CN209070074U - 一种芯片测试设备 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种芯片测试设备，包括呈镜像对称的左夹具和右夹具，左夹具右侧固定连接两个拉杆，右夹具左侧设有两个滑槽，拉杆滑动配合滑槽，并且拉杆贯穿滑槽后固定连接限位块，左夹具和右夹具的前后侧壁均设有弧形槽，拉杆套接有弹簧，弹簧的一端抵接弧形槽，且弹簧的另一端抵接限位块，左夹具和右夹具均设有两个矩形槽，矩形槽穿设有固定杆，固定杆铰接阻尼铰链，阻尼铰链固定连接支撑杆，支撑杆固定连接支撑板，本实用新型通过左夹具和右夹具的共同夹持，形成对芯片很好的保护，避免在取用芯片时，手上油脂沾染，并通过可以折叠收纳的支撑板，防止芯片的引脚与地面直接接触，避免脚变形、损坏。

Description

一种芯片测试设备

技术领域

本实用新型涉及芯片测试技术领域，具体为一种芯片测试设备。

背景技术

芯片测试的过程是将封装后的芯片置于各种环境下测试其电气特性，如消耗功率、运行速度、耐压度等。经测试后的芯片，依其电气特性划分为不同等级。经测试合格的产品贴上规格、型号及出厂日期等标识的标签并加以包装后即可出厂。而未通过测试的芯片则视其达到的参数情况定为降级品或废品。通常情况下，对芯片件进行测试的方法为：将外界直流电源的正极连接芯片的底部，负极与一个校准件相连接。在测试过程中需要用手多次拿取芯片，手指上的油脂容易污染芯片，并且在搬运过程中容易损伤引脚，造成引脚变形甚至损坏。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种芯片测试设备，以解决上述背景技术中提出的问题。

为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：一种芯片测试设备，包括呈镜像对称的左夹具和右夹具，所述左夹具和右夹具之间设有芯片，所述芯片底部设有引脚，所述左夹具右侧固定连接两个拉杆，所述右夹具左侧设有两个滑槽，所述拉杆滑动配合滑槽，并且拉杆贯穿滑槽后固定连接限位块，所述左夹具和右夹具的前后侧壁均设有弧形槽，所述拉杆套接有弹簧，所述弹簧的一端抵接弧形槽，且弹簧的另一端抵接限位块，所述左夹具和右夹具均设有两个矩形槽，所述矩形槽穿设有固定杆，所述固定杆铰接阻尼铰链，所述阻尼铰链固定连接支撑杆，所述支撑杆固定连接支撑板。

优选的，所述弹簧为圆柱形螺旋弹簧，当左夹具和右夹具共同卡接芯片时，弹簧处于压缩状态。

优选的，所述弧形槽固定连接柔性垫，所述柔性垫为四分之一圆弧，并且柔性垫均处于弧形槽上远离拉杆的一侧。

优选的，所述阻尼铰链为180度阻尼铰链。

优选的，所述支撑板的长度等于左夹具的宽度，且当支撑板处于最底端时，支撑板与芯片的引脚的水平高度差大于5mm。

与现有技术相比，本实用新型的有益效果是：

1.本实用新型通过左夹具和右夹具的共同夹持，形成对芯片很好的保护，避免在取用芯片时，手上油脂沾染，并通过可以折叠收纳的支撑板，防止芯片的引脚与地面直接接触，避免脚变形、损坏，结构简明，使用方便；

2.本实用新型将柔性垫设置成均处于弧形槽上远离拉杆的一侧，凭借柔性垫拉动弧形槽时，手指可以获得舒适度，同时由于弧形槽固定连接柔性垫，柔性垫均处于弧形槽上远离拉杆的一侧，凭借柔性垫拉动弧形槽时，手指可以获得舒适度。

附图说明

图1为本实用新型结构示意图；

图2为图1的局部剖视图；

图3为图1的俯视图；

图4为本实用新型中左夹具结构示意图。

图中：1芯片、2左夹具、3右夹具、4拉杆、5滑槽、6限位块、7弹簧、8弧形槽、9矩形槽、10固定杆、11阻尼铰链、12支撑杆、13支撑板、14柔性垫。

具体实施方式

下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

请参阅图1至图4，本实用新型提供一种技术方案：一种芯片测试设备，包括呈镜像对称的左夹具2和右夹具3，左夹具2和右夹具3之间设有芯片1，芯片1底部设有引脚，左夹具2右侧固定连接两个拉杆4，右夹具3左侧设有两个滑槽5，拉杆4滑动配合滑槽5，并且拉杆4贯穿滑槽5后固定连接限位块6，左夹具2和右夹具3的前后侧壁均设有弧形槽8，拉杆4套接有弹簧7，弹簧7的一端抵接弧形槽8，且弹簧7的另一端抵接限位块6。

