CN209390072U - 一种多通道光纤衰减测试装置 - Google Patents

Abstract

本实用新型涉及一种多通道光纤衰减测试装置，装置包括内部具有容纳腔的箱体，箱体的容纳腔中安装有激光脉冲发生器、光纤耦合器、光子探测计数器、多路光开关，光纤耦合器分别与激光脉冲发生器、光子探测计数器、多路光开关连接，箱体左右两侧的侧壁上分别固定安装有多个绕线盘，每个绕线盘上缠绕一根用于与待测光纤连接的标准光纤，标准光纤的一端与多路光开关的光纤接口连接，标准光纤的另一端连接有光纤适配器。本实用新型的有益效果是：在遇到待测光纤端部位置并不都聚集在一起时，将光纤适配器从卡盒中取出，将标准光纤从绕线盘上松开，使光纤适配器移动到待测光纤端部与待测光纤连接，从而满足对于待测光纤端部距离相隔较远时的测试需求。

Description

一种多通道光纤衰减测试装置

技术领域

本实用新型涉及光纤检测设备领域，尤其涉及一种多通道光纤衰减测试装置。

背景技术

光时域反射仪是通过对测量曲线的分析，了解光纤的均匀性、缺陷、断裂、接头耦合等若干性能的仪器。它根据光的后向散射与菲涅耳反向原理制作，利用光在光纤中传播时产生的后向散射光来获取衰减的信息，可用于测量光纤衰减、接头损耗、光纤故障点定位以及了解光纤沿长度的损耗分布情况等，是光缆施工、维护及监测中必不可少的工具。

但现有的光时域反射仪主要是手持式的，只能单通道检测。

申请号为201720780795.1，专利名称为一种实现多路光纤测试的光时域反射测试装置的现有技术1，其中采用多路光开关实现多通道检测。但由于待测光纤端部位置并不都聚集在一起，因此对于待测光纤端部距离相隔较远时，现有技术不能满足测试需求。

实用新型内容

本实用新型的目的在于克服现有技术存在的以上问题，提供一种多通道光纤衰减测试装置。

为实现上述技术目的，达到上述技术效果，本实用新型通过以下技术方案实现：

一种多通道光纤衰减测试装置，所述装置包括内部具有容纳腔的箱体，所述箱体的容纳腔中安装有激光脉冲发生器、光纤耦合器、光子探测计数器、多路光开关，所述光纤耦合器分别与激光脉冲发生器、光子探测计数器、多路光开关连接，所述箱体左右两侧的侧壁上分别固定安装有多个绕线盘，每个绕线盘上缠绕一根用于与待测光纤连接的标准光纤，所述标准光纤的一端与多路光开关的光纤接口连接，所述标准光纤的另一端连接有光纤适配器。

进一步的，所述箱体的前端顶部通过一字型阻尼铰链连接有可上下调节倾斜角度的显示器，所述箱体的容纳腔中还安装有与光子探测计数器连接的信号发生器，所述信号发生器与显示器连接。

进一步的，所述箱体左右两侧的侧壁上位于每个绕线盘的后方设有一个用于装卡光纤适配器的卡盒，所述卡盒的后端与箱体的后端平齐，所述光纤适配器装卡在卡盒中时，光纤适配器与待测光纤连接的一端突出在箱体的后方。

进一步的，所述卡盒包括具有光纤卡槽的光纤卡板和两块上下对称的光纤适配器卡板，所述光纤卡板固接在两块光纤适配器卡板的前端，两块所述光纤适配器卡板相对的一侧设有将光纤适配器卡住的卡块。

进一步的，所述绕线盘上的绕线槽宽度等于标准光纤的直径。

进一步的，所述箱体的顶部安装有U型把手。

进一步的，所述箱体中安装有连接在激光脉冲发生器与光纤耦合器之间的激光驱动器。

进一步的，所述箱体中安装有连接在光子探测计数器与光纤耦合器之间的单光子探测器，所述单光子探测器还与激光脉冲发生器连接。

进一步的，所述多路光开关的光纤接口数为4、8或16。

本实用新型的有益效果是：在遇到待测光纤端部位置并不都聚集在一起时，将光纤适配器从卡盒中取出，将标准光纤从绕线盘上松开，使光纤适配器移动到待测光纤端部与待测光纤连接，从而满足对于待测光纤端部距离相隔较远时的测试需求。

附图说明

此处所说明的附图用来提供对本实用新型的进一步理解，构成本申请的一部分，本实用新型的示意性实施例及其说明用于解释本实用新型，并不构成对本实用新型的不当限定。在附图中：

图1是本实用新型实施例中多通道光纤衰减测试装置的正视图；

图2是本实用新型实施例中多通道光纤衰减测试装置的右视图；

图3是图2中A部分放大后的结构示意图；

图4是本实用新型实施例中多通道光纤衰减测试装置的器件之间连接关系的框架图。

具体实施方式

下面将参考附图并结合实施例，来详细说明本实用新型。

如图1至图4所示，一种多通道光纤衰减测试装置，包括内部具有容纳腔的箱体1，箱体1的容纳腔中安装有激光脉冲发生器12、光纤耦合器10、光子探测计数器13、多路光开关9，光纤耦合器10分别与激光脉冲发生器12、光子探测计数器13、多路光开关9连接，多路光开关9的光纤接口数为8，箱体1左右两侧的侧壁上分别固定安装有4个绕线盘2，每个绕线盘2上缠绕一根用于与待测光纤15连接的标准光纤3，绕线盘2上的绕线槽宽度等于标准光纤3的直径，标准光纤3的一端与多路光开关9的光纤接口连接，标准光纤3的另一端连接有光纤适配器4。

