CN209158144U - 一种晶片测试固定装置 - Google Patents
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Abstract
本实用新型公开了一种晶片测试固定装置，包括底座、移动条、第二滑块和第二移动杆，所述底座的顶部设置有固定板，所述固定板通过第一转轴与底座相连接，其中，所述移动条设置于底座靠近固定板的一侧，所述移动条的内部设置有移动块，所述移动块的内部开设有第一滑槽，所述第一滑槽的内部设置有固定杆，所述固定杆远离移动条的一侧设置有固定块，所述固定杆的内部贯穿有第一移动杆，所述第二滑块设置于移动块靠近底座的一侧，所述第二滑块与底座的连接处设置有第二滑槽。该晶片测试固定装置，通过第一移动杆的旋转，可以控制固定杆的移动，从而可以带动固定块的移动，这样就可以改变固定块之间的横向间距，方便了对晶片的固定。
Description
技术领域
本实用新型涉及晶片检测技术领域，具体为一种晶片测试固定装置。
背景技术
晶片是LED最主要的原物料之一，是LED的发光部件，LED最核心的部分，晶片的好坏将直接决定LED的性能，晶片是由是由Ⅲ和Ⅴ族复合半导体物质构成，在LED封装时，晶片来料呈整齐排列在晶片膜上。
在晶片的生产制造的过程中会需要对晶片进行固定监测，在大多数的监测装置的监测过程中会需要对晶片进行固定，会使用到一种晶片的固定装置，方便对晶片进行检测。
但市场上大多数的晶片测试固定装置在使用的时候不方便对不同大小的晶片进行固定，对固定的晶片没有防护的措施。
实用新型内容
本实用新型的目的在于提供一种晶片测试固定装置，以解决上述背景技术提出的目前市场上的晶片测试固定装置在使用的时候不方便对不同大小的晶片进行固定，对固定的晶片没有防护的措施的问题。
为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：一种晶片测试固定装置，包括底座、移动条、第二滑块和第二移动杆，所述底座的顶部设置有固定板，所述固定板通过第一转轴与底座相连接，其中，
所述移动条设置于底座靠近固定板的一侧，所述移动条的内部设置有移动块，所述移动块的内部开设有第一滑槽，所述第一滑槽的内部设置有固定杆，所述固定杆远离移动条的一侧设置有固定块，所述固定杆的内部贯穿有第一移动杆；
所述第二滑块设置于移动块靠近底座的一侧，所述第二滑块与底座的连接处设置有第二滑槽，所述第二移动杆贯穿于第二滑块的内部，所述第二移动杆的一端设置有第一连接转轴，所述第一连接转轴的外侧设置有皮带，所述皮带远离第一连接转轴的一侧设置有第二连接转轴，所述第二连接转轴远离底座的一侧设置有旋钮。
优选的，所述固定板的内侧设置有半圆形的凹槽，且固定板通过第一转轴与底座旋转连接。
优选的，所述移动条、移动块、第一滑槽、固定杆、固定块、第一移动杆、第二滑块和第二滑槽设置有四组，且每2组移动条、移动块、第一滑槽、固定杆、固定块、第一移动杆、第二滑块和第二滑槽对称分第二移动杆的两端。
优选的，所述固定块为矩形结构，且固定块的对角处开设有剖面为“L”型结构的凹槽，并且固定块的材质为橡胶材质。
优选的，所述第二滑块的剖面形状尺寸与第二滑槽的剖面形状尺寸相一致，且第二滑块与第二滑槽滑动连接。
优选的，所述第二移动杆设置有两个部分，且2个部分的第二移动杆的表面的螺纹结构相反，并且两个部分的第二移动杆的长度相一致。
与现有技术相比，本实用新型的有益效果是：该晶片测试固定装置：
1.通过第一移动杆的旋转，可以控制固定杆的移动，从而可以带动固定块的移动，这样就可以改变固定块之间的横向间距，方便了对晶片的固定；
2.通过第二移动杆的旋转，可以方便的带动移动块纵向移动，从而可以方便的对固定块的纵向间距进行调节，方便了对不同大小的晶片进行固定；
3.固定块可以方便的对晶片的四角进行固定，且避免对晶片的四角造成损伤，且该装置的固定板可以将测试用的线路进行固定，方便了该装置对晶片的测试。
附图说明
图1为本实用新型结构示意图；
图2为本实用新型剖面结构示意图；
图3为本实用新型侧面结构示意图。
图中：1、底座，2、固定板，3、第一转轴，4、移动条，5、移动块，6、第一滑槽，7、固定杆，8、固定块，9、第一移动杆，10、第二滑块，11、第二滑槽，12、第二移动杆，13、第一连接转轴，14、皮带，15、第二连接转轴，16、旋钮。
具体实施方式
下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。
请参阅图1-3，本实用新型提供一种技术方案：一种晶片测试固定装置，包括底座1、固定板2、第一转轴3、移动条4、移动块5、第一滑槽6、固定杆7、固定块8、第一移动杆9、第二滑块10、第二滑槽11、第二移动杆12、第一连接转轴13、皮带14、第二连接转轴15和旋钮16，所述底座1的顶部设置有固定板2，所述固定板2的内侧设置有半圆形的凹槽，且固定板2通过第一转轴3与底座1旋转连接，通过固定板2的内侧的半圆形凹槽可以方便该装置对测试用的连接线路进行固定，所述固定板2通过第一转轴3与底座1相连接，其中，
所述移动条4设置于底座1靠近固定板2的一侧，所述移动条4、移动块5、第一滑槽6、固定杆7、固定块8、第一移动杆9、第二滑块10和第二滑槽11设置有四组，且每2组移动条4、移动块5、第一滑槽6、固定杆7、固定块8、第一移动杆9、第二滑块10和第二滑槽11对称分第二移动杆12的两端，这样可以方便的对晶片的四角进行固定，方便了对晶片进行测试，所述移动条4的内部设置有移动块5，所述移动块5的内部开设有第一滑槽6，所述第一滑槽6的内部设置有固定杆7，所述固定杆7远离移动条4的一侧设置有固定块8，所述固定块8为矩形结构，且固定块8的对角处开设有剖面为“L”型结构的凹槽，并且固定块8的材质为橡胶材质，通过固定块8内测的“L”型结构的凹槽可以方便的对晶片的四角进行固定，且避免了对晶片造成损伤，所述固定杆7的内部贯穿有第一移动杆9；
