CN210876341U - 一种led芯片测试装置 - Google Patents
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Abstract
本实用新型公开了一种LED芯片测试装置,包括测试台,测试台的上表面开设有凹槽,测试台的外侧壁开设有测试槽,测试槽与凹槽相连通,测试槽的内部滑动连接有载物机构,载物机构包括载物板、放置板和限位板,载物板位于放置板的下方,限位板位于放置板的上方,本实用新型所达到的有益效果是:通过设置载物机构,便于将未合格的芯片挑出,检测人员能够将检测合格LED芯片进行快速的收集整理,节省时间,提高了检测效率,通过设置测试槽和限位板,在探针对LED芯片进行固晶后粘合力测试时,能够将LED芯片夹持固定在放置槽的内部,能够防止LED芯片在放置槽内部晃动或者脱离,且有利于对LED芯片的推拉力检测。
Description
技术领域
本实用新型涉及芯片检测领域,具体为一种LED芯片测试装置。
背景技术
LED芯片是LED灯的核心,通过向LED芯片中导入电流,LED芯片将电能转化为光能,用于室内和室外照明,是未来科技发展中的主要潜力光源,LED芯片在成品结束后,需要将LED芯片放置在推力机中进行LED固晶后粘合力测试,检验是否合格。现有技术中通过探针逐个对在载物板上凹槽内放置的LED芯片进行检测,检测结束后需要逐个将LED芯片从载物板中的凹槽内取出,费时费力,降低检测效率,且在LED芯片在载物板中凹槽的内部进行检测时,没有固定机构将LED芯片夹持在凹槽内,不利于对LED芯片的推拉力检测。
实用新型内容
本实用新型的目的在于提供一种LED芯片测试装置,以解决上述背景技术中提出的问题。
为实现上述目的,本实用新型提供如下技术方案:一种LED芯片测试装置,包括测试台,所述测试台的上表面开设有凹槽,所述测试台的外侧壁开设有测试槽,所述测试槽与凹槽相连通,所述测试槽的内部滑动连接有载物机构,所述载物机构包括载物板、放置板和限位板,所述载物板位于放置板的下方,所述限位板位于放置板的上方。
优选的,所述放置板的侧壁开设有多个等距分布的放置槽,所述限位板的上表面开设有与多个放置槽相对应的限位槽,多个所述限位槽均与放置槽相连通,所述限位槽正面的长度均比放置槽正面的长度短。
优选的,所述载物板上表面的两侧均固定连接有两个限位柱,所述放置板和限位板的侧壁均开设有与四个限位柱相对应的限位孔,四个所述限位柱的顶端均通过限位孔贯穿放置板和限位板。
优选的,所述载物板相对的两侧外侧壁均固定连接有把手,所述放置板相对的两外侧壁均固定连接有第一手持块,所述限位板的相对两外侧壁均固定有第二手持块,同侧所述第一手持块和第二手持块均交错设置。
优选的,所述测试台外侧壁的底端固定连接有延展台,所述延展台上表面的两侧均固定连接有延展板,所述延展台与测试槽的开口方向均位于测试台的同一侧。
与现有技术相比,本实用新型的有益效果是:
1、本实用新型通过设置载物机构,检测结束后,通过把手将载物机构从测试槽内将其抽出后,将限位板和放置板向上抬起,使限位柱从限位孔内脱离后,能够将LED芯片整体脱离放置槽并位于载物板的上方整齐排列,便于将未合格的芯片挑出,使检测人员能够将检测合格LED芯片进行快速的收集整理,节省时间,提高了检测效率。
2、本实用新型通过设置测试槽和限位板,在探针对LED芯片进行固晶后粘合力测试时,限位柱和第二手持块与测试槽内部的顶端相抵,限位板位于LED芯片的上方,能够将LED芯片夹持固定在放置槽的内部,且探针能够通过限位槽对LED芯片进行推垃力检测,能够防止LED芯片在放置槽内部晃动或者脱离,且有利于对LED芯片的推拉力检测。
附图说明
图1为本实用新型的结构示意图;
图2为本实用新型中载物机构的结构示意图;
图3为本实用新型中载物机构的立体结构示意图:
图4为本实用新型中测试台的立体示意图。
图中:1、测试台;2、凹槽;21、测试槽;3、载物机构;4、载物板;5、放置板;51、放置槽;52、第一手持块;6、限位板;61、限位槽;62、第二手持块;7、限位柱;71、限位孔;8、把手;9、延展台;91、延展板。
具体实施方式
下面将结合本实用新型实施例中的附图,对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本实用新型保护的范围。
请参阅图1-4,本实用新型提供一种技术方案:一种LED芯片测试装置,包括测试台1,测试台1的上表面开设有凹槽2,测试台1的外侧壁开设有测试槽21,测试槽21与凹槽2相连通,测试槽21的内部滑动连接有载物机构3,载物机构3包括载物板4、放置板5和限位板6,载物板4位于放置板5的下方,限位板6位于放置板5的上方,测试时,能够将LED芯片放置在放置板5上,限位板6能够将LED芯片夹持固定在放置槽51中。
放置板5的侧壁开设有多个等距分布的放置槽51,限位板6的上表面开设有与多个放置槽51相对应的限位槽61,多个限位槽61均与放置槽51相连通,限位槽61正面的长度均比放置槽51正面的长度短,使测试机中的探针通过限位槽61对放置槽51内部的LED芯片进行检测时,限位板6将LED芯片限制在放置槽51中,使其不会出现晃动,或脱离限位槽61。
载物板4上表面的两侧均固定连接有两个限位柱7,放置板5和限位板6的侧壁均开设有与四个限位柱7相对应的限位孔71,四个限位柱7的顶端均通过限位孔71贯穿放置板5和限位板6,便于定位安装放置板5和限位板6。
载物板4相对的两侧外侧壁均固定连接有把手8,放置板5相对的两外侧壁均固定连接有第一手持块52,限位板6的相对两外侧壁均固定有第二手持块62,同侧第一手持块52和第二手持块62均交错设置,便于拖动和操作载物机构3。
测试台1外侧壁的底端固定连接有延展台9,延展台9上表面的两侧均固定连接有延展板91,延展台9与测试槽21的开口方向均位于测试台1的同一侧,便于将载物机构3沿延展台9上表面的两个延展板91之间准确滑入测试槽21内。
