CN210603210U - 一种非接触式边距测量仪 - Google Patents

Abstract

本实用新型涉及幅接装纸打孔、复卷技术领域，具体为一种非接触式边距测量仪，包括底座；轨道，与所述底座连接；导轨滑块A，与所述轨道滑动连接；导轨滑块B，与所述轨道滑动连接；可调节螺杆A，连接所述底座和导轨滑块A；可调节螺杆B，连接所述导轨滑块A和导轨滑块B；激光头A，与所述导轨滑块A连接；激光头B，与所述导轨滑块B连接，且所述激光头B发出的激光点B与所述激光头A发出的激光点A之间的连接线与所述导轨滑块A在所述轨道上的移动方向平行；测距反射台A，与所述导轨滑块A连接；测距反射台B，与所述导轨滑块B连接；激光测距仪。本申请的边距测量仪具有非接触、测距精确度高、操作简便的优点。

Description

一种非接触式边距测量仪

技术领域

本实用新型涉及窄幅接装纸打孔、复卷技术领域，具体为一种非接触式边距测量仪。

背景技术

激光打孔机用于水松纸的打孔，通过在高速输送的纸张上利用一定频率的激光烧蚀出细孔的方式增加纸张透气度。

现在的激光打孔机在运转中，孔与纸张边缘的距离可能会发生变化，这种变化在高速运转的纸张上极难察觉。而传统的通过尺子测量的方式因为无法接触高速运转的纸上而导致了测量误差很大。因此需要一种既能保持测量精度，又不必直接对纸张进行接触的测量工具。

实用新型内容

本实用新型针对现有技术存在的问题，提出了一种高精度的非接触式边距测量仪。

本实用新型解决其技术问题所采用的技术方案是：一种非接触式边距测量仪，包括

底座；

轨道，与所述底座连接；

导轨滑块A，与所述轨道滑动连接；

导轨滑块B，与所述轨道滑动连接；

可调节螺杆A，连接所述底座和导轨滑块A；

可调节螺杆B，连接所述导轨滑块A和导轨滑块B；

激光头A，与所述导轨滑块A连接；

激光头B，与所述导轨滑块B连接，且所述激光头B发出的激光点B与所述激光头A发出的激光点A之间的连接线与所述导轨滑块A在所述轨道上的移动方向平行；

测距反射台A，与所述导轨滑块A连接；

测距反射台B，与所述导轨滑块B连接；

激光测距仪，通过可调滑台B与所述底座连接，且所述激光测距仪、测距反射台A、测距反射台B位于同一平面；所述底座开有与所述可调节螺杆A配合使用的底座螺纹孔；所述导轨滑块A开有与所述可调节螺杆B配合使用的滑块A螺纹孔。

作为优选，所述可调节螺杆A的端部与导轨滑块A内部轴向限位、周向活动连接。

作为优选，所述导轨滑块A设有直径大于所述可调节螺杆A直径的圆柱状容置腔，所述可调节螺杆A的端部设有与所述圆柱状容置腔配合安装的圆柱形凸起。

作为优选，所述可调节螺杆B的端部与导轨滑块B内部轴向限位、周向活动连接。

作为优选，所述导轨滑块B设有直径大于所述可调节螺杆B直径的圆柱状容置腔，所述可调节螺杆B的端部设有与所述圆柱状容置腔配合安装的圆柱形凸起。

作为优选，所述圆柱状容置腔内周侧等间隔嵌设有若干滚珠。

作为优选，所述导轨滑块A背面开有与所述轨道形状配合使用的滑动槽，所述导轨滑块A正面连接所述激光头A，所述导轨滑块A背面位于所述滑动槽上方连接所述测距反射台A。

作为优选，所述导轨滑块B背面开有与所述轨道形状配合使用的滑动槽，所述导轨滑块B正面连接所述激光头B，所述导轨滑块B背面位于所述滑动槽上方连接所述测距反射台B。

本实用新型的有益效果是，本申请通过导轨滑块A、导轨滑块B、可调节螺杆A、可调节螺杆B调节激光头A和激光头B的位置，使其分别对准纸张孔和纸张边缘，并通过测距反射台A、测距反射台B和激光测距仪将纸张孔和纸张边缘转换为测距反射台A和测距反射台B之间的实际距离，最后通过激光测距仪显示，具有非接触、测距精确度高、操作简便的优点。

附图说明

图1为本实用新型一种非接触式边距测量仪的结构示意图；

图2为轨道与底座、导轨滑块A、导轨滑块B的连接结构示意图；

图3为可调节螺杆B与导轨滑块A、导轨滑块B的连接结构示意图；

图4为可调节螺杆A与底座、导轨滑块A的连接结构示意图；

图5为可调滑台A与导轨滑块B的连接结构示意图；

图6为激光测距仪、测距反射台A、测距反射台B与底座的连接结构示意图。

具体实施方式

下面结合附图并通过具体实施方式来进一步说明本实用新型的技术方案。

如图1至6所示，一种非接触式边距测量仪，包括底座1，轨道2，导轨滑块A4，导轨滑块B3，可调节螺杆A7，可调节螺杆B8，激光头A14，激光头B15，测距反射台A12，测距反射台B13和激光测距仪6。

