CN209086435U - 激光测距设备 - Google Patents

Abstract

本实用新型涉及光电测距技术领域，具体涉及一种激光测距设备，包括激光发射装置、信号接收装置、信号处理装置以及电路板，激光发射装置的激光发射器发射的高频调制光经第一滤光片滤光后射向测量目标，信号接收装置的测量接收器接收经测量目标反射并经过第二滤光片滤光后的高频调制光并进行光电转换后生成一低频测量信号，信号处理装置对低频测量信号进行相位分析以得到一距离值，激光发射器、测量接收器以及信号处理装置分别设置于电路板，且激光发射器、测量接收器、信号处理装置以及电路板的表面涂覆有防护层。通过上述设置，有效缓解环境变化对各电子器件在进行信号传输和处理过程中造成的漂移影响，进而提高相位测量精度，实现高精度的距离测量。

Description

激光测距设备

技术领域

本实用新型涉及光电测距技术领域，具体而言，涉及一种激光测距设备。

背景技术

由于激光具有单色性好、方向性强等特点，因此，激光器件已大量应用于激光测距技术中。现有的激光测距设备根据激光工作的方式分为连续激光器和脉冲激光器。一般情况下，为了达到高精度测量，通常选择使用连续激光器作为光源发射器，用于向测量目标发射经过光强度调制的激光光束，接收器接收到测量目标反射回来的激光光束，通过测量发射光束与接收光束的调制强度相位差，最后把该相位差值转换成时间，实现激光的飞行时间测量，并基于飞行时间和光速计算出测量目标的距离。

发明人经研究发现，现有的激光测距设备中的电子电路及相关器件通常会受到温度、湿度等环境变化的影响，使得电子电路和相关器件的阻抗特性发生变化，影响了信号相位延迟的稳定性，从而影响了距离测量的精度。

实用新型内容

有鉴于此，本实用新型的目的在于提供一种激光测距设备，以有效缓上述问题。

为实现上述目的，本实用新型实施例采用如下技术方案：

一种激光测距设备，包括：

激光发射装置，该激光发射装置包括激光发射器和第一滤光片，所述第一滤光片与所述激光发射装置的出光面相对设置，所述激光发射器发射的高频调制光经所述第一滤光片滤光后射向测量目标；

信号接收装置，该信号接收装置包括测量接收器和第二滤光片，所述第二滤光片与所述测量接收器的入光面相对设置，所述测量接收器接收经所述测量目标反射并经过所述第二滤光片滤光后的高频调制光，并将该高频调制光进行光电转换后生成一低频测量信号；

信号处理装置，该信号处理装置与所述信号接收装置电连接，所述信号处理装置根据所述低频测量信号进行相位分析以得到一距离值；以及

电路板，所述激光发射器、测量接收器以及所述信号处理装置分别设置于所述电路板，且所述激光发射器、测量接收器、信号处理装置以及所述电路板的表面涂覆有防护层。

可选的，在上述激光测距设备中，所述激光发射装置、信号接收装置以及所述信号处理装置分别设置于所述电路板后，所述防护层为采用纳米镀凃工艺的方式涂覆于除所述激光发射器的出光面和所述测量接收器的入光面之外的其他表面。

可选的，在上述激光测距设备中，所述信号处理装置包括主控制模块、信号放大处理模块以及直流高压模块，所述直流高压模块与所述主控制模块和测量接收器分别电连接，所述信号放大处理模块与所述主控制模块和测量接收器分别电连接；

所述主控制模块还用于控制所述直流高压模块输出至所述测量接收器的输出电压，所述测量接收器基于该输出电压对经所述测量目标反射并经过所述第二滤光片滤光后的高频调制光进行光电转换以生成所述低频测量信号，所述信号放大处理模块用于对该低频测量信号进行放大处理后发送至所述主控制模块，所述主控制模块还用于对信号放大处理模块输出的信号进行分析以得到所述测量接收器产生的噪声能量，并基于该噪声能量调节所述直流高压模块的输出电压，以使所述测量接收器在基于调节后的输出电压进行光电转换时的状态稳定。

