CN210775596U - 一种射频电阻综合参数测试装置 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种射频电阻综合参数测试装置，具体涉及测试装置领域，包括箱体，所述箱体包括箱身和箱盖，所述箱体上设有测试组件，所述箱身后侧固定设有出料口，所述箱盖顶部固定设有把手；所述测试组件包括固定壳，所述固定壳内部贯穿设有第一横杆和第二横杆，所述第一横杆和第二横杆上均套接设有第一齿轮，所述第一齿轮上套接设有第一齿条，所述第一横杆上套接设有第二齿轮。本实用新型通过直接将射频电阻放置在导电块上对射频电阻进行测试，防止发生触电，大大提高了安全性，箱盖上升带动第一滑杆和第二滑杆向两侧滑动，而使导电块上的射频电阻自动脱出落入箱身底部，无需人工进行取出操作，大大提升了测试的效率。

Description

一种射频电阻综合参数测试装置

技术领域

本实用新型涉及测试装置技术领域，更具体地说，本实用新型涉及一种射频电阻综合参数测试装置。

背景技术

射频就是射频电流，它是一种高频交流变化电磁波的简称，射频电阻可以分为功率平衡电阻，功率微带电阻，薄膜贴片高频电阻，贴片式负载电阻、射频负载电阻等等，射频电阻器及大功率微带电阻器特点表现在体积小，功率容量大，高频特性好，性能稳定可靠安装方便，适用于高频电路中作功率分配器，隔离电阻和终端负载电阻，无论是体积、功率、阻值、工作频率、驻波比、工作温度等都能根据不同的工作使用场合和要求做出不同规格的产品等方面，充分满足了不同客户用途的需求。

射频电阻在出厂时，需对其的综合参数进行测试，现有技术中，一般是人工使用测试仪对其进行测试，人工操作时需要将测试仪的接线头接在射频电阻两极上进行测试，接线头外露，如此操作可能发生触电情况，存在安全隐患，且人工操作速度较慢，机械化程度低，从而降低了测试的效率。

实用新型内容

为了克服现有技术的上述缺陷，本实用新型的实施例提供一种射频电阻综合参数测试装置，通过直接将射频电阻放置在导电块上，并盖上箱盖之后对射频电阻进行测试，无需人工将电线连在射频电阻上，防止发生触电，大大提高了安全性，同时在箱盖上升时，通过传动带动第一滑杆和第二滑杆向两侧滑动，而使导电块上的射频电阻自动脱出落入箱身底部，无需人工进行取出操作，大大提升了测试的效率，以解决上述背景技术中提出的问题。

为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：一种射频电阻综合参数测试装置，包括箱体，所述箱体包括箱身和箱盖，所述箱体上设有测试组件，所述箱身后侧固定设有出料口，所述箱盖顶部固定设有把手；

所述测试组件包括固定壳，所述固定壳内部贯穿设有第一横杆和第二横杆，所述第一横杆和第二横杆上均套接设有第一齿轮，所述第一齿轮上套接设有第一齿条，所述第一横杆上套接设有第二齿轮，所述第一齿条外侧固定设有多个拨块，所述箱身一侧贯穿设有第一滑杆以及另一额贯穿设有第二滑杆，所述第一滑杆和第二滑杆一端均固定设有第二齿条，所述第一滑杆和第二滑杆上均固定设有第一挡块，所述第一滑杆和第二滑杆上均固定设有挡板，所述第一滑杆和第二滑杆上均套接设有第一弹簧，所述第一滑杆和第二滑杆一端均固定设有导电块，所述导电块上固定开设有凹槽，所述箱盖两侧均固定设有第三滑杆，所述箱身两侧均固定设有固定块，所述第三滑杆一端固定设有第二挡块，所述第二挡块设于固定壳底部，所述第三滑杆一端套接设有第二弹簧，所述第三滑杆一侧固定设有套管，所述套管内侧贯穿设有斜面杆，所述斜面杆端部固定设有弹簧。

