CN210550622U - 一种光器件测试pcb压紧固定装置 - Google Patents
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Abstract
本实用新型涉及光器件测试技术领域,尤其涉及一种光器件测试PCB压紧固定装置。包括PCB放置底座、压盖与罩体;所述PCB放置底座端部设有螺纹孔,中部设有PCB放置台,PCB放置在PCB放置底座上,压盖压在PCB上,PCB与压盖通过螺钉固定在PCB放置底座上;罩体罩在PCB与PCB放置底座外部,罩体外部设有固定爪,罩体通过固定爪固定在评估板上。在模拟光模块测试环境中,将PCB与评估板之间固定,避免PCB位置偏移,使信号传输良好,保证产品测试一致性,减小PCB损耗。
Description
技术领域
本实用新型涉及光器件测试技术领域,尤其涉及一种光器件测试PCB压紧固定装置。
背景技术
在光器件TOSA和ROSA的生产中,以TOSA为例,最终的测试很重要,可以判断其各性能指标是否能达到客户要求,测试中,需要将光器件软板金手指与PCB的金手指焊盘压紧,来让电信号顺利通过。光器件软板金手指与PCB的金手指焊盘压的不紧,则容易出现由于接触不好而导致的信号不连续的现象,影响测试结果。
目前,由于没有专门用于光器件测试的PCB压紧固定装置,在光器件测试过程中:1、由于PCB bottom层元器件较多,且有很多凸起的塑料壳封装元器件,现有固定PCB固定方法易损耗元器件;PCB左右不固定,位置偏移后导致调制信号质量差且影响测试一致性,需要重新插拔恢复正常位置,到达金手指插拔寿命会造成PCB损耗;PCB位置偏移或气缸下压力过大,易造成金手指金层磨损影响信号传输质量且会造成PCB的损耗。
发明内容
为了克服上述现有技术的不足,本实用新型提供一种光器件测试PCB压紧固定装置。在模拟光模块测试环境中,将PCB与评估板之间固定,避免PCB位置偏移,使信号传输良好,保证产品测试一致性,减小PCB损耗。
为了达到上述目的,本实用新型采用以下技术方案实现:
一种光器件测试PCB压紧固定装置,包括PCB放置底座、压盖与罩体;所述PCB放置底座端部设有螺纹孔,中部设有PCB放置台,PCB放置在PCB放置底座上,压盖压在PCB上,PCB与压盖通过螺钉固定在PCB放置底座上;罩体罩在PCB与PCB放置底座外部,罩体外部设有固定爪,罩体通过固定爪固定在评估板上。
所述PCB放置底座为U型槽结构,端部设有封边,封边两端设有螺纹孔,中部两端设有凸起,形成PCB放置台。
所述压盖设有空腔,空腔端部设有凸起,凸起两端设有螺栓孔。
所述罩体为矩形罩,顶部为镂空,前面设有观察散射窗,后面均布固定爪,固定爪与评估板上的接地定位孔适配,固定爪与评估板上的接地定位孔一一对应。
与现有技术相比,本实用新型的有益效果是:
1、本实用新型PCB放置在PCB放置底座上,压盖压在PCB上,PCB与压盖通过螺钉固定在PCB放置底座上,压紧PCB边缘,有效防止PCB上下左右偏移;使信号传输良好,保证产品测试一致性,避免因位置偏移而造成PCB损耗。
2、本实用新型压盖设有空腔;罩体为矩形罩,顶部为镂空,前面设有观察散射窗;散热效果好。
附图说明
图1是本实用新型立体结构示意图;
图2是本实用新型结构示意主视图;
图3是本实用新型结构示意后视图;
图4是本实用新型PCB放置底座立体结构示意图;
图5是本实用新型压盖立体结构示意图;
图6是PCB结构示意图;
图7是本实用新型PCB放置底座、PCB与压盖安装示意图;
图8是本实用新型罩体立体结构示意图。
图中:1-PCB放置底座 2-压盖 3-罩体 4-PCB 11-螺纹孔 12-PCB放置台 13-封边21-空腔 22-螺栓孔 23-凸起 24-压条 31-观察散热窗 32-固定爪 41-压光器件软板焊盘42-金手指 43-螺丝固定孔
