CN205539061U - 一种开盖式单边压合测试座 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开一种开盖式单边压合测试座，包括一金属底座，在金属底座上设置有开口，开口固定有孔板以及设置于孔板上可更换的限位框，在开口的两侧转动连接有一个压块，压块通过弹性件连接于开口。本实用新型的测试座采用单边压合结构，IC受力均匀，其可有效的保护产品不变形或易碎，确保IC在测试过程中的一致性及稳定性。且本实用新型的结构现采取单边下压夹持方式及可更换限位框，实现IC受力均匀，测试稳定，满足多种型号IC均可通用。

Description

一种开盖式单边压合测试座

技术领域

本实用新型涉及IC测试装置领域，尤其涉及一种开盖式单边压合测试座。

背景技术

现有技术中，IC测试座大多数采用双边下压夹持结构，其结构复杂，容易造成IC测试时，受力不均。而且目前市场上的测试座一般只针对尺寸比较大的IC而设计。针对目前市场上的WLCSP（Wafer Level Chip Scale Packaging，晶圆片级芯片规模封装）系列IC，WLCSP器件体积很小, 且是玻璃材质制成，比如WLCSP16 的体积尺寸：1.46mm*1.4mm*0.4mm，如果采用双边下压制夹持结构的测试座进行测试容易造成IC测试时受力不均，导致IC被压碎且无法满足自动化要求，而且IC型号测试也单一。

因此，现有技术还有待于改进和发展。

实用新型内容

鉴于上述现有技术的不足，本实用新型的目的在于提供一种开盖式单边压合测试座，旨在解决现有的测试座容易造成IC受力不均等问题。

本实用新型的技术方案如下：

一种开盖式单边压合测试座，其中，包括一金属底座，在所述金属底座上设置有开口，所述开口固定有孔板以及设置于孔板上可更换的限位框，在所述开口的两侧转动连接有一个压块，所述压块通过弹性件连接于所述开口。

所述的开盖式单边压合测试座，其中，所述孔板包括依次叠置的第一孔板、第二孔板和第三孔板。

所述的开盖式单边压合测试座，其中，所述压块通过一第一插芯连接在开口上，所述第一插芯横向固定于所述开口两侧之间。

所述的开盖式单边压合测试座，其中，在所述第一插芯的两侧对称设置有两个扭转弹簧。

所述的开盖式单边压合测试座，其中，所述压块中竖向设置有两个弹簧固定销，所述弹簧固定销固定于所述金属底座上。

所述的开盖式单边压合测试座，其中，所述弹簧固定销上设置有伸缩弹簧。

所述的开盖式单边压合测试座，其中，所述压块的末端横向设置有一第二插芯，所述压块末端的两端设置有卡槽，在所述卡槽中设置有穿过第二插芯的滑轮。

所述的开盖式单边压合测试座，其中，所述第一孔板、第二孔板和第三孔板通过销钉固定。

所述的开盖式单边压合测试座，其中，所述孔板上设置有探针。

所述的开盖式单边压合测试座，其中，所述第一孔板、第二孔板和第三孔板通过定位销定位。

有益效果：本实用新型的测试座采用单边压合结构，IC受力均匀，其可有效的保护产品不变形或易碎，确保IC在测试过程中的一致性及稳定性。且本实用新型的结构现采取单边下压夹持方式及可更换限位框，实现IC受力均匀，测试稳定，满足多种型号IC均可通用。

附图说明

图1为本实用新型一种开盖式单边压合测试座较佳实施例第一视角的结构示意图。

图2为本实用新型一种开盖式单边压合测试座较佳实施例第二视角的结构示意图。

图3为本实用新型一种开盖式单边压合测试座较佳实施例第三视角的结构示意图。

图4为本实用新型一种开盖式单边压合测试座较佳实施例的剖面结构示意图。

图5为本实用新型一种开盖式单边压合测试座较佳实施例的另一剖面结构示意图。

图6为本实用新型一种开盖式单边压合测试座较佳实施例的分解示意图。

具体实施方式

本实用新型提供一种开盖式单边压合测试座，为使本实用新型的目的、技术方案及效果更加清楚、明确，以下对本实用新型进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本实用新型，并不用于限定本实用新型。

本实用新型一种开盖式单边压合测试座较佳实施例，如图1所示，其包括一金属底座1，在所述金属底座1上设置有开口，所述开口固定有孔板以及设置于孔板上可更换的限位框17，在所述开口的两侧转动连接有一个压块2，所述压块2通过弹性件连接于所述开口。

