CN209764224U - 一种可进行水平校准的电子分析天平 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种可进行水平校准的电子分析天平，包括电子分析天平本体，电子分析天平本体的下表面固定安装有找平装置，找平装置的下表面固定安装有底座，底座的下表面固定安装有支撑装置，通过调整支撑装置观察找平装置上气泡水平仪进行找平，然后将电子分析天平本体放置到找平板上，拧动找平板，使找平板与电子分析天平本体紧密贴合，观察电子分析天平本体上水平仪与气泡水平仪的偏差，然后将电子分析天平本体上水平仪进行清零，进而对电子分析天平本体进行水平较准，通过拧动螺杆，使螺杆的上端与电子分析天平本体紧密贴合，调整电子分析天平本体上水平仪与气泡水平仪均处于零点，能够观察出电子分析天平的倾斜程度。

Description

一种可进行水平校准的电子分析天平

技术领域

本实用新型涉及电子分析天平技术领域，具体为一种可进行水平校准的电子分析天平。

背景技术

电子分析天平再长时间的使用下很容易出现偏差，这样就需要对电子分析天平进行水平校准，而现有的电子分析天平上具有水平仪，需要水平装置对其进行对比，进而观察电子分析天平上具有水平仪的偏差，进行调零，为此特提出一种可进行水平校准的电子分析天平。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种可进行水平校准的电子分析天平，以解决上述背景技术中提出的问题。

为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：一种可进行水平校准的电子分析天平，包括电子分析天平本体，所述电子分析天平本体的下表面固定安装有找平装置，所述找平装置的下表面固定安装有底座，所述底座的下表面固定安装有支撑装置；

所述找平装置包括所述电子分析天平本体的下表面开设的第一螺纹孔，所述第一螺纹孔的内侧壁螺接有固定块，所述固定块的下表面铰接有支杆，所述支杆的下表面与底座固定连接，所述支杆的外侧壁螺接有找平板，所述找平板的外侧壁开设有均匀分布的第二螺纹孔，所述第二螺纹孔的内侧壁螺接有螺杆，所述螺杆的上端与电子分析天平本体的下表面贴合，所述找平板的外侧壁固定安装有均匀分布的气泡水平仪。

优选的，所述固定块的下表面开设有球槽，所述球槽的内侧壁转动连接有滚珠，所述滚珠的外侧壁与支杆固定连接。

优选的，所述支撑装置包括所述底座的下表面固定连接的固定杆，所述固定杆的下表面开设有滑槽，所述滑槽的内侧壁滑动连接有T形滑杆，所述滑槽的内侧壁固定连接有内螺纹环，所述T形滑杆的外侧壁与内螺纹环螺接，所述T形滑杆的上表面与滑槽之间设置有弹簧，所述T形滑杆的下表面固定连接有支腿。

优选的，所述支杆与底座之间固定连接有加强筋。

优选的，所述找平板的上表面开设有与固定块相匹配的凹槽。

与现有技术相比，本实用新型的有益效果是：一种可进行水平校准的电子分析天平，通过电子分析天平本体、找平装置、底座和支撑装置的配合使用，通过调整支撑装置观察找平装置上气泡水平仪进行找平，然后将电子分析天平本体放置到找平板上，拧动找平板，使找平板与电子分析天平本体紧密贴合，观察电子分析天平本体上水平仪与气泡水平仪的偏差，然后将电子分析天平本体上水平仪进行清零，进而对电子分析天平本体进行水平较准，通过拧动螺杆，使螺杆的上端与电子分析天平本体紧密贴合，调整电子分析天平本体上水平仪与气泡水平仪均处于零点，能够观察出电子分析天平的倾斜程度。

附图说明

图1为本实用新型结构示意图。

图2为本实用新型支撑装置示意图。

图中：1电子分析天平本体、2找平装置、3底座、4支撑装置、5第一螺纹孔、6固定块、7支杆、8找平板、9第二螺纹孔、10螺杆、11球槽、12滚珠、13固定杆、14滑槽、15 T形滑杆、16内螺纹环、17弹簧、18支腿、19 加强筋、20凹槽、21气泡水平仪。

具体实施方式

下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

请参阅图1-2，本实用新型提供一种技术方案：一种可进行水平校准的电子分析天平，包括电子分析天平本体1，电子分析天平本体1的下表面固定安装有找平装置2，找平装置2的下表面固定安装有底座3，底座3的下表面固定安装有支撑装置4，通过支撑装置4，使找平装置2放置平稳，将电子分析天平本体1螺接在找平装置2上，通过调整找平装置2对电子分析天平本体1 进行水平校准；

找平装置2包括电子分析天平本体1的下表面开设的第一螺纹孔5，第一螺纹孔5的内侧壁螺接有固定块6，固定块6的下表面铰接有支杆7，支杆7 的下表面与底座3固定连接，支杆7的外侧壁螺接有找平板8，找平板8的外侧壁开设有均匀分布的第二螺纹孔9，第二螺纹孔9的内侧壁螺接有螺杆10，螺杆10的上端与电子分析天平本体1的下表面贴合，找平板8的外侧壁固定安装有均匀分布的气泡水平仪21，将固定杆13螺接在电子分析天平本体1上，因固定块6与支杆7铰接，电子分析天平本体1发生倾斜，拧动找平板8，使找平板8的上表面与电子分析天平本体1紧密贴合，因找平板8通过支撑装置4进行找平，进而观察电子分析天平本体1的偏差，通过然后将电子分析天平本体1清零，以此对电子分析天平本体1进行水平校准。

