CN211206761U - 一种磁石磁场测量装置和磁石磁场测量系统 - Google Patents
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Abstract
本申请公开了一种磁石磁场测量装置和磁石磁场测量系统,包括基座、第一定位块、第二定位块和测试探头;第一定位块包括第一凸台和第二凸台,第一定位块设置在基座的一侧,第一凸台和第二凸台都位于第一定位块的同一侧;第二定位块设置在基座的一侧,且与第一定位块同侧,与第一定位块相对间隔设置;第二定位块包括第三凸台和第四凸台,第三凸台和第四凸台都位于第二定位块的同一侧,与第一凸台和第二凸台对应间隔设置;测试探头位于第一凸台和第三凸台的间隙之间;其中,第一定位块和第二定位块具有导磁性。测试探头测试第二凸台和第三凸台之间的间隙磁场,只需要变动不同的待测磁石即可,自动化程度高,效率高,测量数据结果一致性好。
Description
技术领域
本申请涉及微小磁石的磁场自动化检测领域,尤其涉及一种磁石磁场测量装置和磁石磁场测量系统。
背景技术
随着人们对磁性产品性能要求的不断增加,磁性产品的磁场检测方法也在相应的不断提高。目前的人工检测对于直径和高度较小的磁性产品的检测精度较低,会产生较大误差。
实用新型内容
本申请的目的是提供一种检测磁性产品磁场精度较高的一种磁石磁场测量装置和磁石磁场测量系统。
本申请公开了一种磁石磁场测量装置,包括基座、第一定位块、第二定位块和测试探头;所述第一定位块包括第一凸台和第二凸台,所述第一定位块设置在基座的一侧,所述第一凸台和所述第二凸台都位于所述第一定位块的同一侧;所述第二定位块设置在基座的一侧,与第一定位块同侧;所述第二定位块与所述第一定位块相对间隔设置;所述第二定位块包括第三凸台和第四凸台,所述第三凸台和所述第四凸台都位于所述第二定位块靠近第一定位块一侧,所述第一凸台和第二凸台都位于所述第一定位块靠近第二定位块的一侧;所述第三凸台和第四凸台分别与所述第一凸台和所述第二凸台对应间隔设置;所述测试探头位于所述第二凸台和所述第四凸台的间隙之间;其中,所述第一定位块和所述第二定位块具有导磁性。
可选的,所述磁石磁场测量装置包括第一凸板,所述基座设置有第一凹槽,所述第一凹槽自与第一定位块对应的基座一侧设置到基座的另一侧;所述测试探头设置在所述第一凸板上,所述第一凸板设置在所述第一凹槽内;所述第二凸台和第四凸台之间的间隙对应所述第一凹槽。
可选的,所述第一凸板的形状为长方体凸台,所述第一凹槽的形状为长方体凹槽,所述第一凹槽贯穿所述基座相对设置的两个平面,所述第一凹槽对所述基座的贯穿方向与所述第一凹槽长边延伸的方向一致,所述第一凸板的长边大于所述第一凹槽的长边。
可选的,所述第一凸板的形状为长方体凸台,所述第一凹槽的形状为长方体凹槽,所述第一凸板的短边大于所述第一凹槽的短边。
可选的,所述第一定位块远离所述第一凸台和第二凸台的一侧设置有第一通孔,所述第二定位块远离所述第三凸台和第四凸台的一侧设置有第二通孔,所述基座包括第二凹槽和固定件,所述固定件与所述第一通孔、第二通孔和第二凹槽连接,所述固定件通过所述第一通孔将所述第一定位块固定在所述基座上,所述固定件通过所述第二通孔将所述第二定位块固定在所述基座上。
可选的,所述固定件为螺钉,所述第二凹槽上有与所述螺钉相配合的螺纹。
可选的,所述第一通孔的数量为至少两个,所述第二通孔的数量至少为两个,所述第二凹槽的数量至少为四个,且分别与所述第一通孔和第二通孔对应设置在所述基座上。
可选的,所述第一定位块和所述第二定位块的材质为低碳钢。
本申请还公开了一种磁石磁场测量装置,包括基座、第一定位块、第二定位块、测试探头和第一凸板;所述基座设置有第一凹槽;所述第一定位块包括第一凸台和第二凸台,第一定位块设置在基座的一侧,所述第一凸台和所述第二凸台都位于所述第一定位块的同一侧;所述第二定位块设置在基座的一侧,且与所述第一定位块同侧,与所述第一定位块相对间隔设置;所述第二定位块包括第三凸台和第四凸台,所述第三凸台和所述第四凸台都位于所述第二定位块靠近第一定位块的一侧,所述第一凸台和第二凸台都位于所述第一定位块靠近第二定位块的一侧;所述第三凸台和第四凸台分别与所述第一凸台和所述第二凸台对应间隔设置;所述测试探头,位于所述第二凸台和所述第四凸台的间隙之间;所述测试探头设置在所述第一凸板上;所述第一凸板设置在所述第一凹槽内;其中,所述第一定位块和所述第二定位块的材质为低碳钢,型号为Q235;所述第一定位块和所述第二定位块固定在所述基座的同一侧;所述第一凸台和所述第三凸台的间隙对应所述第一凹槽;所述第一凸板的形状为长方体凸台,所述第一凹槽的形状为长方体凹槽,所述第一凹槽自与第一定位块对应的基座一侧设置到基座的另一侧,所述第一凹槽贯穿所述基座相对设置的两个平面,所述第一凹槽对所述基座的贯穿方向与所述第一凹槽长边延伸的方向一致,所述第一凸板的长边大于所述第一凹槽的长边;所述第一定位块包括第一通孔,所述第二定位块包括第二通孔,所述基座包括第二凹槽和固定件,所述固定件与所述第一通孔、所述第二通孔和所述第二凹槽连接,所述固定件通过所述第一通孔将所述第一定位块固定在所述基座上,所述固定件通过所述第二通孔将所述第二定位块固定在所述基座上;所述第一通孔和所述第二通孔的数量为两个,所述第二凹槽的数量为四个,且分别与所述第一通孔和第二通孔对应设置在所述基座上。
