CN210625710U - 元件固定装置及测试系统 - Google Patents

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刘海潮
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Abstract

本实用新型涉及一种元件固定装置及测试系统,包括座体和端盖,所述座体内开设有容置槽,所述容置槽用于放置与所述容置槽大小相匹配的所述元件。所述端盖固设于所述容置槽的开口处并封闭所述开口,所述端盖用于将所述元件固定于所述容置槽内。本实施例通过在座体上开设容置槽,限制元件的横向运动和旋转运动;在容置槽开口处设置了端盖,端盖将元件固定在容置槽内用于限制元件的轴向运动,避免了元件的横向运动、旋转运动以及振动测试中的共振现象,同时也避免环境可靠性测试时元件的轴与轴承之间的摩擦,可以更好地保护元件,还有利于提高元件的测试精度,进而有利于在测试中准确发现元件的薄弱点,缩短产品研发与投入周期。

Description

元件固定装置及测试系统
技术领域
本实用新型涉及仪器固定技术领域,特别是涉及一种元件固定装置及测试系统。
背景技术
目前,市场上的编码器、马达或者转子等元件一般需要进行机械可靠性测试(振动测试、冲击测试)、各类环境可靠性测试(高低温工作测试、湿热及温湿度循环测试)、功能测试(响应频率测试、电流测试及电源通断测试、分解度等测试)等。以下以编码器为例进行说明:
在对编码器进行机械可靠性测试时,传统的做法一般是采用压条将编码器压紧在工作台上,但是编码器与工作台不是刚性连接,在测试过程中容易产生共振,容易造成编码器结构损坏或者性能下降,最终导致测试结果严重偏离编码器实际的耐振动性能及耐冲击特性,严重情况下,测试精度会严重偏离标准要求。
在对编码器进行功能测试和环境可靠性测试时,传统的做法是将编码器悬空在工作台的上方进行测试。在功能测试的过程中,编码器处于悬空以及旋转状态,导致编码器左右前后摆动,直接影响分解度测试精度,导致电压电流波形以及电压电流值失真,相应频率以及信号下降时间出现偏差,最终不能准确测试出编码器自身各参数值。在环境可靠性测试的过程中,编码器在摆动时导致编码器的轴与轴承之间相互摩擦,其中高低温及湿热条件有进一步加剧了轴与轴承间的摩擦严酷条件,长时间的环境可靠性测试会导致编码器发生轴变形,轴承磨损破裂,严重影响测试结果。
因此,设计一种能够避免共振和摩擦现象,还能够提高测试精准度的用于放置编码器等元件的元件固定装置是十分有必要的。
实用新型内容
基于此,有必要针对上述技术问题,提供一种能够避免共振和摩擦现象,还能够提高测试精准度的元件固定装置及测试系统。
一种元件固定装置,放置在工作台上用于固定元件,包括:
座体,所述座体内开设有容置槽,所述容置槽用于放置与所述容置槽大小相匹配的所述元件;
端盖,所述端盖固设于所述容置槽的开口处并封闭所述开口,所述端盖用于将所述元件固定于所述容置槽内。
下面进一步对技术方案进行说明:
在其中一个实施例中,所述座体上开设有第一通孔,所述第一通孔连通于所述容置槽和所述座体的外部,所述元件包括本体和连接于所述本体上的信号线,所述第一通孔用于穿设所述信号线且将所述信号线引至所述座体的外部。
在其中一个实施例中,所述座体包括相对于所述端盖设置的底部,所述第一通孔开设于所述座体的侧壁和/或所述底部。
在其中一个实施例中,所述端盖的面积大于所述开口,所述端盖和所述座体固定连接。
在其中一个实施例中,所述端盖为法兰盖。
在其中一个实施例中,所述元件包括第一端,所述第一端朝向所述开口设置,所述端盖上开设有第二通孔,所述第一端穿设于所述第二通孔且所述第二通孔的孔径大小和所述第一端相匹配。
在其中一个实施例中,所述元件为编码器、马达、转子中的一种或几种的组合。
在其中一个实施例中,所述第一端设有轴,所述轴朝着背离所述容置槽的方向延伸,所述轴外伸出所述端盖。
在其中一个实施例中,所述座体和所述工作台固定连接。
一种测试系统,包括如上述所述的一种元件固定装置。
上述元件固定装置及测试系统,至少具有以下有益效果:
本实施例通过在座体上开设容置槽,且容置槽和元件的大小相匹配,这样可以限制元件的横向运动和旋转运动;在容置槽开口处设置了端盖,端盖将元件固定在容置槽内用于限制元件的轴向运动。通过该元件固定装置可以实现元件的有效固定,避免了元件的横向运动、旋转运动以及振动测试中的共振现象,同时也避免环境可靠性测试时元件的轴与轴承之间的摩擦,可以更好地保护元件,还有利于提高元件的测试精度,进而有利于在测试中准确发现元件的薄弱点,缩短产品研发与投入周期。
附图说明
图1为本实用新型一实施例提供的元件固定装置的结构示意图;
图2为本实用新型一实施例提供的座体的结构示意图;
图3为本实用新型一实施例提供的端盖的结构示意图;
图4为本实用新型一实施例提供的元件的结构示意图。
附图标记说明:1、座体,11、容置槽,111、开口,12、第一通孔,13、第三通孔,2、端盖,21、第二通孔,3、元件,31、本体,311、第一端,311a、轴。
具体实施方式
为使本实用新型的上述目的、特征和优点能够更加明显易懂,下面结合附图对本实用新型的具体实施方式做详细的说明。在下面的描述中阐述了很多具体细节以便于充分理解本实用新型。但是本实用新型能够以很多不同于在此描述的其它方式来实施,本领域技术人员可以在不违背本实用新型内涵的情况下做类似改进,因此本实用新型不受下面公开的具体实施的限制。
需要说明的是,当元件被称为“固定于”另一个元件,它可以直接在另一个元件上或者也可以存在居中的元件。当一个元件被认为是“连接”另一个元件,它可以是直接连接到另一个元件或者可能同时存在居中元件。本文所使用的术语“垂直的”、“水平的”、“左”、“右”以及类似的表述只是为了说明的目的,并不表示是唯一的实施方式。
除非另有定义,本文所使用的所有的技术和科学术语与属于本实用新型的技术领域的技术人员通常理解的含义相同。本文中在本实用新型的说明书中所使用的术语只是为了描述具体的实施例的目的,不是旨在于限制本实用新型。以上所述实施例的各技术特征可以进行任意的组合,为使描述简洁,未对上述实施例中的各个技术特征所有可能的组合都进行描述,然而,只要这些技术特征的组合不存在矛盾,都应当认为是本说明书记载的范围。
