一端开口固定设有连接板，该连接板穿过开口的中心点。所述滚筒的直径为80-85cm，所述滚筒的内侧沿其圆周方向设有分布均匀的四个突出筋21，该突出筋贯穿滚筒的整个高度方向，所述突出筋21的纵向截面呈等腰三角形，该等腰三角形的高度为9-10cm。每隔一定的距离就设有一个突出筋21，产品任意放置，当滚筒向上运行时，产品在其重力的作用下会迅速地滑落于突出筋上，然后突出筋将托住产品随着滚筒一起向上旋转，直至产品转至滚筒的最高处时跌落下来。更佳地，所述滚筒的直径为83.82cm,所述突出筋21的高度为9.14cm,所述滚筒上设有若干小孔22。突出筋采用金属材料制成，利用特定尺寸的滚筒和突出筋，以满足客户的特殊需求，同时保证产品能够在突出筋的支撑下运行至滚筒的最高点处方可跌落

本实用新型的操作过程：步骤如下：

步骤一：将测试样品随意地放置于滚筒20内；

步骤二：设置电机31的转速为35rpm,并设置测试时间，然后启动电机转动，从而带动滚筒转动；

步骤三：样品在滚筒突出筋21的支撑下，从滚筒的最高点跌落下来，样品在滚筒内进行不间断的跌落，每分钟跌落50次；

步骤四：达到预设测试时间后，电机31停止运行，打开上封门12取出样品，并检查样品的外观、检测其结构硬度以及电性功能。

应当指出，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本实用新型构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本实用新型的保护范围。因此，本实用新型专利的保护范围应以所附权利要求为准。

Claims (7)

1.一种用于电子产品的滚筒跌落试验装置，其特征在于：包括壳体(10)和设置于该壳体容置槽(14)内的滚筒(20)，所述滚筒(20)内设有若干平行的突出筋(21)，所述滚筒(20)的一端为入口端，其另一端连接驱动机构(30)，所述驱动机构(30)能够驱动滚筒在壳体内进行旋转，所述壳体(10)的前部对应于所述滚筒的入口端形成物件取放口(11)且在取放口处设置上封门(12)，该上封门(12)能够将壳体的容置槽(14)密封。

2.根据权利要求1所述的用于电子产品的滚筒跌落试验装置，其特征在于：所述滚筒(20)呈两端开口、内部中空的圆柱体结构，其一端开口为入口端，另一端开口固定设有连接板，该连接板穿过开口的中心点。

3.根据权利要求2所述的用于电子产品的滚筒跌落试验装置，其特征在于：所述滚筒的直径为80-85cm，所述滚筒的内侧沿其圆周方向设有分布均匀的四个突出筋(21)，该突出筋贯穿滚筒的整个高度方向，所述突出筋(21)的纵向截面呈等腰三角形，该等腰三角形的高度为9-10cm。

4.根据权利要求3所述的用于电子产品的滚筒跌落试验装置，其特征在于：所述滚筒的直径为83.82cm,所述突出筋(21)的高度为9.14cm,所述滚筒上设有若干小孔(22)。

5.根据权利要求2所述的用于电子产品的滚筒跌落试验装置，其特征在于：所述驱动机构(30)包括电机(31)、小齿轮(33)和大齿轮(35)，所述电机(31)的输出轴(32)固定连接小齿轮(33)，所述小齿轮通过传动带(34)连接大齿轮(35)，所述大齿轮(35)上固定连接转轴(36)，该转轴(36)固定滚筒的连接板。

6.根据权利要求5所述的用于电子产品的滚筒跌落试验装置，其特征在于：所述壳体(10)上设有上固定座(41)和下固定座(42)，所述电机(31)固定于下固定座(42)，所述转轴(36)通过轴承座(43)置于上固定座(41)，所述大齿轮(35)位于小齿轮(33)的正上方。

7.根据权利要求1所述的用于电子产品的滚筒跌落试验装置，其特征在于：所述上封门(12)上设有透明的观察窗(13)，所述壳体内设有计数器和转速器，所述壳体(10)上设有用于显示转速和总转数的显示器(15)，所述上封门(12)下方的壳体上设有下封门(16)，所述壳体(10)的后侧通过支撑架(44)设有挡板(45)。

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