可选的，在上述激光测距设备中，所述激光测距设备还包括温度控制装置，所述温度控制装置包括散热器件和温度补偿器件，所述散热器件和所述温度补偿器件贴合设置于所述激光发射器的表面。

可选的，在上述激光测距设备中，所述激光发射装置还包括频率合成器，所述信号接收装置还包括混频参考接收模块，所述频率合成器与所述激光发射器、所述测量接收器以及所述混频参考接收模块分别电连接，所述测量接收器和所述混频参考接收模块分别与所述信号处理装置连接；

所述频率合成器用于生成一主频率信号和一参考频率信号并将该主频率信号分别发送至所述激光发射器和混频参考接收模块，以及将所述参考频率信号发送至所述混频参考接收模块和所述测量接收器；

所述混频参考接收器基于所述主频率信号和参考频率信号生成一低频参考信号并发送至所述信号处理装置，所述激光发射器基于所述主频率信号发射所述高频调制光，该高频调制光经第一滤光片滤光后发射至所述测量目标，所述测量接收器接收经所述测量目标反射并经第二滤光片滤光后的高频调制光，将该高频调制光进行光电转换后与所述参考频率信号混频后生成低频测量信号并发送至所述信号处理装置，所述信号处理装置根据所述低频测量信号以及所述低频参考信号进行相位分析得到所述距离值。

可选的，在上述激光测距设备中，第一滤光片设置于所述激光发射器的出光面，所述第二滤光片设置于所述测量接收器的入光面。

可选的，在上述激光测距设备中，所述激光发射装置还包括准直透镜组，所述准直透镜组设置于所述第一滤光片远离所述激光发射器的出光面的一侧，以使所述激光发射器发射的高频调制光经所述第一滤光片滤光并经过所述准直透镜汇聚后射向所述测量目标；

所述信号接收装置还包括接收透镜组，所述接收透镜组设置于所述第二滤光镜片远离所述测量接收器的入光面的一侧，以使所述测量接收器接收经所述测量目标反射并经过所述接收透镜组汇聚以及经过所述第二滤光片滤光后的高频调制光。

可选的，在上述激光测距设备中，所述测量接收器中包括光敏元件，该光敏元件为光电雪崩二极管、PIN型光电二极管或光电倍增管。

可选的，在上述激光测距设备中，所述激光测距设备还包括人机交互装置和通信模块，所述通信模块和所述人机交互装置分别与所述信号处理装置电连接。

本实用新型还提供一种激光测距设备，包括：壳体结构；

激光发射装置，该激光发射装置包括激光发射器和第一滤光片，所述第一滤光片与所述激光发射装置的出光面相对设置，所述激光发射器发射的高频调制光经所述第一滤光片滤光后射向测量目标；

信号接收装置，该信号接收装置包括测量接收器和第二滤光片，所述第二滤光片与所述测量接收器的入光面相对设置，所述测量接收器接收经所述测量目标反射并经过所述第二滤光片滤光后的高频调制光，并将该高频调制光进行光电转换后生成一低频测量信号；

信号处理装置，该信号处理装置与所述信号接收装置电连接，所述信号处理装置根据所述低频测量信号进行相位分析以得到一距离值；以及

电路板，所述激光发射器、测量接收器以及所述信号处理装置分别设置于所述电路板，且所述激光发射器、测量接收器、信号处理装置以及所述电路板的表面涂覆有防护层；

所述电路板设置于所述壳体结构内，所述第一滤光片和第二滤光片分别设置于所述壳体结构。

本实用新型提供的一种激光测距设备，包括，激光发射装置、信号接收装置、信号处理装置以及电路板，激光发射装置包括激光发射器和第一滤光片、信号接收装置包括测量接收器和第二滤光片，激光发射器、信号接收装置以及信号处理装置分别设置于电路板，且激光发射器、测量接收器、信号处理装置以及所述电路板的表面涂覆有防护层，通过上述设置，可以有效避免激光发射器、测量接收器、信号处理装置中的电子电路和相关器件受到环境变化的影响，从而有效缓解环境变化对各电子器件在进行信号传输和处理过程中造成的漂移影响，进而提高相位测量精度，实现高精度的距离测量。

