CN209432909U - 撕膜静电压测试辅助装置 - Google Patents

Abstract

本实用新型提供了撕膜静电压测试辅助装置，包括底座、支撑座和限高杆；支撑座可升降地设于底座上；支撑座上设有卡槽，卡槽用于固定一体式静电场测试仪或分体式静电场测试仪的检测探头；限高杆可升降地设于支撑座上；通过卡槽固定一体式静电场测试仪或分体式静电场测试仪的检测探头，能将测试环境进行固化，减少环境差异所带来的测试结果差异，避免测试结果失真，保证测试结果准确；设有卡槽的支撑座在底座上的高度可调，能满足不同客户对测试位置高度的不同要求；限高杆与撕膜样品抵接时，能控制一体式静电场测试仪或分体式静电场测试仪的检测探头与撕膜样品表面的距离。

Description

撕膜静电压测试辅助装置

技术领域

本实用新型属于撕膜静电压测试技术领域，更具体地说，是涉及撕膜静电压测试辅助装置。

背景技术

应市场的需求，手机显示屏向高屏占比(例如：全面屏、超窄边框屏、无边框屏)方向发展，实现触摸功能的TP与显示功能的LCM在加工制程中对静电损伤及贴合环境的要求变的极为苛刻，TP/LCM加工制程、TP+LCM贴合制程中均会有多次贴覆含胶PE/PET保护膜以及贴合OCA实现粘合，膜类材质在撕离过程中会产生撕膜静电，有两项风险：一是静电损伤致产品功能风险隐患；二是撕膜静电吸尘致贴合脏污产生外观不良产品；为客观评价膜材材质抗静电性能是否可以满足相关性能要求，需使用静电场测试仪对膜材与屏幕剥离时静电峰值进行检测。

触摸屏、LCM行业内普遍使用的膜类材质撕膜静电压的检测，均使用静电场测试仪(区分为两类：一体式；分体式主机+检测探头)按照各客户提供的管控标准进行检测，一般客户会对管控规格、试样离测试平面高度、测试速度、温湿度环境等做出要求，行业内一般采取手持一体式静电场测试仪或分体式静电场测试仪的检测探头(即手持设备)进行测试，存在如下问题：

(1)手持设备进行测试，是一个变量测试环境，每次握持测试仪/检测探头位置的差异、握持人自身所带的静电场差异、每次握持检测仪器/探头离测试台间距的差异会导致测试结果起伏波动很大，其测试结果并不准确，无法客观评估撕膜静电压真实结果，势必会让客户与供货商双方对较大差异结果产生争议，需付出客诉处理成本；

(2)手持设备需要两个人进行测试作业，一人手持设备，一人进行撕膜动作及读取检测数据，浪费人力。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种撕膜静电压测试辅助装置，以解决现有技术中存在的测试结果不准确的技术问题。

为实现上述目的，本实用新型采用的技术方案是：撕膜静电压测试辅助装置，包括底座、支撑座和限高杆；

所述支撑座可升降地设于所述底座上；

所述支撑座上设有卡槽，所述卡槽用于固定一体式静电场测试仪或分体式静电场测试仪的检测探头；

所述限高杆可升降地设于所述支撑座上；所述限高杆的下端用于抵接撕膜样品，以控制所述一体式静电场测试仪或所述分体式静电场测试仪的检测探头与撕膜样品表面的距离。

进一步地，还包括可伸缩的立柱，所述立柱的下端固定于所述底座上，所述支撑座固定于所述立柱的上端。

进一步地，所述支撑座包括支撑架、第一固定卡块、第二固定卡块和第一紧固件；

所述支撑架设于所述立柱的上端；

所述第一固定卡块固设于所述支撑架上；

所述第二固定卡块通过所述第一紧固件固定于所述第一固定卡块上；

所述第一固定卡块与所述第二固定卡块围合出所述卡槽，调节所述第一紧固件能调节所述第二固定卡块与所述第一固定卡块的间距。

进一步地，所述第一固定卡块上设有第一凹槽，所述第一凹槽自所述第一固定卡块的上表面向内凹陷而成，且所述第一凹槽面向所述第二固定卡块的一侧开口，所述第一凹槽的下端侧壁与所述第二固定卡块之间设有检测间隙。