在一个优选地实施方式中，所述挡板上固定设有橡胶片。

在一个优选地实施方式中，所述箱盖底部固定设有防滑垫。

在一个优选地实施方式中，所述把手上套接设有防滑套。

在一个优选地实施方式中，所述箱盖底部两侧均固定设有第一卡块，所述箱身顶部两侧均固定设有第二卡块，所述第一卡块与第二卡块相卡接。

在一个优选地实施方式中，所述固定壳固定设于箱身两侧，所述第二滑杆与第二齿轮相啮合，所述第一滑杆贯穿设于固定壳一侧。

在一个优选地实施方式中，所述第一挡块设于箱身外侧，所述第一弹簧设于挡板一侧，所述第三滑杆一端贯穿设于固定壳上。

在一个优选地实施方式中，所述第三滑杆一端贯穿设于固定块上，所述第二弹簧设于固定块和第二挡块之间，所述弹簧一端固定设于第三滑杆一侧。

本实用新型的技术效果和优点：

1、通过直接将射频电阻放置在导电块上，并盖上箱盖之后对射频电阻进行测试，无需人工将电线连在射频电阻上，线头不外露，防止发生触电，大大提高了安全性，同时在箱盖上升时，通过传动带动第一滑杆和第二滑杆向两侧滑动，而使导电块上的射频电阻自动脱出落入箱身底部，无需人工进行取出操作，大大提升了测试的效率；

2、通过设置的橡胶片使射频电阻不小心被挡板夹住时，不会由于刚性挤压而使射频电阻损坏，通过设置的防滑垫，使本实用新型摆放更稳定，通过设置的防滑套，使握住把手时手不易打滑，通过设置的第一卡块卡在第二卡块上，使箱盖和箱身接触之后能够被锁定，以便于测试时间较长时，人不用一直按压把手，减少了工作量。

附图说明

图1为本实用新型的整体结构示意图。

图2为本实用新型的图1中A部分结构示意图。

图3为本实用新型的图1中B部分结构示意图。

图4为本实用新型的导电块结构示意图。

图5为本实用新型的挡板立体结构示意图。

附图标记为：1箱体、2箱身、3箱盖、4测试组件、5固定壳、6第一横杆、7第二横杆、8第一齿轮、9第一齿条、10第二齿轮、11拨块、12第一滑杆、13第二滑杆、14第二齿条、15第一挡块、16挡板、17第一弹簧、18导电块、19凹槽、20第三滑杆、21固定块、22第二挡块、23第二弹簧、24套管、25斜面杆、26弹簧、27出料口、28把手、29橡胶片、30防滑垫、31防滑套、32第一卡块、33第二卡块。

具体实施方式

下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

如附图1-附图5所示的一种射频电阻综合参数测试装置，包括箱体1，所述箱体1包括箱身2和箱盖3，所述箱体1上设有测试组件4，所述箱身2后侧固定设有出料口27，所述箱盖3顶部固定设有把手28；

所述测试组件4包括固定壳5，所述固定壳5内部贯穿设有第一横杆6和第二横杆7，所述第一横杆6和第二横杆7上均套接设有第一齿轮8，所述第一齿轮8上套接设有第一齿条9，所述第一横杆6上套接设有第二齿轮10，所述第一齿条9外侧固定设有多个拨块11，所述箱身2一侧贯穿设有第一滑杆12以及另一额贯穿设有第二滑杆13，所述第一滑杆12和第二滑杆13一端均固定设有第二齿条14，所述第一滑杆12和第二滑杆13上均固定设有第一挡块15，所述第一滑杆12和第二滑杆13上均固定设有挡板16，所述第一滑杆12和第二滑杆13上均套接设有第一弹簧17，所述第一滑杆12和第二滑杆13一端均固定设有导电块18，所述导电块18上固定开设有凹槽19，所述箱盖3两侧均固定设有第三滑杆20，所述箱身2两侧均固定设有固定块21，所述第三滑杆20一端固定设有第二挡块22，所述第二挡块22设于固定壳5底部，所述第三滑杆20一端套接设有第二弹簧23，所述第三滑杆20一侧固定设有套管24，所述套管24内侧贯穿设有斜面杆25，所述斜面杆25端部固定设有弹簧26；