本申请还公开了一种磁石磁场测量系统,包括上述任意所述的磁石磁场测量装置。
相对于人工检测直径和高度小于1.5mm的磁石,由于测量头的直径大小一般超过2mm,所以待测磁石直径和高度过小,导致仪器测量不准确,测量精度变低。本申请利用磁路回路原理,待测的磁石置于第一凸台和第三凸台之间,磁石产生的磁场通过第一定位块和第二定位块被引导至第二凸台和第四凸台之间,测试探头则测试第二凸台和第四凸台之间的间隙的磁场,间隙磁场的磁场方向基本都一致,比人工检测更准确,测试探头的位置不用变,只需要变动不同的待测磁石即可,自动化程度高,效率高,测量数据结果一致性好。
附图说明
所包括的附图用来提供对本申请实施例的进一步的理解,其构成了说明书的一部分,用于例示本申请的实施方式,并与文字描述一起来阐释本申请的原理。显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动性的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。在附图中:
图1是本申请的一实施例的一种磁石磁场测量系统的示意图;
图2是本申请的一实施例的一种磁石磁场测量装置的结构示意图;
图3是本申请的一实施例的一种磁石磁场测量装置的结构主视示意图;
图4是本申请的一实施例的一种磁石磁场测量装置的结构俯视示意图。
其中,100、磁石磁场测量系统;200、磁石磁场测量装置;300、磁石;210、第一定位块;220、第二定位块;230、测试探头;240、基座;241、第一凹槽;242、第二凹槽;243、固定件;250、第一凸板;211、第一凸台;212、第二凸台;213、第一通孔;221、第三凸台;222、第四凸台;223、第二通孔。
具体实施方式
需要理解的是,这里所使用的术语、公开的具体结构和功能细节,仅仅是为了描述具体实施例,是代表性的,但是本申请可以通过许多替换形式来具体实现,不应被解释成仅受限于这里所阐述的实施例。
在本申请的描述中,术语“第一”、“第二”仅用于描述目的,而不能理解为指示相对重要性,或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此,除非另有说明,限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个该特征;“多个”的含义是两个或两个以上。术语“包括”及其任何变形,意为不排他的包含,可能存在或添加一个或更多其他特征、整数、步骤、操作、单元、组件和/ 或其组合。
另外,“中心”、“横向”、“上”、“下”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系的术语,是基于附图所示的方位或相对位置关系描述的,仅是为了便于描述本申请的简化描述,而不是指示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作,因此不能理解为对本申请的限制。
此外,除非另有明确的规定和限定,术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解,例如可以是固定连接,也可以是可拆卸连接,或一体地连接;可以是机械连接,也可以是电连接;可以是直接相连,也可以通过中间媒介间接相连,或是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言,可以根据具体情况理解上述术语在本申请中的具体含义。
下面参考附图和可选的实施例对本申请作详细说明。
磁石磁场的人工检测一般是将测试仪器的测量头移动到待测磁石,对待测磁石的磁场强度进行测量,一般情况下测量的待测磁石的精度还是可以的,但是当待测磁石的直径和高度小于1.5mm时,由于测量头的直径大小一般超过2mm,所以待测磁石直径和高度过小,导致仪器测量不准确,测量精度变低。
