CN210982267U - 一种适用于圆筒型物品的工业无损检测设备 - Google Patents
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Abstract
一种适用于圆筒型物品的工业无损检测设备，用于对传统工业监测系统中难以精确检测的圆筒型被检物进行检测，利用射线源(302)伸入圆筒型被检物中空部分，通过射线源(302)、单侧侧壁、X光探测器(305)三点一线的测量方式，能够避免传统测量方式中容易出现两壁重叠成像的问题，避免边缘难以穿透。
Description
技术领域
本实用新型涉及一种适用于圆筒型物品的工业无损检测设备，属于X射线无损检测领域。
背景技术
目前X射线工业无损检测设备已经广泛应用于各个制造业的产品检验工作中。此类设备能不损害或者不影响被检测对象的使用性能对其进行内部缺陷、化学、物理参数的检测。一般的工业无损检测设备包括射线源、X光探测器、机械系统、控制电脑、以及电控系统组成。整体系统往往都基于定制化需求而设计，设计的不同对被检物的检测适用性和成像性能有着巨大的影响。
在当前的各项无损检测技术中，X射线直接转换技术(DR)有着出色的成像质量及分辨率，同时还克服了胶片照相和CR中操作繁杂的缺点，是目前最新型的工业无损检测技术之一。同时，当前大多数DR型检测设备采用平动类系统设计，即射线源和探测器分别置于被检物两侧，让被检物进行上下左右平动来对其各个部位成像。此类设计检测圆筒型物品时，会产生两壁重叠成像、边缘难以穿透等问题，进而影响检测人员对结果进行判断。
实用新型内容
本实用新型解决的技术问题是：针对目前现有技术中，传统DR检测技术的平动类系统设计于被检物两侧进行测量容易产生两壁重叠、边缘无法穿透的问题，提出了一种适用于圆筒型物品的工业无损检测设备。
本实用新型解决上述技术问题是通过如下技术方案予以实现的：
一种适用于圆筒型物品的工业无损检测设备，包括射线源、装置壳体、X 光探测器，所述装置壳体为方形壳体，用于对圆筒型被测物由中空部分对外壁进行射线照射的射线源安装于装置壳体一边且安装方向与装置壳体表面平行，用于探测照射射线强度的X光探测器安装于装置壳体上与射线源安装位置相邻一边，X光探测器探测方向与射线源安装方向在同一平面内并与射线源安装方向垂直，所述被测物安装于装置壳体表面。
还包括射线源收置箱，用于在未进行检测时收纳射线源的射线源收置箱，设置于装置外壳一侧边沿。
所述射线源通过竖直设置于装置壳体一边的射线源升降轴进行固定及照射检测时的高度调节。
所述X光探测器通过竖直设置于与射线源升降轴安装边相邻另一边的探测器升降轴进行固定及射线探测时的高度调节。
所述被测物通过轴距调节轴、弧距调节轴进行位置固定，用于调节被检物放置位置大小的轴距调节轴及用于调节适配被检物弧度的弧距调节轴均安装于线源收置箱表面，弧距调节轴置于被测物侧壁两端卡住被测物，轴距调节轴设置于其中一个弧距调节轴侧面进行轴距调节。
所述弧距调节轴与被测物侧壁接触部分，设置有于检测过程中带动被测物旋转的被检物滚动电机，通过带动被测物旋转使射线源、X光探测器能够对被测物进行全面检测。
所述射线源通过安装于装置壳体表面的射线源位置调节轴进行初始检测位置的横向调节。
所述射线源于测试时伸入被检物中空部分，射线源端头向侧向一周发出射线，穿过被检物侧壁后由X光探测器接收并记录射线衰减量。
本实用新型与现有技术相比的优点在于：
本实用新型提供的一种适用于圆筒型物品的工业无损检测设备，针对特殊的圆筒型被检物，改变了传统的平动两段测量方式，改为利用射线源置于圆筒型中空部分的测量方式，通过单侧侧壁外设置探测器，能够实时监测被检物各部分的测量数据，不会产生两壁重叠，测量精度较高，同时采用轴距调节轴、弧距调节轴对被检物进行固定，固定效果更好。
附图说明
图1为实用新型提供的装置整体结构示意图一；
图2为实用新型提供的装置整体结构示意图二；
具体实施方式
一种适用于圆筒型物品的工业无损检测设备，如图1、图2所示，包括射线源收置箱301、射线源302、射线源升降轴303、装置壳体304、X光探测器 305、探测器升降轴306、被检物滚动电机307、轴距调节轴308、弧距调节轴 309，装置壳体304为方形壳体，装置壳体304的一边设置有用于放置射线源 302的射线源收置箱301，当未进行检测时，射线源302置于射线源收置箱301 内，射线源升降轴303与探测器升降轴306分别安装于装置壳体304相邻两边的侧面，进行检测前，射线源302安装于射线源升降轴303上，安装方向与装置壳体304表面平行，X光探测器305安装于探测器升降轴306上，探测方向与射线源302安装方向垂直，且与射线源302在同一平行于装置壳体304表面的平面内。
装置壳体304表面设置有调节被检物放置位置大小的轴距调节轴308，同时还设置有根据被测物弧度进行适配调节的弧距调节轴309，其中，轴距调节轴308为1个，弧距调节轴309分别卡住被测物的两边，数量为2个，被测物通过轴距调节轴308、弧距调节轴309进行位置固定，在弧距调节轴309上，还设置有带动被检物转动的被检物滚动电机307，弧距调节轴309置于被测物侧壁两端卡住被测物，轴距调节轴308设置于其中一个弧距调节轴309侧面进行轴距调节，而射线源的位置则由安装在装置壳体304底面的射线源位置调节轴311负责调节。