箱体1的前端顶部通过一字型阻尼铰链6连接有可上下调节倾斜角度的显示器7，箱体1的容纳腔中还安装有与光子探测计数器13连接的信号发生器14，信号发生器14与显示器7连接。显示器7通过阻尼铰链6安装在箱体1的前端，方便调节显示器7的倾斜角度，以满足不同工作人员的使用需求。

箱体1左右两侧的侧壁上位于每个绕线盘2的后方设有一个用于装卡光纤适配器4的卡盒5，卡盒5的后端与箱体1的后端平齐，光纤适配器4装卡在卡盒5中时，光纤适配器4与待测光纤15连接的一端突出在箱体1的后方，卡盒5包括具有光纤卡槽5的光纤卡板51和两块上下对称的光纤适配器卡板52，光纤卡板51固接在两块光纤适配器卡板52的前端，两块光纤适配器卡板52相对的一侧设有将光纤适配器4卡住的卡块53。在不需要将标准光纤3展开时，卡盒5使光纤适配器4相对固定在箱体1的侧面，一方面避免标准光纤3散开、缠绕打结，另一方面避免在测试过程中光纤适配器4晃动，影响待测光纤15与光纤适配器4连接的稳定性。

箱体1的顶部安装有U型把手8，便于携带箱体1。

箱体1中安装有连接在激光脉冲发生器12与光纤耦合器10之间的激光驱动器11，激光驱动器11用于对激光信号进行放大。

箱体1中安装有连接在光子探测计数器13与光纤耦合器10之间的单光子探测器16，单光子探测器16还与激光脉冲发生器12连接。单光子探测器16可以对单个光子进行探测和计数，在许多可获得的信号强度仅为几个光子能量级的新兴应用中，从而提高测试的精确度和灵敏度。

箱体中还安装有分别为各器件提供相匹配的电压电流的电源模块，电源模块的电流输入端通过串联有开关的导线与箱体侧面的电源插座连接。

以上显示和描述了本实用新型的基本原理、主要特征和本实用新型的优点。本行业的技术人员应该了解，本实用新型不受上述实施例的限制，上述实施例和说明书中描述的只是说明本实用新型的原理，在不脱离本实用新型精神和范围的前提下，本实用新型还会有各种变化和改进，这些变化和改进都落入要求保护的本实用新型范围内。

Claims (9)

1.一种多通道光纤衰减测试装置，其特征在于：所述装置包括内部具有容纳腔的箱体，所述箱体的容纳腔中安装有激光脉冲发生器、光纤耦合器、光子探测计数器、多路光开关，所述光纤耦合器分别与激光脉冲发生器、光子探测计数器、多路光开关连接，所述箱体左右两侧的侧壁上分别固定安装有多个绕线盘，每个绕线盘上缠绕一根用于与待测光纤连接的标准光纤，所述标准光纤的一端与多路光开关的光纤接口连接，所述标准光纤的另一端连接有光纤适配器。

2.根据权利要求1所述的多通道光纤衰减测试装置，其特征在于：所述箱体的前端顶部通过一字型阻尼铰链连接有可上下调节倾斜角度的显示器，所述箱体的容纳腔中还安装有与光子探测计数器连接的信号发生器，所述信号发生器与显示器连接。

3.根据权利要求1所述的多通道光纤衰减测试装置，其特征在于：所述箱体左右两侧的侧壁上位于每个绕线盘的后方设有一个用于装卡光纤适配器的卡盒，所述卡盒的后端与箱体的后端平齐，所述光纤适配器装卡在卡盒中时，光纤适配器与待测光纤连接的一端突出在箱体的后方。

4.根据权利要求3所述的多通道光纤衰减测试装置，其特征在于：所述卡盒包括具有光纤卡槽的光纤卡板和两块上下对称的光纤适配器卡板，所述光纤卡板固接在两块光纤适配器卡板的前端，两块所述光纤适配器卡板相对的一侧设有将光纤适配器卡住的卡块。

5.根据权利要求1所述的多通道光纤衰减测试装置，其特征在于：所述绕线盘上的绕线槽宽度等于标准光纤的直径。

6.根据权利要求1所述的多通道光纤衰减测试装置，其特征在于：所述箱体的顶部安装有U型把手。

7.根据权利要求1所述的多通道光纤衰减测试装置，其特征在于：所述箱体中安装有连接在激光脉冲发生器与光纤耦合器之间的激光驱动器。

8.根据权利要求1所述的多通道光纤衰减测试装置，其特征在于：所述箱体中安装有连接在光子探测计数器与光纤耦合器之间的单光子探测器，所述单光子探测器还与激光脉冲发生器连接。

9.根据权利要求1所述的多通道光纤衰减测试装置，其特征在于：所述多路光开关的光纤接口数为4、8或16。