CN211017504U - 一种集束型测试同轴电连接器 - Google Patents

Abstract

本实用新型涉及同轴电连接器领域，尤其涉及一种集束型测试同轴电连接器，包括集束插头和集数插座。集束插头的壳体设有多个第一台阶通孔，第一台阶通孔的设置使射频连接器能够稳定的固定在壳体内，不会产生晃动保证结构的稳定，使用多个射频连接器进行测试，不仅能提高测试效率，还能够保证多个射频连接器都能够稳定、精确的插入集束插座的第二凹槽。集束插座的截面形状与第一凹槽截面形状相同，不仅保证了集束插座和集束插头的连接稳定性，也使射频连接器能够与第二凹槽精准对位，确保集束插座和集束插头连接的精准。

Description

一种集束型测试同轴电连接器

技术领域

本实用新型涉及同轴电连接器领域，尤其涉及一种集束型测试同轴电连接器。

背景技术

连接器作为信号传输的基础单元，广泛应用于通信、军工、航空航天系统，随着无线电的迅猛发展，现有单芯连接器已远不能满足未来通信、5G、物联网的需求，尤其是超密集布线、高强度运算、多频段接入的复合场景应用中。单芯测试的模式已经完全无法全面满足测试模块的需要。因此，急需一种结构稳定的能够多芯同时测试的同轴电连接器。

实用新型内容

为了克服上述现有技术的缺陷，本实用新型所要解决的技术问题是提供一种结构稳定的集束型测试同轴电连接器。

为了解决上述技术问题，本实用新型采用的技术方案为：一种集束型测试同轴电连接器，包括集束插头和集数插座；

所述集束插头包括壳体、射频连接器和固定板；所述壳体的一端设有第一凹槽，所述第一凹槽内沿第一凹槽方向上设有两个以上的第一台阶通孔；所述射频连接器设置在第一台阶通孔内且所述射频连接器的连接头位于第一凹槽内；所述固定板设置第一凹槽相对的端面上，所述固定板上设有用于固定射频连接器的连接电缆的凹槽，所述凹槽的数量与第一台阶通孔的数量相等且一一对应设置；

所述集束插座的截面形状与第一凹槽截面形状相同且所述集束插座的一端设置在第一凹槽内；所述集束插座内部设有与第一台阶通孔数量相等且一一对应设置的第二台阶通孔；所述集束插座与集束插头接触端面上设有与所述连接头相适配的第二凹槽；所述第二凹槽的数量和第二台阶通孔的数量相等且一一对应设置。

进一步的，还包括测试电路板；所述测试电路板上设有测试接口；所述测试接口与第二台阶通孔的数量相等且一一对应；所述测试电路板设置在集束插座与集束插头接触端面的相对面上。

进一步的，所述集束插座与测试电路板接触的端面上设有两个以上的定位柱；所述测试电路板上设有与所述定位柱相匹配的定位孔。

进一步的，所述连接头上设有环形凸起；所述连接头的侧面上设有两个以上贯穿环形凸起的条形槽。

进一步的，所述集束插座的第二凹槽内设有与环形凸起相适配的第三凹槽。

进一步的，所述壳体与固定板接触的端面上设有第四凹槽且所述第三四凹槽的形状与固定板相同；所述固定板设置在所述第四凹槽内。

进一步的，所述第一凹槽的横截面形状为矩形；两个以上所述第一台阶通孔呈直线均匀排列在第一凹槽对应矩形的任意一条的对称轴上。

进一步的，所述壳体的四周均设有与第一台阶通孔垂直的条形凹槽。

本实用新型的有益效果在于：集束插头的壳体设有多个第一台阶通孔，第一台阶通孔的设置使射频连接器能够稳定的固定在壳体内，不会产生晃动，从而保证结构的稳定，使用多个射频连接器进行测试，不仅能提高测试效率，还能够保证多个射频连接器都能够稳定、精确的插入集束插座的第二凹槽。固定板不仅限制射频连接器的脱出使结构稳定，还能够对射频连接器的连接电缆进行疏导，保证多个使用时射频连接器的电缆不会交叉在一起。集束插座的截面形状与第一凹槽截面形状相同，不仅保证了集束插座和集束插头的连接稳定性，也使射频连接器能够与第二凹槽精准对位，确保集束插座和集束插头连接的精准。