所述固定壳5固定设于箱身2两侧，所述第二滑杆13与第二齿轮10相啮合，所述第一滑杆12贯穿设于固定壳5一侧；

所述第一挡块15设于箱身2外侧，所述第一弹簧17设于挡板16一侧，所述第三滑杆20一端贯穿设于固定壳5上；

所述第三滑杆20一端贯穿设于固定块21上，所述第二弹簧23设于固定块21和第二挡块22之间，所述弹簧26一端固定设于第三滑杆20一侧。

实施方式具体为：通过在导电块18上放置待测的射频电阻，射频电阻的两极卡在凹槽19中，之后推动把手28带动其上的箱盖3盖在箱身2顶部，通过提前将测试仪连接在导电块18上，测试仪接通电流并测试完毕之后，通过第二弹簧23本身的弹力作用下，推动第二挡块22向上运动，第二挡块22运动带动第三滑杆20向上运动，第三滑杆20向上运动带动其上的套管24和斜面杆25向上运动，由于斜面杆25向上运动时，不同于向下运动时斜面与拨块11接触可以向套管24内部滑动，而不拨动拨块11，其平面与拨块11接触时卡住拨块11并带动拨块11向上运动，拨块11向上滑动带动第一齿条9滑动，从而带动第一齿轮8和第一齿轮8上的第一横杆6转动，第一横杆6转动带动第二齿轮10转动，第二齿轮10转动带动第二齿条14滑动，第二齿条14滑动带动第一滑杆12和第二滑杆13滑动，第一滑杆12和第二滑杆13滑动带动导电块18运动，从而使第一滑杆12上的导电块18和第二滑杆13上导电块18的相互远离，进而使射频电阻的两极脱出凹槽19而落下，同时第一滑杆12和第二滑杆13在运动时带动其上的挡板16运动打开，使射频电阻落入箱身2底部，本实用新型通过直接将射频电阻放置在导电块18上，并盖上箱盖3之后对射频电阻进行测试，无需人工将电线连在射频电阻上，防止发生触电，大大提高了安全性，同时在箱盖3上升时，通过传动带动第一滑杆12和第二滑杆13向两侧滑动，而使导电块18上的射频电阻自动脱出落入箱身2底部，无需人工进行取出操作，大大提升了测试的效率。

如附图1和附图5所示的一种射频电阻综合参数测试装置，还包括，所述橡胶片29固定设于挡板16上；

所述箱盖3底部固定设有防滑垫30；

所述把手28上套接设有防滑套31；

所述箱盖3底部两侧均固定设有第一卡块32，所述箱身2顶部两侧均固定设有第二卡块33，所述第一卡块32与第二卡块33相卡接。

实施方式具体为：通过设置的橡胶片29使射频电阻不小心被挡板16夹住时，不会由于刚性挤压而使射频电阻损坏，通过设置的防滑垫30，增加了本实用新型与摆放面的摩擦力，使本实用新型摆放更稳定，通过设置的防滑套31，使握住把手28时手不易打滑，通过设置的第一卡块32卡在第二卡块33上，使箱盖3和箱身2接触之后能够被锁定，以便于测试时间较长时，人不用一直按压把手28，减少了工作量。

本实用新型工作原理：

参照说明书附图1-附图5，通过直接将射频电阻放置在导电块18上，并盖上箱盖3之后对射频电阻进行测试，线头不外露，无需人工将电线连在射频电阻上，防止发生触电，大大提高了安全性，同时在箱盖3上升时，通过传动带动第一滑杆12和第二滑杆13向两侧滑动，而使导电块18上的射频电阻自动脱出落入箱身2底部，无需人工进行取出操作，大大提升了测试的效率；

参照说明书附图1和附图5，通过设置的橡胶片29使射频电阻不小心被挡板16夹住时，不会由于刚性挤压而使射频电阻损坏，通过设置的防滑垫30，使本实用新型摆放更稳定，通过设置的防滑套31，使握住把手28时手不易打滑，通过设置的第一卡块32卡在第二卡块33上，使箱盖3和箱身2接触之后能够被锁定，以便于测试时间较长时，人不用一直按压把手28，减少了工作量。

