CN209526188U - 梳状双工器 - Google Patents

Abstract

一种梳状双工器，其在壳体顶部的盖板上，通过固定螺母设置调试螺杆，使得所述调试螺杆能够贯穿所述盖板表面的通孔，由所述盖板的上表面伸入所述腔体内部。本实用新型通过将调试螺杆设置在盖板，能够避免现有双工器在壳体侧边开设通孔的加工步骤，简化加工工艺，并且简化调试过程，提高产品调试效率。本实用新型能够通过选择合适尺寸的调试螺杆，通过调节其与双工器内梳状结构之间的距离调节双工器的频率以及耦合，使其性能满足设计要求。

Description

梳状双工器

技术领域

本实用新型涉及微波通讯器件，具体而言涉及一种梳状双工器。

背景技术

双工器是微波通讯系统中的重要器件之一。其主要用于发射和接收微波信号同时实现双向的信号隔离，以保证接收链路和发射链路均能够正确工作。

随着通讯产品高速发展,低频双工产品的体积需要做到轻量化。尤其，由于天线体积的限制.双工器需要满足尺寸要求。为实现上述要求，双工器内部可采用梳状结构实现。但是，由于产品结构的复杂性以及加工误差，现有梳状双工器需要通过设置在双工器壳体侧边的调试螺杆调节其频率以及耦合。也就是说，参考图1所示，现有的双工器在加工时，需要在其壳体的侧边开设通孔，将调试螺杆插入通孔，在双工器的侧边通过调节调试螺杆而使得其性能参数趋向于设计要求。

但是，由于双工器壳体结构复杂，其内还容纳有梳状结构，梳状结构之间形成有多个复杂的腔体，在其侧边开设通孔其本身的加工难度就比较大。此外，由于双工器产品线设计为双工器壳体的顶面开口朝上。因此，现有的设置在双工器侧边的调节结构，其调节时需要将双工器从产品线上竖起，固定才能够进行调试和测试。这种竖立摆放的调试方式会严重的影响调试效率，不适用于大批量的产线。

实用新型内容

本实用新型针对现有技术的不足，提供一种梳状双工器，本实用新型通过将调试螺杆设置在梳状双工器的顶部，降低了梳状双工器的加工成本，提高了梳状双工器的调试效率。本实用新型具体采用如下技术方案。

首先，为实现上述目的，提出一种梳状双工器，其包括：壳体，其侧面连接有信号端口，其顶部设置有盖板；梳状结构，固定于所述壳体内部，与所述信号端口连接，并由所述盖板封闭；固定螺母，固定于所述盖板的上表面，所述固定螺母的下方连接有通孔，所述通孔贯穿所述盖板；调试螺杆，穿过所述通孔由所述盖板的上表面伸入所述壳体内部，所述调试螺杆的上部由所述固定螺母固定。

可选的，上述的梳状双工器中，所述调试螺杆的直径以及其伸入所述壳体内部的深度由所述梳状双工器的频率参数和耦合量共同确定。

可选的，上述的梳状双工器中，所述梳状结构将所述壳体的内部分割为多个腔体，其中，每一个所述腔体内均分别设置有至少一个所述调试螺杆。

可选的，上述的梳状双工器中，至少部分调试螺杆设置于所述腔体内距离所述梳状结构的顶部1/3的位置。

可选的，上述的梳状双工器中，设置于距离所述梳状结构的顶部1/3位置的所述调试螺杆，其下端面的高度不低于所述梳状结构的上端面。

可选的，上述的梳状双工器中，至少部分调试螺杆伸入相邻的两个腔体之间的梳状结构内部。

可选的，上述的梳状双工器中，所述通孔的内壁设置有与所述固定螺母相同的螺纹。

可选的，上述的梳状双工器中，至少部分调试螺杆设置于接近于所述信号端口的位置。

可选的，上述的梳状双工器中，至少部分调试螺杆由所述盖板的上表面伸入与所述信号端口连接的梳状结构的内部。

有益效果

本实用新型在壳体顶部的盖板上，通过固定螺母设置调试螺杆，使得所述调试螺杆能够贯穿所述盖板表面的通孔，由所述盖板的上表面伸入腔体内部。本实用新型通过将调试螺杆设置在盖板，能够避免现有双工器在壳体侧边开设通孔的加工步骤，简化加工工艺，并且简化调试过程，提高产品调试效率。本实用新型能够通过选择合适尺寸的调试螺杆，通过调节其与双工器内梳状结构之间的距离调节双工器的频率参数和耦合参数，以减小加工误差带来的影响，使其性能满足设计要求。