本实施例提供了一种元件固定装置,具有能够避免共振和摩擦现象,还能够提高测试精准度的优点,以下将结合附图进行详细说明。
在一个实施例中,请参阅图1至图4,一种元件固定装置,放置在工作台上用于固定元件3,该元件固定装置包括座体1和端盖2。座体1内开设有容置槽11,容置槽11用于放置与容置槽11大小相匹配的元件3。端盖2固设于容置槽11的开口111处并封闭开口111,端盖2用于将元件3固定于容置槽11内。
在对编码器进行机械可靠性测试时,传统的做法一般是采用压条将编码器压紧在工作台上,但是编码器与工作台不是刚性连接,在测试过程中容易产生共振,容易造成编码器结构损坏或者性能下降,最终导致测试结果严重偏离编码器实际的耐振动性能及耐冲击特性,严重情况下,测试精度会严重偏离标准要求。
在对编码器进行功能测试和环境可靠性测试时,传统的做法是将编码器悬空在工作台的上方进行测试。在功能测试的过程中,编码器处于悬空以及旋转状态,导致编码器左右前后摆动,直接影响分解度测试精度,导致电压电流波形以及电压电流值失真,相应频率以及信号下降时间出现偏差,最终不能准确测试出编码器自身各参数值。在环境可靠性测试的过程中,编码器在摆动时导致编码器的轴311a与轴承之间相互摩擦,其中高低温及湿热条件又进一步加剧了轴311a与轴承间的摩擦严酷条件,长时间的环境可靠性测试会导致编码器发生轴变形,轴承磨损破裂,严重影响测试结果。
但是,本实施例提供的元件固定装置可以解决上述测试中存在的问题。本实施例通过在座体1上开设容置槽11,且容置槽11和元件3的大小相匹配,这样可以限制元件3的横向运动和旋转运动;在容置槽11的开口111处设置了端盖2,端盖2将元件3固定在容置槽11内用于限制元件3的轴向运动。通过该元件固定装置可以实现元件3的有效固定,避免了元件3的横向运动、旋转运动以及振动测试中的共振现象,同时也避免环境可靠性测试时元件3的轴311a与轴承之间的摩擦,可以更好地保护元件3,还有利于提高元件3的测试精度,进而有利于在测试中准确发现元件3的薄弱点,缩短产品研发与投入周期。
其中,容置槽11的个数可以为一个、两个、三个等任意数目。每个容置槽11的大小也可以不同,根据待测试的元件3的类型而定。容置槽11内可以放置的元件3可以为编码器、马达、转子等。
在一个实施例中,参阅图1、图2以及图4,座体1上开设有第一通孔12,第一通孔12连通于容置槽11和座体1的外部,元件3包括本体31和连接于本体31上的信号线(未图示),第一通孔12用于穿设信号线且将信号线引至座体1的外部。具体地,座体1包括相对于端盖2设置的底部,第一通孔12开设于座体1的侧壁和/或底部。以下以元件3为编码器为例来作具体说明:编码器的信号线设置在编码器的本体31的侧部且将编码器置入容置槽11内时,编码器的信号线从设置在座体1侧壁上的第一通孔12穿出并连接到座体1外部的外接设备(比如测试仪器等)。当编码器的信号线设置在编码器的底部时,由于容置槽11的底部开设有第一通孔12且该第一通孔12贯穿座体1的底部,这样编码器置入容置槽11内,编码器的信号线可以从设置在座体1底部的第一通孔12穿出且连接到座体1外部的外接设备。可以理解的是,第一通孔12作为元件3的信号线的过线孔,可以根据信号线的具体位置来做具体设计,故第一通孔12的位置在此不做具体限定。
在一个实施例中,端盖2的面积大于开口111,端盖2和座体1固定连接。端盖2的面积大于容置槽11的开口111,可以完全封闭容置槽11的开口111。具体地,端盖2为法兰盖。法兰盖的边缘设置螺丝孔,螺钉或螺栓穿过该螺丝孔将法兰盖固定在座体1上。
在一个实施例中,参阅图1、图3和图4,元件3包括第一端311,第一端311朝向开口111设置,端盖2上开设有第二通孔21,第一端311穿设于第二通孔21且第二通孔21的孔径大小和第一端311相匹配。进一步地,第一端311设有轴311a,轴311a朝着背离容置槽11的方向延伸,轴311a外伸出端盖2。即端盖2开设第二通孔21正好“卡住”元件3的第一端311,且元件3的轴311a可以通过第二通孔21外伸出来并显露在容置槽11外部。如此,当元件3需要进行功能测试或者环境可靠性测试时,轴311a外伸出容置槽11比较方便轴311a和其他测试仪器(比如电机)的连接,便于进行测试。
进一步地,参阅图1和图2,座体1和工作台固定连接。具体地,座体1上开设有第三通孔13,第三通孔13贯穿座体1。座体1还包括第一紧固部件,第一紧固部件穿设于第三通孔13内且连接至工作台上。具体地,第三通孔13均匀分布在座体1的边缘。第一紧固部件可以为螺钉或螺栓,螺栓或螺钉穿过第三通孔13将座体1和工作台固定连接在一起。可以理解的是,座体1和工作台固定连接的方式还可以为焊接、卡接、铆接等,故座体1和工作台的具体连接方式在此不做具体限定。
测试系统包括上述任一个实施例所述的元件固定装置,技术效果由元件固定装置带来,有益效果已经包括了元件固定装置的有益效果,故在此不进行赘述。
本实施例提供的元件固定装置通过在座体1上开设容置槽11,且容置槽11和元件3的大小相匹配,这样可以限制元件3的横向运动和旋转运动;在容置槽11开口111处设置了端盖2,端盖2将元件3固定在容置槽11内用于限制元件3的轴向运动。通过该元件固定装置可以实现元件3的有效固定,避免了元件3的横向运动、旋转运动以及振动测试中的共振现象,同时也避免环境可靠性测试时元件3的轴311a与轴承之间的摩擦,可以更好地保护元件3,还有利于提高元件3的测试精度,进而有利于在测试中准确发现元件3的薄弱点,缩短产品研发与投入周期。
以上所述实施例的各技术特征可以进行任意的组合,为使描述简洁,未对上述实施例中的各个技术特征所有可能的组合都进行描述,然而,只要这些技术特征的组合不存在矛盾,都应当认为是本说明书记载的范围。
以上所述实施例仅表达了本实用新型的几种实施方式,其描述较为具体和详细,但并不能因此而理解为对实用新型专利范围的限制。应当指出的是,对于本领域的普通技术人员来说,在不脱离本实用新型构思的前提下,还可以做出若干变形和改进,这些都属于本实用新型的保护范围。因此,本实用新型专利的保护范围应以所附权利要求为准。