进一步地，所述第二固定卡块上设有第二凹槽，所述第二凹槽自所述第二固定卡块的上表面向内凹陷而成，且所述第二凹槽面向所述第一固定卡块的一侧开口；

所述第一凹槽和第二凹槽组合形成所述卡槽，所述第一凹槽的下端侧壁与所述第二凹槽的下端侧壁之间设有所述检测间隙。

进一步地，还包括第二紧固件，所述限高杆可上下滑动地设于所述第一固定卡块上，所述第二紧固件能够锁定或解锁所述限高杆相对于所述第一固定卡块滑动。

进一步地，所述限高杆设为两个，两个所述限高杆分设于所述第二固定卡块的两侧，所述第二固定卡块的两侧分别邻近或抵接于两个所述限高杆。

进一步地，所述立柱设为三个，呈三角形分布。

进一步地，所述底座和所述支撑架均为四边形框架，所述底座的四个框边一一对应所述支撑架的四个框边；

所述底座的三个框边一一对应连接三个所述立柱的下端，所述支撑架的三个框边一一对应连接三个所述立柱的上端，所述支撑架的余下一框边上设置所述第一固定卡块。

进一步地，所述立柱包括第一柱段、第二柱段和第三紧固件；

所述第一柱段的下端固设于所述底座上，

所述第二柱段可滑动地设于所述第一柱段上，所述第一柱段的上端固设于所述支撑座上，

所述第三紧固件能够锁定或解锁所述第二柱段相对于所述第一柱段滑动。

本实用新型提供的撕膜静电压测试辅助装置的有益效果在于：与现有技术相比，通过卡槽固定一体式静电场测试仪或分体式静电场测试仪的检测探头，能将测试环境进行固化，减少环境差异所带来的测试结果差异，避免测试结果失真，保证测试结果准确；设有卡槽的支撑座在底座上的高度可调，以保证能满足不同客户对测试位置的不同要求；限高杆与撕膜样品抵接时，能控制一体式静电场测试仪或分体式静电场测试仪的检测探头与撕膜样品表面的距离。

附图说明

为了更清楚地说明本实用新型实施例中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本实用新型的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本实用新型实施例提供的一种撕膜静电压测试辅助装置的立体结构示意图；

图2为图1的支撑座的局部和限高杆的俯视图；

图3为图1的撕膜静电压测试辅助装置的使用状态参考图。

其中，图中各附图标记：

1：底座；11、12、13、14：框边；

2：支撑座；21：卡槽；

22：支撑架；221、222、223、224：框边；

23：第一固定卡块；231：第一凹槽；232：第一凹槽的下端侧壁；

24：第二固定卡块；241：第二凹槽；242：第二凹槽的下端侧壁；

25：第一紧固件；26：检测间隙；

3：限高杆；

4：立柱；41：第一柱段；42：第二柱段；43：第三紧固件；

5：第二紧固件；

6：检测探头。

具体实施方式

为了使本实用新型所要解决的技术问题、技术方案及有益效果更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本实用新型进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本实用新型，并不用于限定本实用新型。

需要说明的是，当元件被称为“固定于”或“设置于”另一个元件及类似用语，它可以直接在另一个元件上或者间接在该另一个元件上。当一个元件被称为是“连接于”另一个元件，它可以是直接连接到另一个元件或间接连接至该另一个元件上。

此外，术语“第一”、“第二”及类似用语仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。

请一并参阅图1至图3，现对本实用新型提供的撕膜静电压测试辅助装置进行说明。撕膜静电压测试辅助装置，包括底座1、支撑座2和限高杆3；其中：

支撑座2可升降地设于底座1上；

支撑座2上设有卡槽21，卡槽21用于固定一体式静电场测试仪或分体式静电场测试仪的检测探头6；

限高杆3可升降地设于支撑座2上；限高杆3的下端用于抵接撕膜样品，以控制一体式静电场测试仪或分体式静电场测试仪的检测探头与撕膜样品表面的距离。

适用于CG、TP、LCM及TP+LCM一体件等板材与带胶PE/PET保护膜抗静电性能检测，以及板材贴OCA胶离型膜抗静电性能检测等场合；

使用时，可将撕膜静电压测试辅助装置放置于工作台，手持撕膜样品并撕除样品表面的膜材，并用固定于卡槽21内的静电场测试仪或分体式静电场测试仪的检测探头6进行静电压测试即可。

本实用新型提供的撕膜静电压测试辅助装置，与现有技术相比，通过卡槽21固定一体式静电场测试仪或分体式静电场测试仪的检测探头6，能将测试环境进行固化，减少环境差异所带来的测试结果差异，避免测试结果失真，保证测试结果准确；设有卡槽21的支撑座2在底座1上的高度可调，以保证能满足不同客户对测试位置的不同要求；限高杆3能控制一体式静电场测试仪或分体式静电场测试仪的检测探头与撕膜样品表面的距离，方便定位撕膜样品，提高检测效率，同时得到更为准确的测试结果。

进一步地，请一并参阅图1和图3，撕膜静电压测试辅助装置还包括可伸缩的立柱4，立柱4的下端固定于底座1上，支撑座2固定于立柱4的上端；结构简单，能通过立柱4的伸缩实现支撑座2相对于底座1的平稳升降。