具体实施方式
下面结合附图对本实用新型的具体实施方式作进一步说明:
如图6所示,带固定PCB4的压光器件软板焊盘41,共8pcs管脚,各有定义,需要同时压紧,调试过程中不能偏移,故对压紧器械和PCB的固定都极其重要;PCB金手指42,PCB4与评估板接插件之间通过30pin金手指相连接,金手指设计为GND最长,在插拔过程中最先上电和最后断电,虽然可以热插拔,但是裸PCB4没有限位固定,热插拔也会有一定的风险;还需保证PCB4插入后与评估板接插件接触良好,电信号才会好,且要避免PCB4左右偏移,影响测试一致性和PCB反复插拔造成的损耗。PCB4上设有螺丝固定孔43。
如图1-3所示,一种光器件测试PCB压紧固定装置,包括PCB放置底座1、压盖2与罩体3。PCB放置底座1端部设有螺纹孔11,中部设有PCB放置台12,PCB4放置在PCB放置底座1上,压盖2压在PCB4上,PCB4与压盖2通过螺钉固定在PCB放置底座1上;罩体3罩在PCB4与PCB放置底座1外部,罩体3外部设有固定爪32,罩体3通过固定爪32固定在评估板上。
如图4所示,PCB放置底座1为U型槽结构,顶部端部设有封边13,封边13两端设有螺纹孔11,中部两端设有矩形凸起,形成PCB放置台12。
如图5所示,压盖2设有空腔21,空腔21两侧设有压条24,空腔21端部设有凸起23,凸起23两端设有螺栓孔22。空腔21有利于光器件散热。
如图8所示,罩体3为矩形罩,顶部为镂空,前面设有观察散射窗31,后面均布固定爪32,固定爪32与评估板上的接地定位孔适配,固定爪32与评估板上的接地定位孔一一对应。可以将本实用新型固定于评估板上,且罩体3顶部是镂空设计,散热效果良好。
如图7所示,PCB4上部通过螺钉固定在PCB放置底座1上,PCB4下部放置在PCB放置底座1的PCB放置台12,压盖2压在PCB4上,压盖2压紧PCB4边缘,有效防止PCB4上下左右偏移。
本实用新型模拟光模块测试环境,将PCB4与评估板之间固定,信号传输良好,保证产品测试一致性。压盖2压紧PCB4边缘,有效防止PCB4上下左右偏移,减少因位置偏移插拔PCB次数,减轻PCB损耗。通过不同的压紧器械配合,可以单独测试TOSA或ROSA,亦可在该PCB上同时测试TOSA和ROSA。
以上所述,仅为本实用新型较佳的具体实施方式,但本实用新型的保护范围并不局限于此,任何熟悉本技术领域的技术人员在本实用新型揭露的技术范围内,根据本实用新型的技术方案及其构思加以等同替换或改变,都应涵盖在本实用新型的保护范围之内。上述实施例中所用方法如无特别说明均为常规方法。
Claims (4)
1.一种光器件测试PCB压紧固定装置,其特征在于:包括PCB放置底座、压盖与罩体;所述PCB放置底座端部设有螺纹孔,中部设有PCB放置台,PCB放置在PCB放置底座上,压盖压在PCB上,PCB与压盖通过螺钉固定在PCB放置底座上;罩体罩在PCB与PCB放置底座外部,罩体外部设有固定爪,罩体通过固定爪固定在评估板上。
2.根据权利要求1所述的一种光器件测试PCB压紧固定装置,其特征在于:所述PCB放置底座为U型槽结构,端部设有封边,封边两端设有螺纹孔,中部两端设有凸起,形成PCB放置台。
3.根据权利要求1所述的一种光器件测试PCB压紧固定装置,其特征在于:所述压盖设有空腔,空腔端部设有封边,封边两端设有螺栓孔。
4.根据权利要求1所述的一种光器件测试PCB压紧固定装置,其特征在于:所述罩体为矩形罩,顶部为镂空,前面设有观察散射窗,后面均布固定爪,固定爪与评估板上的接地定位孔适配,固定爪与评估板上的接地定位孔一一对应。
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