CN205352657U - 光纤性能测试用的连接器接口转换盒 - Google Patents

Abstract

本实用新型涉及一种光纤性能测试用的连接器接口转换盒，包括底座，底座上设置有至少一个光纤连接器，所述光纤连接器的一个接口为ST、SC、FC接口之一，所述光纤连接器的另一个接口为LC、ST接口之一。本实用新型为解决光纤接口形式不匹配不能进行光纤性能测试问题，它提供一种低成本，高可靠性，易于实现的方式。

Description

光纤性能测试用的连接器接口转换盒

技术领域

本实用新型涉及一种光纤性能测试用的连接器接口转换盒，以快速适配不同接头形式光纤性能测试。

背景技术

光纤由透明的光学材料制成的芯和包层、涂敷层组成。光纤本身为绝缘体不受电磁干扰，而且本身不产生电磁场。由于光纤传输的光信号具有抗干扰能力高、损耗小、传输速度快等特点，在高压直流输电控制保护装置接口设计中，大量采用的光纤接口形式的各类总线。许继集团研制的DPS3000系列装置TDM总线，快速点对点IFC总线，光纤环网的现场总线等都采用了光纤接口形式。

在光纤铺设过程中人为造成的光纤衰减的主要因素有：弯曲，挤压，对接等。在直流输电工程换流站现场，由于工程施工环境复杂，铺设的粗重电缆种类繁多，容易造成光纤衰减。光纤弯曲时，光纤内的光会因散射而损失掉；光纤受到挤压时产生的微小弯曲而产生的损耗；光纤对接时由于不同轴，端面与轴心不垂直，端面不平，对接心不匹配和熔接质量差等原因引起的光衰。

为了保证直流输电系统可靠运行，需要对铺设的光纤进行光缆传输、技术特性的检验，即测量每根光纤的功率传输衰减值。目前，国内用的较多的测量光衰的工具有光时域反射计(OTDR)和美国FLUKE的FTK光纤检测工具。OTDR基于光的背向散射与菲涅耳反射原理制作，利用光在光纤中传播时产生的后向散射光来获取衰减的信息，可用于测量光纤衰减、接头损耗、光纤故障点定位以及了解光纤沿长度的损耗分布情况等。美国FLUKE的FTK光纤检测工具基于插入损耗法计算原理，由光源和检测表计组成。它通过测量光的不同功率值，来计算光衰。

光纤连接器接头目前有ST，SC，FC，LC等多种形式。光纤接头形式ST连接器插入牢固，但需要旋转半周后被卡扣固定。SC连接器直接插接，使用方便，缺点是容易松动。FC连接器一般电信网络采用，用螺丝帽拧到适配器上，优点是牢靠，防灰尘，缺点安装时间较长。LC连接器采用操作方便的模块化插孔闩索机理制成。根据这几种连接器接头的优点，直流控制保护装置较多采用有ST，SC，FC，LC接头光纤接头形式。但上述两种测量工具配置的光纤接口种类比较单一，一般配置为ST或SC国外常用的光纤接口形式，不能满足我国光纤接口的众多的测试需求。尤其对两端都为DLC接头光纤接头形式光纤进行测试时，单光源的光衰测量工具在工程现场无法提供有效的测试方法。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种光纤性能测试用的连接器接口转换盒，提高高压直流输电领域控制保护装置间光纤衰减测量适用范围，减少光纤接口形式不匹配无法进行光纤性能测试的影响。

为实现上述目的，本实用新型的方案包括：

光纤性能测试用的连接器接口转换盒，包括底座，底座上设置有至少一个光纤连接器，所述光纤连接器的一个接口为ST、SC、FC接口之一，所述光纤连接器的另一个接口为LC、ST接口之一。

还包括一个LC连接器，该LC连接器的两接口均为LC接口。

所述底座上设有四个光纤连接器，四个光纤连接器的接口分别为DLC/DLC接口、SC/ST接口、FC/ST接口、ST/ST接口。

所述底座上还设有吸附磁铁。

本实用新型为解决光纤接口形式不匹配不能进行光纤性能测试问题，它提供一种低成本，高可靠性，易于实现的方式。

光纤连接器接口转换盒采用特殊安装方式，底部为磁铁，可以可靠吸附在铁质的材质上面，便于方便、快捷地安装在复杂的测试环境中，比如该盒子可方便、可靠地悬挂于测试现场，便于现场光纤测试。

