CN211263539U - 一种盲插多通道t/r组件测试夹具 - Google Patents
一种盲插多通道t/r组件测试夹具 Download PDFInfo
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Abstract
本实用新型公开了一种盲插多通道T/R组件测试夹具,包括外框和内框,所述内框可在外框内部水平滑动,所述外框一端安装有转接器安装板,所述外框两侧设置轴座,两个轴座之间贯穿有转轴,所述转轴两端通过连杆连接手柄,位于两个轴座之间的所述转轴上固定连接凸轮,所述凸轮的一端通过拉杆连接内框顶部,本实用新型所公开的测试夹具可以满足多种类型T/R组件的盲插拔操作,操作简便,省力,极大地提高了测试效率,并节省了测试成本。
Description
技术领域
本实用新型涉及一种测试夹具,特别涉及一种盲插多通道T/R组件测试夹具。
背景技术
电子设备的T/R组件的微波信号接口往往采用插拔式盲插连接方式,此连接方式使雷达等电子系统中T/R组件的安装更加简单,并提高系统的集成密度,缩小系统体积,T/R组件的多端口采用插拔的盲插连接方式,也为多端口同时连接测试提供了可能。但是插拔式连接器往往插拔力较大,在多端口同时插拔时,依靠人力很难做到,如果能设计一种夹具能够快速省力地实现T/R组件端口插拔和测试,无需在T/R组件测试时逐一插拔连接器,可以大大提高多端口T/R组件的测试效率。
T/R组件的微波端口往往采用插拔式盲插连接方式,需要根据频段转接为普通1.85mm、2.4mm、2.92mm、3.5mm和SMA接头实现测试对接,如果盲插后能转接到相应的接头,可以很方便地实现组件的测试。
T/R组件类型多,外形尺寸也各不相同,测试时同一夹具多数是针对单一模块设计,不能兼容其他尺寸组件,如果能兼容多种类型T/R组件,可以极大的节省测试成本。当前的测试方法主要是以手动插拔测试接头实现T/R组件的测试,对于多通道T/R组件浪费了大量的时间,效率低,不适合大批量测试。
实用新型内容
为解决上述技术问题,本实用新型提供了一种盲插多通道T/R组件测试夹具,以达到可以满足多种类型T/R组件的盲插拔操作,极大地提高了测试效率,并节省了测试成本的目的。
为达到上述目的,本实用新型的技术方案如下:
一种盲插多通道T/R组件测试夹具,包括外框和内框,所述内框可在外框内部水平滑动,所述外框一端安装有转接器安装板,所述外框两侧设置轴座,两个轴座之间贯穿有转轴,所述转轴两端通过连杆连接手柄,位于两个轴座之间的所述转轴上固定连接凸轮,所述凸轮的一端通过拉杆连接内框顶部。
上述方案中,所述外框是由外框侧板和外框底板组成的U型结构,所述外框侧板上设置导轨凹槽。
进一步的技术方案中,所述内框为用于包围T/R组件的框架结构,所述内框两端开口,所述内框两侧设置导轨凸起,所述导轨凸起嵌入所述导轨凹槽内,并可在导轨凹槽内水平滑动。
优选地,所述凸轮设置两个,所述内框顶部设置两个连接块,所述连接块上设置开口向上的圆槽,所述拉杆中部位于圆槽内,两端固定于所述凸轮上。
通过上述技术方案,本实用新型提供的一种盲插多通道T/R组件测试夹具具有以下有益效果:
1、通过巧妙的运用连杆、凸轮和拉杆组成的曲柄滑块机构的原理实现盲插拔连接器的快速盲插拔操作,单次操作可以同时实现多通道盲插连接器的通断,极大的提高测试效率;
2、运用杠杆原理,适当设计连杆的长度,能够快速省力的实现插拔操作;
3、通过推拉手柄可带动内框在外框上水平移动,进而带动被测T/R组件移动,间接的实现了T/R组件上射频接头的插拔操作。因此在不更换外框的情况下,只更换内框即可兼容不同规格的T/R组件,提高了夹具的兼容性,可以极大的节省测试成本。
附图说明
为了更清楚地说明本实用新型实施例或现有技术中的技术方案,下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍。
图1为本实用新型实施例所公开的一种盲插多通道T/R组件测试夹具整体结构示意图;
图2为本实用新型实施例所公开的外框结构示意图;
图3为本实用新型实施例所公开的内框结构示意图;
图4为射频连接器断开状态示意图;
图5为射频连接器插合状态示意图。
图中,1、外框;2、内框;3、导轨凹槽;4、导轨凸起;5、转接器安装板;6、轴座;7、转轴;8、连杆;9、手柄;10、凸轮;11、连接块;12、圆槽;13、拉杆;14、T/R组件;15、外框侧板;16、外框底板。