附图说明

图1所示为一种集束型测试同轴电连接器的正面局部剖视图；

图2所示为一种集束型测试同轴电连接器的插座的爆炸图；

图3所示为一种集束型测试同轴电连接器的插座的正面局部剖视图；

图4所示为一种集束型测试同轴电连接器的插座的俯视图；

图5所示为一种集束型测试同轴电连接器的插座壳体的正面局部剖视图；

图6所示为一种集束型测试同轴电连接器的射频连接器的主视图；

图7所示为一种集束型测试同轴电连接器的插座的正面局部剖视图；

图8所示为一种集束型测试同轴电连接器的插座的仰视图；

图9所示为一种集束型测试同轴电连接器的测试电路板的俯视图；

标号说明：

1、集束插头；11、壳体；12、第一凹槽；13、第一台阶通孔；14、第四凹槽；15、射频连接器；16、连接头；17、环形凸起；18、条形槽；19、固定部；

2、集束插座；21、第二台阶通孔；22、第二凹槽；23、定位柱；24、第三凹槽；

3、测试电路板；31、定位孔；32、测试接口。

具体实施方式

为详细说明本实用新型的技术内容、所实现目的及效果，以下结合实施方式并配合附图予以说明。

请参照图1至图9所示，本实用新型的一种集束型测试同轴电连接器，包括集束插头和集数插座；

所述集束插头包括壳体、射频连接器和固定板；所述壳体的一端设有第一凹槽，所述第一凹槽内沿第一凹槽方向上设有两个以上的第一台阶通孔；所述射频连接器设置在第一台阶通孔内且所述射频连接器的连接头位于第一凹槽内；所述固定板设置于第一凹槽相对的端面上，所述固定板上设有用于固定射频连接器的连接电缆的凹槽，所述凹槽的数量与第一台阶通孔的数量相等且一一对应设置；

所述集束插座的截面形状与第一凹槽截面形状相同且所述集束插座的一端设置在第一凹槽内；所述集束插座内部设有与第一台阶通孔数量相等且一一对应设置的第二台阶通孔；所述集束插座与集束插头接触端面上设有与所述连接头相适配的第二凹槽；所述第二凹槽的数量和第二台阶通孔的数量相等且一一对应设置。

从上述描述可知，本实用新型的有益效果在于：集束插头的壳体设有多个第一台阶通孔，第一台阶通孔的设置使射频连接器能够稳定的固定在壳体内，不会产生晃动，从而保证结构的稳定，使用多个射频连接器进行测试，不仅能提高测试效率，还能够保证多个射频连接器都能够稳定、精确的插入集束插座的第二凹槽。固定板不仅限制射频连接器的脱出使结构稳定，还能够对射频连接器的连接电缆进行疏导，保证多个使用时射频连接器的电缆不会交叉在一起。集束插座的截面形状与第一凹槽截面形状相同，不仅保证了集束插座和集束插头的连接稳定性，也使射频连接器能够与第二凹槽精准对位，确保集束插座和集束插头连接的精准。

进一步的，还包括测试电路板；所述测试电路板上设有测试接口；所述测试接口与第二台阶通孔的数量相等且一一对应；所述测试电路板设置在集束插座与集束插头接触端面的相对面上。