具体的,使用本实用新型时,载物机构3可以设置有两个,第一个载物机构3通过延台上表面的两个延展板91之间滑入测试槽21内,使第二手持块62和限位柱7均与测试槽21内部的顶端相抵后,推力机通过探针对测试台1内的LED芯片进行检测,限位板6位于LED芯片的上方,将LED芯片夹持固定在放置槽51的内部,使探针逐个对LED芯片进行推拉力检测时,LED芯片不会因为探针的点触在放置槽51的内部晃动和脱离放置槽51,有利于对LED芯片进行固定后粘合力的检测,在载有LED芯片的第一个载物机构3进行检测的同时,检测人员可以通过第一手持块52抬起第二个载物机构3中的放置板5,通过使限位柱7滑入限位孔71的内部,将其放置在载物板4的上方,然后将LED芯片逐个放置在放置槽51的内部,通过第二手持块62将限位板6通过限位孔71沿限位柱7放置在放置板5的上方后,使推力机对第一个载物机构3中的LED芯片进行检测的同时,将下一轮对第二载物机构3进行检测前的准备工作同时进行,大大减少检测人员的工作量,节省时间,提高了检测效率,当检测完成后,通过把手8将载物机构3沿延展台9上表面的两个延展板91之间从测试槽21内快速抽出,通过第一手持块52将限位板6向上抬起,将限位板6和放置板5从载物板4上脱离,使多个LED芯片同时脱离放置槽51,检测人员按照载物板4上的坐标将未合格的LED芯片剔除后,可以对LED芯片进行快速的收集整理。
在本实用新型的描述中,需要理解的是,术语“同轴”、“底部”、“一端”、“顶部”、“中部”、“另一端”、“上”、“一侧”、“顶部”、“内”、“前部”、“中央”、“两端”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系,仅是为了便于描述本实用新型和简化描述,而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作,因此不能理解为对本实用新型的限制。
此外,术语“第一”、“第二”、“第三”、“第四”仅用于描述目的,而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量,由此,限定有“第一”、“第二”、“第三”、“第四”的特征可以明示或者隐含地包括至少一个该特征。
在本实用新型中,除非另有明确的规定和限定,术语“安装”、“设置”、“连接”、“固定”、“旋接”等术语应做广义理解,例如,可以是固定连接,也可以是可拆卸连接,或成一体;可以是机械连接,也可以是电连接;可以是直接相连,也可以通过中间媒介间接相连,可以是两个元件内部的连通或两个元件的相互作用关系,除非另有明确的限定,对于本领域的普通技术人员而言,可以根据具体情况理解上述术语在本实用新型中的具体含义。
尽管已经示出和描述了本实用新型的实施例,对于本领域的普通技术人员而言,可以理解在不脱离本实用新型的原理和精神的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型,本实用新型的范围由所附权利要求及其等同物限定。
Claims (5)
1.一种LED芯片测试装置,其特征在于:包括测试台(1),所述测试台(1)的上表面开设有凹槽(2),所述测试台(1)的外侧壁开设有测试槽(21),所述测试槽(21)与凹槽(2)相连通,所述测试槽(21)的内部滑动连接有载物机构(3),所述载物机构(3)包括载物板(4)、放置板(5)和限位板(6),所述载物板(4)位于放置板(5)的下方,所述限位板(6)位于放置板(5)的上方。
2.根据权利要求1所述的一种LED芯片测试装置,其特征在于:所述放置板(5)的侧壁开设有多个等距分布的放置槽(51),所述限位板(6)的上表面开设有与多个放置槽(51)相对应的限位槽(61),多个所述限位槽(61)均与放置槽(51)相连通,所述限位槽(61)正面的长度均比放置槽(51)正面的长度短。
3.根据权利要求1所述的一种LED芯片测试装置,其特征在于:所述载物板(4)上表面的两侧均固定连接有两个限位柱(7),所述放置板(5)和限位板(6)的侧壁均开设有与四个限位柱(7)相对应的限位孔(71),四个所述限位柱(7)的顶端均通过限位孔(71)贯穿放置板(5)和限位板(6)。
4.根据权利要求1所述的一种LED芯片测试装置,其特征在于:所述载物板(4)相对的两侧外侧壁均固定连接有把手(8),所述放置板(5)相对的两外侧壁均固定连接有第一手持块(52),所述限位板(6)的相对两外侧壁均固定有第二手持块(62),同侧所述第一手持块(52)和第二手持块(62)均交错设置。
5.根据权利要求1所述的一种LED芯片测试装置,其特征在于:所述测试台(1)外侧壁的底端固定连接有延展台(9),所述延展台(9)上表面的两侧均固定连接有延展板(91),所述延展台(9)与测试槽(21)的开口方向均位于测试台(1)的同一侧。
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CN201921623384.7U CN210876341U (zh) | 2019-09-27 | 2019-09-27 | 一种led芯片测试装置 |
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CN113358557A (zh) * | 2021-05-24 | 2021-09-07 | 深圳市艾比森光电股份有限公司 | 推力测量方法及装置 |
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2019
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