CN210326331U - 一种多功能半导体三极管测试装置 - Google Patents
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Abstract
本实用新型涉及三极管测试设备技术领域，具体为一种多功能半导体三极管测试装置，包括测试电箱，测试电箱的内腔设置有测试电路，测试电箱的前端面上端设置有螺纹孔，螺纹孔的内腔安装有插座，插座的前端插接有插头，有益效果为：本实用新型通过设置带有接线柱的插座与测试电路连接，进而避免与电路导线之间多次连接，利用插座与插头之间的配合，实现多个不同规格插头的快速更换，进而利用插头匹配不同规格的三极管，增大适用范围；通过设置连接插片与金属拨片之间的贴合，实现三极管与电路之间的快速安装，利用插孔与引线的配合，避免导线与引线之间的缠绕连接，提高了安装和测试效率。
Description
技术领域
本实用新型涉及三极管测试设备技术领域，具体为一种多功能半导体三极管测试装置。
背景技术
半导体三极管是一种控制电流的半导体器件。其作用是把微弱信号放大成幅度值较大的电信号，也用作无触点开关。
在半导体三极管研究过程中，需要对其进行多种数据的检测测试，进而了解半导体三极管的具体物理电学特性，在测试过程中由于半导体三极管的连接方式为引线引出式，而引线与电路之间的安装不便，不利于半导体三极管的快速安装，同时由于各半导体三极管的引线之间的间隙不同，故而插头与半导体三极管之间的插接需要将引线进行弯曲，容易造成引线折断。
为此提供一种多功能半导体三极管测试装置，以解决三极管引线与测试电路之间的快速安装问题。
实用新型内容
本实用新型的目的在于提供一种多功能半导体三极管测试装置，以解决上述背景技术中提出的问题。
为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：
一种多功能半导体三极管测试装置，包括测试电箱，所述测试电箱的内腔设置有测试电路，测试电箱的前端面上端设置有螺纹孔，所述螺纹孔的内腔安装有插座，所述插座的前端插接有插头，插座的后端面设置有圆周阵列设置有三个圆弧状的金属拨片，所述金属拨片的圆弧外壁设置有接线柱，所述插头的前端面设置有凸台，插头的后端面设置有与金属拨片相对应的三个圆周阵列分布的连接插片，所述凸台的前端设置有线性分布的三个插孔，凸台的外壁设置有三个圆周阵列分布的指示凹槽，所述插孔与测试元件的引线配合插接，所述指示凹槽位置与相邻连接插片之间的间隔相对应，所述连接插片的前端连接插孔，连接插片的后端外壁延伸至金属拨片的内壁。
优选的，所述测试电箱的前端面下端设置有显示屏，测试电箱的前端面中间位置设置有开关按钮，所述显示屏和开关按钮均与测试电路电性连接。
优选的，所述插座的前端外壁设置有第二外螺纹，插座通过第二外螺纹与螺纹孔之间的配合安装在测试电箱的前端。
优选的，所述插头的中间段外壁设置有第一外螺纹，所述插座的前端内壁设置有内螺纹，所述第一外螺纹与内螺纹配合螺纹连接。
优选的，所述接线柱的一端电性连接金属拨片，接线柱的另一端连接测试电箱内腔测试电路的导线，相邻所述金属拨片之间固定粘结有内径相同的绝缘插块。
与现有技术相比，本实用新型的有益效果是：
1.本实用新型通过设置带有接线柱的插座与测试电路连接，进而避免与电路导线之间多次连接，利用插座与插头之间的配合，实现多个不同规格插头的快速更换，进而利用插头匹配不同规格的三极管，增大适用的范围；
2.本实用新型通过设置连接插片与金属拨片之间的贴合，实现三极管与电路之间的快速安装，利用插孔与引线的配合，避免导线与引线之间的缠绕连接，提高了安装和测试效率。
附图说明
图1为本实用新型的主视图；
图2为本实用新型的插座与插头安装爆炸图。
图中：1测试电箱、2显示屏、3开关按钮、4插座、5测试元件、6插头、7凸台、8插孔、9指示凹槽、10第一外螺纹、11第二外螺纹、12连接插片、13内螺纹、14金属拨片、15接线柱、16绝缘插块。
具体实施方式
下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。
请参阅图1至图2，本实用新型提供一种技术方案：
一种多功能半导体三极管测试装置，包括测试电箱1，测试电箱1的内腔设置有测试电路，测试电箱1的前端面下端设置有显示屏2，测试电箱1的前端面中间位置设置有开关按钮3，显示屏2和开关按钮3均与测试电路电性连接，利用开关按钮3控制测试电路的通断，利用显示屏2显示处测试的数据，其中测试电路为现有技术中对三极管测试元件5的常见电路，属于本领域的成熟技术，不做详述。
测试电箱1的前端面上端设置有螺纹孔17，螺纹孔17的内腔安装有插座4，插座4的前端外壁设置有第二外螺纹11，插座4通过第二外螺纹11与螺纹孔17之间的配合安装在测试电箱1的前端，实现插座4在测试电箱1上的便捷安装。
插座4的前端插接有插头6，插头6的中间段外壁设置有第一外螺纹10，插座4的前端内壁设置有内螺纹13，第一外螺纹10与内螺纹13配合螺纹连接，进而实现插座4与插头6之间的便捷快速连接。
插座4的后端面设置有圆周阵列设置有三个圆弧状的金属拨片14，插头6的后端面设置有与金属拨片14相对应的三个圆周阵列分布的连接插片12，连接插片12的后端外壁延伸至金属拨片14的内壁，利用连接插片12与金属拨片14之间的相互贴合，进而实现插座4与插头6之间的电性连接。
插头6的前端面设置有凸台7，凸台7的前端设置有线性分布的三个插孔8，连接插片12的前端连接插孔8，插孔8与测试元件5的引线配合插接，利用插孔8实现插头6与测试元件5之间的连接。
金属拨片14的圆弧外壁设置有接线柱15，接线柱15的一端电性连接金属拨片14，接线柱15的另一端连接测试电箱1内腔测试电路的导线，相邻金属拨片14之间固定粘结有内径相同的绝缘插块16，利用接线柱15实现将插座4电性连接在测试电路上，进而实现将测试元件5电性连接在测试电路上，达到数据测试的目的。
