CN210514571U - 一种多档位测试电压纹波的母座 - Google Patents

Abstract

本实用新型实施例公开了一种多档位测试电压纹波的母座。其中，一种多档位测试电压纹波的母座，包括测试电源接口端，测试电路和负载机接口端；所述测试电源接口端的一端与测试电源连接，另一端与所述测试电路连接，所述测试电源接口端用于将所述测试电源的电压提供给所述测试电路；所述测试电路包括与所述测试电源的输出端并联的N个电容，所述测试电路用于控制所述N个电容中至少一个电容导通或断开，以调整与所述测试电源的输出端并联的电容值；所述负载机接口端的一端与所述测试电路连接，另一端与负载机连接，所述负载机用于测试所述测试电源的电压纹波。采用本实用新型可以增强电源在测试电压纹波时的适用性和实用性。

Description

一种多档位测试电压纹波的母座

技术领域

本实用新型涉及电源技术领域，尤其涉及一种多档位测试电压纹波的母座。

背景技术

开关电源测试输出电压纹波时，通常是在额定输入及输出的条件下，通过与测试电源输出端相连的母座上，并联一颗0.1uF的陶瓷电容后，通过负载机测试电源的输出电压纹波，其中，该母座一般情况下处于负载机上。

但是目前只要更换测试电容，就需要将母座从负载机上拆卸下来更换电容或者直接更换母座以保证测试需求。长期以往，负载机的接口螺丝旋钮可能会因此出现滑丝、拧不紧等现象，进而导致母座与负载机接触不良，脱落甚至还可能会出现摩擦出火花等现象。出现上述现象后，可能会导致部分测试数据会存在误差，比如输出空满载电压偏低，效率也变低等，导致测试结果不准确，而且频繁的装卸，会使负载机的接口的使用寿命大大减短。

实用新型内容

鉴于上述问题，提出了本实用新型以便提供一种克服上述问题或者至少部分地解决上述问题的一种多档位测试电压纹波的母座。

第一方面，本实用新型实施例提供了一种多档位测试电压纹波的母座，可包括：测试电源接口端，测试电路和负载机接口端；

所述测试电源接口端的一端与测试电源连接，另一端与所述测试电路连接，所述测试电源接口端的所述与所述测试电源连接的一端包括第一正极接口和第一负极接口，所述第一正极接口与所述测试电源的正极连接，所述第一负极接口与所述测试电源的负极连接，所述测试电源接口端用于将所述测试电源的电压提供给所述测试电路；

所述测试电路包括与所述测试电源的输出端并联的N个电容，所述测试电路用于控制所述N个电容中至少一个电容导通或断开，以调整与所述测试电源的输出端并联的电容值，其中，N大于或等于2；

所述负载机接口端的一端与所述测试电路连接，另一端与负载机连接，所述负载机用于测试所述测试电源的电压纹波。

通过本实用新型第一方面提供的多档位测试电压纹波的母座，解决了电压纹波测试使用不同测试电容之间的切换问题，即，通过所述测试电路用于控制所述N个电容中至少一个电容导通或断开，以调整与所述测试电源的输出端并联的电容值。避免了从负载机上频繁装卸母座或者更换电容的这种现象，大大延长负载机接口的使用寿命，省略更换电容或者母座的步骤，节约材料，提高了测试工作的效率等。

在一种可能的实现方式中，所述测试电路包括第一测试单元、第二测试单元、第三测试单元和0.1uF的陶瓷电容；所述第一测试单元、所述第二测试单元、所述第三测试单元和所述陶瓷电容分别并联在所述第一正极接口和所述第一负极接口之间，其中，所述陶瓷电容的一端与所述第一正极接口连接，所述陶瓷电容的另一端与所述第一负极接口连接，所述第一测试单元用于控制第一电解电容导通或断开，所述第二测试单元用于控制第二电解电容导通，所述第三测试单元用于控制第三电解电容导通。

在一种可能的实现方式中，所述第一测试单元包括串联连接的所述第一电解电容和K1开关，所述第一电解电容为10uf；其中，所述第一电解电容的正极与所述第一正极接口连接，所述第一电解电容的负极与所述K1开关一端连接，所述K1开关的另一端与第一负极接口连接，若所述K1开关闭合，所述第一电解电容并联在所述第一正极接口和所述第一负极接口之间。

