CN211371839U

CN211371839U - 一种半导体芯片分选测试用减震装置

Info

Publication number: CN211371839U
Application number: CN201922334755.6U
Authority: CN
Inventors: 吕印普; 艾瑞杰
Original assignee: Henan Yiyun Guoxin Technology Co ltd
Current assignee: Henan Yiyun Guoxin Technology Co ltd
Priority date: 2019-12-24
Filing date: 2019-12-24
Publication date: 2020-08-28
Anticipated expiration: 2029-12-24

Abstract

本实用新型公开了一种半导体芯片分选测试用减震装置，包括测试机，测试机的底部设置有支撑台，支撑台的顶部通过螺栓固定有四个减震器，减震器包括空筒，空筒的内部设置有贯穿空筒的减震杆，减震杆的顶部和空筒的底部均焊接有固定块，且减震杆的外壁套接有减震弹簧，其中一个固定块的顶部设置有连接钢板，且固定块和连接钢板之间设置有气垫，支撑台的底部设置有四个万向轮，且支撑台的两侧均通过螺栓固定有限位板，两个限位板的底部两侧均设置有调节装置。本实用新型为测试机提供一个很好的减震作用，从而有效地防止测试机在工作的过程中因发生震动而造成部分元器件损坏，进而增加了测试机的使用寿命，增加测试机的整体稳定性。

Description

一种半导体芯片分选测试用减震装置

技术领域

本实用新型涉及半导体芯片技术领域，尤其涉及一种半导体芯片分选测试用减震装置。

背景技术

半导体芯片是在半导体片材上进行浸蚀和布线，能实现某种功能的半导体器件，而测试机在半导体芯片在进行分选测试时，发挥着很大的作用，而测试机在使用的过程中会产生震动的现象，从而容易对机械的部分元器件造成一定的破坏。

目前大多数测试机减震装置的减震效果不是很好，从而很容易使测试机在工作的过程中因发生震动而使部分元器件造成破坏，从而缩短了测试机的使用寿命，因此，亟需设计一种半导体芯片分选测试用减震装置来解决上述问题。

发明内容

本实用新型的目的是为了解决现有技术中存在的大多数测试机减震装置的减震效果不是很好，从而很容易使测试机在工作的过程中因发生震动而使部分元器件造成破坏，从而缩短了测试机的使用寿命缺点，而提出的一种半导体芯片分选测试用减震装置。

为了实现上述目的，本实用新型采用了如下技术方案：一种半导体芯片分选测试用减震装置，包括测试机，所述测试机的底部设置有支撑台，所述支撑台的顶部通过螺栓固定有四个减震器，所述减震器包括空筒，所述空筒的内部设置有贯穿空筒的减震杆，所述减震杆的顶部和空筒的底部均焊接有固定块，且减震杆的外壁套接有减震弹簧，其中一个所述固定块的顶部设置有连接钢板，且固定块和连接钢板之间设置有气垫。

上述技术方案的关键构思在于：通过设置的空筒、减震杆、减震弹簧和气垫，为测试机提供一个很好的减震作用，从而有效地防止测试机在工作的过程中因发生震动而造成部分元器件损坏，从而增加了测试机的使用寿命。

进一步的，所述支撑台的底部设置有四个万向轮，且支撑台的两侧均通过螺栓固定有限位板，两个所述限位板的底部两侧均设置有调节装置。

进一步的，所述万向轮的顶部设置有限位筒，所述限位筒的内部插接有贯穿限位筒的缓冲杆，所述缓冲杆和限位筒的外壁套接有缓冲弹簧。

进一步的，所述限位板的内部开设有两个空腔，且限位板两侧的底部均开设有螺纹孔。

进一步的，所述调节装置包括自锁螺纹杆，所述限位板的底部通过螺纹与自锁螺纹杆活动连接，所述自锁螺纹杆的底端焊接有支撑座，且自锁螺纹杆通过螺纹活动连接在螺纹孔的内部。

进一步的，所述减震杆、缓冲杆和自锁螺纹杆的一端均焊接有限位块，所述支撑座的底部设置有若干个呈等距离分布的防滑凸起。

本实用新型的有益效果为：

1.通过设置的空筒、减震杆、减震弹簧和气垫，为测试机提供一个很好的减震作用，从而有效地防止测试机在工作的过程中因发生震动而造成部分元器件损坏，进而增加了测试机的使用寿命。

