CN211061625U - 一种光电子器件测试liv夹具 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种光电子器件测试LIV夹具，包括支撑底座、准直器固定滑块和PCB测试板，所述支撑底座上对应设有凹槽I和凹槽II，PCB测试板固定设置在凹槽I内，准直器固定滑块活动设置在凹槽II内；所述PCB测试板和准直器固定滑块之间活动设有光电器件，且光电器件的PIN针与PCB测试板的排针座可拆卸连接，光电器件的出光口与准直器固定滑块上的光纤陶瓷插芯相配合。本实用新型可快速实现光电器件加电和LIV测试，具有操作方便、成本低、易于实施的特点，适宜于大规模生产，适合推广实施。

Description

一种光电子器件测试LIV夹具

技术领域

本实用新型属于光电子器件技术领域，具体涉及一种光电子器件测试LIV夹具。

背景技术

在光通讯领域中，光电器件的核心工艺完成之后需要进行性能的测试，以确保器件性能是否达到要求。光电器件LIV（光功率-电流-电压）测试主要指对发光电器件和光探测器进行测试，为了保证光电器件与测试设备连接稳定，以及光电器件与跳线光输出稳定，因此需要对光电器件进行固定。

实用新型内容

针对LIV测试中因光电器件未固定而导致的测试稳定性差的问题，本实用新型提出了一种光电子器件LIV测试夹具，通过对光电器件进行固定保证了LIV测试的高效性。

为解决以上技术问题，本实用新型所采用的技术方案如下：

一种光电子器件LIV测试夹具，包括支撑底座、准直器固定滑块和PCB测试板，所述支撑底座上对应设有凹槽I和凹槽II，PCB测试板固定设置在凹槽I内，准直器固定滑块活动设置在凹槽II内，且准直器固定滑块可以沿平行于PCB测试板排针座的方向滑动；所述PCB测试板和准直器固定滑块之间活动设有光电器件；所述PCB测试板的排针座与光电器件的PIN针可拆卸连接，且准直器固定滑块上的光纤陶瓷插芯与光电器件的出光口相配合，以便于光纤陶瓷插芯从光电器件接收光信号。

所述准直器固定滑块还包括准直器固定座、准直器压块和凸块，所述准直器固定座通过滑动组件与支撑底座滑动连接，通过调节准直器固定座可以调节光纤陶瓷插芯的位置，准直器压块与凸台对应固定设置在准直器固定座的一侧；所述光纤陶瓷插芯设置在凸台与准直器压块之间，且光纤陶瓷插芯的两侧分别与准直器压块和凸台固定连接，准直器压块和凸台用于对光纤陶瓷插芯进行固定。

所述滑动组件包括定位钢片和紧固件，所述定位钢片的中部设有滑槽II，且定位钢片的两侧与支撑底座固定连接；所述准直器固定座设置在定位钢片的下方，且滑槽II与准直器固定座上的滑槽I相对应；所述滑槽I与光电器件的出光口平行设置，且滑槽I通过紧固件与滑槽II滑动连接。当需要移动准直器固定滑块时，松开紧固件，即可以沿滑槽II整体移动准直器固定滑块，待光纤陶瓷插芯接收到光信号时，拧紧紧固件即可固定准直器固定座进而固定光纤陶瓷插芯。

所述光电器件的两侧对称设有器件挡块和推动组件，所述器件挡块与支撑底座固定连接；所述推动组件活动设置在支撑底座的滑动槽内，且推块组件可以沿滑动槽水平滑动；所述滑动槽与光电器件的出光口平行设置；器件挡块和推动组件均与光电器件的底座相配合，以便于对光电器件进行固定。

所述推动组件包括器件推块和器件推杆，所述器件推杆的一侧设有螺纹，且器件推杆通过支撑底座一侧的推杆螺纹孔与器件推块的一侧活动连接，转动器件推杆同步带动器件推块在滑动槽内直线运动；所述器件推块活动设置在滑动槽内，且器件推块的另一侧与光电器件的底座相配合。

为了便于更好地固定光电器件的底座，所述器件挡块的下部设有挡块斜面，器件推块的下部设有推块斜面，且光电器件的底座的一侧设置在挡块斜面与支撑底座之间，光电器件的底座的另一侧设置在推块斜面与支撑底座之间。

