CN210487863U - 一种激光器内部元件阻值和二极管特性测试系统 - Google Patents
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Abstract
本实用新型属于光通信技术领域，尤其涉及一种激光器内部元件阻值和二极管特性测试系统，包括三块万用表、六个单刀双掷开关以及八个接线柱；测量时，将测试系统的各个接线柱与待测试激光器内部的元件相应管脚相连，利用单刀双掷开关，将万用表和激光器内部的元件之间形成不同的测试回路，从而只需要通过单刀双掷开关控制即可完成元件阻值测量和二极管特性测量。本实用新型减少以往测试方法中的人为操作带来的误差，尤其是针对管脚间隙较小的激光器，极大的提高了测量的可靠性，使激光器阻值测试的操作更为简便、快捷，且避免测量不同元件时相互之间的干扰。
Description
技术领域
本实用新型属于光通信技术领域，尤其涉及一种激光器内部元件阻值和二极管特性测试系统。
背景技术
随着光通信行业的迅猛发展，现在对TOSA(Transmitter Optical Subassembly，光发射次模块)的需求也越来越大，而元件阻值测试是生产过程中衡量激光器特性的重要指标之一。对于激光器，生产过程中需要进行如下六项测试，包括：LD chip正向特性、LDchip反向特性、MPD正向特性、MPD 反向特性、TEC阻值、热敏电阻阻值。
现在大多测量激光器内部元件的方法就是通过万用表手动进行测量，但是这种方法操作较为困难，尤其是部分激光器管脚间隙较小，使得测量难度较大、效率较低，同时，由于人为操作不可避免的会存在操作误差，所以使得测量可靠性不高。
因此，为了提高产品的生产效率，并将生产过程简单化，规范化，本实用新型对生产过程元件阻值与二极管特性测试工序进行了优化，设计出一个专门用来测试阻值与二极管特性的系统。
实用新型内容
本实用新型的目的解决激光器生产过程中内部元件测量难度较大、可靠性较低的问题，提供了一种操作简单、可靠性又高的元件阻值测量系统，从而提高产品生产过程中的测试效率。
本实用新型利用三块万用表分别用来测量激光器内部的四种元件的六项测试数据，通过电路设计，实现了每次测量只需通过开关控制即可完成阻值测量及二极管特性检测。
为实现上述目的，本实用新型所采用的技术方案为：
一种激光器内部元件阻值和二极管特性测试系统，包括三块万用表、六个单刀双掷开关以及八个接线柱；测量时，将测试系统的各个接线柱与待测试激光器内部的元件相应管脚相连，利用单刀双掷开关，将万用表和激光器内部的元件之间形成不同的测试回路，从而只需要通过单刀双掷开关控制即可完成元件阻值测量和二极管特性测量；具体如下：
万用表A1的正极与单刀双掷开关K1的动端相连，单刀双掷开关K1的不动端分别与接线柱B1和接线柱B2相连；万用表A1的负极与单刀双掷开关K2 的动端相连，单刀双掷开关K2的不动端分别与接线柱B1和接线柱B2相连，通过单刀双掷开关K1和单刀双掷开关K2控制线路实现对接线柱B1和接线柱 B2对应元件的二极管特性测量。
万用表A2的正极与单刀双掷开关K3的动端相连，单刀双掷开关K3的不动端分别与接线柱B3和接线柱B4相连；万用表A2的负极与单刀双掷开关K4 的动端相连，单刀双掷开关K4的不动端分别与接线柱B3和接线柱B4相连，通过单刀双掷开关K3和单刀双掷开关K4控制线路实现对接线柱B3和接线柱 B4对应元件的二极管特性测量。
万用表A3的正极与单刀双掷开关K5的动端相连，单刀双掷开关K5的不动端与接线柱B5和接线柱B6相连；万用表A3的负极与单刀双掷开关K6的动端相连，单刀双掷开关K6不动端与接线柱B7和接线柱B8相连，通过单刀双掷开关K5和单刀双掷开关K6控制线路实现对接线柱B5、接线柱B6、接线柱 B7和接线柱B8对应元件的阻值测量。
本实用新型的有益效果：本实用新型减少以往测试方法中的人为操作带来的误差，尤其是针对管脚间隙较小的激光器，极大的提高了测量的可靠性，使激光器阻值测试的操作更为简便、快捷，直接实现二极管正向特性和反向特性的测量。此外，对各个管脚均可由单刀双掷开关控制通断，避免测量不同元件时相互之间的干扰。
附图说明
图1为本实用新型的测试系统示意图。
图2为某一待测试激光器示意图。
图中：万用表分为万用表A1、万用表A2和万用表A3；单刀双掷开关分为单刀双掷开关K1、单刀双掷开关K2、单刀双掷开关K3、单刀双掷开关K4、单刀双掷开关K5、单刀双掷开关K6；接线柱分为接线柱B1、接线柱B2、接线柱 B3、接线柱B4、接线柱B5、接线柱B6、接线柱B7、接线柱B8；
PIN1、PIN2、PIN4、PIN5、PIN6、PIN7、PIN12、PIN13管脚。
具体实施方式
以下结合附图和技术方案，进一步说明本实用新型的具体实施方式。
