CN210742105U - 一种用于紫外可见分光光度计的薄膜薄片试样支架 - Google Patents
一种用于紫外可见分光光度计的薄膜薄片试样支架 Download PDFInfo
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Abstract
本实用新型公开了一种用于紫外可见分光光度计的薄膜薄片试样支架,包括第一支撑板、底座、第二支撑板,所述第一支撑板和所述第二支撑板间隔平行设置且底端均固定连接所述底座,所述第一支撑板和所述第二支撑板之间竖直设置有薄膜或薄片试样,所述第一支撑板和所述第二支撑板上对称设置有透光孔。有益效果是:固定检测薄膜或薄片类材料透射率及反射率,成本低、易拆卸。
Description
技术领域
本实用新型涉及样品光度测量的固定技术领域,具体的说,是一种用于紫外可见分光光度计的薄膜薄片试样支架。
背景技术
紫外-可见分光光度计是一种用来测量材料对紫外及可见光范围内电磁波的透射率及反射率的仪器。其常见配件为测量液体所使用的样品支架,对于薄膜、薄片类材料则需单独购买昂贵的附加配件,且该类型配件安装复杂,不易拆卸。
实用新型内容
本实用新型所要解决的技术问题是提供一种用于紫外可见分光光度计的薄膜薄片试样支架,固定检测薄膜或薄片类材料透射率及反射率,成本低、易拆卸。
本实用新型解决上述技术问题的技术方案如下:包括第一支撑板、底座、第二支撑板,所述第一支撑板和所述第二支撑板间隔平行设置且底端均固定连接所述底座,所述第一支撑板和所述第二支撑板之间竖直设置有薄膜或薄片试样,所述第一支撑板和所述第二支撑板上对称设置有透光孔。
本实用新型的有益效果是:通过间隙设置的支撑架,将薄膜、薄片类材料通过固定在固定检测薄膜或薄片类材料透射率及反射率。
在上述技术方案的基础上,本实用新型还可以做如下改进。
进一步,所述第一支撑板和所述第二支撑板的侧壁上均设有用于固定薄膜或薄片试样的延伸部,所述第二支撑板上以及所述第二支撑板上的所述延伸部上均设有所述安装孔。
采用上述进一步方案的有益效果是薄膜或薄片试样的厚度较厚,通过延伸快使固定距离变宽,操作方便。
在上述技术方案的基础上,本实用新型还可以做如下改进。
进一步,所述安装孔上设置螺帽,螺丝的一端依次穿过并伸出所述螺帽和所述安装孔后将薄膜或薄片试样抵接在所述第一支撑板的内壁上。
采用上述进一步方案的有益效果是结构钢简单,操作方便。
在上述技术方案的基础上,本实用新型还可以做如下改进。
进一步,所述第一支撑板和所述第二支撑板的材质为塑料材质。
采用上述进一步方案的有益效果是成本低,轻便,便于制造。
在上述技术方案的基础上,本实用新型还可以做如下改进。
进一步,所述底座的底端设有用于卡接在紫外可见分光光度计样品台上的凹槽内的凸块。
采用上述进一步方案的有益效果是结构简单,操作方便。
在上述技术方案的基础上,本实用新型还可以做如下改进。
进一步,所述底座的顶端设有第一凹槽,所述第一凹槽内设有用于吸住紫外-可见分光光度计样品台的磁块。
采用上述进一步方案的有益效果是磁吸方式简单,操作方便。
在上述技术方案的基础上,本实用新型还可以做如下改进。
进一步,所述凸块设置在所述第一凹槽的竖直投影内,所述第一凹槽的槽底设在所述凸块内。
采用上述进一步方案的有益效果是节省空间,造型美观。
附图说明
图1为本实用新型结构示意图;
图2为图1的正视图;
图3为图1的侧视图;
图4为图1的俯视图;
附图中,各标号所代表的部件列表如下:
1、第一支撑板,2、凸块,3、安装孔,4、底座,5、螺丝,6、透光孔,7、螺帽,8、第二支撑板,9、延伸部,10、第一凹槽。
具体实施方式
在本实用新型的描述中,需要说明的是,术语″上″、″下″、″前″、″后″、″左″、″右″、″内″、″外″等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系,仅是为了便于描述本实用新型和简化描述,而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作,因此不能理解为对本实用新型的限制。此外,术语″第一″、″第二″仅用于描述目的,而不能理解为指示或暗示相对重要性。
在本实用新型的描述中,需要说明的是,除非另有明确的规定和限定,术语″安装″、″相连″、″连接″应做广义理解,例如,可以是固定连接,也可以是可拆卸连接,或一体地连接;可以是机械连接,也可以是电路连接;可以是直接相连,也可以通过中间媒介间接相连,可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言,可以具体情况理解上述术语在本实用新型中的具体含义。此外,在本实用新型的描述中,除非另有说明,″多个″的含义是两个或两个以上。
