CN211060943U - 断路器用测试结构 - Google Patents

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CN211060943U CN201922288086.3U CN201922288086U CN211060943U CN 211060943 U CN211060943 U CN 211060943U CN 201922288086 U CN201922288086 U CN 201922288086U CN 211060943 U CN211060943 U CN 211060943U
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杨卫华
朱宣吉
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Yangzhou New Era Electrical Equipment Co ltd
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Abstract

断路器用测试结构。涉及断路器,尤其涉及断路器中脱扣半轴用测试结构。提供了一种结构简单,方便操作,提高工作可靠性的断路器用测试结构。包括基座和测试块,所述测试块呈长方体,所述测试块的中心设有用于放置脱扣半轴的容置孔,所述测试块的底面位于容置孔的两侧分别设有圆弧形滑孔,所述基座的顶面设有一对滑杆,所述滑杆一一对应设在滑孔内,所述测试块上设有孔组一,所述脱扣半轴上设有孔组二,所述孔组一和孔组二相对应。所述容置孔的长度等于脱扣半轴的长度。所述基座上设有容置槽,所述滑杆可拆卸连接在容置槽内。本实用新型方便加工,操作可靠。

Description

断路器用测试结构
技术领域
本实用新型涉及断路器,尤其涉及断路器中脱扣半轴用测试结构。
背景技术
断路器是指能够关合、承载和开断正常回路条件下的电流并能关合、在规定的时间内承载和开断异常回路条件下的电流的开关装置。断路器可用来分配电能,不频繁地启动异步电动机,对电源线路及电动机等实行保护,当它们发生严重的过载或者短路及欠压等故障时能自动切断电路,其功能相当于熔断器式开关与过欠热继电器等的组合。
断路器中的脱扣半轴在生产加工中,需要对其进行测试,由于脱扣半轴的结构复杂,将其放置在容置槽内进行透光测试,不易旋转,降低了工作可靠性。
实用新型内容
本实用新型针对以上问题,提供了一种结构简单,方便操作,提高工作可靠性的断路器用测试结构。
本实用新型的技术方案为:包括基座和测试块,所述测试块呈长方体,所述测试块的中心设有用于放置脱扣半轴的容置孔,
所述测试块的底面位于容置孔的两侧分别设有圆弧形滑孔,所述基座的顶面设有一对滑杆,所述滑杆一一对应设在滑孔内,
所述测试块上设有孔组一,所述脱扣半轴上设有孔组二,所述孔组一和孔组二相对应。
所述容置孔的长度等于脱扣半轴的长度。
所述基座上设有容置槽,所述滑杆可拆卸连接在容置槽内。
所述测试块上的孔组一为:所述测试块的一端设有定位孔一和一对平行的定位圆孔一,另一端设有定位圆孔二以及错开的定位孔二和定位孔三,所述定位孔一、定位孔二和定位孔三分别和容置孔连通;
所述定位圆孔一贯穿定位孔一和容置孔,所述定位圆孔二贯穿定位孔二;
所述脱扣半轴包括轴体,
所述轴体上的孔组二为:所述轴体的一端外侧设有定位槽一,所述定位槽一的底部设有一对连接孔一,
轴体的另一端外侧设有错开设置的定位槽二和定位槽三,所述定位槽二的底部设有一连接孔二;
还包括限位板一、限位板二和限位板三,所述限位板一用于放置在定位孔一和定位槽一内,所述限位板二用于放置在定位孔二和定位槽二内,所述限位板三用于放置在定位孔三和定位槽三内;
所述定位圆孔一和连接孔一一一对应、用于放置定位柱一,
所述定位圆孔二和连接孔二相对应、用于放置定位柱二。
本实用新型在工作中,将脱扣半轴放置在测试块的容置孔内,测试块放置在基座上,由于脱扣半轴位于容置孔内,不方便调整位置,因此,通过旋转测试块,使得测试块上的孔组一与托板半轴上的孔组二对应,方便后续测试;设置了一对滑杆位于滑孔内,提高测试块旋转的可靠性。
本实用新型方便加工,操作可靠。
附图说明
图1是本实用新型的结构示意图,
图2是测试块的结构示意图,
图3是本实用新型的工作状态图,
图4是脱扣半轴的结构示意图;
图中1是基座,10是容置槽,
2是测试块,20是容置孔,21是定位孔一,22是定位圆孔一,23是定位圆孔二,24是定位孔二,25是定位孔三,26是滑孔,
3是限位板一,4是限位板二,5是限位板三,
6是脱扣半轴,60是轴体,61是定位槽一,62是连接孔一,63是定位槽二,64是定位槽三,65是连接孔二,
7是滑杆。
具体实施方式
本实用新型如图1-4所示,包括基座1和测试块2,所述测试块呈长方体,所述测试块的中心设有用于放置脱扣半轴的容置孔20,
所述测试块2的底面位于容置孔的两侧分别设有圆弧形滑孔26,所述基座的顶面设有一对滑杆7,所述滑杆一一对应设在滑孔内,
所述测试块2上设有孔组一,所述脱扣半轴6上设有孔组二,所述孔组一和孔组二相对应。
本实用新型在工作中,将脱扣半轴放置在测试块的容置孔内,测试块放置在基座上,由于脱扣半轴位于容置孔内,不方便调整位置,因此,通过旋转测试块,使得测试块上的孔组一与托板半轴上的孔组二对应,方便后续测试;设置了一对滑杆位于滑孔内,提高测试块旋转的可靠性。
所述容置孔20的长度等于脱扣半轴6的长度。
这样,便于可靠测试脱扣半轴,提高测试的准确度。
所述基座1上设有容置槽10,所述滑杆可拆卸连接在容置槽内。
这样,方便拆装,连接可靠。
所述测试块上的孔组一为:所述测试块的一端设有定位孔一21和一对平行的定位圆孔一22,另一端设有定位圆孔二23以及错开的定位孔二24和定位孔三25,所述定位孔一、定位孔二和定位孔三分别和容置孔连通;
所述定位圆孔一22贯穿定位孔一和容置孔,所述定位圆孔二23贯穿定位孔二;
所述脱扣半轴6包括轴体60,
所述轴体上的孔组二为:所述轴体的一端外侧设有定位槽一61,所述定位槽一的底部设有一对连接孔一62,
轴体的另一端外侧设有错开设置的定位槽二63和定位槽三64,所述定位槽二的底部设有一连接孔二65;
还包括限位板一3、限位板二4和限位板三5,所述限位板一3用于放置在定位孔一和定位槽一内,所述限位板二4用于放置在定位孔二和定位槽二内,所述限位板三5用于放置在定位孔三和定位槽三内;
所述定位圆孔一和连接孔一一一对应、用于放置定位柱一(图中未示出),
所述定位圆孔二和连接孔二相对应、用于放置定位柱二(图中未示出)。
这样,在测试过程中,由于轴体上具有定位槽一~三以及连接孔一、二,通过在测试块上设置相应的定位孔一~三以及定位圆孔一、二,
再将限位板一放置在定位孔一和定位槽一内,限位板二放置在定位孔二和定位槽二内,限位板三放置在定位孔三和定位槽三内;
最后,将定位柱一放置在定位圆孔一和连接孔一,定位柱二放置在定位圆孔二和连接孔二;
若上述限位板一~三以及定位柱一、二均放置吻合,则脱扣半轴的产品合格;若存在偏差(如某个部件放不进相应的孔、槽内),则脱扣半轴的产品不合格。
对于本案所公开的内容,还有以下几点需要说明:
(1)、本案所公开的实施例附图只涉及到与本案所公开实施例所涉及到的结构,其他结构可参考通常设计;
(2)、在不冲突的情况下,本案所公开的实施例及实施例中的特征可以相互组合以得到新的实施例;
以上,仅为本案所公开的具体实施方式,但本公开的保护范围并不局限于此,本案所公开的保护范围应以权利要求的保护范围为准。

