CN211086572U - 测试连接器的校准器 - Google Patents

Abstract

本实用新型涉及一种测试连接器的校准器，包括中空且顶部敞开的壳体、挡块、对接块和固定在对接块上的校准端头，所述挡块挡住壳体上敞开的顶部开口，所述壳体上开设有第一卡口，所述对接块上设置有第一凹陷部，所述第一凹陷部与第一卡口卡接。当校准端头发生老化时操作者可便捷地对测试端进行更换而无需更换整个校准器，本实用新型具有可减少材料浪费的效果。

Description

测试连接器的校准器

技术领域

本实用新型涉及测试连接器的技术领域，尤其是涉及一种测试连接器的校准器。

背景技术

目前在电路模块生产加工完毕之后需对电路模块进行性能测试，以确定电路模块是否为合格产品，对电路模块的性能测试常运用到测试连接器。

现有的测试连接器在长时间使用后需要进行校准，以对测试连接器的初始电信号进行归零，保证测试连接器在长时间使用过程中依然可以保持较高的测试准确度，提高对电路模块测试结果的准确度；现有的测试连接器在进行归零校准时常需使用校准器，校准器上设置有与测试连接器上的测试端头对准的校准端头，操作者启动与测试连接器连接的驱动装置，驱动装置驱动测试连接器做直线移动从而测试连接器上的测试端头与校准端头抵接，从而实现对测试连接器的归零校准。

上述中的现有技术方案存在以下缺陷：现有的校准器常通过螺钉或卡箍等固定件固定在一个基座上，现有的校准端头常固定在校准器的外壳上，当校准器的校准端头在长时间使用后发生老化后，操作者需要对整个校准器进行更换，而当校准器上除校准端头以外其他部件均是完好的时候，对校准器进行整个更换将造成材料的浪费。

实用新型内容

本实用新型的目的是提供一种测试连接器的校准器，当校准端头发生老化时操作者可便捷地对测试端进行更换而无需更换整个校准器，具有可减少材料浪费的优点。

本实用新型的上述实用新型目的是通过以下技术方案得以实现的：

一种测试连接器的校准器，包括中空且顶部敞开的壳体、挡块、对接块和固定在对接块上的校准端头，所述挡块挡住壳体上敞开的顶部开口，所述壳体上开设有第一卡口，所述对接块上设置有第一凹陷部，所述第一凹陷部与第一卡口卡接。

通过采用上述技术方案，当校准端头出现老化、损坏时，操作者只需掀起挡块即可将对接块从壳体上移出，进而解除校准端头与壳体的安装，操作者再将新的设置有校准端头的对接块安装在壳体上即可恢复校准器的正常校准功能，操作者不需对整个校准器进行更换，节约材料，节约成本；

壳体的设置为与校准端头连接的电线提供了容纳空间，且操作者在安装对接块时只需将第一凹陷部对准第一卡口并移动对接块，从而使第一凹陷部卡入第一卡口，随后操作者再重新将挡块挡住壳体的顶部开口即可，操作方便。

本实用新型进一步设置为：所述对接块上开设有对接槽，所述校准端头固定在对接槽槽壁上，所述对接槽内壁上开设有导向面，所述导向面开设在对接槽槽口边沿处。

通过采用上述技术方案，由于工艺的限制，安装好的校准器和测试连接器在实际安装过程中易出现安装位置或者角度的轻微偏差，在驱动装置驱动测试连接器作直线运动以靠近校准器时，测试连接器上的测试端头基本对准校准端头，若测试端头为完全对准校准端头，测试端头抵接在斜面上，在斜面的引导下测试端头会最终会抵接在校准端头上，保证校准器对测试连接器的归零校准的正常进行。