所述第二滑块10设置于移动块5靠近底座1的一侧，所述第二滑块10的剖面形状尺寸与第二滑槽11的剖面形状尺寸相一致，且第二滑块10与第二滑槽11滑动连接，这样可以方便该装置的固定块8之间的间距的调节，所述第二滑块10与底座1的连接处设置有第二滑槽11，所述第二移动杆12贯穿于第二滑块10的内部，所述第二移动杆12设置有两个部分，且2个部分的第二移动杆12的表面的螺纹结构相反，并且两个部分的第二移动杆12的长度相一致，方便了通过第二移动杆12控制该装置内部的固定块8对晶片进行固定，所述第二移动杆12的一端设置有第一连接转轴13，所述第一连接转轴13的外侧设置有皮带14，所述皮带14远离第一连接转轴13的一侧设置有第二连接转轴15，所述第二连接转轴15远离底座1的一侧设置有旋钮16。
工作原理：在使用该晶片测试固定装置时，首先将该装置固定在所需要的地方，在使用的时候通过旋转旋钮16，旋钮16在旋转的时候可以带动第二连接转轴15旋转，在第二连接转轴15旋转的时候可以通过皮带14带动第一连接转轴13旋转，第一连接转轴13旋转带动第二移动杆12旋转，在第二移动杆12旋转的时候通过表面的螺纹结构带动第二滑块10在第二滑槽11内部滑动，这样就可以通过第二滑块10的滑动带动移动块5的移动，这样可以对固定块8之间的纵向间距进行调节，方便了对晶片的固定，然后通过旋转第一移动杆9，在第一移动杆9旋转的时候可以通过表面的螺纹结构将固定杆7向外侧移动，这样固定杆7带动固定块8在横向上移动，这样就可以对固定块8之间的横向间距进行调节，从而可以方便该装置对不同大小的晶片进行固定，且固定块8的橡胶材质可以避免在固定晶片的时候对晶片的四角造成磨损，起到防护的作用，该装置的固定板2可以对连接使用的线路进行固定，方便了对该装置上的晶片进行测试，尽管参照前述实施例对本实用新型进行了详细的说明，对于本领域的技术人员来说，其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换，凡在本实用新型的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本实用新型的保护范围之内。
Claims (6)
1.一种晶片测试固定装置，包括底座(1)、移动条(4)、第二滑块(10)和第二移动杆(12)，其特征在于：所述底座(1)的顶部设置有固定板(2)，所述固定板(2)通过第一转轴(3)与底座(1)相连接，其中，
所述移动条(4)设置于底座(1)靠近固定板(2)的一侧，所述移动条(4)的内部设置有移动块(5)，所述移动块(5)的内部开设有第一滑槽(6)，所述第一滑槽(6)的内部设置有固定杆(7)，所述固定杆(7)远离移动条(4)的一侧设置有固定块(8)，所述固定杆(7)的内部贯穿有第一移动杆(9)；
所述第二滑块(10)设置于移动块(5)靠近底座(1)的一侧，所述第二滑块(10)与底座(1)的连接处设置有第二滑槽(11)，所述第二移动杆(12)贯穿于第二滑块(10)的内部，所述第二移动杆(12)的一端设置有第一连接转轴(13)，所述第一连接转轴(13)的外侧设置有皮带(14)，所述皮带(14)远离第一连接转轴(13)的一侧设置有第二连接转轴(15)，所述第二连接转轴(15)远离底座(1)的一侧设置有旋钮(16)。
2.根据权利要求1所述的一种晶片测试固定装置，其特征在于：所述固定板(2)的内侧设置有半圆形的凹槽，且固定板(2)通过第一转轴(3)与底座(1)旋转连接。
3.根据权利要求1所述的一种晶片测试固定装置，其特征在于：所述移动条(4)、移动块(5)、第一滑槽(6)、固定杆(7)、固定块(8)、第一移动杆(9)、第二滑块(10)和第二滑槽(11)设置有四组，且每2组移动条(4)、移动块(5)、第一滑槽(6)、固定杆(7)、固定块(8)、第一移动杆(9)、第二滑块(10)和第二滑槽(11)对称分第二移动杆(12)的两端。
4.根据权利要求1所述的一种晶片测试固定装置，其特征在于：所述固定块(8)为矩形结构，且固定块(8)的对角处开设有剖面为“L”型结构的凹槽，并且固定块(8)的材质为橡胶材质。
5.根据权利要求1所述的一种晶片测试固定装置，其特征在于：所述第二滑块(10)的剖面形状尺寸与第二滑槽(11)的剖面形状尺寸相一致，且第二滑块(10)与第二滑槽(11)滑动连接。
6.根据权利要求1所述的一种晶片测试固定装置，其特征在于：所述第二移动杆(12)设置有两个部分，且2个部分的第二移动杆(12)的表面的螺纹结构相反，并且两个部分的第二移动杆(12)的长度相一致。
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| CN113851560A (zh) * | 2021-11-01 | 2021-12-28 | 江苏龙恒新能源有限公司 | 选择性发射极用激光消融装置 |
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2018
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