本实用新型的限位框17用于IC测试时的定位作用，不同外形规格IC可更换不同限位框17，同一限位框17可通用多种外形尺寸的IC，当然前提为同间距IC。本实用新型中，测试座采用单边结构，其在下压时，IC受力均匀，可确保IC与测试座充分接触且处于同一平面，采用弹性件结构，可对压块起到一定的缓冲作用，测试过程稳定，能有效保护IC不变形或碎裂，确保产品测试过程中的一致性以及稳定性。

具体来说，结合图6所示，所述孔板包括依次叠置的第一孔板3、第二孔板4和第三孔板5。孔板的作用是用来放置IC，所述第一孔板3、第二孔板4和第三孔板5通过销钉10固定，例如使用高碳钢材质销钉，销钉10与金属底座1连接，确保孔板接触稳定。所述第一孔板3、第二孔板4和第三孔板5通过定位销9定位，确保孔板定位准确。所述孔板上设置有探针13，在孔板定位好后，IC 14可以与探针13准确定位，确保二者连接位置统一。

结合图5所示，所述压块2通过一第一插芯6连接在开口上，所述第一插芯6横向固定于所述开口两侧之间。所述第一插芯6的作用是作为压块2的转轴，压块2向下或向上转动过程中，其可绕第一插芯6转动。

进一步，在所述第一插芯6的两侧对称设置有两个扭转弹簧8，如图2所示。扭转弹簧8可采用JISG4314SUS302材质，其最大扭力为14.64N/mm。利用所述扭转弹簧8可提供压块2转动过程中的缓冲力。

所述压块2中竖向设置有两个弹簧固定销12。弹簧固定销12固定在金属底座1中，压块2在转动过程中可在弹簧固定销12上下活动。

在所述弹簧固定销12上设置有伸缩弹簧16，如图4所示，利用所述的伸缩弹簧16可进一步缓冲压块2在上下活动过程中的作用力。孔板与限位框之间可通过螺丝11固定，例如通过4个M2*6螺丝固定。

所述压块2的末端横向设置有一第二插芯7，结合图3和图5所示，所述压块2末端的两端设置有卡槽，在所述卡槽中设置有穿过第二插芯7的滑轮15。采用滑轮15部件的设计，是考虑到自动化部分，机器运行的时候，可避免机器与测试座接触时硬接触，避免造成碰刮压伤等。

在本实用新型中，所述的压块2尾部向下延伸设置有一手柄，利用所述手柄实现自动化及手动操作的便捷。

综上所述，本实用新型的测试座采用单边压合结构，IC受力均匀，其可有效的保护产品不变形或易碎，确保IC在测试过程中的一致性及稳定性。且本实用新型的结构现采取单边下压夹持方式及可更换限位框，实现IC受力均匀，测试稳定，满足多种型号IC均可通用。

应当理解的是，本实用新型的应用不限于上述的举例，对本领域普通技术人员来说，可以根据上述说明加以改进或变换，所有这些改进和变换都应属于本实用新型所附权利要求的保护范围。

Claims (10)

1.一种开盖式单边压合测试座，其特征在于，包括一金属底座，在所述金属底座上设置有开口，所述开口固定有孔板以及设置于孔板上可更换的限位框，在所述开口的两侧转动连接有一个压块，所述压块通过弹性件连接于所述开口。

2.根据权利要求1所述的开盖式单边压合测试座，其特征在于，所述孔板包括依次叠置的第一孔板、第二孔板和第三孔板。

3.根据权利要求1所述的开盖式单边压合测试座，其特征在于，所述压块通过一第一插芯连接在开口上，所述第一插芯横向固定于所述开口两侧之间。

4.根据权利要求3所述的开盖式单边压合测试座，其特征在于，在所述第一插芯的两侧对称设置有两个扭转弹簧。

5.根据权利要求1所述的开盖式单边压合测试座，其特征在于，所述压块中竖向设置有两个弹簧固定销，所述弹簧固定销固定于所述金属底座上。

6.根据权利要求5所述的开盖式单边压合测试座，其特征在于，所述弹簧固定销上设置有伸缩弹簧。

7.根据权利要求1所述的开盖式单边压合测试座，其特征在于，所述压块的末端横向设置有一第二插芯，所述压块末端的两端设置有卡槽，在所述卡槽中设置有穿过第二插芯的滑轮。

8.根据权利要求2所述的开盖式单边压合测试座，其特征在于，所述第一孔板、第二孔板和第三孔板通过销钉固定。

9.根据权利要求1所述的开盖式单边压合测试座，其特征在于，所述孔板上设置有探针。

10.根据权利要求2所述的开盖式单边压合测试座，其特征在于，所述第一孔板、第二孔板和第三孔板通过定位销定位。