轨道2与所述底座1连接。所述座体1包括用于横向设置所述轨道2的轨道安装部，以及与所述轨道安装部横向端垂直连接、用于连接所述可调节螺杆A7及所述激光测距仪6的座板部。

导轨滑块A4与所述轨道2滑动连接，导轨滑块B3与所述轨道2滑动连接，即导轨滑块A4、导轨滑块B3均可沿轨道2做X轴轴向移动，从而实现两道激光的X轴精确移动。

可调节螺杆A7连接所述底座1和导轨滑块A4，通过可调节螺杆A7在底座1上的轴向移动，带动导轨滑块A4沿轨道2做X轴轴向移动，由于导轨滑块A4和导轨滑块B3通过可调节螺杆B8相对固定连接，因此，导轨滑块B3会跟随导轨滑块A4沿轨道2做X轴轴向移动，从而实现在不改变两道激光间距的情况下同时改变两道激光在X轴上的位置。

所述底座1开有与所述可调节螺杆A7配合使用的底座螺纹孔，可调节螺杆A7在底座螺纹孔中正反转动以实现可调节螺杆A7的轴向左右移动。可调节螺杆A7的端部与导轨滑块A4内部活动连接，即一方面与导轨滑块A4轴向限位连接，另一方面与导轨滑块A4非转动连接。

所述可调节螺杆A7的端部与导轨滑块A4内部轴向限位、周向活动连接。例如，所述导轨滑块A4设有直径大于所述可调节螺杆A7直径的圆柱状容置腔，所述可调节螺杆A7的端部设有与所述圆柱状容置腔配合安装的圆柱形凸起。圆柱形凸起的轴向长度与所述圆柱状容置腔的轴向长度相等，使得两者在轴向限位接触，且接触面为光面。所述圆柱状容置腔内周侧等间隔嵌设有若干滚珠，便于可调节螺杆A7带动圆柱形凸起在圆柱状容置腔中转动。

可调节螺杆B8连接所述导轨滑块A4和导轨滑块B3，通过可调节螺杆B8在导轨滑块A4上的轴向移动，带动导轨滑块B3沿轨道2做X轴轴向移动，此时，导轨滑块A4由于可调节螺杆A7的轴向限位作用而位置不动，从而实现导轨滑块B3相对导轨滑块A4的距离调节。

所述导轨滑块A4开有与所述可调节螺杆B8配合使用的滑块A螺纹孔，可调节螺杆B8在滑块A螺纹孔中正反转动以实现可调节螺杆B8的轴向左右移动。可调节螺杆B8的端部与导轨滑块B3内部活动连接，即一方面与导轨滑块B3轴向限位连接，另一方面与导轨滑块B3非转动连接。

所述可调节螺杆B8的端部与导轨滑块B3内部轴向限位、周向活动连接。例如，所述导轨滑块B3设有直径大于所述可调节螺杆B8直径的圆柱状容置腔，所述可调节螺杆B8的端部设有与所述圆柱状容置腔配合安装的圆柱形凸起。圆柱形凸起的轴向长度与所述圆柱状容置腔的轴向长度相等，使得两者在轴向限位接触，且接触面为光面。所述圆柱状容置腔内周侧等间隔嵌设有若干滚珠，便于可调节螺杆B8带动圆柱形凸起在圆柱状容置腔中转动。

激光头A14与所述导轨滑块A4连接，激光头B15与所述导轨滑块B3连接，且所述激光头B15发出的激光点B与所述激光头A14发出的激光点A之间的连接线与所述导轨滑块A4在所述轨道2上的移动方向平行，即激光头A14与激光头B15互相平行，并且投射到需要测量的两点上。

所述激光头B15通过可调滑台A11与所述导轨滑块B3连接，可调滑台A11能够对导轨滑块B3进行X轴向微调，此处微调不干涉激光测距仪最终测量的数值，但能对测量系统误差进行补偿。

所述轨道2包括燕尾型轨道本体，导轨滑块B3和导轨滑块A4在燕尾型轨道本体上左右自由移动。所述导轨滑块A4背面开有与所述轨道2形状配合使用的滑动槽，所述导轨滑块A4正面连接所述激光头A14，所述导轨滑块A4背面位于所述滑动槽上方连接所述测距反射台A12。所述导轨滑块B3背面开有与所述轨道2形状配合使用的滑动槽，所述导轨滑块B3正面连接所述激光头B15，所述导轨滑块B3背面位于所述滑动槽上方连接所述测距反射台B13，该设置结构最为合理，使得边距测量仪测量效果最好。

