CN209400581U - 一种可微调涨缩的复合测试治具 - Google Patents
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Abstract
本实用新型公开了一种可微调涨缩的复合测试治具，包括主体架，所述主体架的右端通过转动轴与闭合盖转动连接，主体架的前侧固定连接有第一放置板，第一放置板上设有凹槽，凹槽内转动连接有第二调节螺杆，第二调节螺杆的右端穿过第一放置板与调节轮连接，第二调节螺杆的外表面螺纹连接有第二移动块，该可微调涨缩的复合测试治具，工作人员根据PCB的涨缩偏移量通过第一调节螺杆和第二调节螺杆对测针的位置进行微调，避免在电测过程中因为PCB的涨缩偏移影响后期检测，无需拆卸面板，节省人力，提高电测效率，通过紧固螺杆对可微调涨缩的复合测试治具进行固定，避免在检测过程中可微调涨缩的复合测试治具发生位移，影响电测结果。
Description
技术领域
本实用新型涉及电测治具技术领域，具体为一种可微调涨缩的复合测试治具。
背景技术
PCB在生产过程中，难免因外在因素而造成短路、断路及漏电等电性上的瑕疵，再加上PCB不断朝高密度、细间距及多层次的演进，若未能及时将不良板筛选出来，而任其流入制程中，势必会造成更多的成本浪费，因此除了制程控制的改善外，提高测试的技术也是可以为PCB制造者提供降低报废率及提升产品良率的解决方案，模具的测量速度快，量产通常使用模具测量，但由于PCB存在尺寸涨缩，测针和测试点位置很容易出现偏差，每次需要测量涨缩偏移量，更换治具面板，手动塞纸进行对位，工作量大，严重影响电测效率。
实用新型内容
本实用新型要解决的技术问题是克服现有的缺陷，提供一种可微调涨缩的复合测试治具，工作人员根据PCB的涨缩偏移量对测针进行微调，方便工作人员对PCB进行检测，可以有效解决背景技术中的问题。
为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：一种可微调涨缩的复合测试治具，包括主体架，所述主体架的右端通过转动轴与闭合盖转动连接，主体架的前侧固定连接有第一放置板，第一放置板上设有凹槽，凹槽内转动连接有第二调节螺杆，第二调节螺杆的右端穿过第一放置板与调节轮连接，第二调节螺杆的外表面螺纹连接有第二移动块，第二移动块位于凹槽内且滑动连接，第二移动块的上表面固定连接有第二放置板，第二放置板上设有放置槽，第二放置板的左侧设有连接槽，连接槽的位置与放置槽的位置相对应且连通，所述放置槽内转动连接有第一调节螺杆，第一调节螺杆的后端穿过第二放置板与调节把手连接，所述第一调节螺杆的外表面螺纹连接有第一移动块，第一移动块位于放置槽且滑动连接，第一移动块的下表面固定连接有伸缩杆和弹簧，伸缩杆的位置与弹簧的位置相对应且套接，伸缩杆和弹簧的伸缩端与测试板固定连接，测试板位于主体架内，所述第一移动块的左侧固定连接有定位板，定位板位于连接槽内且滑动连接，定位板的上表面固定连接有转动架，转动架内通过活动轴与移动杆转动连接，所述定位板上设有滑动槽，滑动槽位于转动架的右侧，滑动槽内滑动连接有推动杆，推动杆的顶端与移动杆接触连接，推动杆的底端固定连接有垫片，垫片的下表面与测试板接触连接，测试板的下表面等距设有测针。
作为本实用新型的一种优选技术方案，所述主体架的前后两侧分别设有螺纹槽，螺纹槽内螺纹连接有紧固螺杆，紧固螺杆的一端与橡胶垫连接。
作为本实用新型的一种优选技术方案，所述闭合盖上设有观察槽，观察槽内设有透明玻璃。
作为本实用新型的一种优选技术方案，所述闭合盖的上表面固定连接有握把，握把上套接有橡胶防滑套。
作为本实用新型的一种优选技术方案，所述移动杆上套接有海绵套，海绵套上设有防滑纹。
与现有技术相比，本实用新型的有益效果是：该可微调涨缩的复合测试治具，工作人员根据PCB的涨缩偏移量通过第一调节螺杆和第二调节螺杆对测针的位置进行微调，避免在电测过程中因为PCB的涨缩偏移影响后期检测，无需拆卸面板，节省人力，提高电测效率，通过紧固螺杆对可微调涨缩的复合测试治具进行固定，避免在检测过程中可微调涨缩的复合测试治具发生位移，影响电测结果。
附图说明
图1为本实用新型结构示意图；
图2为本实用新型侧视图；
图3为本实用新型剖面图。
图中：1主体架、2测试板、3第一放置板、4第一移动块、5伸缩杆、6弹簧、7第二移动块、8测针、9紧固螺杆、10观察槽、11闭合盖、12握把、13转动轴、14移动杆、15第二放置板、16转动架、17定位板、18推动杆、19第一调节螺杆、20橡胶垫、21第二调节螺杆。
