CN209513956U - 一种滤波器老化测试工装 - Google Patents

Abstract

本实用新型提供了一种滤波器老化测试工装，包含测试板，所述测试板水平段等距阵列设有若干矩形测试端口，测试板侧端还设有接口连接器与短路保护电路，所述若干矩形测试端口并联相接后，经短路保护电路与接口连接器电性连接。通过在测试板上设置若干测试端口，可以同时对若干滤波器同时进行连通性能进行测试，提高了测试效率，还设有短路保护电路，可以对多路用电使用一路限流短路保护，当测试过程中发生短路异常现象，会自动快速切断供电电路，避免设备受到损坏，使企业受到损失。

Description

一种滤波器老化测试工装

技术领域

本实用新型涉及滤波老化测试领域，具体涉及一种滤波器老化测试工装。

背景技术

滤波连接器是具备滤波功能的连接器，是在普通电连接器的基础上，经过内部结构改进，增加滤波电路研制而成，因此，它既具备普通电连接器的功能，又兼具抑制电磁干扰的特性。由于滤波器在设备中的使用越来越广泛，滤波器在使用之前，需要对滤波器连通性进行老化测试。由于滤波器的输入输出端引线较多，一般人工使用测量仪器对滤波器进行测试，此方法测试时，工作效率低且准确率不高，在测试过程中，如果出现短路、过流的现象，会损坏滤波器，会给企业造成不必要的损失。为此，迫切需要一种能够提高工作效率、具有短路保护的测试工装。

实用新型内容

针对现有技术中所存在的不足，本实用新型提供了一种能够提高工作效率、具有短路保护的滤波器老化测试工装。

为实现上述目的，本实用新型采用了如下的技术方案：

一种滤波器老化测试工装，包含测试板，所述测试板水平段等距阵列设有若干矩形测试端口，测试板侧端还设有接口连接器与短路保护电路，所述若干矩形测试端口并联相接后，经短路保护电路与接口连接器电性连接。

进一步的，所述短路保护电路包含N沟道MOS管Q1、或非逻辑电路、若干采样电阻、差分放大电路、比较电路及电压基准电路；采样电阻、差分放大电路、比较电路与电压基准电路的数量均与测试端口数量相同；接口连接器与N沟道MOS管Q1的漏极相连，N沟道MOS管Q1的源极与各采样电阻的一端并接；各采样电阻的另一端分别与测试端口一一对应相连；采样电阻的一端与唯一对应连接的差分放大电路的第一输入端相连，采样电阻的另一端与唯一对应连接的差分放大电路的第二输入端相连；差分放大电路的输出与唯一对应连接的比较电路的第一输入端连接，比较电路的第二输入端与唯一对应连接的电压基准电路连接，比较电路的输出与或非逻辑电路的输入端连接，或非逻辑电路的输出端与N沟道MOS管Q1的栅极相连。

进一步的，所述短路保护电路还包含保险电阻R1，保险电阻R1的一端与接口连接器连接，保险电阻R1的另一端与N沟道MOS管Q1的漏极相连。

进一步的，所述测试端口两端还设有用来固定滤波器的固定孔。

进一步的，所述测试板四角均设有安装孔。

本实用新型的工作原理是：通过接口连接器与测试信号相接，同时对若干滤波器进行连通性能进行测试，通过矩形测试端口两侧的固定孔固定滤波器，通过滤波器上自带的导线与信号接口接通进行测试。测试板还设有短路保护电路，可以对多路用电使用一路限流短路保护，当测试过程中发生短路异常现象，会自动快速切断供电电路，避免滤波器受到损坏。

相比于现有技术，本实用新型具有如下有益效果：

通过在测试板上设置若干测试端口，可以同时对若干滤波器进行连通性能进行测试，提高了测试效率，还设有短路保护电路，可以对多路用电使用一路限流短路保护，当测试过程中发生短路异常现象，会自动快速切断供电电路，避免设备受到损坏，使企业受到损失。

附图说明

图1为本实用新型实施例滤波器老化测试工装结构示意图，

图2为本实用新型实施例滤波器老化测试工装电路结构示意图，

图3为本实用新型实施例滤波器老化测试工装短路保护电路图，

图中：测试板1、接口连接器2、矩形测试端口3、固定孔4、安装孔5。

具体实施方式

下面结合附图及实施例对本实用新型中的技术方案进一步说明。

如图1、2所示，本实用新型提出了一种滤波器老化测试工装，包含测试板1，所述测试板1水平段等距阵列设有若干矩形测试端口3，测试板1侧端还设有接口连接器2与短路保护电路，所述若干矩形测试端口并联相接后，经短路保护电路与接口连接器电性连接。通过在测试板1上设置若干矩形测试端口3，可以同时对若干滤波器同时进行连通性能进行测试，提高了测试效率，因接口连接器2匹配的测试端口数量限制，所述在测试板上1设置两个接口连接器2以供不同数量的滤波器进行测试，另外测试板还设有短路保护电路，当测试过程中发生短路异常现象，会自动快速切断供电电路，避免设备受到损坏，使企业受到损失。