为使本实用新型的上述目的、特征和优点能更明显易懂，下文特举较佳实施例，并配合所附附图，作详细说明如下。

附图说明

为了更清楚地说明本实用新型实施例的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，应当理解，以下附图仅示出了本实用新型的部分实施例，因此不应被看作是对本实用新型保护范围的限定，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他相关的附图。

图1为本实用新型实施例提供的一种激光测距设备的原理框图。

图2为本实用新型实施例提供的一种激光测距设备的结构示意图图。

图3为本实用新型实施例提供的一种激光测距设备的另一原理框图。

图4为本实用新型实施例提供的一种激光测距设备的连接框图。

图标：100-激光测距设备；110-激光发射装置；111-激光发射器；112-第一滤光片；113-频率合成器；114-驱动模块；115-准直透镜组；120-信号接收装置；121-测量接收器；122-第二滤光片；123-混频参考接收模块；124-接收透镜组；130-信号处理装置；131-主控制模块；132-信号放大处理模块；133-直流高压模块；140-电路板；150-防护层；170-温度控制装置；180-人机交互装置；190-通信模块；300-测量目标。

具体实施方式

为使本实用新型实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。通常在此处附图中描述和示出的本实用新型实施例的装置可以以各种不同的配置来布置和设计。

因此，以下对在附图中提供的本实用新型的实施例的详细描述并非旨在限制要求保护的本实用新型的范围，而是仅仅表示本实用新型的选定实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

应注意到：相似的标号和字母在下面的附图中表示类似项，因此，一旦某一项在一个附图中被定义，则在随后的附图中不需要对其进行进一步定义和解释。

在本实用新型的描述中，还需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“设置”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以具体情况理解上述术语在本实用新型中的具体含义。

请结合图1和图2所示，本实用新型实施例提供的一种激光测距设备100，包括激光发射装置110、信号接收装置120、信号处理装置130以及电路板140，所述激光发射装置110、信号接收装置120以及信号处理装置130分别安装于所述电路板140，且所述激光发射装置110、信号接收装置120、信号处理装置130以及所述电路板140的表面涂覆有防护层150。

通过上述设置，以在激光测距设备100进行激光测距时，有效缓解环境变化对各电子器件进行信号传输和处理过程中造成的漂移影响，进而提高相位测量精度，实现高精度的距离测量。例如，可以有效避免激光发射装置110、信号接收装置120以及信号处理装置130中的电子电路和相关器件受到盐雾或湿气等影响，使得电子电路和相关器件的阻抗特性发生变化，影响了信号相位延迟的稳定性的情况。

具体的，所述激光发射装置110包括激光发射器111和第一滤光片112，所述第一滤光片112与所述激光发射装置110的出光面相对设置，所述激光发射器111发射的高频调制光经所述第一滤光片112滤光后射向测量目标300。所述信号接收装置120包括测量接收器121和第二滤光片122，所述第二滤光片122与所述测量接收器121的入光面相对设置，所述测量接收器121接收经所述测量目标300反射并经过所述第二滤光片122滤光后的高频调制光，并将该高频调制光进行光电转换后生成一低频测量信号，所述信号处理装置130与所述信号接收装置120电连接，所述信号处理装置130根据所述低频测量信号进行相位分析以得到一距离值，所述激光发射器111、测量接收器121以及所述信号处理装置130分别设置于所述电路板140，且所述激光发射器111、测量接收器121、信号处理装置130以及所述电路板140的表面涂覆有防护层150。