为了防止转移支撑底座时，器件推块从滑动槽中滑落，所述滑动槽的下部设有推块压板，所述推块压板与滑动槽相对应，且推块压板与支撑底座可拆卸连接。

为了确保准直器固定滑块的平稳滑动，所述准直器固定滑块与支撑底座之间设有器件支撑板，器件支撑板设置在凹槽II的上部，且器件支撑板一侧固定设有连接块；所述连接块设置在器件推块的下部，且器件支撑板通过连接块与支撑底座固定连接；所述器件支撑板上还设有通孔，所述通孔与滑槽II和滑槽I相对应；所述紧固件活动设置在通孔、滑槽II和滑槽I中。

所述器件挡块、器件推块、光电器件的管壳均由4J29合金制成。

为了对光电器件进行散热，所述支撑底座是由AL6061制成的底座，且支撑底座的底部为栅格结构。

本实用新型的有益效果：

本实用新型设计简单，旋转器件推杆可快速对光电器件进行定位，将PCB测试板和光电器件连接实现光电器件加电，具有操作方便、易于实施的特点；通过手动移动准直器固定滑块调节光纤陶瓷插芯相对应光电器件的位置，即能快速定位稳定的光信号接收位置并进行LIV测试，提高了测试效率、降低了生产成本，有利于制造产业中的规模生产，提升经济效益明显，极适合推广使用。

附图说明

为了更清楚地说明本实用新型实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本实用新型的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本实用新型的爆炸图。

图2为本实用新型的结构组装示意图。

图3为支撑底座、推块压板、器件支撑板、器件推块、器件推杆的结构示意图。

图4为准直器固定滑块的爆炸图。

图中，1为支撑底座，1-1为凹槽I，1-2为凹槽II，1-3为滑动槽，12为器件支撑板，13为定位钢片，14为器件挡块，15器件推杆，16为器件推块，17为推块压板，18为紧固件，19为滑槽II，2为准直器固定滑块，21为准直器固定座，22为准直器压块，23为光纤陶瓷插芯，24为凸台，25为滑槽I，3为光电器件，4为PCB测试板。

具体实施方式

下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有付出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

一种光电子器件LIV测试夹具，如图3所示，包括支撑底座1、准直器固定滑块2和PCB测试板4，所述支撑底座1的上部对应设有凹槽I1-1和凹槽II1-2，PCB测试板4通过螺丝固定设置在凹槽I1-1内，为了避开PCB测试板4背面的电子元器件，PCB测试板4的下部与凹槽I1-1的底面留有缝隙I；所述准直器固定滑块2设置在凹槽II1-2内，准直器固定滑块2与支撑底座1滑动连接，以便于调节准直器固定滑块2的位置，进而调节准直器固定滑块2的光纤陶瓷插芯23；所述PCB测试板4和准直器固定滑块2之间活动设有光电器件3，且光电器件3固定设置在凹槽II1-2中；所述PCB测试板4的排针座与光电器件3的PIN针可拆卸连接，以便于通过PCB测试板4为光电器件3提供电信号，且准直器固定滑块2上的光纤陶瓷插芯23与光电器件3的出光口相配合，以便于光纤陶瓷插芯23接收光信号。

如图4所示，所述准直器固定滑块2还包括准直器固定座21、准直器压块22和凸台24，所述准直器固定座21设置在凹槽II1-2内，且准直器固定座21通过滑动组件与支撑底座1滑动连接，通过调节准直器固定座21进而调节光纤陶瓷插芯23相对于光电器件3的位置，以借助滑动寻找最佳的光信号接收位置；准直器压块22和凸台24对应固定设置在准直器固定座21的一侧，且凸台24与准直器压块22之间留有缝隙II，光纤陶瓷插芯23放置在缝隙II内，将2个螺钉分别旋入准直器压块22与凸台24中，可以将光纤陶瓷插芯23进行固定，以保证光纤陶瓷插芯23的位置稳定。

如图2所示，所述滑动组件包括定位钢片13和紧固件18，所述定位钢片13的中部设有滑槽II19，且定位钢片13位于凹槽II1-2的上部，定位钢片13通过螺丝与支撑底座1固定连接；所述准直器固定座21设置在定位钢片13的下方，且滑槽II19与准直器固定座21上的滑槽I25相对应；所述滑槽I25与光电器件3的出光口平行设置，且滑槽I25通过紧固件18与滑槽II19滑动连接。本实施例中，紧固件18的数量为两个，且紧固件18为螺栓，将两个螺栓依次插入滑槽I25和滑槽II19后再将螺母固定在两个螺栓上即可，当需要移动准直器固定滑块2时，松开螺母，即可以沿滑槽II19整体移动准直器固定滑块2，待光纤陶瓷插芯23接收到光信号时，拧紧螺母即可固定准直器固定座21进而固定光纤陶瓷插芯23。

