CN210487122U - 一种变压器温度保护测试校验装置 - Google Patents

一种变压器温度保护测试校验装置 Download PDF

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Abstract

本实用新型涉及一种变压器温度保护测试校验装置,包括测试电路和插针式转接口,所述测试电路通过插针式转接口与所述变压器的温控器进行连接,所述温控器分别与温控器温度测量显示装置和所述变压器的温度保护电路连接,在对变压器的温控器和温度保护电路进行测试校验时,直接将本实用新型中的变压器温度保护测试校验装置通过插针式转接口和变压器的温控器进行连接,操作简单,效率高,不会出现接线错误的情况,且由于温控器连接有温控器温度测量显示装置,以便于对测试电路中输入温控器的模拟量进行监测和校验,使对温控器以及温度保护电路的测试校验结果更为准确,由此实现了一种效率高、安全性高、准确度高的变压器温度保护测试校验装置。

Description

一种变压器温度保护测试校验装置
技术领域
本实用新型涉及变压器领域,特别涉及一种变压器温度保护测试校验装置。
背景技术
城市轨道交通供电系统牵引整流变压器与动力变压器,一般安装在地下,大多采用干式变压器,通过温控器的实时监测控制来实现其温度保护,具体的变压器温度保护原理如图1所示,变压器的每相绕组温度采样元件由三个 PT铂电阻即PT100,PTC130,PTC150组成,安装在变压器低压绕组安装孔内;且设置一个PT100铂电阻采样元件和PTC130铂电阻采样元件,安装在铁芯上,用于监测变压器铁芯温度,各铂电阻采样元件经数据传输线与温控器的各相模拟量输入接口相连,然后接入温度保护电路。如图2所示,变压器的温度保护电路的电路逻辑关系是:当PT100和PTC130、PTC150的电阻都达到对应的门槛电阻整定值时,才触发相应的温度保护,二者呈“与逻辑”关系。
目前,变压器的几种门槛电阻整定值如下:
1)铁芯温度超温报警值:130℃;根据下表1可查知所对应PT100电阻值为149.82Ω。
2)绕组温度超温报警值:130℃;根据下表1可查知所对应PT100电阻值为149.82Ω。
3)绕组温度超温跳闸值:150℃;根据下表1可查知所对应PT100电阻值为157.31Ω。
4)PTC130、PTC150电阻为非线性电阻,在温度达到130℃时,阻值剧升至1360Ω左右。
表1:
Figure DEST_PATH_GDA0002423302800000021
详细地,当其中A相绕组、B相绕组、C相绕组或铁芯的PT100达到绕组温度超温报警值时且PTC130电阻到1360Ω时,温控器发出对应的超温报警信号;当A相绕组、B相绕组或C相绕组的PT100达到绕组温度超温跳闸值时且PTC150电阻到1360Ω时,温控器发出绕组超温跳闸信号,通过保护电路控制变压器发生超温跳闸,其它过程与此类似,不做赘述。
目前,对温控器以及温度保护电路的校验测试方法是使用标准电阻箱,详细地,调出11个输入电阻并一一接入温控器,以模拟上述PT100、PTC130 和PTC150的电阻达到定值门槛值,例如达到绕组超温报警、绕组超温跳闸、铁芯超温报警所对应的分度阻值,以检测温控器以及温度保护电路是否正常工作。
由于标准电阻箱不是连续可调的装置,是由不同阻值级别的档位组成,每调入一个模拟定值电阻,需要分级调节电阻箱各个档位电阻,对照PT100 分度对照表,其不同温度所对应的电阻是由五位有效数字组成,因此需要对标准电阻箱的各档位之间反复配合调节如高挡位与低档位配合(粗调与细调配合),其调节过程比较费时,效率低,同时也会影响校验测试的精准度。而且由于标准电阻箱输出的引出线众多,在测试校验时,接线繁杂,很容易使用户在接线时出错,导致温控器测试校验结果错误或有可能损坏温控器及温度保护电路。
因此,如何实现一种效率高、安全性高、准确度高的变压器温度保护测试校验装置是业内亟待解决的技术问题。
实用新型内容
本实用新型所要解决的技术问题是针对现有技术的不足,提供一种变压器温度保护测试校验装置。
本实用新型的一种变压器温度保护测试校验装置的技术方案如下:包括测试电路和插针式转接口,所述测试电路通过插针式转接口与所述变压器的温控器进行连接,所述温控器分别与温控器温度测量显示装置和所述变压器的温度保护电路连接。
本实用新型的一种变压器温度保护测试校验装置的有益效果是:在对变压器的温控器和温度保护电路进行测试校验时,直接将本实用新型中的变压器温度保护测试校验装置通过插针式转接口和变压器的温控器进行连接,操作简单,效率高,不会出现接线错误的情况,且由于温控器连接有温控器温度测量显示装置,以便于对测试电路中输入温控器的模拟量进行监测和校验,使对温控器以及温度保护电路的测试校验结果更为准确,由此实现了一种效率高、安全性高、准确度高的变压器温度保护测试校验装置。