如图1至图4所示,本申请公开了一种磁石磁场测量系统100,包括磁石磁场测量装置200,所述磁石磁场测量装置200包括基座 240、第一定位块210、第二定位块220和测试探头230;所述第一定位块210包括第一凸台211和第二凸台212,所述第一定位块210设置在基座240的一侧,所述第一凸台211和所述第二凸台212都位于所述第一定位块210的同一侧;所述第二定位块220设置在基座240 的一侧,与第一定位块210同侧;所述第二定位块220与所述第一定位块210相对间隔设置;所述第二定位块220包括第三凸台221和第四凸台222,所述第三凸台221和所述第四凸台222都位于所述第二定位块220靠近第一定位块210的一侧,所述第一凸台211和第二凸台212都位于所述第一定位块210靠近第二定位块220的一侧;所述第三凸台221和第四凸台222分别与所述第一凸台211和所述第二凸台212对应间隔设置;所述测试探头230位于所述第二凸台212和所述第四凸台222的间隙之间;其中,所述第一定位块210和所述第二定位块220具有导磁性。
第一定位块210和第二定位块220都各有两个凸起,并且都具有导磁性,将待测磁体放置在相对设置的第一凸台211和第三凸台221 之间,再将测试探头230放置在第二凸台212和第四凸台222之间,利用磁路回路原理,待测磁体在第一凸台211和第三凸台221之间发出的磁场通过第一定位块210和第二定位块220被引导至第二凸台212和第三凸台221之间,测试探头230则测试第二凸台212和第三凸台221之间的间隙磁场,间隙磁场的磁场方向基本都一致,比人工检测更准确,到达第二凸台212和第三凸台221的磁场会有损耗,损耗剩原磁场的15%左右,通过计算可以得到原磁场的强度,测试探头230的位置不用变,只需要变动不同的待测磁石300即可,自动化程度高,效率高,测量数据结果一致性好。
所述磁石磁场测量装置200包括第一凸板250,所述基座240设置有第一凹槽241;所述测试探头230设置在所述第一凸板250上;所述第一凸板250设置在所述第一凹槽241内;所述第二凸台212和所述第四凸台222的间隙对应所述第一凹槽241。用基座240固定第一定位块210和第二定位块220,使第一定位块210与第二定位块220 之间的距离保持不变,第一凸台211和第三凸台221之间的距离一般为2mm,待测磁石300直径和高度小于1.5mm,方便拿出待测磁石300,测试探头230固定在第一凸板250上,第一凸板250又固定在基座 240上,防止测试探头230晃动。
更具体的,所述第一定位块210远离所述第一凸台250和第二凸台212的一侧设置有第一通孔213,所述第二定位块220远离所述第三凸台221和第四凸台222的一侧设置有第二通孔223,所述基座240 包括第二凹槽242和固定件243,所述固定件243与所述第一通孔213、所述第二通孔223和所述第二凹槽242连接,所述固定件243 通过所述第一通孔213将所述第一定位块210固定在所述基座240 上,所述固定件243通过所述第二通孔223将所述第二定位块220固定在所述基座240上。所述固定件243为螺钉,所述第二凹槽242上有与所述螺钉相配合的螺纹。使用固定件243将第一定位块210和第二定位块220固定在基座240上,固定件243不限于选择螺钉,螺钉固定的紧密一些。所述第一通孔213的数量为至少两个,所述第二通孔223的数量至少为两个,所述第二凹槽242的数量至少为四个。使用单个螺钉固定的话,只能限制第一定位块210或第二定位块220的移动,但是不能有效限制转动,当第一定位块210和第二定位块220 转动一部分后,会导致第一凸台211、第二凸台212、第三凸台221 和第四凸台222的相对倾斜,影响待测磁石300的测量,所以第一定位块210和第二定位块220的固定点至少要有两个,不过为了省成本省时间等,固定点两个即可。
所述第一定位块210和所述第二定位块220的材质为低碳钢,型号为Q235。具有良好的导磁性,Q235代表的是屈服极限为235MPa左右,屈服极限也称流动极限,当材料受外力到一定限度时,即使不增加负荷它仍然继续发生明显的塑性变形。
所述第一凸板250的形状为长方体凸台,所述第一凹槽241的形状为长方体凹槽,所述第一凹槽241贯穿所述基座240相对设置的两个平面,所述第一凹槽241对所述基座240的贯穿方向与所述第一凹槽241长边延伸的方向一致,所述第一凸板250的长边大于所述第一凹槽241的长边。第一凸板250和第一凹槽241都是长方体,第一凸板250和第一凹槽241的长边即是长方体的长,第一凸板250和第一凹槽241的短边即是长方体的宽,第一凸板250与第一凹槽241相配合,由于第一凸板250长于第一凹槽241,方便调整第一凸板250的位置,使第一凸板250上的测试探头230对准第二凸台212和第四凸台222。不过也可以令所述第一凸板250的短边大于所述第一凹槽241 的短边。这样第一凸板250还是会凸出于第一凹槽241一部分,方便调整第一凸板250的位置。
