CN210181111U - 一种电阻测量装置 - Google Patents

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袁广华
杨理强
麦俊
林瑞芬
练洁兰
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Abstract

本实用新型提供了电阻测量装置,其包括支架,设置在支架上的二维移动平台,所述二维移动平台上设置有夹具,所述夹具用于固定待检测物,所述二维移动平台包括X轴移动平台、Y轴移动平台,所示支架上还设置有Z轴移动机构,所述Z移动机构上设置探针座,所述探针座上设置有至少一组探针,以及探针位置调节机构,所述探针位置调节机构用于调节所述探针位置,所述支架上还设置有检测装置,所述检测装置用于检测所述探针和/或所述待检测物的相对位置。

Description

一种电阻测量装置
技术领域
本实用新型涉及电阻测量领域,具体涉及一种适用于超低电阻值电阻的测量装置。
背景技术
超低电阻值电阻广泛应用于各类电子产品中,在电子产品出厂前,通常需要对产品的电阻进行测量,以保证良品率。现有的电阻测量装置中,测试探针通常是固定的,不能适应不同型号规格的电阻快速切换测量,并且通常用肉眼观察测试位置,对于较小尺寸产品难以对位。
实用新型内容
为了解决上述技术问题,本实用新型提供了一种电阻测量设备,其可快速切换适应不同型号规格的电阻,并且设置检测装置,可以高精度的实现探针在产品上的定位。本实用新型的电阻测量装置的具体结构如下:
所述电阻测量装置包括支架,设置在支架上的二维移动平台,所述二维移动平台上设置有夹具,所述夹具用于固定待检测物,所述二维移动平台包括X轴移动平台、Y轴移动平台,所示支架上还设置有Z轴移动机构,所述Z移动机构上设置探针座,所述探针座上设置有至少一组探针,以及探针位置调节机构,所述探针位置调节机构用于调节所述探针位置,所述支架上还设置有检测装置,所述检测装置用于检测所述探针和/或所述待检测物的相对位置。
进一步地,所述X轴移动平台包括X轴坐标尺,所述Y轴移动平台包括Y轴坐标尺,所述Z轴移动机构包括Z轴标尺。
进一步地,所述X轴移动平台包括X轴以及与其配合的X轴座、Y轴移动平台包括Y轴以及与其配合的Y轴座、Z轴移动机构包括Z轴以及与其配合的Z轴座,所述探针座设置于所述Z轴座上。
进一步地,所述电阻测量装置还包括数据采集模块,所述数据采集模块与所述探针点连接。
进一步地,所述支架上设置有显示器,所述显示器与所述检测装置连接。
进一步地,所述支架底部还设置调节机构。
进一步地,所述检测装置为CCD。
进一步地,所述至少一组探针包括四个探针。
进一步地,所述探针为双弹头顶针,所述探针包括壳体、顶针、弹簧、和至少一个连接板,所述顶针贯穿设置于所述壳体中,所述顶针的尖端和所述顶针的另一端至少部分的露出于所述壳体,所述顶针和所述壳体之间能够相对运动,所述顶针穿过所述弹簧,所述至少一个连接板位于所述壳体内且与顶针连接,所述弹簧的至少一端与所述至少一个连接板连接。
进一步地,所述顶针直径都为0.15mm。
附图说明
图1为本实用电阻测量装置的结构示意图;
图2为本实用电阻测量装置探针(双弹头顶针)结构示意图;
附图标记说明:支架1,夹具2,X轴3,X轴座4,Y轴5,Y轴座6,Z轴7,Z轴座8,探针座9,探针位置调节机构10,检测装置11,显示器12,水平调节机构13,顶针14,弹簧15,连接板16,另一连接板17,壳体18。
具体实施方式
以下结合附图,对本实用新型进行详细说明。
具体参见附图1,本实用新型所述电阻测量装置包括支架1,设置在支架1上的二维移动平台,所述二维移动平台上设置有夹具2,所述夹具2用于固定待检测物,所述二维移动平台包括X轴移动平台、Y轴移动平台,所示支架1上还设置有Z轴移动机构,所述Z移动机构上设置探针座9,所述探针座9上设置有至少一组探针(图中未示出),以及探针位置调节机构10,所述探针位置调节机构10用于调节所述探针位置,所述支架1上还设置有检测装置11,所述检测装置11用于检测所述探针和/或所述待检测物的相对位置。探针位置调节机构10可以是通过旋转式如螺纹式使得探针移动,也可以是通过滑动式移动探针。检测装置11可以设置于Z轴移动机构上,也可以设置机架上的其他位置。
具体的,X轴移动平台可设置于Y轴5平台上,或者Y轴移动平台设置于X轴移动平台上,夹具2则结合X轴移动平台或Y轴移动平台的相对位置设置。探针位置调节机构10可以调节探针间距,从而适应不通过规格的产品测试。配合检测装置11,通过检测装置11对探针与产品的相对位置进行快速检测,以便快速对将探针移动至所述位置,并且还可实时监测测试过程中探针位置是否有变化,从而提高检测精度。本实用新型的测试最小规格尺寸为0402(产品尺寸为0.95*0.48mm)。