在一种可能的实现方式中，所述第二测试单元包括串联连接的所述第二电解电容和K2开关，所述第二电解电容为22uF；其中，所述第二电解电容的正极与所述第一正极接口连接，所述第二电解电容的负极与所述K2开关一端连接，所述K2开关的另一端与第一负极接口连接，若所述K2开关闭合，所述第二电解电容并联在所述第一正极接口和所述第一负极接口之间。

在一种可能的实现方式中，所述第三测试单元包括串联连接的所述第三电解电容和K3开关，所述第三电解电容为47uF；其中，所述第三电解电容的正极与所述第一正极接口连接，所述第三电解电容的负极与所述K3开关一端连接，所述K3开关的另一端与第一负极接口连接，若所述K3开关闭合，所述第三电解电容并联在所述第一正极接口和所述第一负极接口之间。

在一种可能的实现方式中，所述测试电路还包括显示单元，所述显示单元并联在所述第一正极接口和所述第一负极接口之间，所述显示单元用于指示所述测试电路是否导通；其中，所述显示单元包括发光二极管LED和电阻，所述电阻一端与所述第一正极接口连接，所述电阻的另一端与所述发光二极管LED正极连接，所述电阻用于控制通过所述发光二极管LED的电流大小，所述发光二极管LED负极与所述第一负极接口连接，若所述发光二极管LED发光，则指示所述测试电路导通。

第二方面，本实用新型实施例提供了一种测试电压纹波的方法，应用于多档位测试电压纹波的母座，所述母座包括测试电源接口端，测试电路和负载机接口端，所述方法包括：

通过所述测试电源接口端将测试电源的电压提供给所述测试电路，所述测试电路包括与所述测试电源的输出端并联的N个电容，其中，N大于或等于2；

通过所述测试电路控制所述N个电容中至少一个电容导通或断开，以调整与所述测试电源的输出端并联的电容值；

通过与所述负载机接口端连接的负载机测试所述测试电源的电压纹波。

在一种可能的实现方式中，所述测试电路包括第一测试单元、第二测试单元、第三测试单元和0.1uF的陶瓷电容，所述陶瓷电容用于在检测所述测试电源的电压纹波时滤除干扰；所述方法还包括：通过所述第一测试单元控制第一电解电容导通或断开；或者，通过所述第二测试单元控制第二电解电容导通或断开；或者，通过所述第三测试单元控制第三电解电容导通或断开。

在一种可能的实现方式中，所述第一测试单元包括串联连接的所述第一电解电容和K1开关，所述第一电解电容的大小为10uf；所述方法还包括：若所述K1开关闭合，通过所述第一电解电容与所述陶瓷电容在检测所述测试电源的电压纹波时滤除干扰。

在一种可能的实现方式中，所述第一测试单元包括串联连接的所述第二电解电容和K2开关，所述第二电解电容的大小为22uf；所述方法还包括：若所述K2开关闭合，通过所述第二电解电容与所述陶瓷电容在检测所述测试电源的电压纹波时滤除干扰。

在一种可能的实现方式中，所述第一测试单元包括串联连接的所述第三电解电容和K3开关，所述第三电解电容的大小为47uf；所述方法还包括：若所述K3开关闭合，通过所述第三电解电容与所述陶瓷电容在检测所述测试电源的电压纹波时滤除干扰。

在一种可能的实现方式中，所述测试电路还包括显示单元，所述显示单元包括发光二极管LED和电阻，若所述发光二极管LED发光，则指示所述测试电路导通；所述方法还包括：通过所述电阻控制通过所述发光二极管LED的电流大小。