开始检测前，调节弧距调节轴309至弧度与被检物适配，同时调整轴距调节轴308保证被检物能顺利放入指定位置，再通过射线源位置调节轴311调整射线源的初始位置，将射线源302伸入被检物中空部分，即中空圆柱型被检物的中心位置，根据射线源302的初始同时调节探测器升降轴306直至射线源 302高度与X光探测器305相同，此时X光探测器305、射线源302、被检物侧壁在同一直线位置上，启动被检物滚动电机307带动被检物滚动旋转，射线源升降轴303带动射线源302与探测器升降轴306同步运行，X光探测器305 通过探测器升降轴306调节高度且扫描高度始终与线源302相同，射线源302 端头向侧向一周发出射线，穿过被检物侧壁后由X光探测器305接收并记录射线衰减量。
下面结合具体实施例进行进一步说明：
一种适用于圆筒型物品的工业无损检测设备，包括射线源收置箱301、射线源302、射线源升降轴303、装置壳体304、X光探测器305、探测器升降轴 306、被检物滚动电机307、轴距调节轴308、弧距调节轴309，其中，探测器有效面积为25厘米乘20厘米，射线源为225KV高压球管；
射线源收置箱301置于装置外壳304一侧边沿，射线源升降轴303竖直设置于装置壳体304一边，射线源302检测时安装于射线源升降轴303上且安装方向与装置壳体304表面平行，探测器升降轴306设置于装置壳体304另一边， X光探测器305安装于探测器升降轴306上，扫描方向与射线源302安装方向在同一平面内并与射线源302安装方向垂直，用于调节被检物放置位置大小的轴距调节轴308及用于调节适配被检物弧度的弧距调节轴309均安装于线源收置箱301表面，检测开始时带动被检物转动的被检物滚动电机307设置于弧距调节轴309上，射线源位置调节轴311，射线源位置调节轴311安装于装置壳体304的底面，测试开始后，调节轴距调节轴308直至被检物能够放入线源收置箱301上指定位置，同时调节弧距调节轴309使放置位置处弧度与圆筒型被检物相同，将射线源302从射线源收置箱301内取出，将射线源302安装于射线源升降轴303上，通过调节、射线源位置调节轴311使射线源302的横向初始位置满足要求，同时调整探测器升降轴306及X光探测器305的高度，启动被检物滚动电机307带动被检物滚动旋转，射线源升降轴303带动射线源302 与探测器升降轴306同步运行，X光探测器305通过探测器升降轴306调节高度且扫描高度始终与线源302相同。
本装置在检测同时，还可以选配打印机等外部设备进行检测数据的快速输出，本实用新型说明书中未作详细描述的内容属本领域技术人员的公知技术。
Claims (8)
1.一种适用于圆筒型物品的工业无损检测设备，其特征在于：包括射线源(302)、装置壳体(304)、X光探测器(305)，所述装置壳体(304)为方形壳体，用于对圆筒型被测物由内部进行射线照射的射线源(302)安装于装置壳体(304)一边，安装方向与装置壳体(304)表面平行，用于探测照射射线强度的X光探测器(305)安装于装置壳体(304)上与射线源(302)安装位置相邻一边，X光探测器(305)探测方向与射线源(302)安装方向在同一平面内并与射线源(302)安装方向垂直，所述被测物安装于装置壳体(304)表面。
2.根据权利要求1所述的一种适用于圆筒型物品的工业无损检测设备，其特征在于：还包括射线源收置箱(301)，用于在未进行检测时收纳射线源(302)的射线源收置箱(301)，设置于装置壳体(304)一侧边沿。
3.根据权利要求1或2所述的一种适用于圆筒型物品的工业无损检测设备，其特征在于：所述射线源(302)通过竖直设置于装置壳体(304)一边的射线源升降轴(303)进行固定及照射检测时的高度调节。
4.根据权利要求3所述的一种适用于圆筒型物品的工业无损检测设备，其特征在于：所述X光探测器(305)通过竖直设置于与射线源升降轴(303)安装边相邻另一边的探测器升降轴(306)进行固定及射线探测时的高度调节。
5.根据权利要求1所述的一种适用于圆筒型物品的工业无损检测设备，其特征在于：所述被测物通过轴距调节轴(308)、弧距调节轴(309)进行位置固定，用于调节被检物放置位置大小的轴距调节轴(308)及用于调节适配被检物弧度的弧距调节轴(309)均安装于射线源收置箱(301)表面，弧距调节轴(309)置于被测物侧壁两端卡住被测物，轴距调节轴(308)设置于其中一个弧距调节轴(309)侧面进行轴距调节。
6.根据权利要求5所述的一种适用于圆筒型物品的工业无损检测设备，其特征在于：所述弧距调节轴(309)与被测物侧壁接触部分，设置有于检测过程中带动被测物旋转的被检物滚动电机(307)，通过带动被测物旋转使射线源(302)、X光探测器(305)能够对被测物进行全面检测。
7.根据权利要求1所述的一种适用于圆筒型物品的工业无损检测设备，其特征在于：所述射线源(302)通过安装于装置壳体(304)表面的射线源位置调节轴(311)进行初始检测位置的横向调节。
8.根据权利要求1所述的一种适用于圆筒型物品的工业无损检测设备，其特征在于：所述射线源(302)于测试时伸入被检物中空部分，射线源(302)端头向侧向一周发出射线，穿过被检物侧壁后由X光探测器(305)接收并记录射线衰减量。
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