凸台7的外壁设置有三个圆周阵列分布的指示凹槽9，指示凹槽9位置与相邻连接插片12之间的间隔相对应，利用指示凹槽9确认连接插片12与金属拨片14之间转动的角度，进而确定连接插片12与金属拨片14相互贴合。
工作原理：首先利用插座4通过第二外螺纹11与螺纹孔17之间的配合安装在测试电箱1的前端，实现插座4在测试电箱1上的便捷安装，利用接线柱15实现将插座4电性连接在测试电路上，避免插座4与电路导线之间多次繁琐的缠绕连接。
利用第一外螺纹10与内螺纹13配合螺纹连接，进而实现插座4与插头6之间的便捷快速连接，进而实现插头6的便捷更换，用以适用于不同规格测试元件5的安装。
利用连接插片12与金属拨片14之间的相互贴合，进而实现插座4与插头6之间的电性连接，利用插孔8实现插头6与测试元件5之间的连接，利用插孔8与引线的配合，避免导线与引线之间的缠绕连接，提高了安装和测试效率，进而实现将测试元件5电性连接在测试电路上，达到数据测试的目的，利用开关按钮3控制测试电路的通断，利用显示屏2显示处测试的数据，其中测试元件5为半导体三极管。
尽管已经示出和描述了本实用新型的实施例，对于本领域的普通技术人员而言，可以理解在不脱离本实用新型的原理和精神的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型，本实用新型的范围由所附权利要求及其等同物限定。
Claims (5)
1.一种多功能半导体三极管测试装置，包括测试电箱(1)，其特征在于：所述测试电箱(1)的内腔设置有测试电路，测试电箱(1)的前端面上端设置有螺纹孔(17)，所述螺纹孔(17)的内腔安装有插座(4)，所述插座(4)的前端插接有插头(6)，插座(4)的后端面设置有圆周阵列设置有三个圆弧状的金属拨片(14)，所述金属拨片(14)的圆弧外壁设置有接线柱(15)，所述插头(6)的前端面设置有凸台(7)，插头(6)的后端面设置有与金属拨片(14)相对应的三个圆周阵列分布的连接插片(12)，所述凸台(7)的前端设置有线性分布的三个插孔(8)，凸台(7)的外壁设置有三个圆周阵列分布的指示凹槽(9)，所述插孔(8)与测试元件(5)的引线配合插接，所述指示凹槽(9)的位置与相邻连接插片(12)之间的间隔相对应，所述连接插片(12)的前端连接插孔(8)，连接插片(12)的后端外壁延伸至金属拨片(14)的内壁。
2.根据权利要求1所述的一种多功能半导体三极管测试装置，其特征在于：所述测试电箱(1)的前端面下端设置有显示屏(2)，测试电箱(1)的前端面中间位置设置有开关按钮(3)，所述显示屏(2)和开关按钮(3)的后端均与测试电路电性连接。
3.根据权利要求1所述的一种多功能半导体三极管测试装置，其特征在于：所述插座(4)的前端外壁设置有第二外螺纹(11)，插座(4)通过第二外螺纹(11)与螺纹孔(17)之间的配合安装在测试电箱(1)的前端。
4.根据权利要求1所述的一种多功能半导体三极管测试装置，其特征在于：所述插头(6)的中间段外壁设置有第一外螺纹(10)，所述插座(4)的前端内壁设置有内螺纹(13)，所述第一外螺纹(10)与内螺纹(13)配合螺纹连接。
5.根据权利要求1所述的一种多功能半导体三极管测试装置，其特征在于：所述接线柱(15)的一端电性连接金属拨片(14)，接线柱(15)的另一端连接测试电箱(1)内腔测试电路的导线，相邻所述金属拨片(14)之间固定粘结有内径相同的绝缘插块(16)。
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| CN201921492203.1U CN210326331U (zh) | 2019-09-09 | 2019-09-09 | 一种多功能半导体三极管测试装置 |
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| CN201921492203.1U CN210326331U (zh) | 2019-09-09 | 2019-09-09 | 一种多功能半导体三极管测试装置 |
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| CN210326331U true CN210326331U (zh) | 2020-04-14 |
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| CN201921492203.1U Active CN210326331U (zh) | 2019-09-09 | 2019-09-09 | 一种多功能半导体三极管测试装置 |
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| CN (1) | CN210326331U (zh) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN113567827A (zh) * | 2021-09-26 | 2021-10-29 | 山东元捷电子科技有限公司 | 一种半导体器件的电性能测试工装 |
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2019
- 2019-09-09 CN CN201921492203.1U patent/CN210326331U/zh active Active
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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| CN113567827A (zh) * | 2021-09-26 | 2021-10-29 | 山东元捷电子科技有限公司 | 一种半导体器件的电性能测试工装 |
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