具体实施方式
下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。
请参阅图1-3，本实用新型提供一种技术方案：一种可微调涨缩的复合测试治具，包括主体架1，主体架1的右端通过转动轴13与闭合盖11转动连接，闭合盖11上设有观察槽10，观察槽10内设有透明玻璃，工作人员通过观察槽10确认PCB的检测情况，闭合盖11的上表面固定连接有握把12，握把12上套接有橡胶防滑套，工作人员通过握把12打开闭合盖11，将PCB取出或者放入，主体架1的前侧固定连接有第一放置板3，第一放置板3上设有凹槽，凹槽内转动连接有第二调节螺杆21，第二调节螺杆21的右端穿过第一放置板3与调节轮连接，第二调节螺杆21的外表面螺纹连接有第二移动块7，第二移动块7位于凹槽内且滑动连接，通过第二调节螺杆21对第二移动块7的位置进行微调，第二移动块7的上表面固定连接有第二放置板15，通过第二移动块7带动第二放置板15进行移动，第二放置板15上设有放置槽，第二放置板15的左侧设有连接槽，连接槽的位置与放置槽的位置相对应且连通，放置槽内转动连接有第一调节螺杆19，第一调节螺杆19的后端穿过第二放置板15与调节把手连接，第一调节螺杆19的外表面螺纹连接有第一移动块4，第一移动块4位于放置槽且滑动连接，通过第一调节螺杆19对第一移动块4的位置进行微调，第一移动块4的下表面固定连接有伸缩杆5和弹簧6，伸缩杆5的位置与弹簧6的位置相对应且套接，伸缩杆5和弹簧6的伸缩端与测试板2固定连接，测试板2位于主体架1内，通过伸缩杆5和弹簧6组成复原装置，通过复原装置对测试板2进行复位，第一移动块4的左侧固定连接有定位板17，定位板17位于连接槽内且滑动连接，定位板17的上表面固定连接有转动架16，转动架16内通过活动轴与移动杆14转动连接，移动杆14上套接有海绵套，海绵套上设有防滑纹，定位板17上设有滑动槽，滑动槽位于转动架16的右侧，滑动槽内滑动连接有推动杆18，推动杆18的顶端与移动杆14接触连接，推动杆18的底端固定连接有垫片，垫片的下表面与测试板2接触连接，测试板2的下表面等距设有测针8，工作人员通过移动杆14和推动杆18控制测试板2的位置，通过测试板2带动测针8对PCB进行检测，主体架1的前后两侧分别设有螺纹槽，螺纹槽内螺纹连接有紧固螺杆9，紧固螺杆9的一端与橡胶垫20连接，通过紧固螺杆9对可微调涨缩的复合测试治具进行固定，避免在检测过程中可微调涨缩的复合测试治具发生位移。
在使用时：工作人员将可微调涨缩的复合测试治具放置到电测机上，通过紧固螺杆9进行固定，工作人员通过握把12打开闭合盖11，将需要电测的PCB放置到主体架1内，工作人员根据PCB的涨缩偏移量通过调节轮和调节把手旋转第二调节螺杆21和第一调节螺杆19，通过第二调节螺杆21和第一调节螺杆19带动测针8进行微调，工作人员按压移动杆14，通过移动杆14推动测针8，通过测针8对PCB进行检测，检测完毕后，工作人员通过握把12打开闭合盖11，将检测完毕后的PCB取出。
本实用新型工作人员根据PCB的涨缩偏移量通过第一调节螺杆19和第二调节螺杆21对测针8的位置进行微调，避免在电测过程中因为PCB的涨缩偏移影响后期检测，无需拆卸面板，节省人力，提高电测效率，通过紧固螺杆9对可微调涨缩的复合测试治具进行固定，避免在检测过程中可微调涨缩的复合测试治具发生位移，影响电测结果。
尽管已经示出和描述了本实用新型的实施例，对于本领域的普通技术人员而言，可以理解在不脱离本实用新型的原理和精神的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型，本实用新型的范围由所附权利要求及其等同物限定。
Claims (5)
1.一种可微调涨缩的复合测试治具，包括主体架(1)，其特征在于：所述主体架(1)的右端通过转动轴(13)与闭合盖(11)转动连接，主体架(1)的前侧固定连接有第一放置板(3)，第一放置板(3)上设有凹槽，凹槽内转动连接有第二调节螺杆(21)，第二调节螺杆(21)的右端穿过第一放置板(3)与调节轮连接，第二调节螺杆(21)的外表面螺纹连接有第二移动块(7)，第二移动块(7)位于凹槽内且滑动连接，第二移动块(7)的上表面固定连接有第二放置板(15)，第二放置板(15)上设有放置槽，第二放置板(15)的左侧设有连接槽，连接槽的位置与放置槽的位置相对应且连通，所述放置槽内转动连接