测距反射台A12与所述导轨滑块A4连接，测距反射台B13与所述导轨滑块B3连接，测距反射台B13的高度高于测距反射台A12。激光测距仪6通过可调滑台B5与所述底座1连接，且所述激光测距仪6、测距反射台A12、测距反射台B13位于同一平面。激光测距仪6通过可调节滑台B5沿Y轴进行移动调节，测量两个反射台在X轴上的差值，从而得出两道激光之间的实际距离，差值就是纸张孔到张纸边缘的距离。激光测距仪6采用数字显示，配有归零功能，该设置实现了以激光头A14位置为初始零坐标，可以快速地测量出激光头B15的实时坐标。激光头A14通过导轨滑块A4与测距反射台A12连接，激光头B15通过导轨滑块B3与测距反射台B13连接，把两道激光的距离同步转换为测距反射台之间在X轴上的距离。

对应连接的所述导轨滑块A4、导轨滑块B3、激光头A14、激光头B15、可调节螺杆A7、可调节螺杆B8、测距反射台A12和测距反射台B13组成一组激光测距组件，一所述底座1配设有两组所述激光测距组件。一组所述激光测距组件的测距反射台A12与另一组所述激光测距组件的测距反射台A12前后错开设置，且每一所述测距反射台A12对应设置一所述激光测距仪6。待测量的纸张从边距测量仪底部穿过，两组激光测距组件可以同时测量纸张的两侧边距，进一步提高了边距测量精度和测量便利度。

上面所述的实施例仅是对本实用新型的优选实施方式进行描述，并非对本实用新型的构思和范围进行限定。在不脱离本实用新型设计构思的前提下，本领域普通人员对本实用新型的技术方案做出的各种变型和改进，均应落入到本实用新型的保护范围，本实用新型请求保护的技术内容，已经全部记载在权利要求书中。

Claims (8)

1.一种非接触式边距测量仪，其特征在于：包括

底座（1）；

轨道（2），与所述底座（1）连接；

导轨滑块A（4），与所述轨道（2）滑动连接；

导轨滑块B（3），与所述轨道（2）滑动连接；

可调节螺杆A（7），连接所述底座（1）和导轨滑块A（4）；

可调节螺杆B（8），连接所述导轨滑块A（4）和导轨滑块B（3）；

激光头A（14），与所述导轨滑块A（4）连接；

激光头B（15），与所述导轨滑块B（3）连接，且所述激光头B（15）发出的激光点B与所述激光头A（14）发出的激光点A之间的连接线与所述导轨滑块A（4）在所述轨道（2）上的移动方向平行；

测距反射台A（12），与所述导轨滑块A（4）连接；

测距反射台B（13），与所述导轨滑块B（3）连接；

激光测距仪（6），通过可调滑台B（5）与所述底座（1）连接，且所述激光测距仪（6）、测距反射台A（12）、测距反射台B（13）位于同一平面；

所述底座（1）开有与所述可调节螺杆A（7）配合使用的底座螺纹孔；所述导轨滑块A（4）开有与所述可调节螺杆B（8）配合使用的滑块A螺纹孔。

2.根据权利要求1所述的一种非接触式边距测量仪，其特征在于：所述可调节螺杆A（7）的端部与导轨滑块A（4）内部轴向限位、周向活动连接。

3.根据权利要求2所述的一种非接触式边距测量仪，其特征在于：所述导轨滑块A（4）设有直径大于所述可调节螺杆A（7）直径的圆柱状容置腔，所述可调节螺杆A（7）的端部设有与所述圆柱状容置腔配合安装的圆柱形凸起。

4.根据权利要求1所述的一种非接触式边距测量仪，其特征在于：所述可调节螺杆B（8）的端部与导轨滑块B（3）内部轴向限位、周向活动连接。

5.根据权利要求4所述的一种非接触式边距测量仪，其特征在于：所述导轨滑块B（3）设有直径大于所述可调节螺杆B（8）直径的圆柱状容置腔，所述可调节螺杆B（8）的端部设有与所述圆柱状容置腔配合安装的圆柱形凸起。

6.根据权利要求3或5所述的一种非接触式边距测量仪，其特征在于：所述圆柱状容置腔内周侧等间隔嵌设有若干滚珠。

7.根据权利要求1所述的一种非接触式边距测量仪，其特征在于：所述导轨滑块A（4）背面开有与所述轨道（2）形状配合使用的滑动槽，所述导轨滑块A（4）正面连接所述激光头A（14），所述导轨滑块A（4）背面位于所述滑动槽上方连接所述测距反射台A（12）。

8.根据权利要求1所述的一种非接触式边距测量仪，其特征在于：所述导轨滑块B（3）背面开有与所述轨道（2）形状配合使用的滑动槽，所述导轨滑块B（3）正面连接所述激光头B（15），所述导轨滑块B（3）背面位于所述滑动槽上方连接所述测距反射台B（13）。

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