2.通过设置的限位筒、缓冲杆和缓冲弹簧，为测试机在移动的过程中，提供一个缓冲的作用，防止因路面不平而使测试机发生强烈的震动。

3.通过设置的调节装置，在测试机需要进行固定时，调节装置能使测试机与地面进行很好地固定，并且调节装置上的防滑凸起增加了测试机与地面之间的摩擦力，从而增加测试机的整体稳定性。

附图说明

图1为本实用新型提出的一种半导体芯片分选测试用减震装置的结构立体图；

图2为本实用新型提出的一种半导体芯片分选测试用减震装置的减震装置结构立体图；

图3为本实用新型提出的一种半导体芯片分选测试用减震装置的减震器结构剖面图；

图4为本实用新型提出的一种半导体芯片分选测试用减震装置的限位筒结构剖面图；

图5为本实用新型提出的一种半导体芯片分选测试用减震装置的调节装置结构剖面图。

图中：1测试机、2支撑台、3限位板、4减震器、5调节装置、6万向轮、7空筒、8减震杆、9减震弹簧、10限位块、11固定块、12气垫、13连接钢板、14限位筒、15缓冲杆、16自锁螺纹杆、17支撑座、18空腔、19防滑凸起、20螺纹孔、21缓冲弹簧。

具体实施方式

下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

请同时参见图1至图5，一种半导体芯片分选测试用减震装置，包括测试机1，测试机1的底部设置有支撑台2，支撑台2的顶部通过螺栓固定有四个减震器4，减震器4包括空筒7，空筒7的内部设置有贯穿空筒7的减震杆8，减震杆8的顶部和空筒7的底部均焊接有固定块11，且减震杆8的外壁套接有减震弹簧9，空筒7、减震杆8、减震弹簧9和气垫12，为测试机1提供一个很好的减震作用，从而有效地防止测试机1在工作的过程中因发生震动而造成部分元器件损坏，进而增加了测试机1的使用寿命，其中一个固定块11的顶部设置有连接钢板13，且固定块11和连接钢板13之间设置有气垫12。

从上述描述可知，本实用新型具有以下有益效果：通过设置的空筒7、减震杆8、减震弹簧9和气垫12，为测试机1提供一个很好的减震作用，从而有效地防止测试机1在工作的过程中因发生震动而造成部分元器件损坏，从而增加了测试机1的使用寿命。

进一步的，支撑台2的底部设置有四个万向轮6，便于装置的移动，且支撑台2的两侧均通过螺栓固定有限位板3，两个限位板3的底部两侧均设置有调节装置5，便于装置与地面之间的固定。

进一步的，万向轮6的顶部设置有限位筒14，限位筒14的内部插接有贯穿限位筒14的缓冲杆15，缓冲杆15和限位筒14的外壁套接有缓冲弹簧21，在装置移动的过程中，对装置起到一个缓冲的作用。

进一步的，限位板3的内部开设有两个空腔18，便于自锁螺纹杆16的调节，且限位板3两侧的底部均开设有螺纹孔20，用来与自锁螺纹杆16形成活动连接。

进一步的，调节装置5包括自锁螺纹杆16，限位板3的底部通过螺纹与自锁螺纹杆16活动连接，自锁螺纹杆16的底端焊接有支撑座17，用来支撑整个装置，且自锁螺纹杆16通过螺纹活动连接在螺纹孔20的内部。

进一步的，减震杆8、缓冲杆15和自锁螺纹杆16的一端均焊接有限位块10，支撑座17的底部设置有若干个呈等距离分布的防滑凸起19，增加装置与地面之间的摩擦力，从而增加测试机1的整体稳定性。

采用上述设置的限位筒14、缓冲杆15和缓冲弹簧21，为测试机1在移动的过程中，提供一个缓冲的作用，防止因路面不平而使测试机1发生强烈的震动。

以下再列举出几个优选实施例或应用实施例，以帮助本领域技术人员更好的理解本实用新型的技术内容以及本实用新型相对于现有技术所做出的技术贡献：

实施例1

一种半导体芯片分选测试用减震装置，包括测试机1，测试机1的底部设置有支撑台2，支撑台2的顶部通过螺栓固定有四个减震器4，减震器4包括空筒7，空筒7的内部设置有贯穿空筒7的减震杆8，减震杆8的顶部和空筒7的底部均焊接有固定块11，且减震杆8的外壁套接有减震弹簧9，空筒7、减震杆8、减震弹簧9和气垫12，为测试机1提供一个很好的减震作用，从而有效地防止测试机1在工作的过程中因发生震动而造成部分元器件损坏，进而增加了测试机1的使用寿命，其中一个固定块11的顶部设置有连接钢板13，且固定块11和连接钢板13之间设置有气垫12。