具体实施方式
下面将结合本实用新型实施例中的附图,对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述。
本实用新型提供了一种盲插多通道T/R组件测试夹具,如图1所示的结构,该测试夹具可以匹配各种T/R组件,通过选配对应的连接器安装板,可以满足多种类型T/R组件的盲插拔操作,极大地提高了测试效率,并节省了测试成本。
如图1所示的盲插多通道T/R组件测试夹具,包括外框1和内框2,如图2所示,外框1是由外框侧板15和外框底板16通过螺钉固接组成的U型结构,外框侧板15上设置导轨凹槽3。如图3所示,内框2为用于包围T/R组件14的长方形框架结构,T/R组件14位于内框2内部,测试时与内框2固定连接,可以采用螺钉连接,内框2两端开口,测试完成后,T/R组件可以从内框2中方便地取出。内框2两侧设置导轨凸起4,导轨凸起4嵌入导轨凹槽3内,并可在导轨凹槽3内水平滑动。
外框1一端安装有转接器安装板5,转接器安装板5上面可以安装与T/R组件上射频接头匹配的面板转接器,转接为所需规格接头。
外框1两侧设置轴座6,两个轴座6之间贯穿有转轴7,转轴7两端通过连杆8连接手柄9,连杆8与转轴7之间为固定连接。通过推动手柄9,可以带动连杆8和转轴7转动。
位于两个轴座6之间的转轴7上固定连接两个凸轮10,内框2顶部设置两个连接块11,连接块11上设置开口向上的圆槽12,拉杆13中部位于圆槽12内,两端分别固定两个凸轮10的尖头端。当转轴7转动时,可以带动两个凸轮10转动,进而拉动拉杆13和连接块11左右移动,从而实现内框2的水平移动。
如图4所示,当向左侧推动手柄9时,凸轮10逆时针方向转动,从而推动拉杆13和连接块11向右移动,实现射频连接器的断开。
如图5所示,当向右侧推动手柄9时,凸轮10顺时针方向转动,从而推动拉杆13和连接块11向左移动,实现射频连接器的插合。
测试完毕后,可以更换其他同规格T/R组件14继续进行测试。操作人员如果想继续测试其他规格的T/R组件14,可以取出当前内框2,更换上与其他T/R组件配套的内框2和转接器安装板5即可进行同上操作进行测试。
对所公开的实施例的上述说明,使本领域专业技术人员能够实现或使用本实用新型。对这些实施例的多种修改对本领域的专业技术人员来说将是显而易见的,本文中所定义的一般原理可以在不脱离本实用新型的精神或范围的情况下,在其它实施例中实现。因此,本实用新型将不会被限制于本文所示的这些实施例,而是要符合与本文所公开的原理和新颖特点相一致的最宽的范围。
Claims (4)
1.一种盲插多通道T/R组件测试夹具,其特征在于,包括外框和内框,所述内框可在外框内部水平滑动,所述外框一端安装有转接器安装板,所述外框两侧设置轴座,两个轴座之间贯穿有转轴,所述转轴两端通过连杆连接手柄,位于两个轴座之间的所述转轴上固定连接凸轮,所述凸轮的一端通过拉杆连接内框顶部。
2.根据权利要求1所述的一种盲插多通道T/R组件测试夹具,其特征在于,所述外框是由外框侧板和外框底板组成的U型结构,所述外框侧板上设置导轨凹槽。
3.根据权利要求2所述的一种盲插多通道T/R组件测试夹具,其特征在于,所述内框为用于包围T/R组件的框架结构,所述内框两端开口,所述内框两侧设置导轨凸起,所述导轨凸起嵌入所述导轨凹槽内,并可在导轨凹槽内水平滑动。
4.根据权利要求1所述的一种盲插多通道T/R组件测试夹具,其特征在于,所述凸轮设置两个,所述内框顶部设置两个连接块,所述连接块上设置开口向上的圆槽,所述拉杆中部位于圆槽内,两端固定于所述凸轮上。
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Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN114088993A (zh) * | 2021-11-24 | 2022-02-25 | 西安艾力特电子实业有限公司 | 一种测试集成盲插转接模块的测试台及测试方法 |
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2019
- 2019-11-21 CN CN201922019673.2U patent/CN211263539U/zh active Active
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