CN210269497U - 一种测量物料扬粉性质的装置 - Google Patents
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Abstract
本实用新型公开了一种测量物料扬粉性质的装置:由漏斗、封底板、密闭测量室和底盘组成,所述漏斗固定安装在所述密闭测量室的顶部,所述漏斗的本体向所述密闭测量室内部延伸,所述封底板位于所述漏斗的底部,所述封底板的一端位于所述密闭测量室内,其另一端穿越通孔延伸到所述密闭测量室侧壁外,所述密闭测量室安装在底盘上,所述密闭测量室的内壁设有可吸附膜,所述底盘被所述密闭测量室侧壁围蔽的空间设有凹槽。本实用新型具有以量化的方式有效测量物料扬粉性质的优点。
Description
技术领域
本实用新型涉及测试粉末性质的装置,特别涉及一种测量物料扬粉性质的装置。
背景技术
扬粉这一现象其实生活中我们经常会遇到,比如小麦粉碎的现场,极细的小麦粉漂浮在空气中,或是随着风飘扬到各处。物料扬粉在生产中也属于较常见现象,对生产的顺利进行造成非常不利的影响。比如采用量杯下料的方式进行粉剂类产品袋包的时候,如果物料扬粉严重,细粉会飞扬粘附在设备表面与热封刀口上,造成袋包密封不严需频繁停机进行清理,造成生产的不连续性,降低产能。对于药品的生产而言,物料的扬粉性质会增加生产难度,比如粉尘飘散造成污染影响操作者的身体健康。
通过判断扬粉系数推测大生产时可能出现的不良现象,及早进行规避,减少损失,同时,因为扬粉性质得到量化,可以协助物料生产商在物料生产的过程中,进行工艺改善,使扬粉的问题在物料前端的生产过程中即可得到解决。但是,现有技术中,由于物料的扬粉性质一般很少有特定的界定,人们对物料的这一性质虽有认知,但尚无方法来测量它,预示它的危害。
因此,需要设计一种有效测量物料扬粉性质的设备来满足生产和研发的需求。
实用新型内容
本实用新型要解决的技术问题是提供一种测量物料扬粉性质的装置,该装置操作简单方便,有效量化物料的扬粉性质。
为了解决上述技术问题,本实用新型的技术方案为:
一种测量物料扬粉性质的装置:由漏斗、封底板、密闭测量室和底盘组成,所述漏斗固定安装在所述密闭测量室的顶部,所述漏斗的本体向所述密闭测量室内部延伸,所述封底板位于所述漏斗的底部,所述封底板的一端位于所述密闭测量室内,其另一端穿越通孔延伸到所述密闭测量室侧壁外,所述密闭测量室安装在底盘上,所述密闭测量室的内壁设有可吸附膜,所述底盘被所述密闭测量室侧壁围蔽的空间设有凹槽。
优选的,所述凹槽的底壁设有可吸附膜,防止粉尘下坠后再次扬起。
优选的,所述凹槽的大小与所述密闭测量室内壁围蔽的空间大小一致,凹槽可以固定密闭测量室。
更优选的,还设有用于固定漏斗的定位螺丝,防止漏斗滑动。
优选的,所述可吸附膜为多孔膜,其孔径为微米级或纳米级,有助于吸附粉尘。
采用上述技术方案,由于密闭测量室的内壁设有可吸附膜,且底盘设有被密闭测量室围蔽的凹槽,下落时,扬起的粉末吸附在密闭测量室的内壁,下坠的粉末沉淀在凹槽中,通过测量下落前及粉末下坠静止后底盘以上部件的重量,即可量化出扬粉系数,有效测量物料扬粉性质。
附图说明
图1为本实用新型的立体图;
图2为本实用新型的一种实施方式的结构示意图;
图3为本实用新型图2中漏斗的俯视图。
图中,10-漏斗,20-封底板,21-把手,30-密闭测量室,40-底盘,41-凹槽。
具体实施方式