其中，所述激光发射器111、测量接收器121、信号处理装置130以及所述电路板140的表面涂覆防护层150的方式，可以是在所述激光发射器111、测量接收器121、信号处理装置130以及所述电路板140的部分表面进行涂覆，例如，可以是在激光发射器111、测量接收器121、信号处理装置130以及电路板140之间相互连接的位置处的表面涂覆所述防护层150，还可以是在除激光发射器111的出光面和测量接收器121的入光面之外的其他表面涂覆所述防护层150。

为有效地隔绝盐雾或湿气对所述激光发射器111、测量接收器121、信号处理装置130以及所述电路板140造成影响，可选的，在本实施例中，所述激光发射装置110、信号接收装置120以及所述信号处理装置130分别设置于所述电路板140后，所述防护层150为采用纳米镀凃工艺的方式涂覆于除所述激光发射器111的出光面和所述测量接收器121的入光面之外的其他表面以起到保护作用的膜层。

采用上述的纳米镀凃工艺的方式将防护层150涂覆于除所述激光发射器111的出光面和所述测量接收器121的入光面之外的其他表面，以使所述防护层150构成致密保护膜层。

此外，为进一步使得所述激光测距设备100中的各部件避免受到盐雾或湿气等的影响，在本实施例中，所述第一滤光片112设置于所述激光发射器111的出光面，所述防护层150与该第一滤光片112紧密接触，第二滤光片122设置于所述测量接收器121的入光面，所述防护层150与所述第二滤光片122紧密接触。通过上述设置，以使防护层150、第一滤光片112以及第二滤光片122三者共同作用实现完全密封激光发射器111、测量接收器121以及电路板140，进而使所述激光测距设备100具有防水、防潮和防尘的性能和耐冷热冲击、耐老化、耐盐雾、耐臭氧腐蚀的性能，从而达到消除湿度等环境变化对电子电路器件中的敏感器件的阻抗特性的影响，从而避免环境变化对各电子器件在进行信号传输和处理过程中造成的漂移影响，以进一步提高相位测量精度，实现高精度的距离测量。

可选的，为进一步避免因外界因素如温度变化对激光测距设备100的距离测量结果造成影响，在本实施例中，所述激光测距设备100还包括温度控制装置170，所述温度控制装置170包括散热器件和温度补偿器件，所述散热器件和所述温度补偿器件贴合设置于所述激光发射器111的表面。

可以理解，所述温度控制装置170中还可以包括温度检测器件，所述温度检测器与所述散热器件和温度补偿器件分别电连接，以使所述散热器件和所述温度补偿器件能够根据所述温度检测器检测到的温度进行散热和升温，进而使所述激光发射器111工作在较佳的温度状态下。

可以理解，所述散热器件和所述温度补偿器件贴合设置于所述激光发射器111表面时，所述防护层150设置于该散热器件和所述温度补偿器的表面。

在所述激光测距设备100进行激光测距过程中，所述测量接收器121用于进行光电转换以生成所述低频测量信号，因此，在本实施例中，所述测量接收器121应包括光敏元件，该光敏元件可以为PIN型光电二极管、雪崩光电二极管或光电倍增管等，只要能够实现对高频调制光进行光电转换即可，在此不作具体限定。

请结合图3，为进一步避免在高频调制光传播过程中受外界环境造成干扰而造成测量结果不准确的情况。在本实施例中，所述激光发射装置110还包括频率合成器113，所述信号接收装置120还包括混频参考接收模块123，所述频率合成器113与所述激光发射器111、所述测量接收器121以及所述混频参考接收模块123分别电连接，所述测量接收器121和所述混频参考接收模块123分别与所述信号处理装置130连接。