所述短路保护电路包含N沟道MOS管Q1、或非逻辑电路、若干采样电阻、差分放大电路、比较电路及电压基准电路；采样电阻、差分放大电路、比较电路与电压基准电路的数量均与测试端口数量相同；接口连接器与N沟道MOS管Q1的漏极相连，N沟道MOS管Q1的源极与各采样电阻的一端并接；各采样电阻的另一端分别与测试端口一一对应相连；采样电阻的一端与唯一对应连接的差分放大电路的第一输入端相连，采样电阻的另一端与唯一对应连接的差分放大电路的第二输入端相连；差分放大电路的输出与唯一对应连接的比较电路的第一输入端连接，比较电路的第二输入端与唯一对应连接的电压基准电路连接，比较电路的输出与或非逻辑电路的输入端连接，或非逻辑电路的输出端与N沟道MOS管Q1的栅极相连。不同的用电装置的保护电流不同，设置多路用电端子，可以对多路用电使用一路限流短路保护，节约了成本，当测试过程中发生短路异常现象，会自动快速切断供电电路，避免设备受到损坏，使企业受到损失。如图3所示，其中：第一差分放大电路包含运算放大器U1、电阻R3、电阻R4、电阻R5、电阻R6，第一比较电路包含含运算放大器U2、电阻R7，电压基准电路包含电阻R8、稳压二极管D1，运算放大器U1的同向输入端与电阻R3相连，运算放大器U1的反向输入端经电阻R5、取样电阻R2与电阻R3相连后与N沟道MOS管Q1的源极电性连接，运算放大器U1的反向输入端还经电阻R6接至参考地端，取样电阻R2与电阻R5的连接端还设有用电接入端子，运算放大器U1的同向输入端与输出端之间还并联有电阻R4，运算放大器U1的输出端与运算放大器U2的同向输入端电性连接，运算放大器U2的反向输入端经电阻R8接入电路电压，运算放大器U2的反向输入端还与稳压二极管D1的负极连接，稳压二极管D1的正极接至参考地端，运算放大器U2的输出端经电阻R7与或非逻辑电路的输入端电性连接。通过参数选择，使得电压基准电路的基准电压与限流值对应在采样电阻上的电压匹配相等，未过流时，则采样电阻的电压经差分放大后仍未超过电压基准电路的基准电压，比较器输出为低，或非逻辑电路的输入为低，并对应输出高电平后触发MOS管导通，维持正常工作状态。为保证电路的正常使用，或非逻辑电路的输入端还可连接上拉电阻到供电端，以维持初始状态电平的确定值。

所述短路保护电路还包含保险电阻R1，保险电阻R1的一端与接口连接器连接，保险电阻R1的另一端与N沟道MOS管Q1的漏极相连。测试过程中，一旦由于零件故障致使MOS管无法截断保护时，保险电阻则在大电流情况下烧毁，起到双重保护的作用。

所述测试端口两端还设有用来固定滤波器的固定孔4。测试时，方便固定滤波器，避免滤波器脱落，影响测试结果和受到损坏。

所述测试板1四角均设有安装孔5。固定工装，测试过程中设备更稳定，操作时也更方便。

最后说明的是，以上实施例仅用以说明本实用新型的技术方案而非限制，尽管参照较佳实施例对本实用新型进行了详细说明，本领域的普通技术人员应当理解，可以对本实用新型的技术方案进行修改或者等同替换，而不脱离本实用新型技术方案的宗旨和范围，其均应涵盖在本实用新型的权利要求范围当中。

Claims (5)

1.一种滤波器老化测试工装，其特征在于：包含测试板，所述测试板水平段等距阵列设有若干矩形测试端口，测试板侧端还设有接口连接器与短路保护电路，所述若干矩形测试端口并联相接后，经短路保护电路与接口连接器电性连接。

2.如权利要求1所述的一种滤波器老化测试工装，其特征在于：所述短路保护电路包含N沟道MOS管Q1、或非逻辑电路、若干采样电阻、差分放大电路、比较电路及电压基准电路；采样电阻、差分放大电路、比较电路与电压基准电路的数量均与测试端口数量相同；接口连接器与N沟道MOS管Q1的漏极相连，N沟道MOS管Q1的源极与各采样电阻的一端并接；各采样电阻的另一端分别与测试端口一一对应相连；采样电阻的一端与唯一对应连接的差分放大电路的第一输入端相连，采样电阻的另一端与唯一对应连接的差分放大电路的第二输入端相连；差分放大电路的输出与唯一对应连接的比较电路的第一输入端连接，比较电路的第二输入端与唯一对应连接的电压基准电路连接，比较电路的输出与或非逻辑电路的输入端连接，或非逻辑电路的输出端与N沟道MOS管Q1的栅极相连。

3.如权利要求2所述的一种滤波器老化测试工装，其特征在于：所述短路保护电路还包含保险电阻R1，保险电阻R1的一端与接口连接器连接，保险电阻R1的另一端与N沟道MOS管Q1的漏极相连。

4.如权利要求1所述的一种滤波器老化测试工装，其特征在于：所述测试端口两端还设有用来固定滤波器的固定孔。

5.如权利要求1所述的一种滤波器老化测试工装，其特征在于：所述测试板四角均设有安装孔。