CN210986104U - 一种自动测试串口设备 - Google Patents

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代高辉
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Shenzhen Kelad Embedded Technology Co ltd
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Shenzhen Kelad Embedded Technology Co ltd
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  • Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)

Abstract

本实用新型涉及串口测试技术领域,具体是一种适自动测试串口设备,包括集成插头、短接片、信号发送检测插片和信号接收检测插片,所述集成插头的两端分别设有DB9公头和母头,所述公头和母头内部的针脚和插孔分别对应连接;通过首先直接通过短接片短接RXD接收数据端和TXD发送数据端对应串口的好坏进行一个简单的判断,再使用信号发送检测插片和信号接收检测插片分别检测TXD端和RXD端,检测过程非常简单,不需要进行调试。

Description

一种自动测试串口设备
技术领域
本实用新型涉及串口测试技术领域,具体是一种自动测试串口设备。
背景技术
目前,工业行业的仪器仪表基本上都带有通讯输出接口,用于外挂大屏、后台PLC、或者仪器仪表的数据采集。主流的通行串口为RS232串口,包括9 个针脚,其功能如下:
1 DCD 载波检测
2 RXD 接收数据
3 TXD 发送数据
4 DTR 数据终端准备好
5 SGND 信号地
6 DSR 数据准备好
7 RTS 请求发送
8 CTS 清除发送
9 RI 振铃提示
但是现有的串口测试没有现有的专门用于测试串口的设备,当连接出现问题的时候,无法判断究竟是本身仪器的输出通讯有问题,还是后续的硬件连接电路或是软件编程有问题。普通的安装调试人员根本无法判断,只有编程的工程师还可以通过仪器加上USB-232的转换线,利用串口软件简单的进行判断,通过串口两端的设备进行模拟串口通信实现测试,过程比较繁琐。
实用新型内容
有鉴于此,本实用新型的目的是提供一种自动测试串口设备,专门用于测试串口通断情况,简化测试过程,提高测试效率。
本实用新型的一种自动测试串口设备,包括集成插头、短接片、信号发送检测插片和信号接收检测插片,所述集成插头的两端分别设有DB9公头和母头,所述公头和母头内部的针脚和插孔分别对应连接;
所述短接片上设有用于短接所述公头和母头RXD和TXD端的针脚和插孔;
所述信号发送检测插片上设有第一发光二极管,所述第一发光二极管的两端分别设置用于连接所述公头和母头SGND和TXD端的针脚和插孔;
所述信号接收检测插片上设有串接的信号源和第二发光二极管,所述信号源和第二发光二极管的两端分别设置用于连接所述公头和母头SGND和RXD端的针脚和插孔。
检测时,分为以下三步:首先使用所述短接片直接短接所述集成插头的公头和母头上的RXD和TXD端,从而短接待检测串口的接收数据段和发送数据段,在待检测主机上向待测串口发送一段数据,检测是否有接收数据,且接收数据是否与发送的一致,如果有接收且接收与发送一致,则可以判定待测串口完好,否则,便取下所述短接片,插入所述信号发送检测插片,连接所述公头和母头的SGND地线和TXD发送数据端,所述第一发光二极管亮则说明TXD端完好,反之则说明TXD端损坏;取下所述信号发送检测插片,插上所述信号接收检测插片,连接所述公头和母头的SGND地线和RXD接收数据端,如果所述发光二极管能亮则说明RXD端完好,反之则说明RXD端损坏。
进一步,所述集成插头的公头和母头表面刻有针脚或者插孔的编号。
进一步,所述短接片、信号发送检测插片和信号接收检测插片的一端设有所述公头和母头匹配的磁吸环,所述磁吸环与所述公头和母头边缘的金属片配合连接。
进一步,所述短接片、信号发送检测插片和信号接收检测插片内的针脚或者插孔排列位置与标准DB9排列方式一致,所述短接片只设有对应所述公头和母头RXD和TXD端的针脚和插孔,所述信号发送检测插片只设有对应所述公头和母头SGND和TXD端的针脚和插孔,所述信号接收检测插片只设有对应所述公头和母头SGND和RXD端的针脚和插孔。
进一步,所述信号接收检测插片上设有用于外接信号的金属接触片。
本实用新型的有益效果是:本实用新型的一种自动测试串口设备,通过首先直接通过短接片短接RXD接收数据端和TXD发送数据端对应串口的好坏进行一个简单的判断,再使用信号发送检测插片和信号接收检测插片分别检测TXD 端和RXD端,检测过程非常简单,不需要进行调试。
附图说明
下面结合附图和实施例对本实用新型作进一步描述:
图1为本实用新型的集成插头的结构示意图;
图2为本实用新型的集成插头的正视图;
图3为本实用新型的短接片的结构示意图;
图4为本实用新型的信号发送检测插片的结构示意图;
图5为本实用新型的信号接收检测插片的结构示意图。
附图标记如下:1-集成插头、2-公头、3-母头、4-第一发光二极管、5-第二发光二极管、6-金属接触片。
具体实施方式
如图1-图5所示:本实施例的一种自动测试串口设备,包括集成插头1、短接片、信号发送检测插片和信号接收检测插片,集成插头1的两端分别设有 DB9公头2和母头3,公头2和母头3内部的针脚和插孔分别对应连接;
短接片上设有用于短接公头2和母头3RXD和TXD端的针脚和插孔;
信号发送检测插片上设有第一发光二极管4,第一发光二极管4的两端分别设置用于连接公头2和母头3SGND和TXD端的针脚和插孔;
信号接收检测插片上设有串接的信号源和第二发光二极管5,信号源和第二发光二极管5的两端分别设置用于连接公头2和母头3SGND和RXD端的针脚和插孔。
检测时,分为以下三步:首先使用短接片直接短接集成插头1的公头2和母头3上的RXD和TXD端,从而短接待检测串口的接收数据段和发送数据段,在待检测主机上向待测串口发送一段数据,检测是否有接收数据,且接收数据是否与发送的一致,如果有接收且接收与发送一致,则可以判定待测串口完好,否则,便取下短接片,插入信号发送检测插片,连接公头2和母头3的SGND 地线和TXD发送数据端,第一发光二极管4亮则说明TXD端完好,反之则说明 TXD端损坏;取下信号发送检测插片,插上信号接收检测插片,连接公头2和母头3的SGND地线和RXD接收数据端,如果发光二极管能亮则说明RXD端完好,反之则说明RXD端损坏。
本实施例中,集成插头1的公头2和母头3表面刻有针脚或者插孔的编号,使用时更加方便,可以直接找到TXD和RXD端。
本实施例中,短接片、信号发送检测插片和信号接收检测插片的一端设有公头2和母头3匹配的磁吸环,磁吸环与公头2和母头3边缘的金属片配合连接,便于短接片、信号发送检测插片和信号接收检测插片的插入。
本实施例中,短接片、信号发送检测插片和信号接收检测插片内的针脚或者插孔排列位置与标准DB9排列方式一致,短接片只设有对应公头2和母头3RXD 和TXD端的针脚和插孔,信号发送检测插片只设有对应公头2和母头3SGND和TXD 端的针脚和插孔,信号接收检测插片只设有对应公头2和母头3SGND和RXD端的针脚和插孔,使得短接片、信号发送检测插片和信号接收检测插片插入到集成插头1上时只有对应针脚的连接。
本实施例中,信号接收检测插片上设有用于外接信号的金属接触片6,用于外接信号源,信号源的电平满足RS232接口电平即可。
本实用新型通过首先直接通过短接片短接RXD接收数据端和TXD发送数据端对应串口的好坏进行一个简单的判断,再使用信号发送检测插片和信号接收检测插片分别检测TXD端和RXD端,检测过程非常简单,不需要进行调试。
最后说明的是,以上实施例仅用以说明本实用新型的技术方案而非限制,尽管参照较佳实施例对本实用新型进行了详细说明,本领域的普通技术人员应当理解,可以对本实用新型的技术方案进行修改或者等同替换,而不脱离本实用新型技术方案的宗旨和范围,其均应涵盖在本实用新型的权利要求范围当中。