具体的，所述频率合成器113用于生成一主频率信号和一参考频率信号并将该主频率信号分别发送至所述激光发射器111和混频参考接收模块123，以及将所述参考频率信号发送至所述混频参考接收模块123和所述测量接收器121。所述混频参考接收器基于所述主频率信号和参考频率信号生成一低频参考信号并发送至所述信号处理装置130，所述激光发射器111基于所述主频率信号发射所述高频调制光，该高频调制光经第一滤光片112滤光后发射至所述测量目标300，所述测量接收器121接收经所述测量目标300反射并经第二滤光片122滤光后的高频调制光，将该高频调制光进行光电转换后与所述参考频率信号混频后生成低频测量信号并发送至所述信号处理装置130，所述信号处理装置130根据所述低频测量信号以及所述低频参考信号进行相位分析得到所述距离值。

需要说明的是，在本实施例中，所述激光发射装置110还包括驱动所述激光发射器111发射激光的驱动模块114，所述驱动模块114连接于所述频率合成器113与所述激光发射器111之间。

其中，所述混频参考接收模块123的阻抗特性与测量接收器121相近。通过上述设置，以在所述信号处理模块进行计算时，可以计算出低频参考信号的参考相位值以及低频测量信号的测量相位值，两相位相减得到相位差值则消除了激光测距设备100中各个模块所受到的环境影响导致的相位漂移，进而有效保障了距离值测量的准确性。

为在所述激光测距设备100进行测距过程中，有效保障获得的低频测量信号的稳定性，在本实施例中，所述信号处理装置130包括主控制模块131、信号放大处理模块132以及直流高压模块133，所述直流高压模块133与所述主控制模块131和测量接收器121分别电连接，所述信号放大处理模块132与所述主控制模块131和测量接收器121分别电连接。

所述主控制模块131还用于控制所述直流高压模块133输出至所述测量接收器121的输出电压，所述测量接收器121基于该输出电压对经所述测量目标300反射并经过所述第二滤光片122滤光后的高频调制光进行光电转换以生成所述低频测量信号，所述信号放大处理模块132用于对该低频测量信号进行放大处理后发送至所述主控制模块131，所述主控制模块131还用于对信号放大处理模块132输出的信号进行分析以得到所述测量接收器121产生的噪声能量，并基于该噪声能量调节所述直流高压模块133的输出电压，以使所述测量接收器121在基于调节后的输出电压进行光电转换时的状态稳定。

可以理解，所述主控制模块131对信号放大处理模块132输出的信号进行分析时，该信号可以是放大后的低频测量信号，也可以是其他的电信号。

具体的，所述主控制模块131中预存有预设噪声范围，所述主控制模块131还用于在所述噪声能量不在所述预设噪声范围内时，控制所述直流高压模块133的输出电压增大或减小，以实现调节所述噪声能量至所述预设噪声范围内。需要说明的是，当所述噪声能量在所述预设噪声范围内时，所述测量接收器121的相位响应输出稳定。

可以理解，在本实施例中，所述主控制模块131与所述频率合成器113电连接以控制所述频率合成器113生成所述主频率信号和参考频率信号，所述直流高压模块133与所述主控制模块131和测量接收器121分别电连接。

为有效保障所述激光发射器111发射的光线平行，进而保障测距结果的准确性，可选的，在本实施例中，所述激光发射装置110还包括准直透镜组115，所述准直透镜组115设置于所述第一滤光片112远离所述激光发射器111的出光面的一侧，以使所述激光发射器111发射的高频调制光经所述第一滤光片112滤光并经过所述准直透镜组115汇聚后射向所述测量目标300。

为保障经所述测量目标300反射至所述信号接收装置120的光线相互平行，进而保障测距结果的准确性，在本实施例中，所述信号接收装置120还包括接收透镜组124，所述接收透镜组124设置于所述第二滤光片122远离所述测量接收器121的入光面的一侧，以使所述测量接收器121接收经所述测量目标300反射并经过所述接收透镜组124汇聚以及经过所述第二滤光片122滤光后的高频调制光。

为便于用户使用所述激光测距设备100，在本实施例中，所述激光测距设备100还包括壳体结构，所述光发射器、测量接收器121、信号处理装置130以及电路板140设置于所述壳体结构内，所述第一滤光片112和第二滤光片122设置于所述壳体结构。