具体而言，固定块6的下表面开设有球槽11，球槽11的内侧壁转动连接有滚珠12，滚珠12的外侧壁与支杆7固定连接，使电子分析天平本体1能够任意角度旋转，避免电子分析天平本体1与找平板8接触时有局限性。

具体而言，支撑装置4包括底座3的下表面固定连接的固定杆13，固定杆13的下表面开设有滑槽14，滑槽14的内侧壁滑动连接有T形滑杆15，滑槽14的内侧壁固定连接有内螺纹环16，T形滑杆15的外侧壁与内螺纹环16螺接，T形滑杆15的上表面与滑槽14之间设置有弹簧17，T形滑杆15的下表面固定连接有支腿18，弹簧17始终处于压缩状态，当找平板8不平时，拧动T形滑杆15，使T形滑杆15与内螺纹环16螺接，内螺纹环16向外或者向内侧移动，弹簧17伸缩，弹簧17能够避免内螺纹环16与T形滑杆15之间发生偏移，增加内螺纹环16与T形滑杆15的连接紧密性。

具体而言，支杆7与底座3之间固定连接有加强筋19，为了增加支杆7 与底座3的连接紧密性，避免支杆7变形。

具体而言，找平板8的上表面开设有与固定块6相匹配的凹槽20，为了避免固定块6阻碍找平板8与电子分析天平本体1贴合。

工作原理：拧动T形滑杆15，使T形滑杆15与内螺纹环16螺接，内螺纹环16向外或者向内侧移动，弹簧17伸缩，使找平板8上气泡水平仪21指向中心处，此时找平板8处于水平，然后将电子分析天平本体1上第一螺纹孔5对准固定块6，转动电子分析天平本体1使固定块6螺接在第一螺纹孔5 内，然后拧动找平板，使找平板与电子分析天平本体1的下表面紧密贴合，通过观察电子分析天平本体1上水平仪的指针是否指向零点，然后对其进行调零校准，在找平板8与电子分析天平本体1之间存在缝隙时，拧动螺杆10，使螺杆10的上端与电子分析天平本体1紧密贴合，将校准卡尺插入到找平板 8与电子分析天平本体1之间存在缝隙内，亦能够对其进行校准。

尽管已经示出和描述了本实用新型的实施例，对于本领域的普通技术人员而言，可以理解在不脱离本实用新型的原理和精神的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型，本实用新型的范围由所附权利要求及其等同物限定。

Claims (5)

1.一种可进行水平校准的电子分析天平，包括电子分析天平本体(1)，其特征在于：所述电子分析天平本体(1)的下表面固定安装有找平装置(2)，所述找平装置(2)的下表面固定安装有底座(3)，所述底座(3)的下表面固定安装有支撑装置(4)；

所述找平装置(2)包括所述电子分析天平本体(1)的下表面开设的第一螺纹孔(5)，所述第一螺纹孔(5)的内侧壁螺接有固定块(6)，所述固定块(6)的下表面铰接有支杆(7)，所述支杆(7)的下表面与底座(3)固定连接，所述支杆(7)的外侧壁螺接有找平板(8)，所述找平板(8)的外侧壁开设有均匀分布的第二螺纹孔(9)，所述第二螺纹孔(9)的内侧壁螺接有螺杆(10)，所述螺杆(10)的上端与电子分析天平本体(1)的下表面贴合，所述找平板(8)的外侧壁固定安装有均匀分布的气泡水平仪(21)。

2.根据权利要求1所述的一种可进行水平校准的电子分析天平，其特征在于：所述固定块(6)的下表面开设有球槽(11)，所述球槽(11)的内侧壁转动连接有滚珠(12)，所述滚珠(12)的外侧壁与支杆(7)固定连接。

3.根据权利要求1所述的一种可进行水平校准的电子分析天平，其特征在于：所述支撑装置(4)包括所述底座(3)的下表面固定连接的固定杆(13)，所述固定杆(13)的下表面开设有滑槽(14)，所述滑槽(14)的内侧壁滑动连接有T形滑杆(15)，所述滑槽(14)的内侧壁固定连接有内螺纹环(16)，所述T形滑杆(15)的外侧壁与内螺纹环(16)螺接，所述T形滑杆(15)的上表面与滑槽(14)之间设置有弹簧(17)，所述T形滑杆(15)的下表面固定连接有支腿(18)。

4.根据权利要求1所述的一种可进行水平校准的电子分析天平，其特征在于：所述支杆(7)与底座(3)之间固定连接有加强筋(19)。

5.根据权利要求1所述的一种可进行水平校准的电子分析天平，其特征在于：所述找平板(8)的上表面开设有与固定块(6)相匹配的凹槽(20)。