CN209231194U - 一种光谱仪中收集透镜的安装结构 - Google Patents

一种光谱仪中收集透镜的安装结构 Download PDF

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Abstract

本实用新型公开了一种可以对狭窄区域进行控测的光谱仪中收集透镜的安装结构，包括：前壳、穿设在前壳中的采样仓和设置在采样仓上的面板，所述的收集透镜设置在采样仓中，收集透镜的前部从采样仓中伸出，所述的采样仓呈前部小后部大的阶梯状，所述的前壳上开设有与采样仓的前部相配合的安装过孔，所述的面板呈前部小、后部大的塔顶状，所述的面板中设置有与所述收集透镜的前部相配合的安置腔、以及与安置腔相通的探测孔，采样仓的前部穿设在安装过孔中，收集透镜的前部伸入面板的安置腔中。采用上述结构的光谱仪尤其适用于探测边角缝隙处的焊缝。

Description

一种光谱仪中收集透镜的安装结构
技术领域
本实用新型涉及到一种用于焊缝检测等场合的光谱仪，尤其涉及到一种光谱仪中收集透镜的安装结构。
背景技术
在工业生产领域，焊接是一种非常常见的制造、加工工艺，焊接质量直接影响到产品的性能。特别是在一些管道、锅炉等压力容器行业，对焊接质量的要求非常高，因为一旦焊点或者焊缝开裂，就会导致严重的质量事故。
在焊接工艺中，对焊接材料的材质鉴定尤为重要。因为一旦焊材(棒)的材质与被焊接材料不同，那焊材(棒)与被焊接材料就有可能造成虚焊，一旦受到外力或者材料本身的应力后，会开裂造成焊接失败。为此，在使用前对所用的焊材(棒)进行严格的挑选、检测，但一旦焊接完成后，仅凭肉眼或者其他手工等方式，是无法对焊缝进行再次的材质鉴定。而由于焊缝位置通常都在产品的边角缝隙这些狭窄区域，常规的光谱仪，由于其面板无法伸入到边角缝隙中，因而无法进行检验测试。
实用新型内容
本实用新型所要解决的技术问题是：提供一种可以对狭窄区域进行控测的光谱仪中收集透镜的安装结构。
为解决上述技术问题，本实用新型采用的技术方案为：一种光谱仪中收集透镜的安装结构，包括：前壳、穿设在前壳中的采样仓和设置在采样仓上的面板，所述的收集透镜设置在采样仓中，收集透镜的前部从采样仓中伸出，所述的采样仓呈前部小后部大的阶梯状，所述的前壳上开设有与采样仓的前部相配合的安装过孔，所述的面板呈前部小、后部大的塔顶状，面板中设置有与所述收集透镜的前部相配合的安置腔、以及与安置腔相通的探测孔，采样仓的前部穿设在安装过孔中，收集透镜的前部伸入面板的安置腔中。
作为一种优选方案，在所述的一种光谱仪中收集透镜的安装结构中，所述的面板上开设有至少一个与所述的安置腔相通的透气孔。
作为一种优选方案，在所述的一种光谱仪中收集透镜的安装结构中，所述的面板为翻盖式结构，包括：面板底座和活动铰接在面板底座上的前盖，面板底座设置在采样仓上。
作为一种优选方案，在所述的一种光谱仪中收集透镜的安装结构中，所述的前盖与面板底座的一种安装结构包括：插销和扭簧，所述面板底座的一侧设置有一对支耳，这一对支耳中开设有与所述的插销相配合的支承孔，所述的前盖上设置有一对与所述的一对支耳相配合的铰接耳，这一对铰接耳中开设有与所述的插销相配合的铰接孔，插销从一侧的支耳的支承孔中穿入，依次穿过该侧的支承孔、相应侧的铰接耳中的铰接孔、扭簧、以及另一侧的铰接耳中的铰接孔和另一侧支耳中的支承孔，使得前盖活动铰接在所述的面板底座上。
作为一种优选方案，在所述的一种光谱仪中收集透镜的安装结构中，所述的面板底座在远离支耳的一侧上开设有至少一个磁铁安置槽，磁铁安置槽中设置有磁铁，所述的前盖由铁磁性材料制成。
作为一种优选方案，在所述的一种光谱仪中收集透镜的安装结构中，所述的面板底座在远离支耳的一侧上开设有一对磁铁安置槽。
作为一种优选方案，在所述的一种光谱仪中收集透镜的安装结构中，所述的面板底座在一对磁铁安置槽之间设置有缓冲凹槽，所述的前盖上设置有与缓冲凹槽相对应的缓冲凸台。
作为一种优选方案，在所述的一种光谱仪中收集透镜的安装结构中，所述的前盖在安置腔的两侧分别开设有透气槽，前盖合上之后，透气槽与面板底座之间形成透气孔。
本实用新型的有益效果是：本实用新型通过将光谱仪的面板设置成前小后大的塔尖(俗称尖嘴)状，探测时，不管被测区域有夹角、尺寸较小、被检测部位表面形状凹凸不平、或边角缝隙等情况，光谱仪的面板的顶部都可伸入到这些狭窄区域，对焊缝进行探测。
附图说明
图1是本实用新型的第一种实施例的结构示意图。
图2是面板和采样仓的另一视角的结构示意图。
图3是面板的又一视角的结构示意图。
图4是本实用新型的第一种实施例的工作原理示意图。