请结合图4，为便于用户查看测量结果，以及将该测量结果上传至上位机，以及便于用户对所述激光测距设备100进行操控，在本实施例中，所述激光测距设备100还包括人机交互装置180和通信模块190，所述通信模块190和所述人机交互装置180分别与所述信号处理装置130电连接。

可以理解，所述通信模块190可以是通信接口，也可以是蓝牙模块、GPRS模块和/或WIFi模块，在此不作具体限定，根据实际需求进行设置即可。所述人机交互装置180可以是液晶触摸屏，也可以是显示屏和按键，在此不作具体限定，根据实际需求进行设置即可。

综上，本实用新型提供的一种激光测距设备100，所述激光测距设备100通过设置激光发射装置110、信号接收装置120、信号处理装置130以及电路板140，以在进行激光测距时，激光发射装置110的激光发射器111发射的高频调制光经第一滤光片112滤光后射向测量目标300，信号接收装置120的测量接收器121接收经测量目标300反射并经过第二滤光片122滤光后的高频调制光并进行光电转换后生成一低频测量信号，信号处理装置130对低频测量信号进行相位分析以得到一距离值。此外，激光发射器111、测量接收器121以及信号处理装置130分别设置于电路板140，且激光发射器111、测量接收器121、信号处理装置130以及电路板140的表面涂覆有防护层150，有效缓解环境变化对各电子器件在进行信号传输和处理过程中造成的漂移影响，进而提高相位测量精度，实现高精度的距离测量。

需要说明的是，在本文中，诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且，术语“包括”或者任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个……”限定的要素，并不排除在包括所述要素的过程、方法、物品或者设备中还存在另外的相同要素。

以上所述，仅为本实用新型的具体实施方式，但本实用新型的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本实用新型揭露的技术范围内，可轻易想到变化或替换，都应涵盖在本实用新型的保护范围之内。因此，本实用新型的保护范围应所述以权利要求的保护范围为准。

Claims (10)

1.一种激光测距设备，其特征在于，包括：

激光发射装置，该激光发射装置包括激光发射器和第一滤光片，所述第一滤光片与所述激光发射装置的出光面相对设置，所述激光发射器发射的高频调制光经所述第一滤光片滤光后射向测量目标；

信号接收装置，该信号接收装置包括测量接收器和第二滤光片，所述第二滤光片与所述测量接收器的入光面相对设置，所述测量接收器接收经所述测量目标反射并经过所述第二滤光片滤光后的高频调制光，并将该高频调制光进行光电转换后生成一低频测量信号；

信号处理装置，该信号处理装置与所述信号接收装置电连接，所述信号处理装置根据所述低频测量信号进行相位分析以得到一距离值；以及

电路板，所述激光发射器、测量接收器以及所述信号处理装置分别设置于所述电路板，且所述激光发射器、测量接收器、信号处理装置以及所述电路板的表面涂覆有防护层。

2.根据权利要求1所述的激光测距设备，其特征在于，所述激光发射装置、信号接收装置以及所述信号处理装置分别设置于所述电路板后，所述防护层为采用纳米镀凃工艺的方式涂覆于除所述激光发射器的出光面和所述测量接收器的入光面之外的其他表面。

3.根据权利要求1所述的激光测距设备，其特征在于，所述信号处理装置包括主控制模块、信号放大处理模块以及直流高压模块，所述直流高压模块与所述主控制模块和测量接收器分别电连接，所述信号放大处理模块与所述主控制模块和测量接收器分别电连接；

所述主控制模块还用于控制所述直流高压模块输出至所述测量接收器的输出电压，所述测量接收器基于该输出电压对经所述测量目标反射并经过所述第二滤光片滤光后的高频调制光进行光电转换以生成所述低频测量信号，所述信号放大处理模块用于对该低频测量信号进行放大处理后发送至所述主控制模块，所述主控制模块还用于对信号放大处理模块输出的信号进行分析得到所述测量接收器产生的噪声能量，并基于该噪声能量调节所述直流高压模块的输出电压，以使所述测量接收器在基于调节后的输出电压进行光电转换时的状态稳定。