本实用新型进一步设置为：所述壳体内壁上开设有供挡块嵌入的卡槽，所述挡块与卡槽过盈配合。

通过采用上述技术方案，挡块与卡槽的过盈配合使挡块紧固固定在壳体上，防止操作者在操作校准器时误碰挡块而时挡块掀起，防止挡块的掀起导致灰尘落入壳体内而减少校准器的寿命，且操作者手动即可实现对挡块的固定和掀起，方便了操作者对对接块对的更换。

本实用新型进一步设置为：所述挡块部分嵌入第一卡口，所述挡块与对接块抵接，所述挡块与壳体顶部开口和第一卡口过盈配合。

通过采用上述技术方案，挡块在嵌入卡槽的同时嵌入第一卡口，防止部分灰尘从第一卡口漏入壳体内而降低了校准器的寿命，且与卡槽和第一卡口过盈配合的卡块限制了对接块的上移，防止在对测试连接器进行校准的过程中对接块发生移动而影响测试连接器上的测试端头与校准端头的对准，同时挡块从第一卡口露出，方便了操作者在需要更换对接块时对挡块的掀起。

本实用新型进一步设置为：所述壳体上开设有第二卡口，所述第二卡口上过盈配合有连接块，所述连接块一端凸出壳体外壁，所述连接块凸出壳体外壁的一端上固定有信号接头，所述信号接头与校准端头电性连接。

通过采用上述技术方案，信号接头通过连接块固定在壳体上，操作者将连接块插入第二卡口即可完成信号接头的固定，操作方便，且当信号接头出现老化或损坏情况时，操作者可将挡块掀起以对出现老化或损坏的信号接头进行更换，操作者不需对整个校准器进行更换即可保证对校准器的正常使用，节约材料，节约成本。

本实用新型进一步设置为：所述壳体内固定有支撑块，所述支撑块顶面与卡槽底壁相平，所述支撑块设置在壳体上各角处。

通过采用上述技术方案，支撑块加强对挡块的支撑作用，防止操作者在安装挡块是用力过大而损坏挡块或对接块，同时支撑块可加强对壳体各角处的支撑，防止壳体各角处收到水平方向上的压力而损坏，增加校准器使用寿命。

本实用新型进一步设置为：所述卡槽开设深度与挡块高度相等，所述挡块底面与卡槽底壁抵接。

通过采用上述技术方案，当挡块完全嵌入卡槽后，挡块顶面与壳体顶面相平，防止卡槽开设较深时挡块底面低于壳体顶面时操作者难以将挡块从卡槽中取出。

本实用新型进一步设置为：所述连接块凸出壳体外壁的部分上固定有抵接块，所述抵接块规格大于第二卡口规格。

通过采用上述技术方案，操作者在安装连接块和信号街头时只需将连接块插入第二卡口并使抵接块抵住壳体即可，防止操作者用力过大而导致连接块进入壳体的体积太多而损坏壳体内的电线，操作方便。

本实用新型进一步设置为：所述壳体侧部固定有第一凸块。

通过采用上述技术方案，第一凸块的设置方便操作者手动拿起壳体，方便操作者对壳体的安装。

本实用新型进一步设置为：所述壳体上侧部固定有与第二凸块，所述第二凸块与第一凸块在水平方向上存在间隔。

通过采用上述技术方案，操作者可通过卡箍将壳体安装在一基座上，操作者可将卡箍穿过第二凸块与第一凸块之间的间隔并将卡箍固定在基座上，第一凸块、第二凸块限制住了卡箍与壳体之间的相对位移，防止该校准器在对测试连接器进行归零校准时收到测试连接器的推动而发生位移，保证对测试连接器的正常校准，方便了校准器的固定安装。

综上所述，本实用新型的有益技术效果为：

当校准端头出现老化、损坏时，操作者只需掀起挡块即可将对接块从壳体上移出，进而解除校准端头与壳体的安装，操作者再将新的设置有校准端头的对接块安装在壳体上即可恢复校准器的正常校准功能，操作者不需对整个校准器进行更换，节约材料，节约成本；