从上述描述可知，测试接口与第二台阶通孔的数量相等且一一对应，保证每一个接口都可以稳定的进行测试使用。

进一步的，所述集束插座与测试电路板接触的端面上设有两个以上的定位柱；所述测试电路板上设有与所述定位柱相匹配的定位孔。

从上述描述可知，通过定位柱和定位孔的使用，确保测试接口能够和第二台阶通孔内的插针精准对位，保证每一个射频连接器均能稳定进行测试。

进一步的，所述连接头上设有环形凸起；所述连接头的侧面上设有两个以上贯穿环形凸起的条形槽。

从上述描述可知，环形凸起和条形槽的设置，使射频连接器的连接头与插针的连接更加稳定，使集束插头和集束插座能够连接的更加牢固，确保测试时的稳定。

进一步的，所述集束插座的第二凹槽内设有与环形凸起相适配的第三凹槽。

从上述描述可知，第三凹槽的设置，使环形凸起能够嵌入第三凹槽中，进一步的提升射频连接器的连接头与插针的连接稳定性，确保测试时的稳定。

进一步的，所述壳体与固定板接触的端面上设有第四凹槽且所述第三四凹槽的形状与固定板相同；所述固定板设置在所述第四凹槽内。

从上述描述可知，第四凹槽的设置，保证了固定板与壳体的紧密连接，确保固定板上的凹槽能够恰到好处的设置在固定射频连接器的连接电缆，进一步保证集束插头结构的稳定。

进一步的，所述第一凹槽的横截面形状为矩形；两个以上所述第一台阶通孔呈直线均匀排列在第一凹槽对应矩形的任意一条的对称轴上。

从上述描述可知，第一台阶通孔呈直线均匀排列在第一凹槽对应矩形的任意一条的对称轴上，使插头插入插座时不用考虑插入方向，能够更快速的进行插接。

进一步的，所述壳体的四周均设有与第一台阶通孔垂直的条形凹槽。

从上述描述可知，条形凹槽的设置，使壳体的表面的阻力增大，使集束插头更容易插入集束插座。

请参照图1至图9所示，本实用新型的实施例一为：

一种集束型测试同轴电连接器，包括集束插头1、集数插座2和测试电路板 3。

集束插头包括壳体11、射频连接器15和固定板19。

壳体11的一端设有截面形状为矩形的第一凹槽12，另一端设有截面形状为直槽口形的第四凹槽14。第一凹槽内沿第一凹槽方向上设有八个第一台阶通孔 13且八个第一台阶通孔呈直线均匀排列在第一凹槽对应矩形长边的对称轴上。八个第一台阶通孔可以同时使用八个射频连接器进行测试，大大提高测试效率。而且呈直线均匀排列在第一凹槽对应矩形长边的对称轴上可以使集束插头插入集束插座时，两个方向都可以插入，从而提高装配效率，也可以防止射频连接器的连接头遭到破坏。同时第一台阶通孔也位于第四凹槽内。壳体的四周均设有与第一台阶通孔垂直的条形凹槽，使壳体的表面的阻力增大，使集束插头更容易插入集束插座。

八个射频连接器15分别安装在八个第一台阶通孔13内，且射频连接器的连接头16从第一台阶通孔内突出至第一凹槽内，确保连接头能够插入集束插座内，使射频连接器与集束插座的插针电连接。因为同时使用八个射频连接器同时进行测试，单个测试的螺纹连接方式已不适用于现有模式，因此射频连接器的连接头的最前端设有环形凸起17，且在连接头的表面均匀分布着四个贯穿连接头的条形槽18，这样射频连接器在插入集束插座的第三凹槽时不容易脱出，且能够连接的更加紧密，保证测试时的连接稳定。

固定板19的截面形状与第四凹槽的截面形状相同，均为直槽口形，保证固定板能够准确的锁入第四凹槽内。固定板上设有用于固定射频连接器连接电缆的凹槽，凹槽的数量与第一台阶通孔的数量相等且一一对应设置，固定板的凹槽不仅能现在射频连接器的脱出，还能够在第一台阶通孔的形状比射频连接器稍大一点时固定射频连接器以限制其晃动，还可以对射频连接器的连接电缆进行疏导，防止电缆交叉，影响拆卸及使用。

集束插座2的截面形状与第一凹槽截面形状相同的矩形且集束插座的一端能够刚好设置在第一凹槽内，保证集束插座和集束插头的稳定连接，不会产生松动的现象。集束插座内部设有与八个第一台阶通孔一一对应的八个第二台阶通孔21，因为要精准对位，因此在工艺上必须进行严格的要求，允许的误差必须控制在±0.02mm以内，因此对制造设备的选用必须非常严格。集束插座与集束插头接触端面上设有与射频连接器的连接头16相适配的八个第二凹槽22，即第二凹槽与第二台阶通孔同轴心设置。集束插座未与集束插头接触的面上设有三个定位柱23且呈三角分布。

插针的形状为如图7所示台阶圆柱形状，插针的材质为铜，在最大台阶的两端上分别设有一绝缘子；将绝缘子装入插针后，将其组合装入集束插座的第二台阶凹槽内，且插针有较长一端突出在第二凹槽中用于与射频连接器的连接头电连接，插针另一端突出至集束插座外用于与测试电路板进行电连接。

测试电路板3在测试电路板上的三个定位孔31与集束插座的定位柱的作用下，稳定的连接在一起，并且测试电路板上的测试接口32与插针对位，保证电连接稳定。在实验中，测试电路板的最高阶段的测试宽带特性能够满足 50Gbps/50GHz，能够满足最新一代的半导体标准。

本实用新型的实施例二为：

本实施例为实施例一的进一步改进，具体为：集束插座的第二凹槽内设有与环形凸起相适配的第三凹槽24。第三凹槽的设置，使环形凸起在受到第二凹槽的挤压后嵌入第三凹槽内，使连接头恢复正常状态，此时的环形凸起嵌入第三凹槽中，使集束插座和集束插头的连接更加的稳定。