本实用新型的其它特征和优点将在随后的说明书中阐述，并且，部分地从说明书中变得显而易见，或者通过实施本实用新型而了解。

附图说明

附图用来提供对本实用新型的进一步理解，并且构成说明书的一部分，并与本实用新型的实施例一起，用于解释本实用新型，并不构成对本实用新型的限制。在附图中：

图1是现有梳状双工器的结构示意图；

图2是本实用新型的梳状双工器的整体结构示意图；

图3是本实用新型的梳状双工器的顶视图；

图4是图3的梳状双工器中A-A截面的示意图；

图5是本实用新型的梳状双工器中调试螺杆的固定方式的局部示意图；

图中，1表示壳体；2表示信号端口；3表示固定螺母；4表示调试螺杆；5表示梳状结构；6表示腔体；7盖板。

具体实施方式

为使本实用新型实施例的目的和技术方案更加清楚，下面将结合本实用新型实施例的附图，对本实用新型实施例的技术方案进行清楚、完整地描述。显然，所描述的实施例是本实用新型的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于所描述的本实用新型的实施例，本领域普通技术人员在无需创造性劳动的前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

本技术领域技术人员可以理解，除非另外定义，这里使用的所有术语（包括技术术语和科学术语）具有与本实用新型所属领域中的普通技术人员的一般理解相同的意义。还应该理解的是，诸如通用字典中定义的那些术语应该被理解为具有与现有技术的上下文中的意义一致的意义，并且除非像这里一样定义，不会用理想化或过于正式的含义来解释。

本实用新型中所述的“和/或”的含义指的是各自单独存在或两者同时存在的情况均包括在内。

本实用新型中所述的“内、外”的含义指的是相对于双工器壳体本身而言，指向壳体内部梳状结构的方向为内，反之为外；而非对本实用新型的装置机构的特定限定。

本实用新型中所述的“连接”的含义可以是部件之间的直接连接也可以是部件间通过其它部件的间接连接。

本实用新型中所述的“上、下”的含义指的是双工器壳体正面向上时，由壳体指向盖板的方向即为上，由盖板指向壳体底部的方向即为下，而非对本实用新型的装置机构的特定限定。

图2为本实用新型的一种梳状双工器，其包括：

壳体1，其侧面连接有信号端口2，其顶部设置有盖板7；

梳状结构5，固定于所述壳体1内部，与所述信号端口2连接，并由所述盖板7封闭；

固定螺母3，固定于所述盖板7的上表面，所述固定螺母3的下方连接有通孔，所述通孔贯穿所述盖板7；

调试螺杆4，穿过所述通孔由所述盖板7的上表面伸入所述壳体1内部，所述调试螺杆4的上部由所述固定螺母3固定。其通过根据双工器的频率参数和耦合量而设置为对应的尺寸，并调节其伸入所述壳体1内部的深度，以实现低频700 MHz至高频 850MHz的耦合。

参考图2以及图3，上述双工器内部，梳状结构5将所述壳体1的内部分割为多个腔体6。为分别对每一个腔体的耦合参数和谐振参数进行调节，本实用新型可以在其中每一个所述腔体6均分别设置有至少一个所述调试螺杆4。设置时，腔体6所对应的调试螺杆4可设置于所述腔体6上方距离所述梳状结构5的顶部1/3的位置。这些调节螺杆，参考图4所示，其下端面的高度可设置为不低于所述梳状结构5的上端面。

此外，为保证上述腔体之间的性能参数，本实用新型还可以将部分调试螺杆4设置为伸入相邻的两个腔体6之间的梳状结构5内部，和/或将部分调试螺杆4设置于接近于所述信号端口2的位置。这些调试螺杆4，参考图5所示，其由所述盖板7的上表面伸入与所述信号端口2连接的梳状结构5的内部。