Claims (4)

1.断路器用测试结构,其特征在于,包括基座和测试块,所述测试块呈长方体,所述测试块的中心设有用于放置脱扣半轴的容置孔,
所述测试块的底面位于容置孔的两侧分别设有圆弧形滑孔,所述基座的顶面设有一对滑杆,所述滑杆一一对应设在滑孔内,
所述测试块上设有孔组一,所述脱扣半轴上设有孔组二,所述孔组一和孔组二相对应。
2.根据权利要求1所述的断路器用测试结构,其特征在于,所述容置孔的长度等于脱扣半轴的长度。
3.根据权利要求1所述的断路器用测试结构,其特征在于,所述基座上设有容置槽,所述滑杆可拆卸连接在容置槽内。
4.根据权利要求1所述的断路器用测试结构,其特征在于,所述测试块上的孔组一为:所述测试块的一端设有定位孔一和一对平行的定位圆孔一,另一端设有定位圆孔二以及错开的定位孔二和定位孔三,所述定位孔一、定位孔二和定位孔三分别和容置孔连通;
所述定位圆孔一贯穿定位孔一和容置孔,所述定位圆孔二贯穿定位孔二;
所述脱扣半轴包括轴体,
所述轴体上的孔组二为:所述轴体的一端外侧设有定位槽一,所述定位槽一的底部设有一对连接孔一,
轴体的另一端外侧设有错开设置的定位槽二和定位槽三,所述定位槽二的底部设有一连接孔二;
还包括限位板一、限位板二和限位板三,所述限位板一用于放置在定位孔一和定位槽一内,所述限位板二用于放置在定位孔二和定位槽二内,所述限位板三用于放置在定位孔三和定位槽三内;
所述定位圆孔一和连接孔一一一对应、用于放置定位柱一,
所述定位圆孔二和连接孔二相对应、用于放置定位柱二。
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