图1至图4中的附图标记为：1、前壳，11、安装过孔，2、面板，21、固定通孔，211、钉帽安置孔，22、透气孔23、探测孔，3、采样仓，31、前部，311、前部过孔，32、后部，321、后部过孔，4、收集透镜。
图5是本实用新型的第二种实施例的结构示意图。
图6是前盖相对于面板底座处于打开状态的结构示意图。
图7是前盖的另一视角的结构示意图。
图8是前盖相对于面板底座处于关闭状态的结构示意图。
图5至图8中的附图标记为：1、前壳，11、安装过孔，3、采样仓，4、收集透镜，51、前盖，512、透气槽、513、探测孔，514、铰接耳，515、缓冲凸台，52、面板底座，521、固定沉头通孔，522、磁铁安置槽，523、探测过孔，524、支耳，55、插销，56、扭簧，57、磁铁。
具体实施方式
下面结合附图，详细描述本实用新型所述的一种光谱仪中收集透镜的安装结构的具体实施方案。
实施例1：
如图1、图2和图3所示，本实用新型所述的一种光谱仪中收集透镜的安装结构，包括：前壳1、以及穿设在前壳1中的采样仓3和设置在采样仓3上的面板2，所述的收集透镜4设置在采样仓3中，收集透镜4的前部从采样仓3中伸出，所述的采样仓3呈前部31小后部32大的阶梯状，所述的前壳1上开设有与采样仓3的前部31相配合的安装过孔11，所述的面板2呈前部小、后部大的塔顶状，面板2中设置有与所述收集透镜4的前部相配合的安置腔、以及与安置腔相通的探测孔23，采样仓3的前部31穿设在安装过孔11中，收集透镜4的前部伸入面板2的安置腔中；所述的面板2的两侧分别开设有一个与所述的安置腔相通的透气孔22；所述面板2与采样仓3的安装结构包括：所述的面板2上开设有三个固定通孔21以及与所述的固定通孔21一一对应相通的钉帽安置孔211，与之相对应，所述原采样仓3上开设有与所述的固定通孔21一一对应的固定安装孔(属于本领域的惯常技术，图中未示出)。采样仓3中开设有与控测孔23相配合的贯穿采样仓3的过孔，包括：位于采样仓3的前后31中的前部过孔311和位于采样仓3的后部32中的后部过孔321，采样仓3的前部31(凸出部分)安装在面板2中，提升采样仓3与面板2安装的稳固性，安装时，将蓝宝石玻璃置于前部过孔311中(属于本领域的惯常技术，图中未示出)，将校准透镜伸入至采样仓3的后部过孔321中(属于本领域的惯常技术，图中未示出)，以缩短校准透镜到面板2焦点距离，使得发出的激光轴线与收集信号轴线相交于面板2顶端表面──参见图4所示。
实际工作时，面板2两侧的透气孔22可以将积聚的尘埃随气流排出，减少尘埃聚集，保持采样仓3里透镜的表面洁净。
实施例2：
如图5、图7和图8所示，本实用新型所述的一种光谱仪中收集透镜的安装结构与图1至图3所示的光谱仪中收集透镜的安装结构，不同之处在于本实施例中的面板为翻盖式结构，包括：面板底座52和活动铰接在面板底座52上的由铁磁性材料制成的前盖51，面板底座52设置在采样仓3上，面板底座52中开设有与所述收集透镜4的前部相配合的探测过孔523，所述的面板底座52与采样仓3的具体安装方式为：所述的面板底座52上开设有三个与实施例1中的采样仓3上的固定安装孔311一一对应的固定沉头通孔521，即：与前盖51铰接一侧开设两个固定沉头通孔521，相对于前盖51开合一侧开设有一个固定沉头通孔521，固定螺钉穿过固定沉头通孔521固定在固定安装孔311中；所述的前盖51与面板底座52的一种安装结构包括：插销55和扭簧56，所述面板底座52的一侧设置有一对支耳524，这一对支耳524中开设有与所述的插销55相配合的支承孔，所述的前盖51上设置有一对与所述的一对支耳524相配合的铰接耳514，这一对铰接耳514中开设有与所述的插销55相配合的铰接孔，插销55从一侧的支耳524的支承孔中穿入，依次穿过该侧的支承孔、相应侧的铰接耳514中的铰接孔、扭簧56、以及另一侧的铰接耳514中的铰接孔和另一侧支耳524中的支承孔，使得前盖51活动铰接在所述的面板底座52上，所述的面板底座52在远离支耳524的一侧(即对应于前盖51的开合一侧)的固定沉头通孔521的两翼分别开设有一个磁铁安置槽522，磁铁安置槽522中设置有磁铁57；如图6所示，所述的前盖51在安置腔的两侧分别开设有透气槽512，前盖51合上之后，透气槽512与面板底座52之间形成透气孔，使得尘埃可以从该透气孔中排出去；此外，位于所述的一对磁铁安置槽522之间的固定沉头通孔521的上部正好作为圆形缓冲凹槽，所述的前盖51上设置有与圆形缓冲凹槽相配合的缓冲凸台515，前盖51合上后，缓冲凸台515伸入圆形缓冲凹槽中，从而可以减少前盖51的晃动。
综上所述，仅为本实用新型的较佳实施例而已，并非用来限定本实用新型实施的范围，凡依本实用新型权利要求范围所述的形状、构造、特征及精神所作的均等变化与修饰，均应包括在本实用新型的权利要求范围内。