在上述技术方案的基础上,本实用新型还可以做如下改进。
进一步,所述测试电路包括6个可调测试电阻、1个标准电阻和4个单刀双掷开关,其中,A相可调测试电阻、B相可调测试电阻、C相可调测试电阻和铁芯可调测试电阻与所述标准电阻分别经过第一单刀双掷开关、第二单刀双掷开关、第三单刀双掷开关、第四单刀双掷开关的切换,通过所述插针式转接口一一接入所述温度保护电路。
采用上述进一步方案的有益效果是:在对变压器的温控器和温度保护电路进行测试校验时,可首先只连接标准电阻,即输入温控器的模拟量是确定已知的,可得到标准温度值,然后从温控器温度测量显示装置中得到其温度示数值,若标准温度值和温度显示值存在误差,调节温控器温度测量显示装置使其温度示数值等于标准温度值,也就是说,通过标准电阻对温度示数值进行校准,然后再进行后续测试校验,即通过调节6个可调测试电阻的电阻以输入温控器温度测量的不同的模拟量,使对温控器以及温度保护电路的测试校验结果更为准确。
附图说明
图1为变压器温度保护原理图;
图2为变压器温度保护电路逻辑图;
图3为本实用新型实施例的一种变压器温度保护测试校验装置的原理图。
附图中各标号所代表的部件列表如下:
1、A相可调测试电阻;2、B相可调测试电阻;3、C相可调测试电阻; 4、铁芯可调测试电阻;5、模拟PTC130可调测试电阻;6、模拟PTC150可调测试电阻;7、标准电阻;8、插针式转接口;9、第一单刀双掷开关;10、第二单刀双掷开关;11、第三单刀双掷开关;12、第四单刀双掷开关;
本实用新型的目的的实现、功能特点及优点将结合实施例,参照附图做进一步说明。
具体实施方式
应当理解,此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本实用新型,并不用于限定本实用新型实施例。
本实用新型实施例的一种变压器温度保护测试校验装置,包括测试电路和插针式转接口8,所述测试电路通过插针式转接口8与所述变压器的温控器进行连接,所述温控器分别与温控器温度测量显示装置和所述变压器的温度保护电路连接。
在对变压器的温控器和温度保护电路进行测试校验时,直接将本实用新型中的变压器温度保护测试校验装置通过插针式转接口8和变压器的温控器进行连接,操作简单,效率高,不会出现接线错误的情况,且由于温控器连接有温控器温度测量显示装置,以便于对测试电路中输入温控器的模拟量进行监测和校验,使对温控器以及温度保护电路的测试校验结果更为准确,由此实现了一种效率高、安全性高、准确度高的变压器温度保护测试校验装置。
其中,插针式转接口与温控器温度测量显示装置的数据输入总成插口相匹配。
较优地,在上述技术方案中,如图3所示,所述测试电路包括6个可调测试电阻、1个标准电阻和4个单刀双掷开关,其中,A相可调测试电阻1、 B相可调测试电阻2、C相可调测试电阻3和铁芯可调测试电阻4与所述标准电阻7分别经过第一单刀双掷开关9、第二单刀双掷开关10、第三单刀双掷开关11、第四单刀双掷开关12的切换,通过所述插针式转接口8一一接入所述温度保护电路。
在对变压器的温控器和温度保护电路进行测试校验时,可首先只连接标准电阻7,即输入温控器的模拟量是确定已知的,可得到标准温度值,然后从温控器温度测量显示装置中得到其温度示数值,若标准温度值和温度示数值存在误差,调节温控器温度测量显示装置使其温度示数值等于标准温度值,也就是说,通过标准电阻7对温度示数值进行校准,然后再进行后续测试校验,即通过调节6个可调测试电阻的电阻以输入温控器温度测量的不同的模拟量,使对温控器以及温度保护电路的测试校验结果更为准确。
如图3所示,以对变压器的A相进行温度保护的测试校验为例,其中,可选用LD-B10-C220Y系列干式变温控器,其中温控器和温控器温度测量显示装置合成在一起,对本实用新型中的一种变压器温度保护测试校验装置进行详细阐释,具体地:
连接A相可调测试电阻1的单刀双掷开关标记为第一单刀双掷开关9,分别有两个触点SA1和SA2,当第一单刀双掷开关9接通触点SA1时,A 相可调测试电阻通过插针式转接口8接入温控器温度保护电路,模拟显示变压器A相温度测量数值,当第一单刀双掷开关9接通触点SA2时,标准电阻7通过插针式转接口8接入温控器温度保护电路,模拟显示变压器A相温度测量数值为某一个标准温度值,其测试校验的过程为:
1)假设标准电阻7为130.89Ω,其对应的标准温度值为80℃,当对变压器的A相进行温度保护的测试校验时,首先调节第一单刀双掷开关9接通触点SA2,温控器A相温度测量模拟量输入为130.89Ω,此时温控器温度测量显示装置的液晶面板上的A相温度显示值应为80℃,如果显示温度值不等于80℃时,即显示温度值不等于标准温度值,对温控器温度测量显示装置进行补差校准,保证温控器温度测量显示装置的液晶面板的显示温度值等于标准温度值,即保证显示温度值的准确度。