在本实用新型的某些实施例中,所述X轴移动平台包括X轴3坐标尺(图中未示出),所述Y轴移动平台包括Y轴5坐标尺(图中未示出),所述Z轴移动机构包括Z轴7标尺(图中未示出),通过X轴3坐标尺、Y轴5坐标尺可以实现精确的移动定位产品位置,通过Z轴7坐标尺,可以记录下压行程,提高向移动效率,以及防止产品和探针碰撞损伤,由于设置了三个坐标尺,可以在记录三个方向的移动后对位坐标。
在本实用新型的某些实施例中,所述X轴移动平台包括X轴3以及与其配合的X轴座4、Y轴移动平台包括Y轴5以及与其配合的Y轴座6、Z轴移动机构包括Z轴7以及与其配合的Z轴座8,所述探针座9设置于所述Z轴座8上。X轴座4、Y轴座6、Z轴座8可分别沿着相应的轴移动。
在本实用新型的某些实施例中,X轴3、Y轴5、Z轴7上设上分别设置相应的调节旋钮,通过旋转调节旋钮,即可实现相应的X轴座4,Y轴座6、Z轴座8的移动。
在本实用新型的某些实施例中,X轴3、Y轴5、Z轴7对应的坐标尺可以设置于相应的轴上或轴座上,位置在XY移动平台上。
在本实用新型的某些实施例中,所述电阻测量装置还包括数据采集模块(图中未示出),所述数据采集模块与所述探针点连接,通过数据采集模块把测试数据读入计算机,并生成EXECL文件方便统计处理。
在本实用新型的某些实施例中,所述支架1上设置有显示器12,所述显示器12与所述检测装置连接。通过探测装置对产品及探针检测,从而可在显示器12上对待测试产品、探针的位置进行观测,从而便于利用探针位置调节机构10、调节X轴3、调节Y轴5,使探针位置完全放置于对应要测试产品的规格型号的测试位置的中间。
在本实用新型的某些实施例中,所述支架1底部还设置水平调节机构13,通过水平调节机构13,可以保证支架1底部的水平度,从而提高电阻检测精度。
在本实用新型的某些实施例中,所述检测装置11为CCD。
在本实用新型的某些实施例中,所述每组探针包括四个探针。采用四针测试方法测阻,测量稳定性好,可实现如0.2mΩ~1 000mΩ的超低阻值。
在本实用新型的某些实施例中,所述探针为双弹头顶针,所述探针包括壳体18、顶针14、弹簧15、连接板16和另一连接板17,所述顶针14贯穿设置于所述壳体18中,所述顶针14的尖端和所述顶针的另一端至少部分的露出于所述壳体18,所述顶针14和所述壳体18之间能够相对运动,所述顶针穿过所述弹簧15,所述至少一个连接板位于所述壳体内且与顶针连接,所述弹簧的至少一端与所述至少一个连接板连接。
进一步,所述连接板16与顶针14固定连接,另一连接板17固定于壳体上。
在本实用新型的某些实施例中,所述顶针直径为0.15mm。优选使用3604合金铜材料0.15mm直径的双头弹顶针,最大可以承受3A测试电流。
在使用本实用新型的电阻测量装置对产品进行检测时,采用以下的方法进行,所述方案具体如下:
(1)将测试产品放置于测试装置的夹具2上固定;
(2)测试探针接线连接测试仪如:ADEX AE-1152测试仪,将测试仪的RS-232C接口连接电脑。
(3)调节探针座9上的Z轴7调节旋钮,使测试探针下压到接近产品的上方(测试探针不能接触到产品);调节X轴3、Y轴5的调节旋钮,使夹具2在X轴3、Y轴5两个方向运动,进而使探针到达产品的正上方;
(4)利用CCD从显示器12观察产品位置,调节探针座9上的探针位置调节旋钮,使探针位置完全放置于对应要测试产品的规格型号产品要测试位置的中间;
(5)调节探针座9上的Z轴7旋钮向下运动,使探针座9的探针与产品的测量点接触,得到产品的第一电阻值;
(6)调节探针座9上的Z轴7旋钮向上运动,离开产品表面,利用CCD配合观察,调节调节X轴3、Y轴5的调节旋钮,使夹具2在X轴3、Y轴5两个方向运动,进而使探针到达第二电阻产品的正上方,重复步骤(4),得到第二电阻值。
(7)重复步骤(5)、(4),选取产品上的不同测量点进行测量。
(8)对测量后的数据按要求进行统计。
在某些测试过程中,在步骤(4)中,也可利用CCD装置在显示器12中观测待检测产品和探针的相对位置,从而调整在X、Y方向上调整产品的位置,以及调整调节探针座9上的探针位置调节旋钮,使探针位置完全放置于对应要测试产品的规格型号产品要测试位置的中间。
以上所述仅为本实用新型的较佳实施例,并不用于限制本实用新型,凡在本实用新型的精神和原则内,所作的任何修改、等同替换、改进等,均应包含在本实用新型的保护范围之内。