本申请还公开了一种磁石磁场测量装置200,包括基座240、第一定位块210、第二定位块220、测试探头230和第一凸板250;所述基座240包括第一凹槽241;所述第一定位块210包括第一凸台211 和第二凸台212,所述第一凸台211和所述第二凸台212都位于所述第一定位块210的同一侧;所述第二定位块220,与所述第一定位块 210相对间隔设置;所述第二定位块220包括第三凸台221和第四凸台222,所述第三凸台221和所述第四凸台222都位于所述第二定位块220的同一侧,与所述第一凸台211和所述第二凸台212对应间隔设置;所述测试探头230,位于所述第一凸台211和所述第三凸台221 的间隙之间;所述测试探头230设置在所述第一凸板250上;所述第一凸板250设置在所述第一凹槽241内;其中,所述第一定位块210 和所述第二定位块220的材质为低碳钢,型号为Q235;所述第一定位块210和所述第二定位块220固定在所述基座240的同一侧;所述第一凸台211和所述第三凸台221的间隙对应所述第一凹槽241;所述第一凸板250的形状为长方体凸台,所述第一凹槽241的形状为长方体凹槽,所述第一凹槽241贯穿所述基座240相对设置的两个平面,所述第一凹槽241对所述基座240的贯穿方向与所述第一凹槽241长边延伸的方向一致,所述第一凸板250的长边大于所述第一凹槽241 的长边;所述第一定位块210包括第一通孔213,所述第二定位块220 包括第二通孔223,所述基座240包括第二凹槽242和固定件243,所述固定件243与所述第一通孔213、所述第二通孔223和所述第二凹槽242连接,所述固定件243通过所述第一通孔213将所述第一定位块210固定在所述基座240上,所述固定件243通过所述第二通孔223将所述第二定位块220固定在所述基座240上;所述第一通孔213 和所述第二通孔223的数量为两个,所述第二凹槽242的数量为四个。
以上内容是结合具体的可选实施方式对本申请所作的进一步详细说明,不能认定本申请的具体实施只局限于这些说明。对于本申请所属技术领域的普通技术人员来说,在不脱离本申请构思的前提下,还可以做出若干简单推演或替换,都应当视为属于本申请的保护范围。
Claims (10)
1.一种磁石磁场测量装置,其特征在于,包括:
基座;
第一定位块,设置在基座的一侧,包括第一凸台和第二凸台,所述第一凸台和第二凸台都位于所述第一定位块的同一侧;
第二定位块,设置在基座的一侧,且与所述第一定位块同侧;与所述第一定位块相对间隔设置;所述第二定位块包括第三凸台和第四凸台;所述第三凸台和第四凸台都位于所述第二定位块靠近第一定位块的一侧,所述第一凸台和第二凸台都位于所述第一定位块靠近第二定位块的一侧;所述第三凸台和第四凸台分别与所述第一凸台和第二凸台对应间隔设置;以及
测试探头,位于所述第二凸台和所述第四凸台的间隙之间;
其中,所述第一定位块和所述第二定位块具有导磁性。
2.如权利要求1所述的一种磁石磁场测量装置,其特征在于,所述磁石磁场测量装置包括第一凸板,所述基座设置有第一凹槽,所述第一凹槽自与第一定位块对应的基座一侧设置到基座的另一侧;所述测试探头设置在所述第一凸板上,所述第一凸板设置在所述第一凹槽内;所述第二凸台和第四凸台之间的间隙对应所述第一凹槽。
3.如权利要求2所述的一种磁石磁场测量装置,其特征在于,所述第一凸板的形状为长方体凸台,所述第一凹槽的形状为长方体凹槽,所述第一凹槽贯穿所述基座相对设置的两个平面,所述第一凹槽对所述基座的贯穿方向与所述第一凹槽长边延伸的方向一致,所述第一凸板的长边大于所述第一凹槽的长边。
4.如权利要求2所述的一种磁石磁场测量装置,其特征在于,所述第一凸板的形状为长方体凸台,所述第一凹槽的形状为长方体凹槽,所述第一凸板的短边大于所述第一凹槽的短边。
5.如权利要求2所述的一种磁石磁场测量装置,其特征在于,所述第一定位块远离所述第一凸台和第二凸台的一侧设置有第一通孔,所述第二定位块远离所述第三凸台和第四凸台的一侧设置有第二通孔,所述基座包括第二凹槽和固定件,所述固定件与所述第一通孔、第二通孔和第二凹槽连接,所述固定件通过所述第一通孔将所述第一定位块固定在所述基座上,所述固定件通过所述第二通孔将所述第二定位块固定在所述基座上。
6.如权利要求5所述的一种磁石磁场测量装置,其特征在于,所述固定件为螺钉,所述第二凹槽上有与所述螺钉相配合的螺纹。