Claims (8)

1.一种光谱仪中收集透镜的安装结构，包括：前壳、以及穿设在前壳中的采样仓和设置在采样仓上的面板，其特征在于：所述的收集透镜设置在采样仓中，收集透镜的前部从采样仓中伸出，采样仓呈前部小后部大的阶梯状，所述的前壳上开设有与所述采样仓的前部相配合的安装过孔，所述的面板呈前部小、后部大的塔顶状，所述的面板中设置有与所述收集透镜的前部相配合的安置腔、以及与安置腔相通的探测孔，采样仓的前部穿设在安装过孔中，收集透镜的前部伸入面板的安置腔中。
2.根据权利要求1所述的光谱仪中收集透镜的安装结构，其特征在于：所述的面板上开设有至少一个与所述的安置腔相通的透气孔。
3.根据权利要求1所述的光谱仪中收集透镜的安装结构，其特征在于：所述的面板为翻盖式结构，包括：面板底座和活动铰接在面板底座上的前盖，面板底座设置在采样仓上。
4.根据权利要求3所述的光谱仪中收集透镜的安装结构，其特征在于：所述的前盖与面板底座的一种安装结构包括：插销和扭簧，所述面板底座的一侧设置有一对支耳，这一对支耳中开设有与所述的插销相配合的支承孔，所述的前盖上设置有一对与所述的一对支耳相配合的铰接耳，这一对铰接耳中开设有与所述的插销相配合的铰接孔，插销从一侧的支耳的支承孔中穿入，依次穿过该侧的支承孔、相应侧的铰接耳中的铰接孔、扭簧、以及另一侧的铰接耳中的铰接孔和另一侧支耳中的支承孔，使得前盖活动铰接在所述的面板底座上。
5.根据权利要求4所述的光谱仪中收集透镜的安装结构，其特征在于：所述的面板底座在远离支耳的一侧上开设有至少一个磁铁安置槽，磁铁安置槽中设置有磁铁，所述的前盖由铁磁性材料制成。
6.根据权利要求5所述的光谱仪中收集透镜的安装结构，其特征在于：所述的面板底座在远离支耳的一侧上开设有一对磁铁安置槽。
7.根据权利要求6所述的光谱仪中收集透镜的安装结构，其特征在于：所述的面板底座在一对磁铁安置槽之间设置有缓冲凹槽，所述的前盖上设置有与缓冲凹槽相对应的缓冲凸台。
8.根据权利要求3至7之一所述的光谱仪中收集透镜的安装结构，其特征在于：所述的前盖在安置腔的两侧分别开设有透气槽，前盖合上之后，透气槽与面板底座之间形成透气孔。
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