CN210323097U - 一种高精度btb测试导通模组 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种高精度BTB测试导通模组，包括：销钉组件和结构相同的两测试组件，测试组件通过销钉组件活动连接，各测试组件分别包括：底座、以及若干测试弹片，底座上设置有若干通孔槽，各通孔槽等距离排列，各通孔槽中分别贯穿插入有一测试弹片。本实用新型通过将测试模组一分为二，设置为左右两侧的测试组件，两测试组件通过两等距销钉活动连接，根据不同测试产品的中心距尺寸，调节两测试组件的距离，并在测试组件上设置一排等距离的通孔槽，在通孔槽中插入测试弹片，测试弹片底端与PCBA板连接，测试弹片顶端与待测试产品连接，根据不同待测试产品的引脚数，插入对应数量的测试弹片，通用性较广，结构简单，防呆设计，提高效率。

Description

一种高精度BTB测试导通模组

技术领域

本实用新型涉及BTB测试领域，尤其涉及的是一种高精度BTB测试导通模组。

背景技术

现有技术中，BTB测试模组一般采用POGO PIN探针设计，且POGO PIN探针BTB测试模组采用专用设计，所有配件必须单独设计、加工，具有设计、加工成本高、制作时间长等问题，且无法做到一种测试模组对应多种不同间距的BTB测试产品。

因此，现有技术存在缺陷，需要改进。

实用新型内容

本实用新型所要解决的技术问题是：提供一种测试速度快、结构简单、体积较小、通用性广的高精度BTB测试导通模组。

本实用新型的技术方案如下：一种高精度BTB测试导通模组，包括：销钉组件和结构相同的两测试组件，所述一测试组件与销钉组件一侧活动连接，所述另一测试组件与销钉组件另一侧活动连接；

其中，所述各测试组件分别包括：底座、以及若干测试弹片，所述底座上设置有若干通孔槽，所述各通孔槽中分别贯穿插入有一测试弹片。

采用上述技术方案，所述的高精度BTB测试导通模组中，所述销钉组件为结构相同的两等距销钉。

采用上述各个技术方案，所述的高精度BTB测试导通模组中，所述测试弹片下部比上部要窄。

采用上述各个技术方案，所述的高精度BTB测试导通模组中，所述底座底部设置有用于保护测试弹片下部的保护凸台，所述各测试弹片下部分别贯穿保护凸台。

采用上述各个技术方案，所述的高精度BTB测试导通模组中，所述保护凸台一侧设置有大防呆定位柱，所述保护凸台另一侧设置有小防呆定位柱。

采用上述各个技术方案，所述的高精度BTB测试导通模组中，所述底座一侧设置有便于注塑成型的工艺槽。

采用上述各个技术方案，本实用新型通过将测试模组一分为二，设置为左右两侧的测试组件，两测试组件通过两等距销钉活动连接，根据不同测试产品的尺寸，调节两测试组件的距离，并在测试组件上设置一排等距离的通孔槽，在通孔槽中插入测试弹片，测试弹片底端与待测试产品连接，测试弹片顶端与PCBA板连接，根据不同待测试产品的引脚数，插入对应数量的测试弹片，完成测试，通用性较广，结构简单，防呆设计，提高效率。

附图说明

图1为本实用新型的仰视装配结构示意图；

图2为本实用新型的测试弹片示意图；

图3为本实用新型的俯视装配结构示意图。

具体实施方式

以下结合附图和具体实施例，对本实用新型进行详细说明。

本实施例提供了一种高精度BTB测试导通模组，包括：销钉组件和结构相同的两测试组件，所述一测试组件与销钉组件一侧活动连接，所述另一测试组件与销钉组件另一侧活动连接；

其中，所述各测试组件分别包括：底座21、以及若干测试弹片22，所述底座21上设置有若干通孔槽211，所述各通孔槽211中分别贯穿插入有一测试弹片22。

如图1～3所示，本实施例中，将测试模组一分为二，测试模组包括两结构相同的测试组件，两测试组件通过销钉组件活动连接。根据被测试产品的尺寸以及测试要求，调整两测试组件的距离，以满足不同的需求。而现有的测试模组，两测试组件为一体结构，当需要测试不同的带测试产品，则需要不同型号的测试模组，造成使用不方便。

