CN211120958U - 一种双壁透照射线检验定位射线源的测量装置 - Google Patents

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周佳
刘桂刚
郑德旭
王金友
李华
肖冰山
阮彬标
贺钰林
王梦磊
姚凯
贺朝靖
戴猛
崔甫超
赵兴保
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Abstract

一种双壁透照射线检验定位射线源的测量装置,包括角度尺,角度尺为0度至90度测量的角度尺,直角处位置为0点,0°方向垂直于被检对象表面,90°方向平行于被检对象表面,在0点位置固定旋转激光笔;通过设计一种易携带、易操作集射线检验焦距以及射线源偏离角度(或射线源偏离距离)精确测量功能的装置,便于射线检验人员或射线检验质量控制人员对射线检验焦距及射线源偏离角度(或射线源偏离距离)进行准确测量定位,提升双壁双影或双壁单影射线检验关键参数:焦距和射线源偏离角度(或射线源偏离距离)的准确性,进而提升射线检验灵敏度以及缺陷检出率。

Description

一种双壁透照射线检验定位射线源的测量装置
技术领域
此发明涉及测量装置领域,具体涉及一种双壁透照射线检验定位射线源的测量装置。
背景技术
技术分析
射线检验作为一种体积无损检测方法,在国内电力行业、制造业应用非常广泛。但射线检验由于其自身的技术特点,其工艺参数焦距、射线透照方向等变化,易影响射线检验的灵敏度及缺陷检出率,具体体现如下:
1、射线检验焦距直接影响几何不清晰度,进而影响射线检验灵敏度:
Figure BDA0002277664550000011
式中:df——射线源焦点尺寸;
F——射线源至胶片的距离(焦距);
b——缺陷至胶片的距离;
2、射线检验透照方向(即射线源偏离角度,或称射线源偏离距离)极小的变化,可能导致某些细小缺陷,尤其是裂纹等危险的面型缺陷漏检。
实际执行情况分析
国内核电厂针对双壁双影或双壁单影射线检验焦距和射线源偏离角度(或射线源偏离距离)等关键参数的测量,基本均是使用钢卷尺进行,其中:焦距是通过钢卷尺测量被检对象表面距离射线源的垂直距离;偏离角度用钢卷尺测量射线源至被检区域中心位置的水平距离(该距离即射线源偏离距离,是通过偏离角度和焦距换算得出)。
由于使用卷尺测量时并没有固定的垂直、水平参照物,且因射线源本身存在一定的尺寸、人为测量本身可能存在的误差等因素,导致最终测量结果存在误差,尤其体现在:
(1)垂直透照时射线源并不能准确的固定在被检对象中心正上方的位置;
(2)偏离透照时通过卷尺测量的射线源的偏离角度(即换算的射线源偏离距离)较计算值存在一定的误差。
实际执行结果分析
核电厂射线检验结果表明,某些细小缺陷相较于相邻一次的检查结果,未被发现(目前发现的此类显示均是记录显示),进行技术分析发现两次检验结果不同的原因主要是由于射线源偏离角度(即射线源偏离距离)的存在细小的差异。
对于危险的平面型显示,射线检验本身的技术特点决定了当放射源在特定角度,即射线束平行于显示扩展方向时才可能发现此类显示,因此射线源角度一旦变化,极易导致危险的平面型显示漏检。
此外,射线检验几何不清晰度限值一般在规范进行了明确的要求,实际执行过程中由于工作效率要求、现场条件限制等客观因素,部分焊缝几何不清晰度选取在规范要求的临界值以下一点(即刚好满足规范要求),如实际焦距与理论计算值如存在误差、稍微小于计算值,极易导致几何不清晰度不满足规范要求。
综上所述,针对双壁双影或双壁单影射线检验技术,通过提升关键参数:焦距和射线源偏离角度(或射线源偏离距离)的准确性,可提升射线检验灵敏度以及缺陷检出率。
发明内容
本发明的目的在于:通过设计一种易携带、易操作集射线检验焦距以及射线源偏离角度(或射线源偏离距离)精确测量功能的装置,便于射线检验人员或射线检验质量控制人员对射线检验焦距及射线源偏离角度(或射线源偏离距离)进行准确测量定位,提升双壁双影或双壁单影射线检验关键参数:焦距和射线源偏离角度(或射线源偏离距离)的准确性,进而提升射线检验灵敏度以及缺陷检出率。
本发明的技术方案如下:一种双壁透照射线检验定位射线源的测量装置,包括角度尺,角度尺为0度至90度测量的角度尺,直角处位置为0点,0°方向垂直于被检对象表面,90°方向平行于被检对象表面,在0点位置固定旋转激光笔;
在角度尺的90°边固定固定刻度尺,同时,在固定刻度尺端部安装可调节激光笔;
在角度尺的0°边固定伸缩尺,同时,在伸缩尺端部安装固定激光笔。
在0点位置固定一个从0-90°旋转的旋转激光笔。
可调节激光笔在固定刻度尺上左右水平移动。
伸缩尺在垂直于被检对象表面的方向上来回伸缩。
可调节激光笔指向竖直方向,固定激光笔指向水平方向;可调节激光笔与固定激光笔及旋转激光笔的共同交点处为放射源7。
一种双壁透照射线检验技术精确定位射线源的测量方法,包括以下步骤:
S1:计算射线检验参数:放射源焦距f1,放射源偏离角度θ或者放射源偏离距离x;
S2:设置伸缩尺长度=f2;
S3:旋转激光笔对应在刻度θ位置,或者移动可调激光笔使之对应在刻度尺=x的位置处;
S4:同时打开固定激光笔、旋转激光笔;
S5:将本装置按照附图放置在被检对象表面,移动放射源,使放射源处于固定激光笔与旋转激光笔交点处。
一种双壁透照射线检验技术精确定位射线源的测量方法,还包括S6:如果是验证放射源位置是否正确,重复S1-S4,核实放射源是否处于固定激光笔与旋转激光笔交点处。
本发明的显著效果在于:
1)功能性强,可同时准确测量线检验焦距、射线源偏离角度、射线源偏离距离,极大的降低工作人员在测量上述参数时的人为不确定因素,且可提高了工作效率;
2)效益高,本装置可提升双壁双影或双壁单影射线检验关键参数:焦距和射线源偏离角度(或射线源偏离距离)的准确性,进而提升射线检验灵敏度以及缺陷检出率;
3)操作简易,本装置只需根据计算数据在具有刻度的标尺上设置对应参数即可,操作简单、边界;
4)易携带,本装置焦距测量尺设计成可伸缩的形式,大大较小的装置尺寸,且射线检验偏离角度均较小、水平刻度尺长度在100mm已基本足够,如用于核电厂的本装置,尺寸设计成200mm*100mm已足够现场使用,携带非常方便。
5)应用广泛,可适用于整个NDE行业绝大部分双壁双影或双壁单影射线检验时放射源的定位,同时适用于质量监督人员对射线检验参数的精确监督;
经济成本低,本装置所需材料常见、组装加工简单。
附图说明
附图1是双壁透照射线检验定位射线源的测量装置示意图
图中:1—角度尺;2—固定激光笔;3—旋转激光笔;
4—可调节激光笔;5—伸缩尺;6—固定刻度尺;7—放射源
8—被检测对象
具体实施方式
一种双壁透照射线检验定位射线源的测量装置,包括角度尺1,角度尺1为0度至90度测量的角度尺,直角处位置为0点,0°方向垂直于被检对象8表面,90°方向平行于被检对象8表面,在0点位置固定一个可以从0-90°旋转的旋转激光笔3;
在角度尺1的90°边固定一根带有刻度的固定刻度尺6,用于准确测量放射源焦距。同时,在固定刻度尺6端部安装可调节激光笔4,可调节激光笔4可在固定刻度尺6上左右水平移动;考虑现场方便携带,可根据实际需求设计多种规格的刻度尺6(如300mm、500mm、800mm、1000mm规格等,核电厂使用较多的焦距一般在800mm以内)
在角度尺1的0°边固定伸缩尺5,同时,在伸缩尺5端部安装固定激光笔2,伸缩尺5可在垂直于被检对象8表面的方向上来回伸缩
可调节激光笔4指向竖直方向,固定激光笔2指向水平方向,可调节激光笔4与固定激光笔2及旋转激光笔3的共同交点处为放射源7;
本装置工作过程为:
S1:计算射线检验参数:放射源7焦距f1,放射源偏离角度θ或者放射源偏离距离x;
S2:设置伸缩尺5长度=f2;
S3:旋转激光笔3对应在刻度θ位置,或者移动可调激光笔4使之对应在刻度尺=x的位置处;
S4:同时打开固定激光笔2、旋转激光笔3(或可调激光笔4);
S5:将本装置按照附图放置在被检对象表面,移动放射源,使放射源处于固定激光笔2与旋转激光笔3(或可调激光笔4)交点处。
S6:如果是验证放射源位置是否正确,重复(1)-(4)步,核实放射源是否处于固定激光笔2与旋转激光笔3(或可调激光笔4)交点处。