7.如权利要求5所述的一种磁石磁场测量装置,其特征在于,所述第一通孔的数量为至少两个,所述第二通孔的数量至少为两个,所述第二凹槽的数量至少为四个,且分别与所述第一通孔和第二通孔对应设置在所述基座上。
8.如权利要求1所述的一种磁石磁场测量装置,其特征在于,所述第一定位块和所述第二定位块的材质为低碳钢。
9.一种磁石磁场测量装置,其特征在于,包括:
基座,设置有第一凹槽;
第一定位块,设置在基座的一侧,包括第一凸台和第二凸台,所述第一凸台和所述第二凸台都位于所述第一定位块的同一侧;
第二定位块,设置在基座的一侧,且与所述第一定位块同侧;与所述第一定位块相对间隔设置;所述第二定位块包括第三凸台和第四凸台,所述第三凸台和所述第四凸台都位于所述第二定位块靠近第一定位块的一侧,所述第一凸台和第二凸台都位于所述第一定位块靠近第二定位块的一侧;所述第三凸台和第四凸台分别与所述第一凸台和所述第二凸台对应间隔设置;
测试探头,位于所述第二凸台和所述第四凸台的间隙之间;以及
第一凸板,所述测试探头设置在所述第一凸板上;所述第一凸板设置在所述第一凹槽内;
其中,所述第一定位块和所述第二定位块的材质为低碳钢;所述第一定位块和所述第二定位块固定在所述基座的同一侧;所述第一凸台和所述第三凸台的间隙对应所述第一凹槽;所述第一凸板的形状为长方体凸台,所述第一凹槽的形状为长方体凹槽,所述第一凹槽自与第一定位块对应的基座一侧设置到基座的另一侧,所述第一凹槽贯穿所述基座相对设置的两个平面,所述第一凹槽对所述基座的贯穿方向与所述第一凹槽长边延伸的方向一致,所述第一凸板的长边大于所述第一凹槽的长边;所述第一定位块包括第一通孔,所述第二定位块包括第二通孔,所述基座包括第二凹槽和固定件,所述固定件与所述第一通孔、所述第二通孔和所述第二凹槽连接,所述固定件通过所述第一通孔将所述第一定位块固定在所述基座上,所述固定件通过所述第二通孔将所述第二定位块固定在所述基座上;所述第一通孔和所述第二通孔的数量为两个,所述第二凹槽的数量为四个,且分别与所述第一通孔和第二通孔对应设置在所述基座上。
10.一种磁石磁场测量系统,其特征在于,包括如权利要求1至9任意一项的所述磁石磁场测量装置。
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Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN201921313237.XU CN211206761U (zh) | 2019-08-13 | 2019-08-13 | 一种磁石磁场测量装置和磁石磁场测量系统 |
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CN201921313237.XU Active CN211206761U (zh) | 2019-08-13 | 2019-08-13 | 一种磁石磁场测量装置和磁石磁场测量系统 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
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GR01 | Patent grant | ||
GR01 | Patent grant | ||
CP01 | Change in the name or title of a patent holder |
Address after: 518000 605, building 1, chaguang Industrial Park (bailiyuan e-commerce technology park), Shahe West Road, Nanshan District, Shenzhen, Guangdong Patentee after: Juncai (Shenzhen) Magnetic Application Technology Co.,Ltd. Address before: 518000 605, building 1, chaguang Industrial Park (bailiyuan e-commerce technology park), Shahe West Road, Nanshan District, Shenzhen, Guangdong Patentee before: AIC ENGINEERING LTD. |
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