进一步地，请一并参阅图1和图3，支撑座2包括支撑架22、第一固定卡块23、第二固定卡块24和第一紧固件25；

支撑架22设于立柱4的上端；

第一固定卡块23固设于支撑架22上；

第二固定卡块24通过第一紧固件25固定于第一固定卡块23上；

第一固定卡块23与第二固定卡块24围合出卡槽21，调节第一紧固件25能调节第二固定卡块24与第一固定卡块23的间距。

支撑架22作为撕膜静电压测试辅助装置的上部支撑主体，位于支撑架22上的第一固定卡块23、第二固定卡块24和第一紧固件25配合，形成大小可调的卡槽21(第一紧固件25调节第二固定卡块24与第一固定卡块23的间距，而实现卡槽21的大小调节)，能够适用于不同大小的一体式静电场测试仪或分体式静电场测试仪的检测探头6，便于在撕膜静电压测试辅助装置上固定或取下静电场测试仪，还能保证一体式静电场测试仪或分体式静电场测试仪的检测探头6检测时的方位稳定，以得到稳定的测试结果。

具体地，第一固定卡块23可与支撑架22设为一体结构，第一固定卡块23也可通过固定件(如螺钉)可拆卸连接于支撑架22上。

具体地，第一固定卡块23和第二固定卡块24通过长螺钉固定于支撑架22上，并能相对于支撑架22前移或后退以调节卡槽21的大小(即能调节第一固定卡块23与第二固定卡块24的间距)。

进一步地，请一并参阅图1至图3，第一固定卡块23上设有第一凹槽231，第一凹槽231自第一固定卡块23的上表面向内凹陷而成，且第一凹槽231面向第二固定卡块24的一侧开口，第一凹槽的下端侧壁232与第二固定卡块24之间设有检测间隙26。

第一凹槽231的壁面与第二固定卡块24连通第一凹槽231的侧壁之间围合出的空间即为卡槽21的容纳空间，第一凹槽的下端侧壁232起主要支撑一体式静电场测试仪或分体式静电场测试仪的检测探头6的作用，第一凹槽231的侧壁配合第二固定卡块24连通第一凹槽231的侧壁一起卡紧一体式静电场测试仪或分体式静电场测试仪的检测探头6，保证将一体式静电场测试仪或分体式静电场测试仪的检测探头6稳固地固定于支撑架22上，且一体式静电场测试仪或分体式静电场测试仪的检测探头6的感测器件能够通过检测间隙26与撕膜样品正对，保证检测撕膜静电压的灵敏度。

进一步地，请一并参阅图1至图3，第二固定卡块24上设有第二凹槽241，第二凹槽241自第二固定卡块24的上表面向内凹陷而成，且第二凹槽241面向第一固定卡块23的一侧开口；

第一凹槽231和第二凹槽241组合形成卡槽21，第一凹槽的下端侧壁232与第二凹槽的下端侧壁242之间设有检测间隙26。

第一凹槽的下端侧壁232和第二凹槽的下端侧壁242共同支撑一体式静电场测试仪或分体式静电场测试仪的检测探头6，在第一紧固件25的作用下第一凹槽231的侧壁和第二凹槽241的侧壁配合将一体式静电场测试仪或分体式静电场测试仪的检测探头6卡紧于卡槽21内。

进一步地，请参阅图1，撕膜静电压测试辅助装置还包括第二紧固件5，限高杆3可上下滑动地设于第一固定卡块23上，第二紧固件5能够锁定或解锁限高杆3相对于第一固定卡块23滑动；如此能够根据需要方便地升降限高杆3。

具体地，第一固定卡块23上设有多个定位孔(未图示)，第二紧固件5为贯穿且螺纹连接于限高杆的螺栓，螺栓选择性的插入部分定位孔(若第一固定卡块23对应一个螺栓，则一个螺栓选择性的插入第一固定卡块23的一个定位孔内)，实现锁定限高杆3相对于第一固定卡块23的滑动，螺栓退出定位孔，实现解锁限高杆3相对于第一固定卡块23的滑动。

优选地，第一固定卡块23上设有滑轨(未图示)，限高杆3滑设于滑轨上，第二紧固件为贯穿且螺纹连接于限高杆3的螺栓，螺栓抵紧于滑轨时，限高杆3相对于第一固定卡块23的滑动受限，螺栓与滑轨分离时，限高杆3能相对于第一固定卡块23滑动。