2)对温控器温度测量显示装置进行补差校准后,调节第一单刀双掷开关9接通触点SA1,此时A相可调测试电阻1通过插针式转接口8接入温控器温度保护电路,模拟显示变压器A相温度测量数值,对A相可调测试电阻1进行粗调,并实时观察温控器温度测量显示装置的液晶面板的显示温度值,当显示温度值略低于130℃时,如当显示温度值为128℃时,对A相可调测试电阻1进行微调至显示温度值为130℃,从表1中可知,A相可调测试电阻1已调至149.82Ω,此时温控器判断A相绕组PT100已达到绕组温度超温报警值,但此时温控器不会产生A相绕组超温报警信号。
3)调节模拟PTC130可调测试电阻5至1360Ω左右,温控器则应立即产生A相绕组超温报警信号。如果没有产生A相绕组超温报警信号,则温控器以及温度保护电路可能故障。
4)继续对A相可调测试电阻1进行粗调,并实时观察温控器温度测量显示装置的液晶面板所显示的显示温度值,当显示温度值略低于150℃时,如当显示温度值为148℃时,对A相可调测试电阻1进行微调至显示温度值为150℃,从表1中可知,A相可调测试电阻1已调至157.31Ω,此时温控器判断A相绕组PT100已达到绕组温度超温跳闸值,但此时温控器不会产生A相绕组超温跳闸信号。
5)调节模拟PTC150可调测试电阻6至1360Ω左右,温控器则应立即产生A相绕组超温跳闸信号。如果没有产生A相绕组超温跳闸信号,则温控器以及温度保护电路可能故障。
图3中,还有B相可调测试电阻2、C相可调测试电阻3以及铁芯可调测试电阻4,详细地:
连接B相可调测试电阻2的单刀双掷开关标记为第二单刀双掷开关10,分别有两个触点SB1和SB2,当第二单刀双掷开关10接通触点SB1时,B 相可调测试电阻2通过插针式转接口8接入温控器温度保护电路,模拟显示变压器B相温度测量数值,当第二单刀双掷开关10接通触点SB2时,标准电阻7通过插针式转接口8接入温控器温度保护电路,模拟显示变压器B相温度测量数值为某一个标准温度值。
连接C相可调测试电阻3的单刀双掷开关标记为第三单刀双掷开关11,分别有两个触点SC1和SC2,当第三单刀双掷开关11接通触点SC1时,C 相可调测试电阻3通过插针式转接口8接入温控器温度保护电路,模拟显示变压器C相温度测量数值,当第三单刀双掷开关11接通触点SC2时,标准电阻7通过插针式转接口8接入温控器温度保护电路,模拟显示变压器C相温度测量数值为某一个标准温度值。
连接铁芯相可调测试电阻的单刀双掷开关标记为第四单刀双掷开关12,分别有两个触点SD1和SD2,当第四单刀双掷开关12接通触点SD1时,铁芯可调测试电阻4通过插针式转接口8接入温控器温度保护电路,模拟显示变压器铁芯温度测量数值,当第四单刀双掷开关12接通触点SD2时,标准电阻7通过插针式转接口8接入温控器温度保护电路,模拟显示变压器铁芯温度测量数值为某一个标准温度值。
参考上述对A相绕组的校验测试过程,分别对变压器的B相绕组、C 相绕组以及铁芯进行温度保护校验测试,在此不做赘述。
还有一点需要说明,虽然上述内容中存在A相可调测试电阻1、B相可调测试电阻2、C相可调测试电阻3、铁芯可调测试电阻4、模拟PTC130可调测试电阻5和模拟PTC150可调测试电阻6,但其可选用相同型号或不相同型号的可调测试电阻,同理,第一单刀双掷开关9、第二单刀双掷开关10、第三单刀双掷开关11、第四单刀双掷开关12也可选用相同型号或不相同型号的单刀双掷开关。
在另外一个实施例中,可将测试电路和插针式转接口8集成在一块PCB 板上,且PCB板的尺寸可设计为5cm×6cm,体积小、携带方便,且成本低。
以上仅为本实用新型的优选实施例,并非因此限制本实用新型的专利范围,凡是利用本实用新型说明书及附图内容所作的等效结构变换,或直接或间接运用在其他相关的技术领域,均同理包括在本实用新型的专利保护范围内。

Claims (2)

1.一种变压器温度保护测试校验装置,其特征在于,包括测试电路和插针式转接口(8),所述测试电路通过插针式转接口(8)与所述变压器的温控器进行连接,所述温控器分别与温控器温度测量显示装置和所述变压器的温度保护电路连接。
2.根据权利要求1所述的一种变压器温度保护测试校验装置,其特征在于,所述测试电路包括6个可调测试电阻、1个标准电阻和4个单刀双掷开关,其中,A相可调测试电阻(1)、B相可调测试电阻(2)、C相可调测试电阻(3)和铁芯可调测试电阻(4)与所述标准电阻(7)分别经过第一单刀双掷开关(9)、第二单刀双掷开关(10)、第三单刀双掷开关(11)、第四单刀双掷开关(12)的切换,通过所述插针式转接口(8)一一接入所述温度保护电路。
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