附图说明

图1是连接器接口转换盒在OTDR光纤测试工具中的应用示意图；

图2是连接器接口转换盒在FLUKE的FTK光纤检测工具中的应用示意图；

图3是连接器接口转换盒的双LC(DLC)光纤测试使用示意图。

具体实施方式

下面结合附图对本实用新型做进一步详细的说明。

针对OTDR光纤测试工具和FLUKE的FTK光纤检测工具配置的光纤接口种类比较单一，一般配置为ST或SC国外常用的光纤接口形式，不能满足我国光纤接口的众多的测试需求的问题，本实用新型的主要思路是在光纤测试回路中，增加测试转换回路。

该测试转换回路包括(光纤)连接器接口转换盒和适配光纤两部分。

测试转换回路3设置在测试工具与被测试光纤4之间。如图1所示，在OTDR光纤测试工具中，连接器接口转换盒1通过适配光纤2连接到OTDR光纤测试工具。OTDR光纤测试工具包括光源5、定向耦合器6、脉冲发生器7、数据分析及显示单元8、光检测器9、放大器10。

用于FLUKE的FTK光纤检测工具时，如图2所示，连接器接口转换盒1配置了DLC/DLC、ST/SC、ST/FC、ST/ST这4种接口类型的光纤连接器,可以方便把测试光纤中的ST，SC，FC，LC(DLC)等多种连接形式进行转化为LC，ST连接器形式。本文中，LC接口包括单LC接口和双LC(DLC)接口。

适配光纤2共有两芯，分别为LC/ST接头形式和ST/ST接头形式。图2中使用的是ST/ST接头形式，一条ST/ST接头形式适配光纤连接测试光源11，另一条ST/ST接头形式适配光纤连接测试光衰表计光源12，分别连接两个连接器接口转换盒ST接口，两个连接器接口转换盒的SC接口用于连接被测试光纤4。

LC/ST接头形式适配光纤是为了解决单光源光衰测量工具在工程现场无测试双LC(DLC)接头光纤特意设计的。当进行光纤测试时，SC、FC、ST三接头预制被测试光纤插在对应两端光纤连接器转接盒的适配器中，两端用适配光纤ST/ST来接连接光衰测试装置与光纤测试回路。DLC待测预制光纤的插在对应两端光纤连接器转接盒的适配器中，用适配光纤ST/LC来接连接光衰测试装置与光纤测试回路，如图3所示。

DLC适配器有一对光纤接口A口和B口；DLC适配器另一端DLC的A口插入LC/ST接头形式的适配光纤，其ST接头端直接插入测试光衰工具的ST对应接口即可。测试完成DLC待测光纤的A口光缆芯线，再把LC/ST接头形式的适配光纤插入到光纤连接器接口转换盒DLC适配器另一端DLC的B口,即可方便的完成DLC待测光纤的B口光缆芯线测试。

本方案从效果及实现方法上，具有成本低，易于实现等特点。目前，采用这种光衰测试回路中增加测试转换回路，只需连接器接口转换盒和简单适配光纤，就可完成待测光纤中的ST，SC，FC，LC(DLC)等多种连接形式进行简单化转化，对光衰测试工具的接口要求更为简单，就可满足直流输电工程现场对光纤性能检验的要求。

另外，光纤连接器接口转换盒的底座中设有磁铁，可以采用磁铁吸附的安装方式简单、方便，维护成本低廉，易于实现现场测试放置。目前这种光衰测试回路中增加光纤连接器转换回路的实现方法已通过实验验证可以简单，有效的解光纤接口形式不匹配无法进行光纤性能测试。

以上给出了本实用新型涉及的具体实施方式，但本实用新型不局限于所描述的实施方式。在本实用新型给出的思路下，采用对本领域技术人员而言容易想到的方式对上述实施例中的技术手段进行变换、替换、修改，并且起到的作用与本实用新型中的相应技术手段基本相同、实现的实用新型目的也基本相同，这样形成的技术方案是对上述实施例进行微调形成的，这种技术方案仍落入本实用新型的保护范围内。

Claims (4)

1.光纤性能测试用的连接器接口转换盒，包括底座，其特征在于，底座上设置有至少一个光纤连接器，所述光纤连接器的一个接口为ST、SC、FC接口之一，所述光纤连接器的另一个接口为LC、ST接口之一。

2.根据权利要求1所述的光纤性能测试用的连接器接口转换盒，其特征在于，还包括一个LC连接器，该LC连接器的两接口均为LC接口。

3.根据权利要求1所述的光纤性能测试用的连接器接口转换盒，其特征在于，所述底座上设有四个光纤连接器，四个光纤连接器的接口分别为DLC/DLC接口、SC/ST接口、FC/ST接口、ST/ST接口。

4.根据权利要求1-3中任一项所述的光纤性能测试用的连接器接口转换盒，其特征在于，所述底座上还设有吸附磁铁。