最后应说明的几点是：首先，在本申请的描述中，需要说明的是，除非另有规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，可以是机械连接或电连接，也可以是两个元件内部的连通，可以是直接相连，“上”、“下”、“左”、“右”等仅用于表示相对位置关系，当被描述对象的绝对位置改变，则相对位置关系可能发生改变；

其次：本实用新型公开实施例附图中，只涉及到与本公开实施例涉及到的结构，其他结构可参考通常设计，在不冲突情况下，本实用新型同一实施例及不同实施例可以相互组合；

最后：以上所述仅为本实用新型的优选实施例而已，并不用于限制本实用新型，凡在本实用新型的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本实用新型的保护范围之内。

Claims (8)

1.一种射频电阻综合参数测试装置，包括箱体(1)，其特征在于：所述箱体(1)包括箱身(2)和箱盖(3)，所述箱体(1)上设有测试组件(4)，所述箱身(2)后侧固定设有出料口(27)，所述箱盖(3)顶部固定设有把手(28)；

所述测试组件(4)包括固定壳(5)，所述固定壳(5)内部贯穿设有第一横杆(6)和第二横杆(7)，所述第一横杆(6)和第二横杆(7)上均套接设有第一齿轮(8)，所述第一齿轮(8)上套接设有第一齿条(9)，所述第一横杆(6)上套接设有第二齿轮(10)，所述第一齿条(9)外侧固定设有多个拨块(11)，所述箱身(2)一侧贯穿设有第一滑杆(12)以及另一额贯穿设有第二滑杆(13)，所述第一滑杆(12)和第二滑杆(13)一端均固定设有第二齿条(14)，所述第一滑杆(12)和第二滑杆(13)上均固定设有第一挡块(15)，所述第一滑杆(12)和第二滑杆(13)上均固定设有挡板(16)，所述第一滑杆(12)和第二滑杆(13)上均套接设有第一弹簧(17)，所述第一滑杆(12)和第二滑杆(13)一端均固定设有导电块(18)，所述导电块(18)上固定开设有凹槽(19)，所述箱盖(3)两侧均固定设有第三滑杆(20)，所述箱身(2)两侧均固定设有固定块(21)，所述第三滑杆(20)一端固定设有第二挡块(22)，所述第二挡块(22)设于固定壳(5)底部，所述第三滑杆(20)一端套接设有第二弹簧(23)，所述第三滑杆(20)一侧固定设有套管(24)，所述套管(24)内侧贯穿设有斜面杆(25)，所述斜面杆(25)端部固定设有弹簧(26)。

2.根据权利要求1所述的一种射频电阻综合参数测试装置，其特征在于：所述挡板(16)上固定设有橡胶片(29)。

3.根据权利要求1所述的一种射频电阻综合参数测试装置，其特征在于：所述箱盖(3)底部固定设有防滑垫(30)。

4.根据权利要求1所述的一种射频电阻综合参数测试装置，其特征在于：所述把手(28)上套接设有防滑套(31)。

5.根据权利要求1所述的一种射频电阻综合参数测试装置，其特征在于：所述箱盖(3)底部两侧均固定设有第一卡块(32)，所述箱身(2)顶部两侧均固定设有第二卡块(33)，所述第一卡块(32)与第二卡块(33)相卡接。

6.根据权利要求1所述的一种射频电阻综合参数测试装置，其特征在于：所述固定壳(5)固定设于箱身(2)两侧，所述第二滑杆(13)与第二齿轮(10)相啮合，所述第一滑杆(12)贯穿设于固定壳(5)一侧。

7.根据权利要求1所述的一种射频电阻综合参数测试装置，其特征在于：所述第一挡块(15)设于箱身(2)外侧，所述第一弹簧(17)设于挡板(16)一侧，所述第三滑杆(20)一端贯穿设于固定壳(5)上。

8.根据权利要求1所述的一种射频电阻综合参数测试装置，其特征在于：所述第三滑杆(20)一端贯穿设于固定块(21)上，所述第二弹簧(23)设于固定块(21)和第二挡块(22)之间，所述弹簧(26)一端固定设于第三滑杆(20)一侧。

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