Claims (10)

1.一种电阻测量装置,其特征在于,所述电阻测量装置包括支架,设置在支架上的二维移动平台,所述二维移动平台上设置有夹具,所述夹具用于固定待检测物,所述二维移动平台包括X轴移动平台、Y轴移动平台,所示支架上还设置有Z轴移动机构,所述Z轴移动机构上设置探针座,所述探针座上设置有至少一组探针,以及探针位置调节机构,所述探针位置调节机构用于调节所述探针位置,所述支架上还设置有检测装置,所述检测装置用于检测所述探针和/或所述待检测物的相对位置。
2.根据权利要求1所述的电阻测量装置,其特征在于,所述X轴移动平台包括X轴坐标尺,所述Y轴移动平台包括Y轴坐标尺,所述Z轴移动机构包括Z轴标尺。
3.根据权利要求2所述的电阻测量装置,其特征在于,所述X轴移动平台包括X轴以及与其配合的X轴座、Y轴移动平台包括Y轴以及与其配合的Y轴座、Z轴移动机构包括Z轴以及与其配合的Z轴座,所述探针座设置于所述Z轴座上。
4.根据权利要求1所述的电阻测量装置,其特征在于,所述电阻测量装置还包括数据采集模块,所述数据采集模块与所述探针点连接。
5.根据权利要求1所述的电阻测量装置,其特征在于,所述支架上设置有显示器,所述显示器与所述检测装置连接。
6.根据权利要求1所述的电阻测量装置,其特征在于,所述支架底部还设置水平调节机构。
7.根据权利要求1所述的电阻测量装置,其特征在于,所述检测装置为CCD。
8.根据权利要求1所述的电阻测量装置,其特征在于,所述至少一组探针包括四个探针。
9.根据权利要求1所述的电阻测量装置,其特征在于,所述探针为双弹头顶针,所述探针包括壳体、顶针、弹簧、和至少一个连接板,所述顶针贯穿设置于所述壳体中,所述顶针的尖端和所述顶针的另一端至少部分的露出于所述壳体,所述顶针和所述壳体之间能够相对运动,所述顶针穿过所述弹簧,所述至少一个连接板位于所述壳体内且与顶针连接,所述弹簧的至少一端与所述至少一个连接板连接。
10.根据权利要求9所述的电阻测量装置,其特征在于,所述顶针的直径为0.15mm。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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CN113671253A (zh) * 2020-05-15 2021-11-19 神讯电脑(昆山)有限公司 电阻阻值检测装置

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