Claims (5)

1.一种自动测试串口设备,其特征在于:包括集成插头、短接片、信号发送检测插片和信号接收检测插片,所述集成插头的两端分别设有DB9公头和母头,所述公头和母头内部的针脚和插孔分别对应连接;
所述短接片上设有用于短接所述公头和母头RXD和TXD端的针脚和插孔;
所述信号发送检测插片上设有第一发光二极管,所述第一发光二极管的两端分别设置用于连接所述公头和母头SGND和TXD端的针脚和插孔;
所述信号接收检测插片上设有串接的信号源和第二发光二极管,所述信号源和第二发光二极管的两端分别设置用于连接所述公头和母头SGND和RXD端的针脚和插孔。
2.根据权利要求1所述的一种自动测试串口设备,其特征在于:所述集成插头的公头和母头表面刻有针脚或者插孔的编号。
3.根据权利要求1所述的一种自动测试串口设备,其特征在于:所述短接片、信号发送检测插片和信号接收检测插片的一端设有所述公头和母头匹配的磁吸环,所述磁吸环与所述公头和母头边缘的金属片配合连接。
4.根据权利要求1所述的一种自动测试串口设备,其特征在于:所述短接片、信号发送检测插片和信号接收检测插片内的针脚或者插孔排列位置与标准DB9排列方式一致,所述短接片只设有对应所述公头和母头RXD和TXD端的针脚和插孔,所述信号发送检测插片只设有对应所述公头和母头SGND和TXD端的针脚和插孔,所述信号接收检测插片只设有对应所述公头和母头SGND和RXD端的针脚和插孔。
5.根据权利要求1所述的一种自动测试串口设备,其特征在于:所述信号接收检测插片上设有用于外接信号的金属接触片。
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