附图说明

为了更清楚地说明本实用新型实施例或背景技术中的技术方案，下面将对本实用新型实施例或背景技术中所需要使用的附图进行说明。

图1是本实用新型实施例提供的一种多档位测试电压纹波的母座结构示意图；

图2是本实用新型实施例提供的一种母座10中的测试电路结构示意图；

图3是本实用新型实施例提供的一种测试电压纹波的方法流程示意图。

具体实施方式

下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例进行描述。

本实用新型的说明书和权利要求书及所述附图中的术语“第一”、“第二”和“第三”等是用于区别不同对象，而不是用于描述特定顺序。此外，“包括”和“具有”以及它们任何变形，意图在于覆盖不排他的包含。例如包含了一系列步骤或单元的过程、方法、系统、产品或设备没有限定于已列出的步骤或单元，而是可选地还包括没有列出的步骤或单元，或可选地还包括对于这些过程、方法、产品或设备固有的其它步骤或单元。

在本文中提及“实施例”意味着，结合实施例描述的特定特征、结构或特性可以包含在本实用新型的至少一个实施例中。在说明书中的各个位置出现该短语并不一定均是指相同的实施例，也不是与其它实施例互斥的独立的或备选的实施例。本领域技术人员显式地和隐式地理解的是，本文所描述的实施例可以与其它实施例相结合。

首先，对本实用新型中的部分用语进行解释说明，以便于本领域技术人员理解。

(1)负载机，包括电子负载机是用来测试电源的机械装置，能为待机状态下的被测电源提供恒定负载电流，以模拟被测电源的实际使用状态。电子负载机包括:与被测电源的备用电压输出电路连接的基准电压产生电路；分别与被测电源的备用电压输出电路和基准电压产生电路连接的比较电压调节电路；分别与被测电源的备用电压输出电路和比较电压调节电路连接的放大电路；分别与放大电路和比较电压调节电路连接的反馈电路。

(2)电压纹波，纹波就是一个直流电压中的交流成分。直流电压本来应该是一个固定的值，但是很多时候它是通过交流电压整流、滤波后得来的，由于滤波不干净，就会有剩余的交流成分，即使是用电池供电也会因负载的波动而产生波纹。事实上，即便是最好的基准电压源器件，其输出电压也是有波纹的。狭义上的纹波电压，是指输出直流电压中含有的工频交流成分。

其次，本实用新型实施例提供了一种多档位测试电压纹波的母座 10，请参考图1和图2，图1是本实用新型实施例提供的一种多档位测试电压纹波的母座结构示意图，图2是本实用新型实施例提供的一种母座10中的测试电路结构示意图。其中，一种多档位测试电压纹波的母座10包括：测试电源接口端101，测试电路102和负载机接口端103。

所述测试电源接口端101的一端1011与测试电源连接，另一端 1012与所述测试电路连接，所述测试电源接口端的所述与所述测试电源连接的一端1011包括第一正极接口和第一负极接口，所述第一正极接口与所述测试电源的正极连接，所述第一负极接口与所述测试电源的负极连接，所述测试电源接口端101用于将所述测试电源的电压提供给所述测试电路；

所述测试电路102包括与所述测试电源的输出端并联的N个电容，所述测试电路用于控制所述N个电容中至少一个电容导通或断开，以调整与所述测试电源的输出端并联的电容值，其中，N大于或等于 2；

所述负载机接口端103的一端1031与所述测试电路连接，另一端1032与负载机连接，所述负载机用于测试所述测试电源的电压纹波。

在一种可能的实现方式中，所述测试电路102包括第一测试单元 112、第二测试单元122、第三测试单元132和0.1uF的陶瓷电容142；所述第一测试单元、所述第二测试单元、所述第三测试单元和所述陶瓷电容分别并联在所述第一正极接口和所述第一负极接口之间，其中，所述陶瓷电容的一端与所述第一正极接口连接，所述陶瓷电容的另一端与所述第一负极接口连接，所述第一测试单元用于控制第一电解电容导通或断开，所述第二测试单元用于控制第二电解电容导通，所述第三测试单元用于控制第三电解电容导通。可以理解的，陶瓷电容的电容大小只是本实用新型实施例中的一种示例性的实施方式，本实用新型实施例中陶瓷电容的电容大小包括但不仅限于以上电容大小。