4.根据权利要求1所述的激光测距设备，其特征在于，所述激光测距设备还包括温度控制装置，所述温度控制装置包括散热器件和温度补偿器件，所述散热器件和所述温度补偿器件贴合设置于所述激光发射器的表面。

5.根据权利要求1所述的激光测距设备，其特征在于，所述激光发射装置还包括频率合成器，所述信号接收装置还包括混频参考接收模块，所述频率合成器与所述激光发射器、所述测量接收器以及所述混频参考接收模块分别电连接，所述测量接收器和所述混频参考接收模块分别与所述信号处理装置连接；

所述频率合成器用于生成一主频率信号和一参考频率信号并将该主频率信号分别发送至所述激光发射器和混频参考接收模块，以及将所述参考频率信号发送至所述混频参考接收模块和所述测量接收器；

所述混频参考接收器基于所述主频率信号和参考频率信号生成一低频参考信号并发送至所述信号处理装置，所述激光发射器基于所述主频率信号发射所述高频调制光，该高频调制光经第一滤光片滤光后发射至所述测量目标，所述测量接收器接收经所述测量目标反射并经第二滤光片滤光后的高频调制光，将该高频调制光进行光电转换后与所述参考频率信号混频后生成低频测量信号并发送至所述信号处理装置，所述信号处理装置根据所述低频测量信号以及所述低频参考信号进行相位分析得到所述距离值。

6.根据权利要求1所述的激光测距设备，其特征在于，第一滤光片设置于所述激光发射器的出光面，所述第二滤光片设置于所述测量接收器的入光面。

7.根据权利要求1所述的激光测距设备，其特征在于，所述激光发射装置还包括准直透镜组，所述准直透镜组设置于所述第一滤光片远离所述激光发射器的出光面的一侧，以使所述激光发射器发射的高频调制光经所述第一滤光片滤光并经过所述准直透镜汇聚后射向所述测量目标；

所述信号接收装置还包括接收透镜组，所述接收透镜组设置于所述第二滤光片远离所述测量接收器的入光面的一侧，以使所述测量接收器接收经所述测量目标反射并经过所述接收透镜组汇聚以及经过所述第二滤光片滤光后的高频调制光。

8.根据权利要求1所述的激光测距设备，其特征在于，所述测量接收器中包括光敏元件，该光敏元件为光电雪崩二极管、PIN型光电二极管或光电倍增管。

9.根据权利要求1所述的激光测距设备，其特征在于，所述激光测距设备还包括人机交互装置和通信模块，所述通信模块和所述人机交互装置分别与所述信号处理装置电连接。

10.一种激光测距设备，其特征在于，包括：壳体结构；

激光发射装置，该激光发射装置包括激光发射器和第一滤光片，所述第一滤光片与所述激光发射装置的出光面相对设置，所述激光发射器发射的高频调制光经所述第一滤光片滤光后射向测量目标；

信号接收装置，该信号接收装置包括测量接收器和第二滤光片，所述第二滤光片与所述测量接收器的入光面相对设置，所述测量接收器接收经所述测量目标反射并经过所述第二滤光片滤光后的高频调制光，并将该高频调制光进行光电转换后生成一低频测量信号；

信号处理装置，该信号处理装置与所述信号接收装置电连接，所述信号处理装置根据所述低频测量信号进行相位分析以得到一距离值；以及

电路板，所述激光发射器、测量接收器以及所述信号处理装置分别设置于所述电路板，且所述激光发射器、测量接收器、信号处理装置以及所述电路板的表面涂覆有防护层；

所述电路板设置于所述壳体结构内，所述第一滤光片和第二滤光片分别设置于所述壳体结构。