一种激光器内部元件阻值和二极管特性测试系统，如图1所示，万用表A1 的正极对应于单刀双掷开关K1的一端，单刀双掷开关K1另一端分别和测试系统的接线柱B1和接线柱B2相连；万用表A1的负极对应于单刀双掷开关K2的一端，单刀双掷开关K1和K2的另一端也分别和测试系统的接线柱B1和接线柱B2相连，这样通过单刀双掷开关控制线路就可以实现对接线柱B1和B2对应元件的二极管特性测量。同理，利用单刀双掷开关K3和K4连接万用表A2 和接线柱B3和B4，即可实现对接线柱B3和B4对应元件的二极管特性测量。而万用表A3的正极与单刀双掷开关K5的一端相连，单刀双掷开关K5另一端与测试系统的接线柱B5和B6相连；万用表A3的负极与单刀双掷开关K6的一端相连，单刀双掷开关K6的另一端和测试系统的接线柱B7和B8相连。这样将测试系统的各个接线柱与产品相应管脚相连，就可以实现对待测激光器的元件的阻值和二极管特性的检测。
本实用新型的测试系统为激光器内部元件阻值及二极管特性测试系统，以 14PIN蝶形激光器为例，如图2所示，管脚PIN1与PIN2对应激光器热敏电阻两端，管脚PIN4与PIN5对应激光器MPD正极与负极，管脚PIN6与PIN7对应激光器TEC正极与负极，PIN12与PIN13对应激光器LD chip负极与正极。
测量时，万用表A1用来测量的元件为LD chip(即需要检测其二极管特性)，此时，接线柱B1与蝶形激光器PIN12相连，接线柱B2与蝶形激光器PIN13相连，然后打开万用表A1，将万用表A1档位调至二极管档位，拨动单刀双掷开关K1与测试系统的接线柱B1接通，拨动单刀双掷开关K2与接线柱B2接通，即可测得LD chip反向二极管特性，然后拨动单刀双掷开关K1与测试系统的接线柱B2接通，拨动单刀双掷开关K2与接线柱B1接通，即可测得LD chip正向二极管特性。同理，万用表A2用来测量MPD的二极管特性，这时，测试系统的接线柱B3与蝶形激光器PIN4相连，测试系统的接线柱B4与蝶形激光器PIN5 相连，通过单刀双掷开关K3与K4的控制即可测得MPD的二极管特性。而万用表A3的正极与开关K5一端相连，测试系统的接线柱B5与蝶形激光器PIN1 相连，接线柱B6与蝶形激光器PIN6相连，接线柱B7与蝶形激光器PIN2相连，接线柱B8与蝶形激光器PIN7相连，测试时打开万用表A3调至20K欧姆档位，拨动单刀双掷开关使K5与接线柱B5相连，拨动单刀双掷开关使K6与接线柱 B7相连，即可测得热敏电阻阻值；然后将万用表A3调至200欧姆档档位，拨动单刀双掷开关使K5与接线柱B6相连，拨动单刀双掷开关使K6与接线柱B8 相连，即可测得TEC阻值。
本实用新型的测试系统对激光器内部元件阻值进行测试时，是通过单刀双掷开关控制，对四个元件依次分别测量，避免测量不同元件时相互之间发生干扰。
本实用新型的测试系统在测量元件二极管特性的过程中，只需要通过单刀双掷开关就可以直接测量出二极管正向特性和反向特性，避免了人为操作带来的误差，提高了测量的可靠性和效率。
本实用新型的测试系统仅通过三块万用表即可实现在产品固定不动的情况下仅通过单刀双掷开关控制即可测得LD chip正向特性、LD chip反向特性、MPD 正向特性、MPD反向特性、TEC阻值、热敏电阻阻值等六项数据。
对于不同类型的激光器或者是同类型的管脚定义不同的产品，都可以通过配合不同的接线方式完成测量，使用时，只需将通过本实用新型的测试系统的各个接线柱与产品的对应管脚相连接，即可通过单刀双掷开关控制完成测量。
Claims (1)
1.一种激光器内部元件阻值和二极管特性测试系统，其特征在于，所述的测试系统包括三块万用表、六个单刀双掷开关以及八个接线柱；具体如下：
万用表A1的正极与单刀双掷开关K1的动端相连，单刀双掷开关K1的不动端分别与接线柱B1和接线柱B2相连；万用表A1的负极与单刀双掷开关K2的动端相连，单刀双掷开关K2的不动端分别与接线柱B1和接线柱B2相连，通过单刀双掷开关K1和单刀双掷开关K2控制线路实现对接线柱B1和接线柱B2对应元件的二极管特性测量；
万用表A2的正极与单刀双掷开关K3的动端相连，单刀双掷开关K3的不动端分别与接线柱B3和接线柱B4相连；万用表A2的负极与单刀双掷开关K4的动端相连，单刀双掷开关K4的不动端分别与接线柱B3和接线柱B4相连，通过单刀双掷开关K3和单刀双掷开关K4控制线路实现对接线柱B3和接线柱B4对应元件的二极管特性测量；
万用表A3的正极与单刀双掷开关K5的动端相连，单刀双掷开关K5的不动端与接线柱B5和接线柱B6相连；万用表A3的负极与单刀双掷开关K6的动端相连，单刀双掷开关K6的不动端与接线柱B7和接线柱B8相连，通过单刀双掷开关K5和单刀双掷开关K6控制线路实现对接线柱B5、接线柱B6、接线柱B7和接线柱B8对应元件的阻值测量。
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