如图1～3所示，各测试组件包括底座21、以及若干结构相同的测试弹片22，如图3，各测试弹片22从上至下插入至底座21中的通孔槽211，测试弹片22顶端与待测产品连接，而测试弹片22底端则与PCBA连接。各相邻的通孔槽211间距相同，而各测试弹片22也为单独一体结构，以通孔槽211之间的间距为0.3mm为例，当每一个通孔槽211中插入测试弹片22，则各测试弹片22之间的距离也为0.3mm，当隔一个通孔槽211插入测试弹片22，则各测试弹片22之间的距离为0.6mm。也就是说，根据待测产品的引脚间距不同，插入相对应的测试弹片22，即可实现一个测试模组测试不同的待测产品，其通用性较现有固定的测试弹片22要广。

进一步的，所述销钉组件为结构相同的两等距销钉1。

如图1和图3所示，为了便于调节两底座21之间的距离，使两底座21能平行相向或者相背移动，将销钉组件设为两个结构相同的等距销钉1。当然，也可以设置为三个以上的等距销钉1，本实施例不做过多的设置，仅根据实际需要而定。

更进一步的，所述测试弹片22顶部222比底部221要窄。

如图2所示，为了减少整个测试模组的体积，将测试弹片22的顶部222设置为比底部221要窄，顶部222尺寸仅与待测试产品的接触部位适配即可。

更进一步的，所述底座21底部设置有用于保护测试弹片22顶部222的保护凸台，所述各测试弹片22顶部222分别贯穿保护凸台。

如图1和图2所示，由于测试弹片22顶部222比较窄，测试弹片22伸出底座21部分容易折断，因此，在底座21底部设置一保护凸台，保护凸台对测试弹片22顶部222起到一个保护作用，防止其容易折断。

更进一步的，所述保护凸台一侧设置有大防呆定位柱213，所述保护凸台另一侧设置有小防呆定位柱214。

如图1所示，为了在测试产品时，防止测试模组放错位置，将底座21底部设置两防呆定位柱，两防呆定位柱设置在保护凸台两侧，一侧为大防呆定位柱213，一侧为小防呆定位柱214，一大一小的两防呆定位柱，可以保证测试时不错位，提高测试效率。

更进一步的，所述底座21一侧设置有便于注塑成型的工艺槽215。

如图1和图3所示，为了便于加工通孔槽211，在底座21一侧设置工艺槽215，工艺槽215利于通孔槽211的注塑成型。

采用上述各个技术方案，本实用新型通过将测试模组一分为二，设置为左右两侧的测试组件，两测试组件通过两等距销钉活动连接，根据不同测试产品的尺寸，调节两测试组件的距离，并在测试组件上设置一排等距离的通孔槽，在通孔槽中插入测试弹片，测试弹片顶端与待测试产品连接，测试弹片底端与PCBA板连接，根据不同待测试产品的引脚数，插入对应数量的测试弹片，完成测试，通用性较广，结构简单，防呆设计，提高效率。

以上仅为本实用新型的较佳实施例而已，并不用于限制本实用新型，凡在本实用新型的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等，均应包含在本实用新型的保护范围之内。

Claims (6)

1.一种高精度BTB测试导通模组，其特征在于：

包括：销钉组件和结构相同的两测试组件，一所述测试组件与销钉组件一侧活动连接，另一所述测试组件与销钉组件另一侧活动连接；

其中，两所述测试组件分别包括：底座、以及若干测试弹片，所述底座上设置有若干通孔槽，各所述通孔槽等距离排列，各所述通孔槽中分别贯穿插入有一测试弹片。

2.根据权利要求1所述的高精度BTB测试导通模组，其特征在于：所述销钉组件为结构相同的两等距销钉。

3.根据权利要求1所述的高精度BTB测试导通模组，其特征在于：所述测试弹片顶部比底部要窄。

4.根据权利要求1所述的高精度BTB测试导通模组，其特征在于：所述底座底部设置有用于保护测试弹片顶部的保护凸台，各所述测试弹片顶部分别贯穿保护凸台。

5.根据权利要求4所述的高精度BTB测试导通模组，其特征在于：所述保护凸台一侧设置有大防呆定位柱，所述保护凸台另一侧设置有小防呆定位柱。

6.根据权利要求1所述的高精度BTB测试导通模组，其特征在于：所述底座一侧设置有便于注塑成型的工艺槽。

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