Claims (10)

1.一种元件固定装置,放置在工作台上用于固定元件,其特征在于,包括:
座体,所述座体内开设有容置槽,所述容置槽用于放置与所述容置槽大小相匹配的所述元件;
端盖,所述端盖固设于所述容置槽的开口处并封闭所述开口,所述端盖用于将所述元件固定于所述容置槽内。
2.根据权利要求1所述的元件固定装置,其特征在于,所述座体上开设有第一通孔,所述第一通孔连通于所述容置槽和所述座体的外部,所述元件包括本体和连接于所述本体上的信号线,所述第一通孔用于穿设所述信号线且将所述信号线引至所述座体的外部。
3.根据权利要求2所述的元件固定装置,其特征在于,所述座体包括相对于所述端盖设置的底部,所述第一通孔开设于所述座体的侧壁和/或所述底部。
4.根据权利要求1所述的元件固定装置,其特征在于,所述端盖的面积大于所述开口,所述端盖和所述座体固定连接。
5.根据权利要求1所述的元件固定装置,其特征在于,所述端盖为法兰盖。
6.根据权利要求1所述的元件固定装置,其特征在于,所述元件包括第一端,所述第一端朝向所述开口设置,所述端盖上开设有第二通孔,所述第一端穿设于所述第二通孔且所述第二通孔的孔径大小和所述第一端相匹配。
7.根据权利要求6所述的元件固定装置,其特征在于,所述元件为编码器、马达、转子中的一种或几种的组合。
8.根据权利要求6所述的元件固定装置,其特征在于,所述第一端设有轴,所述轴朝着背离所述容置槽的方向延伸,所述轴外伸出所述端盖。
9.根据权利要求1至8任一项所述的元件固定装置,其特征在于,所述座体和所述工作台固定连接。
10.一种测试系统,其特征在于,包括如权利要求1至9任一项所述的元件固定装置。
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