CN209311549U - 环形磁芯阻抗测试装置 - Google Patents
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Abstract
本实用新型公开了一种环形磁芯阻抗测试装置，其包括测试台，测试台一侧设置有驱动机构，测试台上设置有下壳体，下壳体内设置有绝缘环片，绝缘环片内开设有环形卡槽，绝缘环片于卡槽两侧分别设置有第一导电柱及第二导电柱；驱动机构设置有上壳体，上壳体与下壳体匹配对接设置，上壳体内设置有对接环片，对接环片与绝缘环片对接设置，对接环片上设置有第三导电柱及第四导电柱。本实用新型通过在测试台上设置下壳体，配合在测试台上方设置上壳体，利用下壳体的绝缘环片与上壳体的对接环片对接，通过第一导电柱、第二导电柱、第三导电柱及第四导电柱的相互连接，完成对环形磁芯的多匝线圈的绕制测试，实现快速操作及避免人手长时间接触环形磁芯而造成的影响。
Description
技术领域
本实用新型涉及磁芯检测技术领域，尤其是涉及一种环形磁芯阻抗测试装置。
背景技术
如图1所示，环形磁芯进行多匝绕线测试阻抗时，需要预先在环形磁芯上绕制匝数的导线，绕制过程繁琐耗时长，特别是遇到很多匝数要求或者很小尺寸磁芯时，更加难绕。由于磁芯绕线依靠人手，经常会出现绕制匝数不正确，或者绕制力度太大，造成磁芯内部应力影响检测结果。
同时，小尺寸磁芯绕制后，受到人手温度的影响，需要重新恒温静置，浪费时间，检测完毕的磁芯还需要对绕上去的导线进行拆解，更加耗时耗工，绕制的导线容易出现绝缘不良，不能回收利用，浪费严重。
实用新型内容
基于此，有必要针对现有技术的不足，提供一种环形磁芯阻抗测试装置，无需对环形磁芯进行导线绕制，无需拆线，避免人手长时间接触磁芯的影响。
为解决上述技术问题，本实用新型所采用的技术方案是：一种环形磁芯阻抗测试装置，其包括测试台，所述测试台一侧设置有驱动机构，所述测试台上设置有夹具座，所述夹具座内卡持有下壳体，所述下壳体内设置有绝缘环片，所述绝缘环片内开设有环形卡槽，所述绝缘环片于卡槽两侧分别设置有第一导电柱及第二导电柱，所述第一导电柱下端部与第二导电柱下端部分别通过第一导电线连接；所述驱动机构设置有驱动架，所述驱动架上设置有驱动座，所述驱动座下方设置有驱动杆，所述驱动杆上连接有驱动板，所述驱动板上设置有上壳体，所述上壳体与下壳体匹配对接设置，所述上壳体内设置有对接环片，所述对接环片与绝缘环片对接设置，所述对接环片上设置有第三导电柱及第四导电柱，所述第三导电柱与第四导电柱通过第二导电线交错连接，所述第一导电柱与第三导电柱匹配对接设置，所述第二导电柱与第四导电柱匹配对接设置。
在其中一个实施例中，所述第二导电线分别连接在第三导电柱上端部与第四导电柱上端部。
在其中一个实施例中，所述测试台两侧分别设置有导向柱，所述导向柱贯穿驱动板设置。
在其中一个实施例中，所述第一导电线及第二导电线为铜导线构造。
综上所述，本实用新型环形磁芯阻抗测试装置通过在测试台上设置下壳体，配合在测试台上方设置上壳体，利用下壳体的绝缘环片与上壳体的对接环片对接，通过第一导电柱、第二导电柱、第三导电柱及第四导电柱的相互连接，完成对环形磁芯的多匝线圈的绕制测试，实现快速操作及避免人手长时间接触环形磁芯而对测试结果造成的影响。
附图说明
图1为本实用新型传统环形磁芯线圈绕制的结构示意图；
图2为本实用新型环形磁芯阻抗测试装置的结构示意图；
图3为本实用新型对接环片、环形磁芯及绝缘环片的组合型结构示意图。
具体实施方式
为能进一步了解本实用新型的特征、技术手段以及所达到的具体目的、功能，下面结合附图与具体实施方式对本实用新型作进一步详细描述。
如图2和图3所示，本实用新型环形磁芯阻抗测试装置包括测试台10，所述测试台10一侧设置有驱动机构20，所述测试台10上设置有夹具座30，所述夹具座30内卡持有下壳体40，所述下壳体40内设置有绝缘环片41，所述绝缘环片41内开设有环形卡槽411，所述卡槽411用于放置待测环形磁芯50，所述绝缘环片41于卡槽411两侧分别设置有第一导电柱412及第二导电柱413，所述第一导电柱412下端部与第二导电柱413下端部分别通过第一导电线414连接。
所述驱动机构20设置有驱动架21，所述驱动架21上设置有驱动座22，所述驱动座22下方设置有驱动杆23，所述驱动杆23上连接有驱动板24，所述驱动杆23带动驱动板24上下往复运作，所述驱动板24上设置有上壳体25，所述上壳体25与下壳体40匹配对接设置，所述上壳体25内设置有对接环片26，所述对接环片26与绝缘环片41对接设置，所述对接环片26上设置有第三导电柱261及第四导电柱262，所述第三导电柱261与第四导电柱262通过第二导电线263交错连接，具体地，所述第二导电线263分别连接在第三导电柱261上端部与第四导电柱262上端部，所述第一导电柱412与第三导电柱261匹配对接设置，所述第二导电柱413与第四导电柱262匹配对接设置。