所述光电器件3的两侧对称设有器件挡块14和推动组件，所述器件挡块14与支撑底座1固定连接；所述推动组件活动设置在支撑底座1的滑动槽1-3内，且推块组件可以沿滑动槽1-3水平滑动；所述滑动槽1-3与光电器件3的出光口平行设置；器件挡块14和推动组件均与光电器件3的底座相配合，以便于夹紧光电器件3。

所述推动组件包括器件推块16和器件推杆15，所述器件推杆15的一侧设有螺纹，且器件推杆15通过支撑底座1一侧的推杆螺纹孔与器件推块16的一侧活动连接，转动器件推杆15同步带动器件推块16在滑动槽1-3内直线滑动；所述器件推块16活动设置在滑动槽1-3内，且器件推块16的另一侧与光电器件3的底座相配合，以便于对光电器件3进行固定。

所述器件挡块14的下部设有挡块斜面，器件推块16的下部设有推块斜面，且光电器件3的底座的一侧设置在挡块斜面与支撑底座1之间，光电器件3的底座的另一侧设置在推块斜面与支撑底座1之间，当放置光电器件3时，首先将光电器件3的底座的一侧卡入挡块斜面的下方，之后再通过推动器件推杆3使推块斜面卡住底座的另一侧，这样即可对光电器件3进行固定。

为了防止转移支撑底座1时器件推块16从滑动槽1-3中滑落，同时确保器件推块16在滑动槽1-3内平稳滑动，所述滑动槽1-3的下部设有推块压板17，所述推块压板17与滑动槽1-3相对应，且推块压板17通过螺丝与支撑底座1可拆卸连接。

为了确保准直器固定滑块2的平稳滑动，所述准直器固定滑块2与支撑底座1之间设有器件支撑板12，所述器件支撑板12部分覆盖凹槽II1-2，以避免器件支撑板12与光电器件3相干涉；器件支撑板12一侧固定设有连接块，连接块设置在器件挡块14的下部，且器件支撑板12通过连接块和螺栓与支撑底座1固定连接；器件支撑板12上设有通孔，所述通孔分别与滑槽II19和滑槽I25相对应；所述紧固件18活动设置在通孔、滑槽II19和滑槽I25中。当连接器件支撑板12、准直器固定滑块2和定位钢片13时，首先将两个螺栓依次插入通孔、滑槽II19和滑槽I25中，再将螺栓固定在器件支撑板12上，通过调节螺栓松紧即可移动滑动准直器固定滑块2在器件支撑板12滑动。

所述器件支撑板12、器件挡块14、器件推块16、光电器件3的管壳均由4J29合金制成，以防止进行高温测试时，器件的参数出现不稳定的状况。所述支撑底座1是由AL6061制成的底座，且支撑底座1的底部为栅格结构，以便于光电器件3进行底部散热。

本实施例中，准直器压块22和凸台24设置在准直器固定座21靠近光电器件3的一侧；PCB测试板4为设计并调试好的电路板。

本实用新型的使用方法如下：

如图1所示，首先将PCB测试板4固定在支撑底座1上，再连接器件支撑板12、准直器固定滑块2与定位钢片13，将器件支撑板12和定位钢片13固定在支撑底座1上，然后连接器件挡块14与支撑底座1，通过器件推杆15调节器件推块16以固定光电器件，并使光电器件的PIN针正好与PCB测试板上的排针座对接，将排针座的压盖压紧，保证PIN针与排针座配合紧密，无松动。将光纤陶瓷插芯23固定到准直器固定滑块2上后，通过调节定位钢片13上的两个螺栓使光纤陶瓷插芯23与光电器件3的出光口对齐，拧紧螺母后开始测试光电器件3的LIV曲线即可。

以上所述仅为本实用新型的较佳实施例而已，并不用以限制本实用新型，凡在本实用新型的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本实用新型的保护范围之内。

Claims (10)