具体地，请参阅图1，限高杆3设为两个，两个限高杆分设于第二固定卡块24的两侧；方便定位撕膜样品的位置。

优选地，请一并参阅图1至图3，第二固定卡块24的两侧分别邻近或抵接于两个限高杆3。

具体地，请参阅图1，立柱4设为三个，呈三角形分布，有利于平稳地将支撑座2支撑于底座1上。

具体地，请参阅图1，底座1和支撑架22均为四边形框架，底座1的四个框边11、12、13、14一一对应支撑架22的四个框边221、222、223、224；

底座1的三个框边11、12、13一一对应连接三个立柱4的下端，支撑架22的三个框边221、222、223一一对应连接三个立柱4的上端，支撑架22的余下一框边224上设置第一固定卡块23。如此既能够减少撕膜静电压测试辅助装置的重量，又能防止静电压测试辅助装置倾倒。

具体地，请参阅图1，立柱4包括第一柱段41、第二柱段42和第三紧固件43；

第一柱段41的下端固设于底座1上；

第二柱段42可滑动地设于第一柱段41上，第一柱段41的上端固设于支撑座2上；

第三紧固件43能够锁定或解锁第二柱段42相对于第一柱段41滑动。

具体地，第一紧固件25、第二紧固件5和第三紧固件43中的至少一类紧固件可设为螺栓。

以上仅为本实用新型的较佳实施例而已，并不用以限制本实用新型，凡在本实用新型的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等，均应包含在本实用新型的保护范围之内。

Claims (10)

1.撕膜静电压测试辅助装置，其特征在于，包括底座、支撑座和限高杆；

所述支撑座可升降地设于所述底座上；

所述支撑座上设有卡槽，所述卡槽用于固定一体式静电场测试仪或分体式静电场测试仪的检测探头；

所述限高杆可升降地设于所述支撑座上；所述限高杆的下端用于抵接撕膜样品，以控制所述一体式静电场测试仪或所述分体式静电场测试仪的检测探头与撕膜样品表面的距离。

2.如权利要求1所述的撕膜静电压测试辅助装置，其特征在于，还包括可伸缩的立柱，所述立柱的下端固定于所述底座上，所述支撑座固定于所述立柱的上端。

3.如权利要求2所述的撕膜静电压测试辅助装置，其特征在于，所述支撑座包括支撑架、第一固定卡块、第二固定卡块和第一紧固件；

所述支撑架设于所述立柱的上端；

所述第一固定卡块固设于所述支撑架上；

所述第二固定卡块通过所述第一紧固件固定于所述第一固定卡块上；

所述第一固定卡块与所述第二固定卡块围合出所述卡槽，调节所述第一紧固件能调节所述第二固定卡块与所述第一固定卡块的间距。

4.如权利要求3所述的撕膜静电压测试辅助装置，其特征在于，所述第一固定卡块上设有第一凹槽，所述第一凹槽自所述第一固定卡块的上表面向内凹陷而成，且所述第一凹槽面向所述第二固定卡块的一侧开口，所述第一凹槽的下端侧壁与所述第二固定卡块之间设有检测间隙。

5.如权利要求4所述的撕膜静电压测试辅助装置，其特征在于，所述第二固定卡块上设有第二凹槽，所述第二凹槽自所述第二固定卡块的上表面向内凹陷而成，且所述第二凹槽面向所述第一固定卡块的一侧开口；

所述第一凹槽和第二凹槽组合形成所述卡槽，所述第一凹槽的下端侧壁与所述第二凹槽的下端侧壁之间设有所述检测间隙。

6.如权利要求5所述的撕膜静电压测试辅助装置，其特征在于，还包括第二紧固件，所述限高杆可上下滑动地设于所述第一固定卡块上，所述第二紧固件能够锁定或解锁所述限高杆相对于所述第一固定卡块滑动。

7.如权利要求6所述的撕膜静电压测试辅助装置，其特征在于，所述限高杆设为两个，两个所述限高杆分设于所述第二固定卡块的两侧，所述第二固定卡块的两侧分别邻近或抵接于两个所述限高杆。

8.如权利要求3所述的撕膜静电压测试辅助装置，其特征在于，所述立柱设为三个，呈三角形分布。

9.如权利要求8所述的撕膜静电压测试辅助装置，其特征在于，所述底座和所述支撑架均为四边形框架，所述底座的四个框边一一对应所述支撑架的四个框边；

所述底座的三个框边一一对应连接三个所述立柱的下端，所述支撑架的三个框边一一对应连接三个所述立柱的上端，所述支撑架的余下一框边上设置所述第一固定卡块。

10.如权利要求2所述的撕膜静电压测试辅助装置，其特征在于，所述立柱包括第一柱段、第二柱段和第三紧固件；

所述第一柱段的下端固设于所述底座上，

所述第二柱段可滑动地设于所述第一柱段上，所述第一柱段的上端固设于所述支撑座上，

所述第三紧固件能够锁定或解锁所述第二柱段相对于所述第一柱段滑动。