本实用新型的实施例三为：

本实施例为实施例一的进一步改进，具体为：第一台阶通孔的位置分布还可以为以下设置：

当第一台阶通孔为四个时，四个第一台阶通孔呈正方形分布且分别设置在正方形的四个顶点上。

当第一台阶通孔为五个时，在四个的基础上第五个设置在正方形的对角线的交点上。

当第一台阶通孔为六个时，第一台阶通孔呈对称分布在矩形对角线的两侧，没测三个。

以此类推。

综上所述，本实用新型提供的一种集束型测试同轴电连接器，集束插头的壳体设有多个第一台阶通孔，第一台阶通孔的设置使射频连接器能够稳定的固定在壳体内，不会产生晃动，从而保证结构的稳定，使用多个射频连接器进行测试，不久能提高测试效率，还能够保证多个射频连接器都能够稳定、精确的插入集束插座的第二凹槽。固定板不仅限制射频连接器的脱出使结构稳定，还能够对射频连接器的连接电缆进行疏导，保证多个使用时射频连接器的电缆不会交叉在一起。集束插座的截面形状与第一凹槽截面形状相同，不仅保证了集束插座和集束插头的连接稳定性，也使射频连接器能够与第二凹槽精准对位，确保集束插座和集束插头连接的精准。测试接口与第二台阶通孔的数量相等且一一对应，保证每一个接口都可以稳定的进行测试使用。所述集束插座与测试电路板接触的端面上设有两个以上的定位柱；所述测试电路板上设有与所述定位柱相匹配的定位孔。通过定位柱和定位孔的使用，确保测试接口能够和第二台阶通孔内的插针精准对位，保证每一个射频连接器均能稳定进行测试。环形凸起和条形槽的设置，使射频连接器的连接头与插针的连接更加稳定，使集束插头和集束插座能够连接的更加牢固，确保测试时的稳定。第三凹槽的设置，使环形凸起能够嵌入第三凹槽中，进一步的提升射频连接器的连接头与插针的连接稳定性，确保测试时的稳定。第四凹槽的设置，保证了固定板与壳体的紧密连接，确保固定板上的凹槽能够恰到好处的设置在固定射频连接器的连接电缆，进一步保证集束插头结构的稳定。第一台阶通孔呈直线均匀排列在第一凹槽对应矩形的任意一条的对称轴上，使插头插入插座时不用考虑插入方向，能够更快速的进行插接。条形凹槽的设置，使壳体的表面的阻力增大，使集束插头更容易插入集束插座。

以上所述仅为本实用新型的实施例，并非因此限制本实用新型的专利范围，凡是利用本实用新型说明书及附图内容所作的等同变换，或直接或间接运用在相关的技术领域，均同理包括在本实用新型的专利保护范围内。

Claims (8)

1.一种集束型测试同轴电连接器，其特征在于，包括集束插头和集束插座；

所述集束插头包括壳体、射频连接器和固定板；所述壳体的一端设有第一凹槽，所述第一凹槽内沿第一凹槽方向上设有两个以上的第一台阶通孔；所述射频连接器设置在第一台阶通孔内且所述射频连接器的连接头位于第一凹槽内；所述固定板设置于第一凹槽相对的端面上，所述固定板上设有用于固定射频连接器的连接电缆的凹槽，所述凹槽的数量与第一台阶通孔的数量相等且一一对应设置；

所述集束插座的截面形状与第一凹槽截面形状相同且所述集束插座的一端设置在第一凹槽内；所述集束插座内部设有与第一台阶通孔数量相等且一一对应设置的第二台阶通孔；所述集束插座与集束插头接触端面上设有与所述连接头相适配的第二凹槽；所述第二凹槽的数量和第二台阶通孔的数量相等且一一对应设置。

2.根据权利要求1所述的一种集束型测试同轴电连接器，其特征在于：还包括测试电路板；所述测试电路板上设有测试接口；所述测试接口与第二台阶通孔的数量相等且一一对应；所述测试电路板设置在集束插座与集束插头接触端面的相对面上。

3.根据权利要求2所述的一种集束型测试同轴电连接器，其特征在于：所述集束插座与测试电路板接触的端面上设有两个以上的定位柱；所述测试电路板上设有与所述定位柱相匹配的定位孔。

4.根据权利要求1所述的一种集束型测试同轴电连接器，其特征在于：所述连接头上设有环形凸起；所述连接头的侧面上设有两个以上贯穿环形凸起的条形槽。

5.根据权利要求4所述的一种集束型测试同轴电连接器，其特征在于：所述集束插座的第二凹槽内设有与环形凸起相适配的第三凹槽。

6.根据权利要求1所述的一种集束型测试同轴电连接器，其特征在于：所述壳体与固定板接触的端面上设有第四凹槽且所述第四凹槽的形状与固定板相同；所述固定板设置在所述第四凹槽内。

7.根据权利要求1所述的一种集束型测试同轴电连接器，其特征在于：所述第一凹槽的横截面形状为矩形；两个以上所述第一台阶通孔呈直线均匀排列在第一凹槽对应矩形的任意一条的对称轴上。

8.根据权利要求1所述的一种集束型测试同轴电连接器，其特征在于：所述壳体的四周均设有与第一台阶通孔垂直的条形凹槽。

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