在其中一个实施例中，所述测试台10两侧分别设置有导向柱11，所述导向柱11贯穿驱动板24设置，所述导向柱11用于对驱动板24进行限位，避免驱动板24在上下运作中移位而影响上壳体25与下壳体40对接的稳定性，有效保证了对接环片26与绝缘环片41对接的稳定性。
在其中一个实施例中，所述第一导电线414及第二导电线263为铜导线构造。
本实用新型具体工作时，根据需要制作不同直径和不同匝数的绝缘环片41及对接环片26，并将绝缘环片41及对接环片26分别卡置在下壳体40及上壳体25内，将待测环形磁芯50放置在绝缘环片41的卡槽411内，驱动座22驱动驱动杆23向下运作，此时，驱动板24在驱动杆23的带动下向下运作，使得上壳体25与下壳体40完成对接，此时，对接环片26与绝缘环片41也完成对接，第一导电柱412及第二导电柱413连接成的半个螺线管电路与第三导电柱261及第四导电柱262连接成的半个螺线管电路相互靠近并贴合，最终组成多匝螺线管电路，实现环形磁芯50上有多匝线圈绕制的测试条件，由于导电柱及导电线的连接关系，无需人手即可完成对环形磁芯50的多匝线圈绕制的测试，实现快速操作及避免人手长时间接触环形磁芯50而对测试结果造成的影响。
综上所述，本实用新型环形磁芯阻抗测试装置通过在测试台10上设置下壳体40，配合在测试台10上方设置上壳体25，利用下壳体40的绝缘环片41与上壳体25的对接环片26对接，通过第一导电柱412、第二导电柱413、第三导电柱261及第四导电柱262的相互连接，完成对环形磁芯50的多匝线圈的绕制测试，实现快速操作及避免人手长时间接触环形磁芯50而对测试结果造成的影响。
以上所述实施例仅表达了本实用新型的几种实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对本实用新型范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本实用新型构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本实用新型的保护范围。因此，本实用新型的保护范围应以所附权利要求为准。
Claims (4)
1.一种环形磁芯阻抗测试装置，其特征在于：包括测试台，所述测试台一侧设置有驱动机构，所述测试台上设置有夹具座，所述夹具座内卡持有下壳体，所述下壳体内设置有绝缘环片，所述绝缘环片内开设有环形卡槽，所述绝缘环片于卡槽两侧分别设置有第一导电柱及第二导电柱，所述第一导电柱下端部与第二导电柱下端部分别通过第一导电线连接；所述驱动机构设置有驱动架，所述驱动架上设置有驱动座，所述驱动座下方设置有驱动杆，所述驱动杆上连接有驱动板，所述驱动板上设置有上壳体，所述上壳体与下壳体匹配对接设置，所述上壳体内设置有对接环片，所述对接环片与绝缘环片对接设置，所述对接环片上设置有第三导电柱及第四导电柱，所述第三导电柱与第四导电柱通过第二导电线交错连接，所述第一导电柱与第三导电柱匹配对接设置，所述第二导电柱与第四导电柱匹配对接设置。
2.根据权利要求1所述的环形磁芯阻抗测试装置，其特征在于：所述第二导电线分别连接在第三导电柱上端部与第四导电柱上端部。
3.根据权利要求1所述的环形磁芯阻抗测试装置，其特征在于：所述测试台两侧分别设置有导向柱，所述导向柱贯穿驱动板设置。
4.根据权利要求1所述的环形磁芯阻抗测试装置，其特征在于：所述第一导电线及第二导电线为铜导线构造。
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Publications (1)
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| CN209311549U true CN209311549U (zh) | 2019-08-27 |
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Family Applications (1)
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| CN201821602991.0U Active CN209311549U (zh) | 2018-09-29 | 2018-09-29 | 环形磁芯阻抗测试装置 |
Country Status (1)
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2018
- 2018-09-29 CN CN201821602991.0U patent/CN209311549U/zh active Active
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