使用时，首先用手沿着拉杆4的方向拉动右夹具3，左夹具2和右夹具3形成大于芯片1的空间，从而可以将芯片1防止在左夹具2和右夹具3之间，过程中弹簧7会被压缩并且给予右夹具3朝向左夹具2的作用力。松开手，右夹具3沿着拉杆4的方向缩小其与左夹具2的间距，使得左夹具2和右夹具3可以夹持芯片1。

进一步的，弹簧7为圆柱形螺旋弹簧，当左夹具2和右夹具3共同卡接芯片1时，弹簧7处于压缩状态，在弹簧7的弹性作用下，左夹具2和右夹具3可以稳定夹持芯片1，从而形成对芯片1很好的保护作用，拿取芯片1时，可以避免手指直接接触芯片1，同时又芯片1的引脚可以完全露出，便于进行测试。

进一步的，拉动左夹具2和右夹具3时，手指可以作用于弧形槽8，从而获得很好的施力点。由于弧形槽8固定连接柔性垫14，柔性垫14为四分之一圆弧，并且柔性垫14均处于弧形槽8上远离拉杆4的一侧，当凭借柔性垫14拉动弧形槽8时，手指可以获得舒适度。

左夹具2和右夹具3均设有两个矩形槽9，矩形槽9穿设有固定杆10，并且固定杆10铰接阻尼铰链11，阻尼铰链11固定连接支撑杆12，支撑杆12固定连接支撑板13。

进一步的，阻尼铰链11为180度阻尼铰链，支撑杆12可以发生180度旋转，支撑板13可以进行折叠收纳，通过将支撑板13的长度设置成等于左夹具2的宽度，且当支撑板13处于最底端时，支撑板13与芯片1的引脚的水平高度差大于5mm。当支撑板13处于最底端时，支撑板13可以完全支撑起左夹具2和右夹具3，当芯片1掉落时，芯片1的引脚不会与地面直接接触，从而避免脚变形、损坏。

尽管已经示出和描述了本实用新型的实施例，对于本领域的普通技术人员而言，可以理解在不脱离本实用新型的原理和精神的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型，本实用新型的范围由所附权利要求及其等同物限定。

Claims (5)

1.一种芯片测试设备，包括呈镜像对称的左夹具(2)和右夹具(3)，其特征在于：所述左夹具(2)和右夹具(3)之间设有芯片(1)，所述芯片(1)底部设有引脚，所述左夹具(2)右侧固定连接两个拉杆(4)，所述右夹具(3)左侧设有两个滑槽(5)，所述拉杆(4)滑动配合滑槽(5)，并且拉杆(4)贯穿滑槽(5)后固定连接限位块(6)，所述左夹具(2)和右夹具(3)的前后侧壁均设有弧形槽(8)，所述拉杆(4)套接有弹簧(7)，所述弹簧(7)的一端抵接弧形槽(8)，且弹簧(7)的另一端抵接限位块(6)，所述左夹具(2)和右夹具(3)均设有两个矩形槽(9)，所述矩形槽(9)穿设有固定杆(10)，所述固定杆(10)铰接阻尼铰链(11)，所述阻尼铰链(11)固定连接支撑杆(12)，所述支撑杆(12)固定连接支撑板(13)。

2.根据权利要求1所述的一种芯片测试设备，其特征在于：所述弹簧(7)为圆柱形螺旋弹簧，当左夹具(2)和右夹具(3)共同卡接芯片(1)时，弹簧(7)处于压缩状态。

3.根据权利要求1所述的一种芯片测试设备，其特征在于：所述弧形槽(8)固定连接柔性垫(14)，所述柔性垫(14)为四分之一圆弧，并且柔性垫(14)均处于弧形槽(8)上远离拉杆(4)的一侧。

4.根据权利要求1所述的一种芯片测试设备，其特征在于：所述阻尼铰链(11)为180度阻尼铰链。

5.根据权利要求1所述的一种芯片测试设备，其特征在于：所述支撑板(13)的长度等于左夹具(2)的宽度，且当支撑板(13)处于最底端时，支撑板(13)与芯片(1)的引脚的水平高度差大于5mm。