CN209784190U - 荧光光强检测装置 - Google Patents

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陈德
王台虎
王忠龙
熊凌志
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Abstract

本实用新型涉及荧光光强检测装置。本实用新型结构为光电二极管设置在放大电路板上,滤光片设置在光电二极管正下方,滤光片正下方设置平凸透镜,激发光源设置于光电二极管右边,盖板在外壳上方。本实用新型解决了现有技术存在的激发光路与反射光路重叠,激发光在通过半透半反射镜后损失一半强度,反射光在通过半透半反射镜后也损失一半光强的缺陷。本实用新型结构紧凑小巧,光路设计合理,遮光度高,极大地提高了荧光光强的检测限值和线性范围,可通过更换激发光源、滤光片、光电二极管等光学元器件,来更改本身的敏感检测波长,以匹配不同特征波长的待测样品,以匹配不同强度范围的待测样品。

Description

荧光光强检测装置
技术领域
本实用新型涉及一种荧光检测装置,特别涉及荧光光强检测装置。
背景技术
在本实用新型发明之前,目前有两种常见的荧光光强检测装置,但受限于激 发光路设计,均达不到较宽的检测线性范围,一种是激发光路在反射光路的左右 两侧,受限于空间结构,这种荧光光强检测装置只能采用尺寸较小的草帽头发光 二极管灯珠,草帽头发光二极管灯珠功率较小,且安装后激发光路较长,因此无 法饱和激发高浓度荧光待测样品,检测结果的线性范围较小;另一种荧光光强检 测装置使用半透半反射镜原理,激发光路平行于样品放置平面,反射光路垂直于 样品放置平面,半透半反射镜放置于激发光路与反射光路相交处,位于样品放置 平面上方,半透半反射镜与样品放置平面之间,激发光路与反射光路重叠,激发 光在通过半透半反射镜后损失一半强度,反射光在通过半透半反射镜后也损失一 半光强,因此也存在检测线性范围小的问题。
实用新型内容
本实用新型的目的就在于克服上述缺陷,研制荧光光强检测装置。
本实用新型的技术方案是:
荧光光强检测装置,其主要技术特征在于:光电二极管设置在放大电路板上, 滤光片设置在光电二极管正下方,滤光片正下方设置平凸透镜,激发光源设置于 光电二极管右边,盖板在外壳上方。
所述所有部件均连接在外壳上。
所述光电二极管的敏感波长段应包括待检样品的发射波长。
所述滤光片的通过波长应包括待检样品的发射波长。
所述平凸透镜的焦距应约等于待检样品表面至透镜表面的距离。
本实用新型的优点和效果在于结构紧凑小巧,光路设计合理,遮光度高,可 以单独用于测试实验场合,也可以作为一个元器件安装于仪器设备之中。使用单 颗大功率发光二极管灯珠作为激发光源,将激发光源放置于光电二极管的右面, 激发光路与反射光路相互独立,极大地提高了荧光光强的检测限值和线性范围, 可广泛应用于需精确检测荧光强度的场合,也可以作为其他仪器设备的一个组成 部分使用。可通过更换激发光源、滤光片、光电二极管等光学元器件,来更改本 身的敏感检测波长,以匹配不同特征波长的待测样品,可通过更改放大电路板上 的电阻电容等元件,调整放大电路板的放大倍数,以匹配不同强度范围的待测样 品。
本实用新型适用于一定范围内的荧光强度的精确检测,检测速度快,检测结 果准确度高,误差可控。且外观小巧,结构上预留紧固接口,可灵活地安装于仪 器设备之中,外壳与盖板均为高规格铝合金材质,可有效抗电磁辐射,屏蔽电磁 干扰,并可有效降低环境光干扰。
附图说明
图1——本实用新型结构原理示意图。
图中各标号表示:
盖板1、放大电路板2、光电二极管3、外壳4、滤光片5、激发光源6、平 凸透镜7。
具体实施方式
如图1所示:
光电二极管3设置在放大电路板2上,滤光片5设置在光电二极管3下方, 滤光片5下方设置平凸透镜7,激发光源6设置在光电二极管右方。所有部件均 连接在外壳4上,盖板1在外壳4上方。
本实用新型应用过程简要说明:
当需要进行荧光光强检测时,首先将待测样品放置在固定的水平桌面上,调 节位置;待测样品放置于平凸透镜7正下方,检测时待测样品反射的荧光从下往 上依次经过平凸透镜7、滤光片5进入光电二极管3,待测样品反射的荧光所走的 路径为反射光路,激发光源6发射的光照射到待测样品的路径为激发光路,激发 光源6发射的光照射到待检样品的激发光路与待测样品产生的荧光依次通过平凸 透镜7、滤光片5进入光电二极管3的反射光路存在夹角,且激发光路与反射光路 相交于待测样品;其次,打开激发光源6,激发光源6位于待测样品的右上方,使 得经光电二极管3、滤光片5、平凸透镜7这一条线照射到待检样品所产生的激发 光路与待测样品产生的荧光依次通过平凸透镜7、滤光片5进入光电二极管3产生 的反射光路的交点刚好处于待测样品检验点位置。并且,反射光路垂直于待测样 品平面,激发光路在待测样品的垂直面上与反射光路之间存在一定夹角。由于光 电二极管3接收到的荧光光强强度与光电二极管3的电阻值成正比,光电二极管3 串联在放大电路板2的检测电路中,因此检测放大电路板2输出的电压信号值,就 可根据电压信号值和各组件参数计算出待测样品检验点的荧光光强值。
光电二极管3的敏感波长段应包括待检样品的发射波长;滤光片5的通过波长 应包括待检样品的发射波长;平凸透镜7的焦距应约等于待检样品表面至透镜表 面的距离;激发光源6的功率应足够饱和激发待测样品。

Claims (5)

1.荧光光强检测装置,其特征在于:光电二极管设置在放大电路板上,滤光片设置在光电二极管正下方,滤光片正下方设置平凸透镜,激发光源设置于光电二极管右边,盖板在外壳上方。
2.根据权利要求1所述的荧光光强检测装置,其特征在于:所述所有部件均连接在外壳上。
3.根据权利要求1所述的荧光光强检测装置,其特征在于:所述光电二极管的敏感波长段应包括待检样品的发射波长。
4.根据权利要求1所述的荧光光强检测装置,其特征在于:所述滤光片的通过波长应包括待检样品的发射波长。
5.根据权利要求1所述的荧光光强检测装置,其特征在于:所述平凸透镜的焦距应等于待检样品表面至透镜表面的距离。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN112326610A (zh) * 2020-10-28 2021-02-05 瑞莱生物科技江苏有限公司 一种定量荧光检测光学装置

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