在一种可能的实现方式中，所述第一测试单元112包括串联连接的所述第一电解电容和K1开关，所述第一电解电容为10uf；其中，所述第一电解电容的正极与所述第一正极接口连接，所述第一电解电容的负极与所述K1开关一端连接，所述K1开关的另一端与第一负极接口连接，若所述K1开关闭合，所述第一电解电容并联在所述第一正极接口和所述第一负极接口之间。

在一种可能的实现方式中，所述第二测试单元122包括串联连接的所述第二电解电容和K2开关，所述第二电解电容为22uF；其中，所述第二电解电容的正极与所述第一正极接口连接，所述第二电解电容的负极与所述K2开关一端连接，所述K2开关的另一端与第一负极接口连接，若所述K2开关闭合，所述第二电解电容并联在所述第一正极接口和所述第一负极接口之间。

在一种可能的实现方式中，所述第三测试单元132包括串联连接的所述第三电解电容和K3开关，所述第三电解电容为47uF；其中，所述第三电解电容的正极与所述第一正极接口连接，所述第三电解电容的负极与所述K3开关一端连接，所述K3开关的另一端与第一负极接口连接，若所述K3开关闭合，所述第三电解电容并联在所述第一正极接口和所述第一负极接口之间。

在一种可能的实现方式中，所述测试电路102还包括显示单元 152，所述显示单元并联在所述第一正极接口和所述第一负极接口之间，所述显示单元用于指示所述测试电路是否导通；其中，所述显示单元包括发光二极管LED和电阻，所述电阻一端与所述第一正极接口连接，所述电阻的另一端与所述发光二极管LED正极连接，所述电阻用于控制通过所述发光二极管LED的电流大小，所述发光二极管LED负极与所述第一负极接口连接，若所述发光二极管LED发光，则指示所述测试电路导通。

可以理解的是，本实用新型实施例所提供的电解电容的个数和电容大小只是本实用新型实施例中的一种示例性的实施方式，本实用新型实施例中的电解电容的个数和电容大小包括但不仅限于以上电解电容的个数和电容大小。

请参考图3，图3是本实用新型实施例提供的一种测试电压纹波的方法流程示意图，应用于图1所示的多档位测试电压纹波母座10，所述母座10包括测试电源接口端101，测试电路102和负载机接口端103，所述方法包括：

步骤S301：通过测试电源接口端将测试电源的电压提供给测试电路。

具体的，在测试电压纹波时，通过测试电源接口端将测试电源的电压提供给测试电路。其中，所述测试电路包括与所述测试电源的输出端并联的N个电容，N大于或等于2。可选的，所述测试电路还包括显示单元，所述显示单元包括发光二极管LED和电阻，若所述发光二极管LED发光，则指示所述测试电路导通，所述方法还包括：通过所述电阻控制通过所述发光二极管LED的电流大小。例如：通过调整电阻的大小保证发光二级管LED能够正常工作，不被过高的电源电压击穿。

步骤S302：通过测试电路控制N个电容中至少一个电容导通或断开。

具体的，通过测试电路控制N个电容中至少一个电容导通或断开，以调整与测试电源的输出端并联的电容值。所述电容用于在测试电源的电压纹波时滤除噪声或高压等干扰。可选的，所述测试电路包括第一测试单元、第二测试单元、第三测试单元和0.1uF的陶瓷电容，所述陶瓷电容用于在检测所述测试电源的电压纹波时滤除干扰；所述方法还包括：通过所述第一测试单元控制第一电解电容导通或断开；或者，通过所述第二测试单元控制第二电解电容导通或断开；或者，通过所述第三测试单元控制第三电解电容导通或断开。

可选的，所述第一测试单元包括串联连接的所述第一电解电容和 K1开关，所述第一电解电容的大小为10uf；所述方法还包括：若所述K1开关闭合，通过所述第一电解电容与所述陶瓷电容在检测所述测试电源的电压纹波时滤除干扰。

可选的，所述第一测试单元包括串联连接的所述第二电解电容和 K2开关，所述第二电解电容的大小为22uf；所述方法还包括：若所述K2开关闭合，通过所述第二电解电容与所述陶瓷电容在检测所述测试电源的电压纹波时滤除干扰。