有第一调节螺杆(19)，第一调节螺杆(19)的后端穿过第二放置板(15)与调节把手连接，所述第一调节螺杆(19)的外表面螺纹连接有第一移动块(4)，第一移动块(4)位于放置槽且滑动连接，第一移动块(4)的下表面固定连接有伸缩杆(5)和弹簧(6)，伸缩杆(5)的位置与弹簧(6)的位置相对应且套接，伸缩杆(5)和弹簧(6)的伸缩端与测试板(2)固定连接，测试板(2)位于主体架(1)内，所述第一移动块(4)的左侧固定连接有定位板(17)，定位板(17)位于连接槽内且滑动连接，定位板(17)的上表面固定连接有转动架(16)，转动架(16)内通过活动轴与移动杆(14)转动连接，所述定位板(17)上设有滑动槽，滑动槽位于转动架(16)的右侧，滑动槽内滑动连接有推动杆(18)，推动杆(18)的顶端与移动杆(14)接触连接，推动杆(18)的底端固定连接有垫片，垫片的下表面与测试板(2)接触连接，测试板(2)的下表面等距设有测针(8)。
2.根据权利要求1所述的一种可微调涨缩的复合测试治具，其特征在于：所述主体架(1)的前后两侧分别设有螺纹槽，螺纹槽内螺纹连接有紧固螺杆(9)，紧固螺杆(9)的一端与橡胶垫(20)连接。
3.根据权利要求1所述的一种可微调涨缩的复合测试治具，其特征在于：所述闭合盖(11)上设有观察槽(10)，观察槽(10)内设有透明玻璃。
4.根据权利要求1所述的一种可微调涨缩的复合测试治具，其特征在于：所述闭合盖(11)的上表面固定连接有握把(12)，握把(12)上套接有橡胶防滑套。
5.根据权利要求1所述的一种可微调涨缩的复合测试治具，其特征在于：所述移动杆(14)上套接有海绵套，海绵套上设有防滑纹。
Priority Applications (1)
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| CN201822234964.9U CN209400581U (zh) | 2018-12-28 | 2018-12-28 | 一种可微调涨缩的复合测试治具 |
Applications Claiming Priority (1)
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Publications (1)
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| CN209400581U true CN209400581U (zh) | 2019-09-17 |
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Country Status (1)
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2018
- 2018-12-28 CN CN201822234964.9U patent/CN209400581U/zh active Active
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Legal Events
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| GR01 | Patent grant | ||
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Address after: 435000 No.88 Daqi Avenue, Wangren Town, Huangshi economic and Technological Development Zone, Hubei Province Patentee after: Chaoying Electronic Circuit Co.,Ltd. Address before: 435000 No.88 Daqi Avenue, Wangren Town, Huangshi economic and Technological Development Zone, Hubei Province Patentee before: DYNAMIC ELECTRONICS (HUANGSHI) Co.,Ltd. |
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