Claims (5)

1.一种双壁透照射线检验定位射线源的测量装置,其特征在于:包括角度尺(1),角度尺(1)为0度至90度测量的角度尺,直角处位置为0点,0°方向垂直于被检对象(8)表面,90°方向平行于被检对象(8)表面,在0点位置固定旋转激光笔(3);
在角度尺(1)的90°边固定固定刻度尺(6),同时,在固定刻度尺(6)端部安装可调节激光笔(4);
在角度尺(1)的0°边固定伸缩尺(5),同时,在伸缩尺(5)端部安装固定激光笔(2)。
2.根据权利要求1所述的一种双壁透照射线检验定位射线源的测量装置,其特征在于:在0点位置固定一个从0-90°旋转的旋转激光笔(3)。
3.根据权利要求1所述的一种双壁透照射线检验定位射线源的测量装置,其特征在于:可调节激光笔(4)在固定刻度尺(6)上左右水平移动。
4.根据权利要求1所述的一种双壁透照射线检验定位射线源的测量装置,其特征在于:伸缩尺(5)在垂直于被检对象(8)表面的方向上来回伸缩。
5.根据权利要求1所述的一种双壁透照射线检验定位射线源的测量装置,其特征在于:可调节激光笔(4)指向竖直方向,固定激光笔(2)指向水平方向;可调节激光笔(4)与固定激光笔(2)及旋转激光笔(3)的共同交点处为放射源(7)。
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