可选的，所述第一测试单元包括串联连接的所述第三电解电容和 K3开关，所述第三电解电容的大小为47uf；所述方法还包括：若所述K3开关闭合，通过所述第三电解电容与所述陶瓷电容在检测所述测试电源的电压纹波时滤除干扰。

步骤S303：通过与负载机接口端连接的负载机测试测试电源的电压纹波。

具体的，在确定测试条件后可以直接通过与负载机接口端连接的负载机测试测试电源的电压纹波。例如，在额定输入及输出的条件下检测电源A的电压纹波。假设一，测试电源的电压纹波测试条件是:在测量时，测试电源的输出端要并联一颗0.1uF的陶瓷电容和一颗10uF 的电解电容。测试方法包括:将测试电源的输出端连接对应的测试电源接口端(例如，母座孔)上，按下10uF的电解电容对应的K1开关按键，其他按键关闭，这时实际上就是并联一颗0.1uF的陶瓷电容和一颗10uF的电解电容。假设二，测试电源的电压纹波测试条件是: 在测量时，测试电源的输出端要并联一颗0.1uF的陶瓷电容和一颗 22uF的电解电容，就按下22uF的电解电容对应的K2开关按键，其他按键关闭，这时实际上就是并联一颗0.1uF的陶瓷电容和一颗22uF 的电解电容。假设三，测试电源的电压纹波测试条件是:在测量时，测试电源的输出端要并联一颗0.1uF的陶瓷电容和一颗47uF的电解电容，就按下47uF的电解电容对应的K3开关按键，其他按键关闭，这时实际上就是并联一颗0.1uF的陶瓷电容和一颗47uF的电解电容。假设四，测试电源的电压纹波测试条件是:在测量时，测试电源的输出端要并联一颗0.1uF的陶瓷电容，就把所有按键都关闭，这时实际上就是并联一颗0.1uF的陶瓷电容。

目前测试电压纹波的母座的功能较为单一，一个母座只能对应一个电容，难以满足电源多样化的使用需求。即在测试电源的输出电压纹波与噪声要求中，其要求的测试电容与上一个测试电容不同时，就需要更换母座上的测试电容或者更换不同的测试母座(带有不同的测试电容)。例如：当在测试电源时，可能会要求在电源的输出端并联一颗0.1uF的陶瓷电容基础上，再多并联一颗10uF、22Uf或47uF等电解电容。因此，为满足该要求，就需要将满足该要求的电容并联接到母座上，或者将电源输出端DC线头对应的母座直接替换。因此，采用本实用新型设计的多档位测试电压纹波的母座，解决了电压纹波测试使用不同测试电容之间的切换，即，采用按键控制不同测试电容之间的切换。避免了从负载机上频繁装卸母座或者更换电容的这种现象，大大延长负载机接口的使用寿命，省略更换电容或者母座的步骤，节约材料，提高了测试工作的效率等。

在本实用新型中，所述作为分离部件说明的单元可以是或者也可以不是物理上分开的，作为单元显示的部件可以是或者也可以不是物理单元，即可以位于一个地方，或者也可以分布到多个网络单元上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部单元来实现本实用新型实施例方案的目的。

另外，在本实用新型各个实施例中的各功能组件可以集成在一个组件也可以是各个组件单独物理存在，也可以是两个或两个以上组件集成在一个组件中。上述集成的组件既可以采用硬件的形式实现，也可以采用软件功能单元的形式实现。

所述集成的组件如果以软件功能单元的形式实现并作为独立的产品销售或使用时，可以存储在一个计算机可读取存储介质中。基于这样的理解，本实用新型的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分，或者该技术方案的全部或部分可以以软件产品的形式体现出来，该计算机软件产品存储在一个存储介质中，包括若干指令用以使得一台计算机设备(可以是个人计算机，服务器，或者网络设备等) 执行各个本实用新型实施例所述方法的全部或部分步骤。而前述的存储介质包括：U盘、移动硬盘、只读存储器(Read-OnlyMemory， ROM)、随机存取存储器(Random Access Memory，RAM)、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的介质。