下面结合附图对本实用新型的具体实施方式作进一步说明。在此需要说明的是,对于这些实施方式的说明用于帮助理解本实用新型,但并不构成对本实用新型的限定。此外,下面所描述的本实用新型各个实施方式中所涉及的技术特征只要彼此之间未构成冲突就可以相互组合。
如图1所示,一种测量物料扬粉性质的装置:由漏斗10、封底板20、密闭测量室30和底盘40组成,漏斗10固定安装在密闭测量室30的顶部,漏斗10的本体向密闭测量室30内部延伸,封底板20位于漏斗10的底部,封底板20的一端位于密闭测量室20内,其另一端穿越通孔延伸到密闭测量室30侧壁外,密闭测量室30安装在底盘上,密闭测量室30的内壁设有可吸附膜,底盘40被密闭测量室30侧壁围蔽的空间设有凹槽41。
其中,凹槽41的底壁设有可吸附膜,防止粉尘下坠后再次扬起。
其中,凹槽41的大小与密闭测量室30内壁围蔽的空间大小一致,凹槽41可以固定密闭测量室30。
其中,还设有用于固定漏斗10的定位螺丝,防止漏斗滑动。
其中,可吸附膜为多孔膜,其孔径为微米级或纳米级,有助于吸附粉尘。
另外一种实施方式如2所示,一种测量物料扬粉性质的装置,由漏斗10、封底板20、密闭测量室30和底盘40组成,漏斗10固定安装在密闭测量室30的顶部,漏斗10的本体向密闭测量室30内部延伸,封底板20位于漏斗10的底部,封底板20的一端位于密闭测量室20内,其另一端设有把手21,所述把手21的一端与封底板20连接,所述把手21的另一端通过空隙延伸到所述密闭称量室30顶壁外,密闭测量室30安装在底盘上,密闭测量室30的内壁设有可吸附膜,底盘40被密闭测量室30侧壁围蔽的空间设有凹槽41。
本实用新型的使用方法包括:
步骤一:按图1或者图2将设备进行安装,并对底盘40以上部份进行称量,得重量ag,待用;
步骤二:将测试样品自然放入漏斗10内,并用刮刀将溢出的部分刮去,测量重量,得重量bg;
步骤三:拉出或移动封底板20,使物料自由下落;
步骤四:待物料下落结束后,静置2~5分钟,轻轻取出底座上部,测量重量得cg;
步骤五,计算扬粉系数,扬粉系数=(cg-ag)/(bg-ag)。
以上结合附图对本实用新型的实施方式作了详细说明,但本实用新型不限于所描述的实施方式。对于本领域的技术人员而言,在不脱离本实用新型原理和精神的情况下,对这些实施方式进行多种变化、修改、替换和变型,仍落入本实用新型的保护范围内。
Claims (5)
1.一种测量物料扬粉性质的装置,其特征在于:由漏斗、封底板、密闭测量室和底盘组成,所述漏斗固定安装在所述密闭测量室的顶部,所述漏斗的本体向所述密闭测量室内部延伸,所述封底板位于所述漏斗的底部,所述封底板的一端位于所述密闭测量室内,其另一端穿越通孔延伸到所述密闭测量室侧壁外,所述密闭测量室安装在底盘上,所述密闭测量室的内壁设有可吸附膜,所述底盘被所述密闭测量室侧壁围蔽的空间设有凹槽。
2.根据权利要求1所述的测量物料扬粉性质的装置,其特征在于:所述凹槽的底壁设有可吸附膜。
3.根据权利要求2所述的测量物料扬粉性质的装置,其特征在于:所述凹槽的大小与所述密闭测量室内壁围蔽的空间大小一致。
4.根据权利要求3所述的测量物料扬粉性质的装置,其特征在于:还设有用于固定漏斗的定位螺丝。
5.根据权利要求4所述的测量物料扬粉性质的装置,其特征在于:所述可吸附膜为多孔膜,其孔径为微米级或纳米级。
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