本实用新型可以在所述通孔的内壁设置与所述固定螺母3相同的螺纹，使得两者螺纹接续，以配合调试螺杆4外部上端的螺纹，对调试螺杆4进行固定，保证其不会在调试结束后发生位移，影响器件性能。

本实用新型将调试螺杆由双工器的侧面转移至其顶部。由于双工器顶部为简单的盖板结构，因此，在盖板上打孔固定所述固定螺母要比在侧面接近梳状结构的位置开孔加工难度更小。此外，由于盖板面积更大，本实用新型可以在其上设置更多的调试螺杆，以针对双工器内部每一个腔体的性能参数、以及相邻腔体之间的性能参数进行逐一的调试，其调试更为精确。并且，本实用新型所提供的双工器其调试过程并不需要将器件竖立起来，其整个加工过程均保持器件正面向上、盖板向上，因此，其加工、调试过程更为顺畅，易于操作。此外，由于双工器内垂直于梳状结构的方向上耦合量更小，相比于原有沿梳状结构方向的大耦量调试方式，本实用新型的调试螺杆调节例如5、6mm的尺寸，其对性能参数的影响相当于原先大耦合量状态下调试螺杆拧动3mm的深度。由于调节相同性能参数范围，本实用新型可以将调试螺杆拧动更大的深度，这更便于调试人员操作。本实用新型可避免现有调试过程中稍微转动调试螺杆就将器件性能参数调试得超出设定范围的状况，更有利于调试操作。

由此，本实用新型通过将调试螺杆设置在双工器上端面，能够：1使得腔体加工简单,不需要多面加工；2.使得产线调试简单,适合批量；3.缩小调试螺杆单位尺寸所对应的调试性能参数范围，方便调试操作，避免尺寸调试过度。

以上仅为本实用新型的实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对本实用新型专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本实用新型构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些均属于本实用新型的保护范围。

Claims (9)

1.一种梳状双工器，其特征在于，包括：

壳体（1），其侧面连接有信号端口（2），其顶部设置有盖板（7）；

梳状结构（5），固定于所述壳体（1）内部，与所述信号端口（2）连接，并由所述盖板（7）封闭；

固定螺母（3），固定于所述盖板（7）的上表面，所述固定螺母（3）的下方连接有通孔，所述通孔贯穿所述盖板（7）；

调试螺杆（4），穿过所述通孔由所述盖板（7）的上表面伸入所述壳体（1）内部，所述调试螺杆（4）的上部由所述固定螺母（3）固定。

2.如权利要求1所述的梳状双工器，其特征在于，所述调试螺杆（4）的直径以及其伸入所述壳体（1）内部的深度由所述梳状双工器的频率参数和耦合量共同确定。

3.如权利要求2所述的梳状双工器，其特征在于，所述梳状结构（5）将所述壳体（1）的内部分割为多个腔体（6），其中，每一个所述腔体（6）内均分别设置有至少一个所述调试螺杆（4）。

4.如权利要求3所述的梳状双工器，其特征在于，至少部分调试螺杆（4）设置于所述腔体（6）内距离所述梳状结构（5）的顶部1/3的位置。

5.如权利要求4所述的梳状双工器，其特征在于，设置于距离所述梳状结构（5）的顶部1/3位置的所述调试螺杆（4），其下端面的高度不低于所述梳状结构（5）的上端面。

6.如权利要求2所述的梳状双工器，其特征在于，至少部分调试螺杆（4）伸入相邻的两个腔体（6）之间的梳状结构（5）内部。

7.如权利要求1所述的梳状双工器，其特征在于，所述通孔的内壁设置有与所述固定螺母（3）相同的螺纹。

8.如权利要求1所述的梳状双工器，其特征在于，至少部分调试螺杆（4）设置于接近于所述信号端口（2）的位置。

9.如权利要求8所述的梳状双工器，其特征在于，至少部分调试螺杆（4）由所述盖板（7）的上表面伸入与所述信号端口（2）连接的梳状结构（5）的内部。