以上所述，仅为本实用新型的具体实施方式，但本实用新型的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本实用新型揭露的技术范围内，可轻易想到各种等效的修改或替换，这些修改或替换都应涵盖在本实用新型的保护范围之内。因此，本实用新型的保护范围应以权利要求的保护范围为准。

应理解，在本实用新型的各种实施例中，上述各过程的序号的大小并不意味着执行顺序的先后，各过程的执行顺序应以其功能和内在逻辑确定，而不应对本实用新型实施例的实施过程构成任何限定。尽管在此结合各实施例对本实用新型进行了描述，然而，在实施例所要求保护的本实用新型过程中，本领域技术人员可理解并实现公开实施例的其他变化。

Claims (6)

1.一种多档位测试电压纹波的母座，其特征在于，包括测试电源接口端，测试电路和负载机接口端；

所述测试电源接口端的一端与测试电源连接，另一端与所述测试电路连接，所述测试电源接口端的所述与所述测试电源连接的一端包括第一正极接口和第一负极接口，所述第一正极接口与所述测试电源的正极连接，所述第一负极接口与所述测试电源的负极连接，所述测试电源接口端用于将所述测试电源的电压提供给所述测试电路；

所述测试电路包括与所述测试电源的输出端并联的N个电容，所述测试电路用于控制所述N个电容中至少一个电容导通或断开，以调整与所述测试电源的输出端并联的电容值，其中，N大于或等于2；

所述负载机接口端的一端与所述测试电路连接，另一端与负载机连接，所述负载机用于测试所述测试电源的电压纹波。

2.根据权利要求1所述多档位测试电压纹波的母座，其特征在于，所述测试电路包括第一测试单元、第二测试单元、第三测试单元和0.1uF的陶瓷电容；

所述第一测试单元、所述第二测试单元、所述第三测试单元和所述陶瓷电容分别并联在所述第一正极接口和所述第一负极接口之间，其中，所述陶瓷电容的一端与所述第一正极接口连接，所述陶瓷电容的另一端与所述第一负极接口连接，所述第一测试单元用于控制第一电解电容导通或断开，所述第二测试单元用于控制第二电解电容导通，所述第三测试单元用于控制第三电解电容导通。

3.根据权利要求2所述多档位测试电压纹波的母座，其特征在于，所述第一测试单元包括串联连接的所述第一电解电容和K1开关，所述第一电解电容为10uf；其中，

所述第一电解电容的正极与所述第一正极接口连接，所述第一电解电容的负极与所述K1开关一端连接，所述K1开关的另一端与第一负极接口连接，若所述K1开关闭合，所述第一电解电容并联在所述第一正极接口和所述第一负极接口之间。

4.根据权利要求2所述多档位测试电压纹波的母座，其特征在于，所述第二测试单元包括串联连接的所述第二电解电容和K2开关，所述第二电解电容为22uF；其中，

所述第二电解电容的正极与所述第一正极接口连接，所述第二电解电容的负极与所述K2开关一端连接，所述K2开关的另一端与第一负极接口连接，若所述K2开关闭合，所述第二电解电容并联在所述第一正极接口和所述第一负极接口之间。

5.根据权利要求2所述多档位测试电压纹波的母座，其特征在于，所述第三测试单元包括串联连接的所述第三电解电容和K3开关，所述第三电解电容为47uF；其中，

所述第三电解电容的正极与所述第一正极接口连接，所述第三电解电容的负极与所述K3开关一端连接，所述K3开关的另一端与第一负极接口连接，若所述K3开关闭合，所述第三电解电容并联在所述第一正极接口和所述第一负极接口之间。

6.根据权利要求1-5中任意一项所述多档位测试电压纹波的母座，其特征在于，所述测试电路还包括显示单元，所述显示单元并联在所述第一正极接口和所述第一负极接口之间，所述显示单元用于指示所述测试电路是否导通；

其中，所述显示单元包括发光二极管LED和电阻，所述电阻一端与所述第一正极接口连接，所述电阻的另一端与所述发光二极管LED正极连接，所述电阻用于控制通过所述发光二极管LED的电流大小，所述发光二极管LED负极与所述第一负极接口连接，若所述发光二极管LED发光，则指示所述测试电路导通。

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