为使本实用新型实施例的目的、技术方案和优点更加清楚,下面将结合本实用新型实施例中的附图,对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例是本实用新型的一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动的前提下所获得的所有其他实施例,都属于本实用新型保护的范围。
如图1-4所示,本实用新型提供一种用于紫外可见分光光度计的薄膜薄片试样支架,包括第一支撑板1、底座4、第二支撑板8,第一支撑板1和第二支撑板8间隔平行设置且底端均固定连接底座4,第一支撑板1和第二支撑板8之间竖直设置有薄膜或薄片试样,第一支撑板1和第二支撑板8上对称设置有透光孔6,第一支撑板1和第二支撑板8的间隙为13.9毫米。第一支撑板1和第二支撑板8的材质为塑料材质,一般采用聚乳酸树脂。支撑架1和底座4采用3D打印方式加工成型,实现低成本快速制造。
第一支撑板1和第二支撑板8的侧壁上均设有用于固定薄膜或薄片试样的延伸部9,第二支撑板8上以及第二支撑板8上的延伸部9上均设有安装孔3。待测量试样通过第二支撑板8侧壁上的M3螺丝5进行固定,可使待测试样表面紧贴在第一支撑板1内壁上,采用三颗独立的螺丝5抵接待测试样表面。
底座4的底端设有用于卡接在紫外可见分光光度计样品台上的凹槽内的凸块2。底座4的顶端设有第一凹槽10,第一凹槽10内设有用于吸住紫外可见分光光度计样品台的磁块。凸块2设置在第一凹槽10的竖直投影内,第一凹槽10的槽底设在凸块2内。第一凹槽10的设置是用来放置磁块,而紫外可见分光光度计样品台为金属材质进行固定,不需要采用螺钉类似的固定方式,紫外可见分光光度计样品台上面设有第一凹槽,通过凸块2卡设在第一凹槽内,两者相配合固定效果好。
尽管本实用新型的实施方案已公开如上,但其并不仅仅限于说明书和实施方式中所列运用,它完全可以被适用于各种适合本实用新型的领域,对于熟悉本领域的人员而言,可容易地实现另外的修改,因此在不背离权利要求及等同范围所限定的一般概念下,本实用新型并不限于特定的细节和这里示出与描述的图例。
Claims (7)
1.一种用于紫外可见分光光度计的薄膜薄片试样支架,其特征在于:包括第一支撑板(1)、底座(4)、第二支撑板(8),所述第一支撑板(1)和所述第二支撑板(8)间隔平行设置且底端均固定连接所述底座(4),所述第一支撑板(1)和所述第二支撑板(8)之间竖直设置有薄膜或薄片试样,所述第一支撑板(1)和所述第二支撑板(8)上对称设置有透光孔(6)。
2.根据权利要求1所述的一种用于紫外可见分光光度计的薄膜薄片试样支架,其特征在于:所述第一支撑板(1)和所述第二支撑板(8)的侧壁上均设有用于固定薄膜或薄片试样的延伸部(9),所述第二支撑板(8)上以及所述第二支撑板(8)上的所述延伸部(9)上均设有安装孔(3)。
3.根据权利要求2所述的一种用于紫外可见分光光度计的薄膜薄片试样支架,其特征在于:所述安装孔(3)上设置螺帽(7),螺丝(5)的一端依次穿过并伸出所述螺帽(7)和所述安装孔(3)后将薄膜或薄片试样抵接在所述第一支撑板(1)的内壁上。
4.根据权利要求1-3任一项所述的一种用于紫外可见分光光度计的薄膜薄片试样支架,其特征在于:所述第一支撑板(1)和所述第二支撑板(8)的材质为塑料材质。
5.根据权利要求1-3任一项所述的一种用于紫外可见分光光度计的薄膜薄片试样支架,其特征在于:所述底座(4)的底端设有用于卡接在紫外可见分光光度计样品台上的凹槽内的凸块(2)。
6.根据权利要求5所述的一种用于紫外可见分光光度计的薄膜薄片试样支架,其特征在于:所述底座(4)的顶端设有第一凹槽(10),所述第一凹槽(10)内设有用于吸住紫外可见分光光度计样品台的磁块。
7.根据权利要求6所述的一种用于紫外可见分光光度计的薄膜薄片试样支架,其特征在于:所述凸块(2)设置在所述第一凹槽(10)的竖直投影内,所述第一凹槽(10)的槽底设在所述凸块(2)内。
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CN113176219A (zh) * | 2021-04-30 | 2021-07-27 | 福建师范大学 | 一种基于可变磁场的薄膜光学性能测量系统 |
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