1.一种光电子器件测试LIV夹具，其特征在于，包括支撑底座（1）、准直器固定滑块（2）和PCB测试板（4），所述支撑底座（1）上对应设有凹槽I（1-1）和凹槽II（1-2），PCB测试板（4）固定设置在凹槽I（1-1）内，准直器固定滑块（2）活动设置在凹槽II（1-2）内；所述PCB测试板（4）和准直器固定滑块（2）之间活动设有光电器件（3）；所述PCB测试板（4）的排针座与光电器件（3）的PIN针可拆卸连接，且准直器固定滑块（2）上的光纤陶瓷插芯（23）与光电器件（3）的出光口相配合。

2.根据权利要求1所述的光电子器件测试LIV夹具，其特征在于，所述准直器固定滑块（2）包括准直器固定座（21）、准直器压块（22）和凸台（24），所述准直器固定座（21）通过滑动组件与支撑底座（1）滑动连接，准直器压块（22）与凸台（24）对应固定设置在准直器固定座（21）的一侧；所述光纤陶瓷插芯（23）设置在凸台（24）与准直器压块（22）之间，且光纤陶瓷插芯（23）的两侧分别与准直器压块（22）和凸台（24）固定连接。

3.根据权利要求2所述的光电子器件测试LIV夹具，其特征在于，所述滑动组件包括定位钢片（13）和紧固件（18），所述定位钢片（13）的中部设有滑槽II（19），且定位钢片（13）的两侧与支撑底座（1）固定连接；所述准直器固定座（21）设置在定位钢片（13）的下方，且滑槽II（19）与准直器固定座（21）上的滑槽I（25）相对应；所述滑槽I（25）与光电器件（3）的出光口平行设置，且滑槽I（25）通过紧固件（18）与滑槽II（19）滑动连接。

4.根据权利要求2或3所述的光电子器件测试LIV夹具，其特征在于，所述光电器件（3）的两侧对称设有器件挡块（14）和推动组件，所述器件挡块（14）与支撑底座（1）固定连接，且器件挡块（14）与光电器件（3）的底座相配合；所述推动组件活动设置在支撑底座（1）的滑动槽（1-3）内，且推动组件与光电器件（3）的底座相配合；所述滑动槽（1-3）设置在凹槽I（1-1）和凹槽II（1-2）之间，且滑动槽（1-3）与光电器件（3）的出光口平行设置。

5.根据权利要求4所述的光电子器件测试LIV夹具，其特征在于，所述推动组件包括器件推块（16）和器件推杆（15），所述器件推杆（15）的一侧设有螺纹，且器件推杆（15）通过支撑底座（1）一侧的推杆螺纹孔与器件推块（16）的一侧活动连接；所述器件推块（16）活动设置在滑动槽（1-3）内，且器件推块（16）的另一侧与光电器件（3）的底座相配合。

6.根据权利要求5所述的光电子器件测试LIV夹具，其特征在于，所述器件挡块（14）的下部设有挡块斜面，器件推块（16）的下部设有推块斜面，且光电器件（3）的底座的一侧设置在挡块斜面与支撑底座（1）之间，光电器件（3）的底座的另一侧设置在推块斜面与支撑底座（1）之间。

7.根据权利要求5或6所述的光电子器件测试LIV夹具，其特征在于，所述滑动槽（1-3）的下部设有推块压板（17），所述推块压板（17）与滑动槽（1-3）相对应，且推块压板（17）与支撑底座（1）可拆卸连接。

8.根据权利要求7所述的光电子器件测试LIV夹具，其特征在于，所述准直器固定滑块（2）与支撑底座（1）之间设有器件支撑板（12），器件支撑板（12）设置在凹槽II（1-2）的上部，且器件支撑板（12）一侧固定设有连接块；所述连接块设置在器件推块（16）的下部，且器件支撑板（12）通过连接块与支撑底座（1）固定连接；所述器件支撑板（12）上还设有通孔，所述通孔分别与滑槽II（19）和滑槽I（25）相对应；所述滑动组件的紧固件（18）活动设置在通孔、滑槽II（19）和滑槽I（25）中。

9.根据权利要求8所述的光电子器件测试LIV夹具，其特征在于，所述器件挡块（14）、器件推块（16）、光电器件（3）的管壳均由4J29合金制成。

10.根据权利要求1或8或9所述的光电子器件测试LIV夹具，其特征在于，所述支撑底座（1）是由AL6061制成的底座，且支撑底座（1）的底部为栅格结构。

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