操作者在安装对接块时只需将第一凹陷部对准第一卡口并移动对接块，从而使第一凹陷部卡入第一卡口，随后操作者再重新将挡块挡住壳体的顶部开口即可，操作方便；

当信号接头出现老化或损坏情况时，操作者可将挡块掀起以对出现老化或损坏的信号接头进行更换，操作者不需对整个校准器进行更换即可保证对校准器的正常使用，节约材料，节约成本。

附图说明

图1是本实施例的结构示意图；

图2是本实施例中壳体的结构示意图；

图3是本实施例的爆炸示意图。

图中，1、壳体；2、挡块；3、对接块；4、校准端头；5、第一开口；6、卡槽；7、支撑块；8、第一卡口；9、第一凹陷部；10、对接槽；11、第一通槽；12、导向面；13、第二卡口；14、连接块；15、信号接头；16、第二通槽；17、抵接块；18、第一凸块；19、第二凸块。

具体实施方式

以下结合附图对本实用新型作进一步详细说明。

参照图1和图2，为本实用新型公开的一种测试连接器的校准器，包括壳体1、挡块2、对接块3和校准端头4，壳体1中空且壳体1顶部设有第一开口5，第一开口5侧壁顶部开设有供挡块2嵌入的卡槽6，挡块2与卡槽6过盈配合，挡块2高度与卡槽6深度一致，壳体1内固定有支撑块7，支撑块7顶面与卡槽6底壁相平，支撑块7设置在壳体1上各角处；

参照图1和图3，壳体1一面上开设有第一卡口8，第一卡口8穿透壳体1一侧壁顶部，对接块3上设置有第一凹陷部9，第一凹陷部9与第一卡口8卡接，对接块3一端凸出壳体1外壁，对接块3凸出壳体1外壁的一面上开设有不少于两个对接槽10，校准端头4固定在对接槽10上与对接槽10开口相对的槽壁上，对接块3上与开设有对接槽10的一面相对的一面上开设有供与校准端头4连接的电线穿过的第一通槽11；

参照图1和图3，本实施例中对接槽10、校准端头4分别设置有四个，对接槽10内壁上还开设有导向面12，导向面12为斜面，导向面12开设在对接槽10槽口边沿处。

参照图1和图2，挡块2部分嵌入第一卡口8，当第二凹陷部底面与第一卡口8底壁抵接时对接块3顶面与卡槽6底壁相平，此时挡块2底面与对接块3抵接，挡块2与第一卡口8过盈配合。

参照图2和图3，壳体1底壁上开设有第二卡口13，第二卡口13为圆形口，第二卡口13上过盈配合有连接块14，连接块14一端凸出壳体1外壁，连接块14凸出壳体1外壁的一端上固定有信号接头15，信号接头15通过电线与校准端头4电性连接，连接块14上开设有供电线穿过的第二通槽16，连接块14凸出壳体1外壁的部分上固定有抵接块17，抵接块17为环状块且套设固定在连接块14外壁上，抵接块17规格大于第二卡口13规格；本实施例中第二卡口13、连接块14、抵接块17和信号接头15均设置有四个。

壳体1上未开设有第一卡口8且相对的两侧壁上均固定有第一凸块18和第二凸块19，第二凸块19一面与壳体1上开设有第一卡口8的一面相平，第一凸块18固定在壳体1侧壁中部位置，第一凸块18与第二凸块19水平间隔设置。

本实施例的实施原理为：当校准端头4出现老化、损坏时，操作者先手动掀开挡块2，挡块2从卡槽6中取出，第一开口5露出，操作者再向上移动对接块3，并解除电线与信号接头15的连接，操作者将对接块3和与校准端头4连接的电线移出壳体1中，随后操作者移动新的对接块3使该对接块3上的第一凹陷部9对准第一卡口8并移动对接块3，第一凹陷部9卡入第一卡口8，完成了对接块3的更换，随后操作者再将与校准端头4连接的电线穿过第二通槽16、连接在信号接头15上，操作者再将挡块2重新卡入卡槽6中，实现了对接块3和校准端头4的更换。