其中，支撑台2的底部设置有四个万向轮6，便于装置的移动，且支撑台2的两侧均通过螺栓固定有限位板3，两个限位板3的底部两侧均设置有调节装置5，便于装置与地面之间的固定；万向轮6的顶部设置有限位筒14，限位筒14的内部插接有贯穿限位筒14的缓冲杆15，缓冲杆15和限位筒14的外壁套接有缓冲弹簧21，在装置移动的过程中，对装置起到一个缓冲的作用；限位板3的内部开设有两个空腔18，便于自锁螺纹杆16的调节，且限位板3两侧的底部均开设有螺纹孔20，用来与自锁螺纹杆16形成活动连接；调节装置5包括自锁螺纹杆16，限位板3的底部通过螺纹与自锁螺纹杆16活动连接，自锁螺纹杆16的底端焊接有支撑座17，用来支撑整个装置，且自锁螺纹杆16通过螺纹活动连接在螺纹孔20的内部；减震杆8、缓冲杆15和自锁螺纹杆16的一端均焊接有限位块10，支撑座17的底部设置有若干个呈等距离分布的防滑凸起19，增加装置与地面之间的摩擦力，从而增加测试机1的整体稳定性。

工作原理：使用时，先将测试机1通过减震器4与支撑台2连接一起，通过万向轮6将测试机1移动到指定的位置，其中限位筒14、缓冲杆15和缓冲弹簧21为测试机1提供一个缓冲的作用，需要将测试机1与地面连接一起时，通过拧动自锁螺纹杆5，提高支撑台2的高度，从而使万向轮6与地面相离，实现了测试机1与地面之间的稳固连接，在测试机1进行工作时，减震器4在测试机1产生震动的情况下开始进行工作，测试机1向下移动时，气垫12先被连接钢板13挤压，然后固定块11开始挤压减震弹簧9，进而减震杆8向空筒7的内部移动，当测试机1向上移动时，气垫12恢复到原来的形态，固定块11和减震杆8在减震弹簧9的作用下恢复到原来的位置，从而减震器4对测试机1提供一个很好的减震作用。

以上所述，仅为本实用新型较佳的具体实施方式，但本实用新型的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本实用新型揭露的技术范围内，根据本实用新型的技术方案及其实用新型构思加以等同替换或改变，都应涵盖在本实用新型的保护范围之内。

Claims

1.一种半导体芯片分选测试用减震装置，包括测试机（1），其特征在于，所述测试机（1）的底部设置有支撑台（2），所述支撑台（2）的顶部通过螺栓固定有四个减震器（4），所述减震器（4）包括空筒（7），所述空筒（7）的内部设置有贯穿空筒（7）的减震杆（8），所述减震杆（8）的顶部和空筒（7）的底部均焊接有固定块（11），且减震杆（8）的外壁套接有减震弹簧（9），其中一个所述固定块（11）的顶部设置有连接钢板（13），且固定块（11）和连接钢板（13）之间设置有气垫（12）。

2.根据权利要求1所述的一种半导体芯片分选测试用减震装置，其特征在于，所述支撑台（2）的底部设置有四个万向轮（6），且支撑台（2）的两侧均通过螺栓固定有限位板（3），两个所述限位板（3）的底部两侧均设置有调节装置（5）。

3.根据权利要求2所述的一种半导体芯片分选测试用减震装置，其特征在于，所述万向轮（6）的顶部设置有限位筒（14），所述限位筒（14）的内部插接有贯穿限位筒（14）的缓冲杆（15），所述缓冲杆（15）和限位筒（14）的外壁套接有缓冲弹簧（21）。

4.根据权利要求2所述的一种半导体芯片分选测试用减震装置，其特征在于，所述限位板（3）的内部开设有两个空腔（18），且限位板（3）两侧的底部均开设有螺纹孔（20）。

5.根据权利要求2所述的一种半导体芯片分选测试用减震装置，其特征在于，所述调节装置（5）包括自锁螺纹杆（16），所述限位板（3）的底部通过螺纹与自锁螺纹杆（16）活动连接，所述自锁螺纹杆（16）的底端焊接有支撑座（17），且自锁螺纹杆（16）通过螺纹活动连接在螺纹孔（20）的内部。

6.根据权利要求5所述的一种半导体芯片分选测试用减震装置，其特征在于，所述减震杆（8）、缓冲杆（15）和自锁螺纹杆（16）的一端均焊接有限位块（10），所述支撑座（17）的底部设置有若干个呈等距离分布的防滑凸起（19）。