当信号接头15出现老化或损坏情况时，操作者先手动掀开挡块2，挡块2从卡槽6中取出，第一开口5露出，操作者拔出与需要更换的信号接头15固定的连接块14，使该连接块14从第二卡口13拔出，随后操作者将需要更换的信号接头15上的电线取下并从连接块14的第二通槽16中将该电线拔出，操作者再选取一个新的与连接块14固定的信号接头15，操作者将从前一个信号接头15上取下的电线连接到新的信号接头15上，随后操作者将与该信号接头15连接的连接块14对准空置的第二卡口13并推动连接块14，使与新的信号接头15固定的连接块14卡入第二卡口13中，抵接块17与壳体1抵接，随后操作者将挡块2重现卡入卡槽6内，实现了对信号接头15的更换。

本具体实施方式的实施例均为本实用新型的较佳实施例，并非依此限制本实用新型的保护范围，故：凡依本实用新型的结构、形状、原理所做的等效变化，均应涵盖于本实用新型的保护范围之内。

Claims (10)

1.一种测试连接器的校准器，其特征在于：包括中空且顶部敞开的壳体(1)、挡块(2)、对接块(3)和固定在对接块(3)上的校准端头(4)，所述挡块(2)挡住壳体(1)上敞开的顶部开口，所述壳体(1)上开设有第一卡口(8)，所述对接块(3)上设置有第一凹陷部(9)，所述第一凹陷部(9)与第一卡口(8)卡接。

2.根据权利要求1所述的测试连接器的校准器，其特征在于：所述对接块(3)上开设有对接槽(10)，所述校准端头(4)固定在对接槽(10)槽壁上，所述对接槽(10)内壁上开设有导向面(12)，所述导向面(12)开设在对接槽(10)槽口边沿处。

3.根据权利要求1所述的测试连接器的校准器，其特征在于：所述壳体(1)内壁上开设有供挡块(2)嵌入的卡槽(6)，所述挡块(2)与卡槽(6)过盈配合。

4.根据权利要求1所述的测试连接器的校准器，其特征在于：所述挡块(2)部分嵌入第一卡口(8)，所述挡块(2)与对接块(3)抵接，所述挡块(2)与壳体(1)顶部开口和第一卡口(8)过盈配合。

5.根据权利要求1所述的测试连接器的校准器，其特征在于：所述壳体(1)上开设有第二卡口(13)，所述第二卡口(13)上过盈配合有连接块(14)，所述连接块(14)一端凸出壳体(1)外壁，所述连接块(14)凸出壳体(1)外壁的一端上固定有信号接头(15)，所述信号接头(15)与校准端头(4)电性连接。

6.根据权利要求3所述的测试连接器的校准器，其特征在于：所述壳体(1)内固定有支撑块(7)，所述支撑块(7)顶面与卡槽(6)底壁相平，所述支撑块(7)设置在壳体(1)上各角处。

7.根据权利要求3所述的测试连接器的校准器，其特征在于：所述卡槽(6)开设深度与挡块(2)高度相等，所述挡块(2)底面与卡槽(6)底壁抵接。

8.根据权利要求5所述的测试连接器的校准器，其特征在于：所述连接块(14)凸出壳体(1)外壁的部分上固定有抵接块(17)，所述抵接块(17)规格大于第二卡口(13)规格。

9.根据权利要求1-8任一项所述的测试连接器的校准器，其特征在于：所述壳体(1)侧部固定有第一凸块(18)。

10.根据权利要求9所述的测试连接器的校准器，其特征在于：所述壳体(1)上侧部固定有与第二凸块(19)，所述第二凸块(19)与第一凸块(18)在水平方向上存在间隔。

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